JPH0127975B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0127975B2 JPH0127975B2 JP20469881A JP20469881A JPH0127975B2 JP H0127975 B2 JPH0127975 B2 JP H0127975B2 JP 20469881 A JP20469881 A JP 20469881A JP 20469881 A JP20469881 A JP 20469881A JP H0127975 B2 JPH0127975 B2 JP H0127975B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- silica sol
- aqueous solution
- acid
- sol aqueous
- neutral
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- RMAQACBXLXPBSY-UHFFFAOYSA-N silicic acid Chemical compound O[Si](O)(O)O RMAQACBXLXPBSY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 107
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 claims description 92
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 claims description 36
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 31
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 claims description 24
- 239000000243 solution Substances 0.000 claims description 23
- 230000002378 acidificating effect Effects 0.000 claims description 19
- 238000000108 ultra-filtration Methods 0.000 claims description 15
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims description 13
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 claims description 12
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N Phosphoric acid Chemical compound OP(O)(O)=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000003957 anion exchange resin Substances 0.000 claims description 5
- 229910052792 caesium Inorganic materials 0.000 claims description 5
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000003513 alkali Substances 0.000 claims description 4
- 229910000147 aluminium phosphate Inorganic materials 0.000 claims description 4
- BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-N carbonic acid Chemical compound OC(O)=O BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 claims description 4
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 150000001340 alkali metals Chemical group 0.000 claims description 3
- NLXLAEXVIDQMFP-UHFFFAOYSA-N Ammonia chloride Chemical compound [NH4+].[Cl-] NLXLAEXVIDQMFP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 150000004645 aluminates Chemical class 0.000 claims description 2
- 150000003863 ammonium salts Chemical class 0.000 claims description 2
- FAHBNUUHRFUEAI-UHFFFAOYSA-M hydroxidooxidoaluminium Chemical compound O[Al]=O FAHBNUUHRFUEAI-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 2
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 claims 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 27
- 238000000034 method Methods 0.000 description 14
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 13
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 13
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 13
- 239000004115 Sodium Silicate Substances 0.000 description 9
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 9
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 9
- 229910052911 sodium silicate Inorganic materials 0.000 description 9
- NTHWMYGWWRZVTN-UHFFFAOYSA-N sodium silicate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-][Si]([O-])=O NTHWMYGWWRZVTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M Sodium chloride Chemical compound [Na+].[Cl-] FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 6
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- NWUYHJFMYQTDRP-UHFFFAOYSA-N 1,2-bis(ethenyl)benzene;1-ethenyl-2-ethylbenzene;styrene Chemical compound C=CC1=CC=CC=C1.CCC1=CC=CC=C1C=C.C=CC1=CC=CC=C1C=C NWUYHJFMYQTDRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000003729 cation exchange resin Substances 0.000 description 4
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 4
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 4
- 239000000047 product Substances 0.000 description 4
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 4
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 4
- KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M Potassium hydroxide Chemical compound [OH-].[K+] KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 229920001429 chelating resin Polymers 0.000 description 3
- 238000001879 gelation Methods 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 3
- 239000011780 sodium chloride Substances 0.000 description 3
- WMFOQBRAJBCJND-UHFFFAOYSA-M Lithium hydroxide Chemical compound [Li+].[OH-] WMFOQBRAJBCJND-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052910 alkali metal silicate Inorganic materials 0.000 description 2
- HUCVOHYBFXVBRW-UHFFFAOYSA-M caesium hydroxide Chemical compound [OH-].[Cs+] HUCVOHYBFXVBRW-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 2
- 239000012467 final product Substances 0.000 description 2
- CEQFOVLGLXCDCX-WUKNDPDISA-N methyl red Chemical compound C1=CC(N(C)C)=CC=C1\N=N\C1=CC=CC=C1C(O)=O CEQFOVLGLXCDCX-WUKNDPDISA-N 0.000 description 2
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M Chloride anion Chemical compound [Cl-] VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BPQQTUXANYXVAA-UHFFFAOYSA-N Orthosilicate Chemical compound [O-][Si]([O-])([O-])[O-] BPQQTUXANYXVAA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N Tetraethyl orthosilicate Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)OCC BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000005210 alkyl ammonium group Chemical group 0.000 description 1
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 1
- 239000012153 distilled water Substances 0.000 description 1
- 238000000909 electrodialysis Methods 0.000 description 1
- 238000001493 electron microscopy Methods 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 230000007062 hydrolysis Effects 0.000 description 1
- 238000006460 hydrolysis reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005342 ion exchange Methods 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 238000006386 neutralization reaction Methods 0.000 description 1
- 230000008929 regeneration Effects 0.000 description 1
- 238000011069 regeneration method Methods 0.000 description 1
- 150000004760 silicates Chemical class 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 1
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Silicon Compounds (AREA)
Description
本発明は５〜10mμの平均粒子径をもつ安定で
高モル比（SiO2／R2O）のシリカゾル水溶液の製
造方法に関し、詳しくは限外過による濃縮効率
を向上させた５〜10mμの平均粒子径をもつ安定
なシリカゾル水溶液の製造方法に関するものであ
る。 一般にシリカゾルの製法は、珪酸ナトリウム、
珪素金属、珪酸エチル、珪酸クロライド等を原料
としイオン交換、加水分解、電気透析等の手法を
用いて一度希薄なシリカゾル水溶液を作り、次い
でこの希薄なシリカゾル水溶液を濃縮して市販に
供する濃度まで高めている。現在用いられている
濃縮方法は希薄シリカゾル水溶液を加熱して水分
を除くいわゆる蒸発濃縮法である。他方限外過
法を用いたシリカゾル水溶液の濃縮例はすでに公
知であり、例えば米国特許第396926号明細書にそ
の例が開示されている。 蒸発濃縮法の利点は、希薄な活性シリカゾル水
溶液を直接安定化濃縮できることであるが、欠点
としては濃縮のエネルギーコスト及び設備費がか
かることである。又蒸発濃縮は通常希薄シリカゾ
ル水溶液の沸点近くで水分を蒸発していることか
ら、シリカゾル粒子の粒子径増大が生じ一般に
10mμ以下の粒子径をもつシリカゾル溶液を得る
ことは困難である。 限外過法は、蒸発濃縮法にくらべて濃縮のエ
ネルギーコスト及び設備費において非常に有利で
あると考えられているが、今まで限外過の優位
性をより発揮する、安定でしかも５〜10mμの平
均粒子径を有するシリカゾル水溶液の製法が見い
出されていなかつた。 本発明者らは、限外過法を用いた濃縮効率の
良い、安定でしかも５〜10mμの平均粒子径を有
するシリカゾル水溶液の製造方法を見い出すべく
鋭意検討を重ねた結果、活性な酸性シリカゾル水
溶液から安定なシリカゾル水溶液を製造するに際
し、該酸性シリカゾル水溶液を水酸基型陰イオン
交換樹脂に通し一度活性な中性シリカゾル水溶液
を作りこの中性シリカゾル水溶液をあらかじめ70
℃以上の温度に調整されているアルカリ水溶液中
に１分間当り該中性シリカゾル水溶液中のSiO2
とアルカリ水溶液中のR2O（ＲはLi，Na，Ｋ，Cs
等のアルカリ金属又はNH4）とのモル比SiO2／
R2Oが10以下となる添加速度で連続的に添加し、
限外過により濃縮することにより、濃縮効率の
良い安定で５〜10mμの平均粒子径をもつシリカ
ゾル水溶液が得られることを見い出し、本発明に
到達した。 即ち、本発明は限外過法による濃縮効率の良
い安定で５〜10mμの平均粒子径をもつシリカゾ
ル水溶液を製造する方法を提供するものであり、
本発明で用いられる活性な酸性シリカゾル水溶液
とは例えばアルカリ金属珪酸塩水溶液を水素型の
陽イオン交換樹脂で反応処理して得られる酸性シ
リカゾル水溶液等のPH４以下の非常に不安定な酸
性シリカゾル水溶液をさす。この時の酸性シリカ
ゾル水溶液中の珪酸（SiO2）濃度は通常２〜10
％が普通である。 得られた酸性シリカゾル水溶液中には、不純物
として、塩酸、硝酸、硫酸、リン酸、炭酸、アル
ミン酸及びこれらのLi，Na，Ｋ，Cs、アンモニ
ウム塩が含まれている。 この不純物は、主に原料（例えばアルカリ金属
珪酸塩と水）と陽イオン交換樹脂再生工程からく
るものである。これらの不純物の存在は、安定化
槽内でのアルカリ中和、消費につながるばかりで
なく、シリカゾル粒子径の増大ひいては、限外
過の効率を低下させる。本発明では酸性シリカゾ
ル水溶液を水酸基型の陰イオン交換樹脂に通し中
性シリカゾル水溶液を得ることにより不純物を減
少させ、微細なシリカゾルを容易に得ることがで
きる。この中性シリカゾル水溶液は通常PH４〜８
を示し、不純物の総量は30ppm以下とするのがよ
い。 本発明においてアルカリ等の存在下で活性な中
性シリカゾル水溶液を安定なシリカゾル水溶液に
変える安定化槽は通常、槽容量の1/10〜1/2の水
溶液を満たし、70℃以上の温度で十分撹拌する。
安定化槽中の水溶液としてはモル比SiO2／R2Oが
０〜200、SiO2濃度０〜40％、R2O濃度0.01〜1.0
％のものが良い。R2O源としてはNaOH，
LiOH，KOH，CsOH，NH4OH、四級アルキル
アンモニウムハイドライド及びこれらの珪酸塩等
が挙げられる。又ここに含まれる不純物として
は、やはりLi，Na，Ｋ，Cs、アンモニアの塩
酸、硫酸、リン酸、硝酸、炭酸、アルミン酸塩が
挙げられ、単独もしくは複数の総量が30ppm以下
が好ましい。さらに又本発明の方法により得られ
た安定なシリカゾル水溶液を安定化槽に一部残し
更に珪酸ナトリウム等のアルカリを添加し、この
中に中性シリカゾル水溶液を上記SiO2／R2Oのモ
ル比で連続的に添加していくこともできる。 かかる安定化槽に活性な中性シリカゾル水溶液
を連続的に添加する速度は、安定化槽の水溶液中
のR2O濃度と密接な関係があり、１分間当り、中
性シリカゾル水溶液中のSiO2とアルカリ水溶液
中のR2O（Ｒは前記のとおり）とのモル比
（SiO2／R2O）が10以下となる速度で添加される
ことが必要である。 該モル比の下限は0.1以上であることが好まし
くこれ以下であると実際的に添加が困難となる。 更に好ましくは、該モル比１〜８の範囲で添加
するのがよい。 この場合のSiO2とはあくまでも連続的に安定
化槽に添加される中性シリカゾル水溶液中の珪酸
をさし、すでに安定化槽中に存在する水溶液中の
ケイ酸分は含まない。なぜならば、安定化槽中の
水溶液中に存在する珪酸はすぐに安定化され５〜
10mμの平均粒子径をもつコロイド粒子に生長し
ているからである。 モル比（SiO2／R2O）で１分間当り10を越えた
速度で中性シリカゾル水溶液を添加した場合は中
性シリカゾルのゲル化が起こり、生じたゲル体を
解こうするのに長時間の撹拌が必要であるととも
に最終的に安定化されたシリカゾルは、限外過
を用いて濃縮する場合の効率がおちる。 安定化槽中の水溶液の温度は、常時70℃以上、
好ましくは80℃以上でコントロールするのが良
く、かかる温度より低い温度で中性シリカゾル水
溶液を添加した場合中性シリカゾルのコロイド粒
子への生長がおそく、安定化に長時間を必要とす
るとともに中性シリカゾル水溶液の添加速度が１
分間当りモル比（SiO2／R2O）10以下で添加され
ても時として全体がゲル化する場合があり製造上
問題である。 安定化槽への中性シリカゾル水溶液の添加は最
終製品として望みうるモル比のところで止めれば
よいが、限外過効率の点から最終製品としてモ
ル比（SiO2／R2O）20〜1000が好ましく、40〜
1000がより好ましい。 安定化槽中で安定化された５〜10mμの平均粒
子径をもつシリカゾル水溶液は、そのまま冷却し
ても十分安定であるが、好ましくは0.5〜４時間、
70℃以上の温度で更に熱処理した方がより限外
過効率が良くなる。 このようにして得られた５〜10mμの平均粒子
径をもつシリカゾル水溶液を常法の限外過法に
より濃縮して、本発明の安定な５〜10mμの平均
粒子径をもつシリカゾル水溶液を得る。 本発明は、安定な５〜10mμの平均粒子径をも
つシリカゾル水溶液を限外過法を用いて濃縮す
る場合、より工業的、経済的に有利な中性シリカ
ゾル水溶液の安定化法についてのものであり、以
下の濃縮前の安定な５〜10mμの平均粒子径をも
つシリカゾル水溶液の製造例及び該水溶液の限外
過による濃縮の実施例をもつて本発明を説明す
るが、本発明はこれらの範囲にとどまるものでは
ない。尚、例中の％は特記しない限り重量基準で
ある。 製造例 １ 珪酸ソーダJIS3号（旭電化工業(株)製品、
SiO229.0％、Na2O9.0％）を水で希釈しSiO25.8
％、Na2O1.8％の希薄珪酸ソーダ水溶液を作つ
た。この希薄珪酸ソーダ水溶液をあらかじめ10％
塩酸を用いて通常の方法で調整された水素型−陽
イオン交換樹脂（オルガノ(株)製品、アンバーライ
トIR−120B）に通液しSiO25.8％の酸性シリカゾ
ル水溶液を得た（PH2.5）。酸性シリカゾル水溶液
中の不純物として、HCl20ppm、NaCl100ppmを
含んでいた。 これを酸性シリカゾル水溶液Ｉとする。 酸性シリカゾル水溶液をあらかじめ10％
NaOH水溶液を用い通常の方法で調整された水
酸基型−陰イオン交換樹脂（オルガノ(株)製品アン
バーライトIRA−400）に通液し、SiO25.8％、PH
6.0の中性シリカゾル水溶液を得た。この中性シ
リカゾル水溶液中の不純物としてNaCl2ppm含ん
でいた。 これを中性シリカゾル水溶液とする。 中性シリカゾル水溶液400ｇを90℃に保ちつ
つ十分撹拌されているNa2O0.25％水溶液100ｇの
中に１分間当り15ｇ／分の速度で添加した。添加
は約27分で終わり、次いでそのまま90℃、30分間
撹拌して冷却し安定なシリカゾル水溶液を500ｇ
得た。 製造例 ２ 珪酸ソーダJIS3号（旭電化工業(株)製品、
SiO229.0％、Na2O9.0％）を水で希釈しSiO25.8
％、Na2O1.8％の希薄珪酸ソーダ水溶液を作つ
た。この希薄珪酸ソーダ水溶液をあらかじめ10％
H2SO4水溶液を用い通常の方法で調整された水
素型−陽イオン交換樹脂（オルガノ(株)製品、アン
バーライトIR−120B）に通液しSiO25.8％の酸性
シリカゾル水溶液を得た（PH2.7）。この酸性シリ
カゾル水溶液中の不純物としてH2SO410ppm、
Na2SO450ppmを含んでいた。 これを酸性シリカゾル水溶液とする。 酸性シリカゾル水溶液をあらかじめ10％
NaOH水溶液を用い通常の方法で調整された水
酸基型−陰イオン交換樹脂に通液しSiO25.8％、
PH5.5の中性シリカゾル水溶液を得た。この中性
シリカゾル中の不純物としてはNa2SO410ppmを
含んでいた。 これを中性シリカゾル水溶液とする。 中性シリカゾル水溶液400ｇを90℃に保ちつ
つ十分撹拌されているK2O0.2％水溶液100ｇ中に
１分間当り2.0ｇ／分の速度で添加した。添加は
約20分で終り次いでそのまま90℃で１時間撹拌し
その後冷却して安定なシリカゾル水溶液500ｇを
得た。 製造例 ３ 製造例１の中性シリカゾル水溶液500ｇを80
℃に保ちつつ十分に撹拌されているNa2O0.09％、
SiO20.29％水溶液（不純物としてNaCl20ppm、
Na2CO33ppmを含む）100ｇ中に１分間当り10
ｇ／分の速度で添加した。添加は約50分で終り、
その後90℃で２時間熱処理した後冷却して安定な
シリカゾル水溶液600ｇを得た。 製造例 ４ 製造例１で得られた安定化されたシリカゾル水
溶液100ｇを安定化槽に入れ90℃で撹拌しながら
３号珪酸ソーダ１ｇを添加し、次いで中性シリカ
ゾル水溶液400ｇを20ｇ／分の速度で添加した。
添加は約20分で終りそのままで２時間撹拌熱処理
を続け、その後冷却して安定なシリカゾル水溶液
501ｇを得た。 比較製造例 １ 中性シリカゾル水溶液I400ｇを80℃に保ちつつ
十分に撹拌されているNa2O0.25％水溶液100ｇに
１分間当り50ｇ／分の速度で添加した。約８分で
添加は終了したが、局部的ゲル化が生じた。その
後95℃で60分間熱処理して安定なシリカゾル水溶
液500ｇを得た。 比較製造例 ２ 酸性シリカゾル水溶液400ｇを製造例１の中
性シリカゾル水溶液に代えて用い、同様に処理
し安定なシリカゾル水溶液500ｇを得た。 比較製造例 ３ 酸性シリカゾル水溶液400ｇを製造例２の中
性シリカゾル水溶液に代えて用い同様に処理し
安定なシリカゾル水溶液500ｇを得た。 以上の製造例１〜４及び比較製造例１〜３の結
果を表−１にまとめて示す。 製造例１〜４及び比較製造例１〜３によつて得
られたシリカゾル水溶液中のシリカゾル粒子の粒
子径を測定する方法としては幾多知られている
が、そのうち電子顕微鏡法及びメチルレツド吸着
法により測定した結果を表−１に示す。表−１か
ら明らかな様に製造例１〜４は比較製造例１〜３
に比べて高モル比のシリカゾルがゲル化なしで得
られる。さらにシリカゾル粒子の平均粒子径が５
〜10mμの範囲に入り、小さいことが明らかであ
る。
高モル比（SiO2／R2O）のシリカゾル水溶液の製
造方法に関し、詳しくは限外過による濃縮効率
を向上させた５〜10mμの平均粒子径をもつ安定
なシリカゾル水溶液の製造方法に関するものであ
る。 一般にシリカゾルの製法は、珪酸ナトリウム、
珪素金属、珪酸エチル、珪酸クロライド等を原料
としイオン交換、加水分解、電気透析等の手法を
用いて一度希薄なシリカゾル水溶液を作り、次い
でこの希薄なシリカゾル水溶液を濃縮して市販に
供する濃度まで高めている。現在用いられている
濃縮方法は希薄シリカゾル水溶液を加熱して水分
を除くいわゆる蒸発濃縮法である。他方限外過
法を用いたシリカゾル水溶液の濃縮例はすでに公
知であり、例えば米国特許第396926号明細書にそ
の例が開示されている。 蒸発濃縮法の利点は、希薄な活性シリカゾル水
溶液を直接安定化濃縮できることであるが、欠点
としては濃縮のエネルギーコスト及び設備費がか
かることである。又蒸発濃縮は通常希薄シリカゾ
ル水溶液の沸点近くで水分を蒸発していることか
ら、シリカゾル粒子の粒子径増大が生じ一般に
10mμ以下の粒子径をもつシリカゾル溶液を得る
ことは困難である。 限外過法は、蒸発濃縮法にくらべて濃縮のエ
ネルギーコスト及び設備費において非常に有利で
あると考えられているが、今まで限外過の優位
性をより発揮する、安定でしかも５〜10mμの平
均粒子径を有するシリカゾル水溶液の製法が見い
出されていなかつた。 本発明者らは、限外過法を用いた濃縮効率の
良い、安定でしかも５〜10mμの平均粒子径を有
するシリカゾル水溶液の製造方法を見い出すべく
鋭意検討を重ねた結果、活性な酸性シリカゾル水
溶液から安定なシリカゾル水溶液を製造するに際
し、該酸性シリカゾル水溶液を水酸基型陰イオン
交換樹脂に通し一度活性な中性シリカゾル水溶液
を作りこの中性シリカゾル水溶液をあらかじめ70
℃以上の温度に調整されているアルカリ水溶液中
に１分間当り該中性シリカゾル水溶液中のSiO2
とアルカリ水溶液中のR2O（ＲはLi，Na，Ｋ，Cs
等のアルカリ金属又はNH4）とのモル比SiO2／
R2Oが10以下となる添加速度で連続的に添加し、
限外過により濃縮することにより、濃縮効率の
良い安定で５〜10mμの平均粒子径をもつシリカ
ゾル水溶液が得られることを見い出し、本発明に
到達した。 即ち、本発明は限外過法による濃縮効率の良
い安定で５〜10mμの平均粒子径をもつシリカゾ
ル水溶液を製造する方法を提供するものであり、
本発明で用いられる活性な酸性シリカゾル水溶液
とは例えばアルカリ金属珪酸塩水溶液を水素型の
陽イオン交換樹脂で反応処理して得られる酸性シ
リカゾル水溶液等のPH４以下の非常に不安定な酸
性シリカゾル水溶液をさす。この時の酸性シリカ
ゾル水溶液中の珪酸（SiO2）濃度は通常２〜10
％が普通である。 得られた酸性シリカゾル水溶液中には、不純物
として、塩酸、硝酸、硫酸、リン酸、炭酸、アル
ミン酸及びこれらのLi，Na，Ｋ，Cs、アンモニ
ウム塩が含まれている。 この不純物は、主に原料（例えばアルカリ金属
珪酸塩と水）と陽イオン交換樹脂再生工程からく
るものである。これらの不純物の存在は、安定化
槽内でのアルカリ中和、消費につながるばかりで
なく、シリカゾル粒子径の増大ひいては、限外
過の効率を低下させる。本発明では酸性シリカゾ
ル水溶液を水酸基型の陰イオン交換樹脂に通し中
性シリカゾル水溶液を得ることにより不純物を減
少させ、微細なシリカゾルを容易に得ることがで
きる。この中性シリカゾル水溶液は通常PH４〜８
を示し、不純物の総量は30ppm以下とするのがよ
い。 本発明においてアルカリ等の存在下で活性な中
性シリカゾル水溶液を安定なシリカゾル水溶液に
変える安定化槽は通常、槽容量の1/10〜1/2の水
溶液を満たし、70℃以上の温度で十分撹拌する。
安定化槽中の水溶液としてはモル比SiO2／R2Oが
０〜200、SiO2濃度０〜40％、R2O濃度0.01〜1.0
％のものが良い。R2O源としてはNaOH，
LiOH，KOH，CsOH，NH4OH、四級アルキル
アンモニウムハイドライド及びこれらの珪酸塩等
が挙げられる。又ここに含まれる不純物として
は、やはりLi，Na，Ｋ，Cs、アンモニアの塩
酸、硫酸、リン酸、硝酸、炭酸、アルミン酸塩が
挙げられ、単独もしくは複数の総量が30ppm以下
が好ましい。さらに又本発明の方法により得られ
た安定なシリカゾル水溶液を安定化槽に一部残し
更に珪酸ナトリウム等のアルカリを添加し、この
中に中性シリカゾル水溶液を上記SiO2／R2Oのモ
ル比で連続的に添加していくこともできる。 かかる安定化槽に活性な中性シリカゾル水溶液
を連続的に添加する速度は、安定化槽の水溶液中
のR2O濃度と密接な関係があり、１分間当り、中
性シリカゾル水溶液中のSiO2とアルカリ水溶液
中のR2O（Ｒは前記のとおり）とのモル比
（SiO2／R2O）が10以下となる速度で添加される
ことが必要である。 該モル比の下限は0.1以上であることが好まし
くこれ以下であると実際的に添加が困難となる。 更に好ましくは、該モル比１〜８の範囲で添加
するのがよい。 この場合のSiO2とはあくまでも連続的に安定
化槽に添加される中性シリカゾル水溶液中の珪酸
をさし、すでに安定化槽中に存在する水溶液中の
ケイ酸分は含まない。なぜならば、安定化槽中の
水溶液中に存在する珪酸はすぐに安定化され５〜
10mμの平均粒子径をもつコロイド粒子に生長し
ているからである。 モル比（SiO2／R2O）で１分間当り10を越えた
速度で中性シリカゾル水溶液を添加した場合は中
性シリカゾルのゲル化が起こり、生じたゲル体を
解こうするのに長時間の撹拌が必要であるととも
に最終的に安定化されたシリカゾルは、限外過
を用いて濃縮する場合の効率がおちる。 安定化槽中の水溶液の温度は、常時70℃以上、
好ましくは80℃以上でコントロールするのが良
く、かかる温度より低い温度で中性シリカゾル水
溶液を添加した場合中性シリカゾルのコロイド粒
子への生長がおそく、安定化に長時間を必要とす
るとともに中性シリカゾル水溶液の添加速度が１
分間当りモル比（SiO2／R2O）10以下で添加され
ても時として全体がゲル化する場合があり製造上
問題である。 安定化槽への中性シリカゾル水溶液の添加は最
終製品として望みうるモル比のところで止めれば
よいが、限外過効率の点から最終製品としてモ
ル比（SiO2／R2O）20〜1000が好ましく、40〜
1000がより好ましい。 安定化槽中で安定化された５〜10mμの平均粒
子径をもつシリカゾル水溶液は、そのまま冷却し
ても十分安定であるが、好ましくは0.5〜４時間、
70℃以上の温度で更に熱処理した方がより限外
過効率が良くなる。 このようにして得られた５〜10mμの平均粒子
径をもつシリカゾル水溶液を常法の限外過法に
より濃縮して、本発明の安定な５〜10mμの平均
粒子径をもつシリカゾル水溶液を得る。 本発明は、安定な５〜10mμの平均粒子径をも
つシリカゾル水溶液を限外過法を用いて濃縮す
る場合、より工業的、経済的に有利な中性シリカ
ゾル水溶液の安定化法についてのものであり、以
下の濃縮前の安定な５〜10mμの平均粒子径をも
つシリカゾル水溶液の製造例及び該水溶液の限外
過による濃縮の実施例をもつて本発明を説明す
るが、本発明はこれらの範囲にとどまるものでは
ない。尚、例中の％は特記しない限り重量基準で
ある。 製造例 １ 珪酸ソーダJIS3号（旭電化工業(株)製品、
SiO229.0％、Na2O9.0％）を水で希釈しSiO25.8
％、Na2O1.8％の希薄珪酸ソーダ水溶液を作つ
た。この希薄珪酸ソーダ水溶液をあらかじめ10％
塩酸を用いて通常の方法で調整された水素型−陽
イオン交換樹脂（オルガノ(株)製品、アンバーライ
トIR−120B）に通液しSiO25.8％の酸性シリカゾ
ル水溶液を得た（PH2.5）。酸性シリカゾル水溶液
中の不純物として、HCl20ppm、NaCl100ppmを
含んでいた。 これを酸性シリカゾル水溶液Ｉとする。 酸性シリカゾル水溶液をあらかじめ10％
NaOH水溶液を用い通常の方法で調整された水
酸基型−陰イオン交換樹脂（オルガノ(株)製品アン
バーライトIRA−400）に通液し、SiO25.8％、PH
6.0の中性シリカゾル水溶液を得た。この中性シ
リカゾル水溶液中の不純物としてNaCl2ppm含ん
でいた。 これを中性シリカゾル水溶液とする。 中性シリカゾル水溶液400ｇを90℃に保ちつ
つ十分撹拌されているNa2O0.25％水溶液100ｇの
中に１分間当り15ｇ／分の速度で添加した。添加
は約27分で終わり、次いでそのまま90℃、30分間
撹拌して冷却し安定なシリカゾル水溶液を500ｇ
得た。 製造例 ２ 珪酸ソーダJIS3号（旭電化工業(株)製品、
SiO229.0％、Na2O9.0％）を水で希釈しSiO25.8
％、Na2O1.8％の希薄珪酸ソーダ水溶液を作つ
た。この希薄珪酸ソーダ水溶液をあらかじめ10％
H2SO4水溶液を用い通常の方法で調整された水
素型−陽イオン交換樹脂（オルガノ(株)製品、アン
バーライトIR−120B）に通液しSiO25.8％の酸性
シリカゾル水溶液を得た（PH2.7）。この酸性シリ
カゾル水溶液中の不純物としてH2SO410ppm、
Na2SO450ppmを含んでいた。 これを酸性シリカゾル水溶液とする。 酸性シリカゾル水溶液をあらかじめ10％
NaOH水溶液を用い通常の方法で調整された水
酸基型−陰イオン交換樹脂に通液しSiO25.8％、
PH5.5の中性シリカゾル水溶液を得た。この中性
シリカゾル中の不純物としてはNa2SO410ppmを
含んでいた。 これを中性シリカゾル水溶液とする。 中性シリカゾル水溶液400ｇを90℃に保ちつ
つ十分撹拌されているK2O0.2％水溶液100ｇ中に
１分間当り2.0ｇ／分の速度で添加した。添加は
約20分で終り次いでそのまま90℃で１時間撹拌し
その後冷却して安定なシリカゾル水溶液500ｇを
得た。 製造例 ３ 製造例１の中性シリカゾル水溶液500ｇを80
℃に保ちつつ十分に撹拌されているNa2O0.09％、
SiO20.29％水溶液（不純物としてNaCl20ppm、
Na2CO33ppmを含む）100ｇ中に１分間当り10
ｇ／分の速度で添加した。添加は約50分で終り、
その後90℃で２時間熱処理した後冷却して安定な
シリカゾル水溶液600ｇを得た。 製造例 ４ 製造例１で得られた安定化されたシリカゾル水
溶液100ｇを安定化槽に入れ90℃で撹拌しながら
３号珪酸ソーダ１ｇを添加し、次いで中性シリカ
ゾル水溶液400ｇを20ｇ／分の速度で添加した。
添加は約20分で終りそのままで２時間撹拌熱処理
を続け、その後冷却して安定なシリカゾル水溶液
501ｇを得た。 比較製造例 １ 中性シリカゾル水溶液I400ｇを80℃に保ちつつ
十分に撹拌されているNa2O0.25％水溶液100ｇに
１分間当り50ｇ／分の速度で添加した。約８分で
添加は終了したが、局部的ゲル化が生じた。その
後95℃で60分間熱処理して安定なシリカゾル水溶
液500ｇを得た。 比較製造例 ２ 酸性シリカゾル水溶液400ｇを製造例１の中
性シリカゾル水溶液に代えて用い、同様に処理
し安定なシリカゾル水溶液500ｇを得た。 比較製造例 ３ 酸性シリカゾル水溶液400ｇを製造例２の中
性シリカゾル水溶液に代えて用い同様に処理し
安定なシリカゾル水溶液500ｇを得た。 以上の製造例１〜４及び比較製造例１〜３の結
果を表−１にまとめて示す。 製造例１〜４及び比較製造例１〜３によつて得
られたシリカゾル水溶液中のシリカゾル粒子の粒
子径を測定する方法としては幾多知られている
が、そのうち電子顕微鏡法及びメチルレツド吸着
法により測定した結果を表−１に示す。表−１か
ら明らかな様に製造例１〜４は比較製造例１〜３
に比べて高モル比のシリカゾルがゲル化なしで得
られる。さらにシリカゾル粒子の平均粒子径が５
〜10mμの範囲に入り、小さいことが明らかであ
る。
【表】
【表】
実施例１〜３、比較例１〜２
上記の製造例、比較製造例で得られた安定なシ
リカゾル水溶液を濃縮前のシリカ濃度が4.0％に
なる様に蒸留水で濃度調整し限外過装置を用い
て濃縮した。又、一部はフラスコを用いて蒸発濃
縮した。用いた限外過装置はバイオエンジニア
リング(株)製小型限外過装置を使用、過膜はア
ルバツクサービス(株)製Ｓ−60Tを使用した（過
面積0.0043m2、過圧力2.0Kg／cm2−Ｇ 20±１
℃）。又、得られた安定なシリカゾル濃縮液のシ
リカゾル粒子径をメチルレツド法で測定した。結
果を表−２に示す。 表−２から明らかな様に本発明の方法は比較例
に比べて限外過時間が短かく、加えて蒸発濃縮
等にみられるシリカゾル粒子の粒子径増大も生じ
ず安定でしかも５〜10mμの平均粒子径をもつシ
リカゾル濃縮液を得ることができる。
リカゾル水溶液を濃縮前のシリカ濃度が4.0％に
なる様に蒸留水で濃度調整し限外過装置を用い
て濃縮した。又、一部はフラスコを用いて蒸発濃
縮した。用いた限外過装置はバイオエンジニア
リング(株)製小型限外過装置を使用、過膜はア
ルバツクサービス(株)製Ｓ−60Tを使用した（過
面積0.0043m2、過圧力2.0Kg／cm2−Ｇ 20±１
℃）。又、得られた安定なシリカゾル濃縮液のシ
リカゾル粒子径をメチルレツド法で測定した。結
果を表−２に示す。 表−２から明らかな様に本発明の方法は比較例
に比べて限外過時間が短かく、加えて蒸発濃縮
等にみられるシリカゾル粒子の粒子径増大も生じ
ず安定でしかも５〜10mμの平均粒子径をもつシ
リカゾル濃縮液を得ることができる。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 活性な酸性シリカゾル水溶液から安定なシリ
カゾル水溶液を製造するに際し、該酸性シリカゾ
ル水溶液を水酸基型陰イオン交換樹脂に通し、活
性な中性シリカゾル水溶液を作り、この中性シリ
カゾル水溶液をあらかじめ70℃以上の温度に調整
されているアルカリ水溶液中に１分間当り、該中
性シリカゾル水溶液中のSiO2とアルカリ水溶液
中のR2O（Ｒはアルカリ金属又はNH4）とのモル
比SiO2／R2Oが10以下となる添加速度で連続的に
添加し、限外過により濃縮してシリカゾル水溶
液を製造することを特徴とするシリカゾルの製造
方法。 ２ アルカリ金属がLi，Na，Ｋ又はCsである特
許請求の範囲第１項記載の製造方法。 ３ 中性シリカゾル水溶液中の不純物（塩酸、硝
酸、硫酸、リン酸、炭酸、アルミン酸及びこれら
のLi，Na，Ｋ，Cs、アンモニウム塩）が、単独
もしくは複数で総量が30ppm以下である特許請求
の範囲第１項記載の製造方法。 ４ アルカリ水溶液中の不純物塩（Li，Na，Ｋ，
Cs、アンモニアの塩酸、硫酸、リン酸、炭酸、
硝酸、アルミン酸塩）が単独もしくは複数で総量
が30ppm以下である特許請求の範囲第１項記載の
製造方法。 ５ 中性シリカゾル水溶液をアルカリ水溶液中に
連続的に添加した後、熱処理を行なう特許請求の
範囲第１項記載の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20469881A JPS58110416A (ja) | 1981-12-18 | 1981-12-18 | シリカゾルの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20469881A JPS58110416A (ja) | 1981-12-18 | 1981-12-18 | シリカゾルの製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58110416A JPS58110416A (ja) | 1983-07-01 |
| JPH0127975B2 true JPH0127975B2 (ja) | 1989-05-31 |
Family
ID=16494828
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20469881A Granted JPS58110416A (ja) | 1981-12-18 | 1981-12-18 | シリカゾルの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58110416A (ja) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4222582B2 (ja) * | 1999-03-04 | 2009-02-12 | 日本化学工業株式会社 | 高純度シリカゾルの製造方法 |
| JP4631119B2 (ja) * | 2000-01-28 | 2011-02-16 | Ｊｓｒ株式会社 | 疎水化コロイダルシリカの製造方法 |
| JP4484602B2 (ja) * | 2004-07-07 | 2010-06-16 | エスケー化研株式会社 | 建築物外壁の改装方法 |
| JP4491313B2 (ja) * | 2004-07-07 | 2010-06-30 | エスケー化研株式会社 | 装飾面の塗装仕上げ方法、及び装飾積層体 |
| JP4491312B2 (ja) * | 2004-10-01 | 2010-06-30 | エスケー化研株式会社 | 透湿性塗膜の形成方法 |
| JP4484667B2 (ja) * | 2004-10-28 | 2010-06-16 | エスケー化研株式会社 | 塗装仕上げ方法 |
| JP5431120B2 (ja) * | 2009-11-06 | 2014-03-05 | 日本化学工業株式会社 | コロイダルシリカの製造方法 |
| CN113044850B (zh) * | 2019-12-26 | 2022-07-19 | 国家能源投资集团有限责任公司 | 一种硅溶胶的制备方法 |
-
1981
- 1981-12-18 JP JP20469881A patent/JPS58110416A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58110416A (ja) | 1983-07-01 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0537375B1 (en) | Method of preparing high-purity aqueous silica sol | |
| US5407600A (en) | Stable aqueous alumina sol and method for preparing the same | |
| JP3367132B2 (ja) | 高純度の水性シリカゾルの製造法 | |
| US4029513A (en) | Surface treated silica | |
| JP3463328B2 (ja) | 酸性シリカゾルの製造方法 | |
| JP4222582B2 (ja) | 高純度シリカゾルの製造方法 | |
| US4054536A (en) | Preparation of aqueous silica sols free of alkali metal oxides | |
| JPH0127975B2 (ja) | ||
| US7140201B2 (en) | Method for producing silica particles | |
| JP2508713B2 (ja) | 高純度大粒子径シリカゾルの製造法 | |
| US4915870A (en) | Process for the manufacture of potassium stabilized silica sols | |
| JP3225553B2 (ja) | 高純度の水性シリカゾルの製造方法 | |
| JP5431120B2 (ja) | コロイダルシリカの製造方法 | |
| JP3225549B2 (ja) | 高純度の水性シリカゾルの製造法 | |
| JP3362793B2 (ja) | シリカゾルの製造方法 | |
| US3440176A (en) | Preparation of silica sols of minimum turbidity | |
| JPH0123412B2 (ja) | ||
| JPH0124728B2 (ja) | ||
| JPH0123413B2 (ja) | ||
| JP2694163B2 (ja) | 高純度シリカの製造法 | |
| JPH0455970B2 (ja) | ||
| JPH0118006B2 (ja) | ||
| JP2004189534A (ja) | 低アルカリ金属含有水性シリカゾルの製造方法 | |
| JP2535972B2 (ja) | シリカゾルの製造方法 | |
| KR0153136B1 (ko) | 실리카졸의 제조방법 |