JPH01277246A - 電子写真感光体 - Google Patents
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- JPH01277246A JPH01277246A JP10659888A JP10659888A JPH01277246A JP H01277246 A JPH01277246 A JP H01277246A JP 10659888 A JP10659888 A JP 10659888A JP 10659888 A JP10659888 A JP 10659888A JP H01277246 A JPH01277246 A JP H01277246A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/02—Charge-receiving layers
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- G03G5/08—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
- G03G5/082—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
- G03G5/08214—Silicon-based
- G03G5/08235—Silicon-based comprising three or four silicon-based layers
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光導電性アモルファスシリコンカーバイド層か
ら成る電子写真感光体に関し、特に負極性に帯電可能な
電子写真感光体に関するものである。
ら成る電子写真感光体に関し、特に負極性に帯電可能な
電子写真感光体に関するものである。
近年、電子写真感光体の進歩は目覚ましく、感光体を搭
載する複写機やプリンター等の開発に伴って感光体自体
にも種々の特性が要求されている。
載する複写機やプリンター等の開発に伴って感光体自体
にも種々の特性が要求されている。
この要求に対してアモルファスシリコン層が耐熱性、耐
摩耗性、無公害性並びに光感度特性等に傍れているとい
う理由がら注目されている。
摩耗性、無公害性並びに光感度特性等に傍れているとい
う理由がら注目されている。
しかし乍ら、アモルファスシリコン(以下、a−Siと
略す)層は、それに何ら不純物元素をドーピングしない
と約10’Ω・cmの暗抵抗率しが得られず、これを電
子写真感光体に用いる場合には10+zΩ・0111以
上の暗抵抗率にして電荷保持能力を高める必要がある。
略す)層は、それに何ら不純物元素をドーピングしない
と約10’Ω・cmの暗抵抗率しが得られず、これを電
子写真感光体に用いる場合には10+zΩ・0111以
上の暗抵抗率にして電荷保持能力を高める必要がある。
そのためにホウ素などを添加しているが、十分に満足し
得るような暗抵抗率が得られず約1011Ω・cm程度
にすぎない。
得るような暗抵抗率が得られず約1011Ω・cm程度
にすぎない。
一方、上記の如きドーピング剤の開発と共に、a−3i
i導電層に別の非光導電層を積層して成る積層型感光体
が提案されている。
i導電層に別の非光導電層を積層して成る積層型感光体
が提案されている。
例えば、第2図はこの積層型感光体であり、基板(1)
の上にキャリア注入阻止層(2) 、a−5i光4電層
(3)及び表面保護層(4)が順次積層されている。
の上にキャリア注入阻止層(2) 、a−5i光4電層
(3)及び表面保護層(4)が順次積層されている。
この積層型感光体によれば、キャリア注入阻止層(2)
は基板(1)からのキャリアの注入を阻止するものであ
り、表面保31層(4)はa−3ii導電層(3)を保
護して耐湿性等を向上させるものであるが、両者のJ!
!(2) (4)ともに感光体の暗抵抗率を大きくして
帯電能を高めることが目的であり、そのため、これらの
層を光導電性にする必要はない。
は基板(1)からのキャリアの注入を阻止するものであ
り、表面保31層(4)はa−3ii導電層(3)を保
護して耐湿性等を向上させるものであるが、両者のJ!
!(2) (4)ともに感光体の暗抵抗率を大きくして
帯電能を高めることが目的であり、そのため、これらの
層を光導電性にする必要はない。
このように従来周知のa−Si感光体は光キャリア発生
層をa−5i光導電洒により形成させた点に大きな特徴
があり、これによって耐熱性、耐久性及び光感度特性な
どに優れた長所を有しているが、その反面、暗抵抗率が
不十分であり、そのためにドーピング剤を用いたり、更
に積層型感光体にすることで暗抵抗率を大きくしている
。即ち、積層型感光体に形成されるキャリア注入阻止層
(2)及び表面保護層(4)はa−5ii導電層自体が
有する欠点を補完するものであり、a−Si光光電電層
3)と実質上区別し得る層と言える。
層をa−5i光導電洒により形成させた点に大きな特徴
があり、これによって耐熱性、耐久性及び光感度特性な
どに優れた長所を有しているが、その反面、暗抵抗率が
不十分であり、そのためにドーピング剤を用いたり、更
に積層型感光体にすることで暗抵抗率を大きくしている
。即ち、積層型感光体に形成されるキャリア注入阻止層
(2)及び表面保護層(4)はa−5ii導電層自体が
有する欠点を補完するものであり、a−Si光光電電層
3)と実質上区別し得る層と言える。
本発明者等は上記事情に鑑みて、既にアモルファスシリ
コンカーバイド(以下、a−SiCと略す)は光導電性
を有すると共に暗抵抗率がドーピング剤の有無と無関係
に容易に10”Ω・cm以上になり、更にドーピング剤
の選択によって負極性に帯電可能な電子写真感光体と成
り得ることを見い出した。
コンカーバイド(以下、a−SiCと略す)は光導電性
を有すると共に暗抵抗率がドーピング剤の有無と無関係
に容易に10”Ω・cm以上になり、更にドーピング剤
の選択によって負極性に帯電可能な電子写真感光体と成
り得ることを見い出した。
上記a−3iC層が電子写真感光体と成り得た理由は、
その層が大きなキャリア移動度をもち、更に10− ”
(Ω・cm)−’以下の暗導電率となり、これによっ
て大きな帯電能が得られたためである。
その層が大きなキャリア移動度をもち、更に10− ”
(Ω・cm)−’以下の暗導電率となり、これによっ
て大きな帯電能が得られたためである。
しかしながら、このように大きなキャリア移動度をもつ
a−3iCi子写真感光体であっても、感光体搭載用機
器の開発が進展するのに伴って更に一層優れた電子写真
特性が望まれており、例えば光感度特性が要求される用
途に対して十分に満足し得ない場合であれば、画像にカ
プリが生じたり、残留電位が大きくなる。
a−3iCi子写真感光体であっても、感光体搭載用機
器の開発が進展するのに伴って更に一層優れた電子写真
特性が望まれており、例えば光感度特性が要求される用
途に対して十分に満足し得ない場合であれば、画像にカ
プリが生じたり、残留電位が大きくなる。
従って本発明は叙上に鑑みて案出されたものであり、そ
の目的はa−5rC層を実質上の光導電層とし、そして
、光感度特性などを改善して所要通りに電子写真特性を
向上させることができた電子写真感光体を提供すること
にある。
の目的はa−5rC層を実質上の光導電層とし、そして
、光感度特性などを改善して所要通りに電子写真特性を
向上させることができた電子写真感光体を提供すること
にある。
本発明の他の目的は負極性に帯電可能な電子写真感光体
を提供することにある。
を提供することにある。
本発明によれば、基板上に光導電性a−SiC層を形成
した電子写真感光体であって、前記a−3iC層は少な
くとも第1の層領域、第2の層領域、第3の層領域及び
第4のWJ碩域を具備し、第1の層領域は第2の層領域
より、第2の層領域は第3の層領域より、第3の層領域
は第4の層領域よりそれぞれ基板側に配置され、第3の
層領域は第2の層領域に比べて、第4の層領域は第3の
層領域に比ぺてそれぞれ炭素が多(含まれ、第2のN
flu域に周期律表第Va族元素(以下、Va族元素と
略す)をO乃至10.000ρpI11含有させると共
に第1の層領域に比べて少なく含まれ、更に第2の層領
域及び第3の層領域の少なくとも一方の層領域に酸素を
5×10〜5乃至1原子%含有させることを特徴とする
電子写真感光体が提供される。
した電子写真感光体であって、前記a−3iC層は少な
くとも第1の層領域、第2の層領域、第3の層領域及び
第4のWJ碩域を具備し、第1の層領域は第2の層領域
より、第2の層領域は第3の層領域より、第3の層領域
は第4の層領域よりそれぞれ基板側に配置され、第3の
層領域は第2の層領域に比べて、第4の層領域は第3の
層領域に比ぺてそれぞれ炭素が多(含まれ、第2のN
flu域に周期律表第Va族元素(以下、Va族元素と
略す)をO乃至10.000ρpI11含有させると共
に第1の層領域に比べて少なく含まれ、更に第2の層領
域及び第3の層領域の少なくとも一方の層領域に酸素を
5×10〜5乃至1原子%含有させることを特徴とする
電子写真感光体が提供される。
以下、本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明の電子写真感光体であり、同図によれば
、導電性基板(1)の上に光導電性a−SiC層(5)
が形成され、そして、核層(5)はVa族元素含有量又
は炭素含有量に対応された第1の層領域(5a)、第2
のNnM域(5b)、第3の層領域(5c)及び第4の
層領域(5d)から成る。
、導電性基板(1)の上に光導電性a−SiC層(5)
が形成され、そして、核層(5)はVa族元素含有量又
は炭素含有量に対応された第1の層領域(5a)、第2
のNnM域(5b)、第3の層領域(5c)及び第4の
層領域(5d)から成る。
本発明の電子写真感光体は第1の層領域(5a)及び第
2の層領域(5b)に所定の範囲内でVa族元素を含有
させた場合、負極性に帯電させることができ、しかも、
表面電位及び光感度が改善され、そして、第3の層領域
(5c)及び第4の層領域(5d)を形成して表面電位
を更に高め、また、第2の層領域(5b)及び/又は第
3の層領域(5C)に所定の範囲内で酸素を含有させ、
これによって光感度が一層改善されることが特徴である
。
2の層領域(5b)に所定の範囲内でVa族元素を含有
させた場合、負極性に帯電させることができ、しかも、
表面電位及び光感度が改善され、そして、第3の層領域
(5c)及び第4の層領域(5d)を形成して表面電位
を更に高め、また、第2の層領域(5b)及び/又は第
3の層領域(5C)に所定の範囲内で酸素を含有させ、
これによって光感度が一層改善されることが特徴である
。
先ず、a−SiC層が光導電性を有するようになった点
については、アモルファス化したケイ素と炭素を不可欠
な構成元素とし、更にそのダングリングボンドを終端さ
せるべく水素元素(11)やハロゲン元素を所要の範囲
内で含有させることによって光導電性が生じるものと考
えられる。本発明者等が炭素の含有比率を幾通りにも変
えて光導電性の有無を確かめる実験を行ったところ、a
−3iC層(5)中に炭素を1乃至90原子χ、好適に
は5乃至50原子χの範囲内で含有させるとよく、或い
はこの範囲内で層厚方向に亘って炭素含有量を変えても
よい。尚、上記炭素含有量はSi元素とC元素の合計含
有量に対するC元素含有比率によって表わされる。
については、アモルファス化したケイ素と炭素を不可欠
な構成元素とし、更にそのダングリングボンドを終端さ
せるべく水素元素(11)やハロゲン元素を所要の範囲
内で含有させることによって光導電性が生じるものと考
えられる。本発明者等が炭素の含有比率を幾通りにも変
えて光導電性の有無を確かめる実験を行ったところ、a
−3iC層(5)中に炭素を1乃至90原子χ、好適に
は5乃至50原子χの範囲内で含有させるとよく、或い
はこの範囲内で層厚方向に亘って炭素含有量を変えても
よい。尚、上記炭素含有量はSi元素とC元素の合計含
有量に対するC元素含有比率によって表わされる。
また、水素元素(11)やハロゲン元素の含有量は5乃
至50原子χ、好適には5乃至40原子χ、最適には1
0乃至30原子χがよく、通常、11元素が用いられて
いる。この11元素はダングリングボンドの終端部に取
り込まれ易いのでバンドギャップ中の局在準位密度を低
減化させ、これにより、優れた半導体特性が得られる。
至50原子χ、好適には5乃至40原子χ、最適には1
0乃至30原子χがよく、通常、11元素が用いられて
いる。この11元素はダングリングボンドの終端部に取
り込まれ易いのでバンドギャップ中の局在準位密度を低
減化させ、これにより、優れた半導体特性が得られる。
更にこのH元素の一部をハロゲン元素に置換してもよく
、これにより、a−SiC層の局在準位密度を下げて光
導電性及び耐熱性(温度特性)を高めることができる。
、これにより、a−SiC層の局在準位密度を下げて光
導電性及び耐熱性(温度特性)を高めることができる。
その置換比率はダングリングボンド終端用全元素中0.
01乃至50原子χ、好適には1乃至30原子χがよい
。また、ハロゲン元素にはF+C1+Br、1.^を等
があるが、就中、Fを用いるとその大きな電気陰性度に
よって原子間の結合が大きくなり、これによって熱的安
定性に優れるという点で望ましい。
01乃至50原子χ、好適には1乃至30原子χがよい
。また、ハロゲン元素にはF+C1+Br、1.^を等
があるが、就中、Fを用いるとその大きな電気陰性度に
よって原子間の結合が大きくなり、これによって熱的安
定性に優れるという点で望ましい。
また、a−SiCN(5)の各層領域については、第2
の層領域(5b)のVa族元素含有量がO乃至10.0
00ppa+ 、好適にはl乃至1 、000ppmの
範囲内で適宜決められ、これによって表面電位及び光感
度特性などの所要な電子写真特性が得られる。そして、
この層領域(5b)よりもVa族元素を多く含有した第
1の層領域(5a)を形成すると光導電性a−5iC層
(5)の基板側領域で導電率が太き(なり、これにより
、基板側からのキャリアの注入が阻止され、a−3iC
層(5)の全領域で発生した光キャリアが基板へ円滑に
流れ、その結果、表面電位及び光感度が一層改善される
。
の層領域(5b)のVa族元素含有量がO乃至10.0
00ppa+ 、好適にはl乃至1 、000ppmの
範囲内で適宜決められ、これによって表面電位及び光感
度特性などの所要な電子写真特性が得られる。そして、
この層領域(5b)よりもVa族元素を多く含有した第
1の層領域(5a)を形成すると光導電性a−5iC層
(5)の基板側領域で導電率が太き(なり、これにより
、基板側からのキャリアの注入が阻止され、a−3iC
層(5)の全領域で発生した光キャリアが基板へ円滑に
流れ、その結果、表面電位及び光感度が一層改善される
。
第1のJll ?iN域(5a)にVa族元素を含有さ
せるに当たり、その含有量を100ppn+以上に設定
するとよく、これによって暗抵抗率を下げて基板側へキ
ャリアが有効に流れ、その結果、表面電位及び光感度が
最も有利に改善される。
せるに当たり、その含有量を100ppn+以上に設定
するとよく、これによって暗抵抗率を下げて基板側へキ
ャリアが有効に流れ、その結果、表面電位及び光感度が
最も有利に改善される。
上記のような構成の感光体を正極性または負極性に帯電
させて両者の帯電性能を比較した場合、負極性で有利に
帯電能を高めることができる。
させて両者の帯電性能を比較した場合、負極性で有利に
帯電能を高めることができる。
このようにVa族元素のドーピングによって負極性に帯
電し易くなる点については、未だ解明されておらず、推
論の域を脱し得ないが、a−SiC層が負電荷を保持す
るのに十分に高い抵抗率がもち、また、基板からの正電
荷の注入を防ぐ効果にも優れ、しかも、負電荷に対する
電荷移動度が優れている等の理由によると考えられる。
電し易くなる点については、未だ解明されておらず、推
論の域を脱し得ないが、a−SiC層が負電荷を保持す
るのに十分に高い抵抗率がもち、また、基板からの正電
荷の注入を防ぐ効果にも優れ、しかも、負電荷に対する
電荷移動度が優れている等の理由によると考えられる。
このVa族元素としてはN、P、As、Sb、旧がある
が、就中、Pが共有結合性に優れて半導体特性を敏感に
変え得る点で望ましい。
が、就中、Pが共有結合性に優れて半導体特性を敏感に
変え得る点で望ましい。
第3のNi領域(5c)については、第2の層領域(5
b)に比べて炭素台・有量を多くし、これにより、感光
体表面側の暗抵抗率が大きくなり、その結果、表面電位
が顕著に向上する。この第3の層領域(5C)の炭素含
有量は10乃至90原子%、好適には20乃至50原子
%の範囲内に設定するとよい。
b)に比べて炭素台・有量を多くし、これにより、感光
体表面側の暗抵抗率が大きくなり、その結果、表面電位
が顕著に向上する。この第3の層領域(5C)の炭素含
有量は10乃至90原子%、好適には20乃至50原子
%の範囲内に設定するとよい。
また、第4の層領域(5d)については、第3の層領域
(5c)に比べて更に炭素含有量を多くし、これにより
、感光体表面側の暗抵抗率が一段と大きくなり、その結
果、耐電圧が高くて長寿命の感光体を得ることができる
。この第4の層領域(5d)の炭素含有量は20乃至9
0原子%、好適には30乃至60原子%の範囲内に設定
するとよい。
(5c)に比べて更に炭素含有量を多くし、これにより
、感光体表面側の暗抵抗率が一段と大きくなり、その結
果、耐電圧が高くて長寿命の感光体を得ることができる
。この第4の層領域(5d)の炭素含有量は20乃至9
0原子%、好適には30乃至60原子%の範囲内に設定
するとよい。
本発明によれば、上記のような層構成において、第2の
層領域(5b)及び/又は第3の層領域(5c)に酸素
が5X10−’乃至1原子χ含有された点に特徴があり
、この範囲内では電子写真特性全般に亘って特性の改善
が期待できるが、本発明者等は特に光感度特性に顕著な
効果があることを見い出した。
層領域(5b)及び/又は第3の層領域(5c)に酸素
が5X10−’乃至1原子χ含有された点に特徴があり
、この範囲内では電子写真特性全般に亘って特性の改善
が期待できるが、本発明者等は特に光感度特性に顕著な
効果があることを見い出した。
即ち、酸素を第2、第3の層領域(5b) (5c)に
5XIO−S乃至l原子χ、好適には5X10−’乃至
0.1原子χ、最適には5X10−’乃至0.1原子χ
の範囲内で含有させた場合、光感度が向上し、これによ
り、この感光体を搭載した機器を更に広範な用途に適応
し得るようになり、当然のことながら光感度の低下に伴
って生じていた問題、即ち、画像のカブリや高い残¥1
電位が解決される。
5XIO−S乃至l原子χ、好適には5X10−’乃至
0.1原子χ、最適には5X10−’乃至0.1原子χ
の範囲内で含有させた場合、光感度が向上し、これによ
り、この感光体を搭載した機器を更に広範な用途に適応
し得るようになり、当然のことながら光感度の低下に伴
って生じていた問題、即ち、画像のカブリや高い残¥1
電位が解決される。
このようにして解決し得た点について本発明者等は未だ
十分に解明していないが、酸素が上述したダングリング
ボンド終端用元素になっているものと考える。
十分に解明していないが、酸素が上述したダングリング
ボンド終端用元素になっているものと考える。
第2.3の層領域(5b) (5c)に酸素を含有させ
るに当たっては、種々の薄膜生成手段に用いられる原料
ガスに酸素ガス(0□)、または、co、 co□、N
01N、O、NO,等の酸素元素含有ガスを含有すれば
よく、或いは上述の範囲内で膜中に含有されるのであれ
ば、不純物として不可避的に含有されたものであっても
よい。
るに当たっては、種々の薄膜生成手段に用いられる原料
ガスに酸素ガス(0□)、または、co、 co□、N
01N、O、NO,等の酸素元素含有ガスを含有すれば
よく、或いは上述の範囲内で膜中に含有されるのであれ
ば、不純物として不可避的に含有されたものであっても
よい。
上記の如き光R電性a−5iC層(5)の厚みは、少な
くとも5μm以上あればよく、これによって表面電位が
200V以上となり、更に画像の分解能及び画像流れが
生じない範囲内でその上限が適宜選ばれており、本発明
者等の実験によれば、5乃至100μm、好適には10
乃至50μmの範囲内に設定するとよい。
くとも5μm以上あればよく、これによって表面電位が
200V以上となり、更に画像の分解能及び画像流れが
生じない範囲内でその上限が適宜選ばれており、本発明
者等の実験によれば、5乃至100μm、好適には10
乃至50μmの範囲内に設定するとよい。
また、第1のNt’6M域(5a)の厚みは0.05乃
至10μm、好適には0.1乃至5μmの範囲内に設定
するとよく、この範囲内であれば残留電位を有利に低下
させることができ、また、第2の層領域(5b)の厚み
は5乃至100 μm、好適には10乃至50μmの範
囲内に設定するとよく、この範囲内であれば表面電位及
び光感度の改善効果に優れる。
至10μm、好適には0.1乃至5μmの範囲内に設定
するとよく、この範囲内であれば残留電位を有利に低下
させることができ、また、第2の層領域(5b)の厚み
は5乃至100 μm、好適には10乃至50μmの範
囲内に設定するとよく、この範囲内であれば表面電位及
び光感度の改善効果に優れる。
第3の層領域(5c)の厚みは、第2の層領域(5b)
に比べて1倍以下、好適には1/2倍以下、最適には1
74倍以下がよく、このような厚みに設定された場合、
表面電位が顕著に向上し、光感度に優れ、残留電位が小
さくなる。
に比べて1倍以下、好適には1/2倍以下、最適には1
74倍以下がよく、このような厚みに設定された場合、
表面電位が顕著に向上し、光感度に優れ、残留電位が小
さくなる。
第4の層領域(5d)の厚みは0.1乃至5μm、好適
には0.5乃至3μmの範囲内に設定するとよく、この
場合、残留電位が低く、表面電位が向上し、耐電圧が高
い長寿命の感光体となる。
には0.5乃至3μmの範囲内に設定するとよく、この
場合、残留電位が低く、表面電位が向上し、耐電圧が高
い長寿命の感光体となる。
かくして本発明の電子写真感光体によれば、実質上光導
電性a−5iC層から成り、その層内部にVa族元素、
炭素及び酸素を所定の範囲内で含有させることにより表
面電位及び光感度などの電子写真特性が改善される。
電性a−5iC層から成り、その層内部にVa族元素、
炭素及び酸素を所定の範囲内で含有させることにより表
面電位及び光感度などの電子写真特性が改善される。
また、本発明の電子写真感光体については、a−5rC
層(5)の炭素含有量を層厚方向に亘って変化させても
よく、例えば第3図乃至第6図に示す通りにしてもよい
。
層(5)の炭素含有量を層厚方向に亘って変化させても
よく、例えば第3図乃至第6図に示す通りにしてもよい
。
これらの図において、横軸はa−3iC層(5)の層厚
方向を示し、aは基板(1)との界面、bは第1の層領
域(5a)と第2の層領域(5b)の界面、Cは第2の
層領域(5b)と第3の層領域(5c)の界面、dは第
3のNwi域(5c)と第4のJLiJI域(5d)の
界面、eは感光体表面であり、また、縦軸は炭素含有量
である。
方向を示し、aは基板(1)との界面、bは第1の層領
域(5a)と第2の層領域(5b)の界面、Cは第2の
層領域(5b)と第3の層領域(5c)の界面、dは第
3のNwi域(5c)と第4のJLiJI域(5d)の
界面、eは感光体表面であり、また、縦軸は炭素含有量
である。
或いは、a−SiCN (5)のVa族元素含有量を例
えば第7図乃至第1O図に示す通りに第1のJi eJ
f域(5a)及び第2の層領域(5b)の層厚方向に亘
って変化させてもよい。
えば第7図乃至第1O図に示す通りに第1のJi eJ
f域(5a)及び第2の層領域(5b)の層厚方向に亘
って変化させてもよい。
更に本発明によれば、a−SiC層(5)の表面上に従
来周知の表面保護層を形成してもよい。この表面保護層
はそれ自体高絶縁性、高耐食性及び高硬度性を有するも
のであれば種々の材料を用いることができ、例えばポリ
イミド樹脂などの有機材料+ a −S i CIS
i 021 S i O+ A l z 02 lS
i C+ S i x N * + a −S i +
a −S i : II 1a−Si:F、a−Si
C;II、a−3iC:Fなどの無機材料を用いること
ができる。
来周知の表面保護層を形成してもよい。この表面保護層
はそれ自体高絶縁性、高耐食性及び高硬度性を有するも
のであれば種々の材料を用いることができ、例えばポリ
イミド樹脂などの有機材料+ a −S i CIS
i 021 S i O+ A l z 02 lS
i C+ S i x N * + a −S i +
a −S i : II 1a−Si:F、a−Si
C;II、a−3iC:Fなどの無機材料を用いること
ができる。
或いは基板(1)とa−3iC1i(5)の間に従来周
知のキャリア注入阻止層を形成してもよ(、この層には
上記表面保護層と同じ材料が用いられる。
知のキャリア注入阻止層を形成してもよ(、この層には
上記表面保護層と同じ材料が用いられる。
次に本発明の電子写真感光体の製法を述べる。
本発明に係るa−5iC層を形成する場合、グロー放電
分解法、イオンブレーティング法、反応性スバッタリン
グ法、真空蒸着法、CVD法などの薄膜生成技術を用い
ることができ、また、これに用いられる原料には固体、
液体、気体のいずれでもよい。例えばグロー放電分解法
に用いられる気体原料として5i14.Si、Il、、
5isllsなどのSi元素系ガス、C114,、C,
Il□、Ca114.CaHa、CJaなどのC元素系
ガスがあり、そして、tleガス、11.ガス等をキャ
リアガスとして用いればよい。
分解法、イオンブレーティング法、反応性スバッタリン
グ法、真空蒸着法、CVD法などの薄膜生成技術を用い
ることができ、また、これに用いられる原料には固体、
液体、気体のいずれでもよい。例えばグロー放電分解法
に用いられる気体原料として5i14.Si、Il、、
5isllsなどのSi元素系ガス、C114,、C,
Il□、Ca114.CaHa、CJaなどのC元素系
ガスがあり、そして、tleガス、11.ガス等をキャ
リアガスとして用いればよい。
本発明の電子写真感光体をグロー放電分解法により製作
する場合、Si元素系ガス及びアセチレン(CJ□)ガ
スの混合ガスよりa−3iC層を形成させると著しく大
きな高速成膜性が達成できる点で望ましい。本発明者等
が繰り返し行った実験によれば、5i11.ガス及びC
zHtガスを用いた場合、57’l至20μre/時の
成膜速度が得られた。因にS i II 4ガスと01
14ガスを用いてa−3iC膜を生成した場合、その成
膜速度は約0.3乃至1IJIII1時である。
する場合、Si元素系ガス及びアセチレン(CJ□)ガ
スの混合ガスよりa−3iC層を形成させると著しく大
きな高速成膜性が達成できる点で望ましい。本発明者等
が繰り返し行った実験によれば、5i11.ガス及びC
zHtガスを用いた場合、57’l至20μre/時の
成膜速度が得られた。因にS i II 4ガスと01
14ガスを用いてa−3iC膜を生成した場合、その成
膜速度は約0.3乃至1IJIII1時である。
次に本発明の実施例に用いられる容量結合型グロー放電
分解装置を第11図により説明する。
分解装置を第11図により説明する。
図中、第1.第2.第3.第4.第5.第6タンク(6
) (7)(8) (9) (10) (11)には、
それぞれ5ll14.Czll□、Plh (Ihガス
希釈で0.2χ含有)、pHz (Ilzガス希釈で3
3ppm含有)、11□、NOガスが密封されており、
11□はキャリアガスとしても用いられる。これらのガ
スは対応する第1.第2.第3.第4.第5.第6調整
弁(12) (13) (14) (15) (16)
(17)を開放することにより放出され、その流量が
マスフローコントローラ(18) (19) (20)
(21) (22) (23)により制御され、第1.
第2.第3.第4゜第5タンク(6) (7) (8)
(9) (10)からのガスは第1主管(24)へ、
第6タンク(11)からのNOガスは第2主管(25)
へ送られる。尚、(26) (27)は止め弁である。
) (7)(8) (9) (10) (11)には、
それぞれ5ll14.Czll□、Plh (Ihガス
希釈で0.2χ含有)、pHz (Ilzガス希釈で3
3ppm含有)、11□、NOガスが密封されており、
11□はキャリアガスとしても用いられる。これらのガ
スは対応する第1.第2.第3.第4.第5.第6調整
弁(12) (13) (14) (15) (16)
(17)を開放することにより放出され、その流量が
マスフローコントローラ(18) (19) (20)
(21) (22) (23)により制御され、第1.
第2.第3.第4゜第5タンク(6) (7) (8)
(9) (10)からのガスは第1主管(24)へ、
第6タンク(11)からのNOガスは第2主管(25)
へ送られる。尚、(26) (27)は止め弁である。
第1主管(24)及び第2主管(25)を通じて流れる
ガスは反応管(28)へと送り込まれるが、この反応管
(28)の内部には容量結合型放電用電I!18(29
)が設置されており、それに印加される高周波電力は5
0−乃至3に−が、また、その周波数はl Mllz乃
至50MIIzが適当である0反応管(28)の内部に
は、アルミニウムから成る筒状の成膜用基板(30)が
試料保持台(31)の上に載置されており、この保持台
(31)はモーター(32)により回転駆動され、そし
て、基板(30)は適当な加熱手段により約200乃至
400基板(30)は適当な加熱手段により約200乃
至400℃、好適には約200乃至350℃の温度に均
一に加熱される。また、反応管(28)の内部はa−S
iC膜形成時に高度の真空状f13i(放電時のガス圧
0.1乃至2.0Torr )を必要とし、そのため反
応管(28)は回転ポンプ(33)と拡散ポンプ(34
)に連結されている。
ガスは反応管(28)へと送り込まれるが、この反応管
(28)の内部には容量結合型放電用電I!18(29
)が設置されており、それに印加される高周波電力は5
0−乃至3に−が、また、その周波数はl Mllz乃
至50MIIzが適当である0反応管(28)の内部に
は、アルミニウムから成る筒状の成膜用基板(30)が
試料保持台(31)の上に載置されており、この保持台
(31)はモーター(32)により回転駆動され、そし
て、基板(30)は適当な加熱手段により約200乃至
400基板(30)は適当な加熱手段により約200乃
至400℃、好適には約200乃至350℃の温度に均
一に加熱される。また、反応管(28)の内部はa−S
iC膜形成時に高度の真空状f13i(放電時のガス圧
0.1乃至2.0Torr )を必要とし、そのため反
応管(28)は回転ポンプ(33)と拡散ポンプ(34
)に連結されている。
以上のように構成されたグロー放電分解装置において、
例えば、a−3iC1tQ(酸素、Pを含有する)を基
板(30)に形成する場合には、第1.第2.第3.第
5調整弁(12) (13) (14) (16)を開
いて5il14. c!)If、pI+ 、 、 11
□ガスを放出し、第6調整弁(17)を開いてN。
例えば、a−3iC1tQ(酸素、Pを含有する)を基
板(30)に形成する場合には、第1.第2.第3.第
5調整弁(12) (13) (14) (16)を開
いて5il14. c!)If、pI+ 、 、 11
□ガスを放出し、第6調整弁(17)を開いてN。
ガスを放出する。放出量はマスフローコントローラ(1
8) (19) (20) (22) (23)により
制御され、5iHa、C211□、PII3.Hzの混
合ガスは第1主管(24)を介して、また、NOガスは
第2主管(25)を介して反応管(28)へ流し込まれ
る。そして、反応管(28)の内部が0゜1乃至2.0
Torr程度の真空状態、基板温度が200乃至400
℃、容量型放電用電極(29)の高周波電力が50讐乃
至3に−1また、周波数が1乃至59MHzに設定され
ていることに相俟ってグロー放電が起こり、ガスが分解
して酸素及びPを含有したa−SiC膜が基板上に高速
で形成される。
8) (19) (20) (22) (23)により
制御され、5iHa、C211□、PII3.Hzの混
合ガスは第1主管(24)を介して、また、NOガスは
第2主管(25)を介して反応管(28)へ流し込まれ
る。そして、反応管(28)の内部が0゜1乃至2.0
Torr程度の真空状態、基板温度が200乃至400
℃、容量型放電用電極(29)の高周波電力が50讐乃
至3に−1また、周波数が1乃至59MHzに設定され
ていることに相俟ってグロー放電が起こり、ガスが分解
して酸素及びPを含有したa−SiC膜が基板上に高速
で形成される。
次に本発明の実施例を詳細に説明する。
(例1)
本例においては、第1表に示す条件によりアルミニウム
製基板(30)の上に光導電性a−SiC層を形成し、
その電子写真特性を測定した。但し、第1の層領域(5
a)を形成するに当たって、NOガスを導入し、この層
領域(5a)に酸素及び窒素を含有せしめ、これによっ
て基板(30)に対する膜の密着力を高めている。
製基板(30)の上に光導電性a−SiC層を形成し、
その電子写真特性を測定した。但し、第1の層領域(5
a)を形成するに当たって、NOガスを導入し、この層
領域(5a)に酸素及び窒素を含有せしめ、これによっ
て基板(30)に対する膜の密着力を高めている。
電子写真特性として表面電位、光感度及び残留電位を測
定したところ、下記の通りの結果が得られた。この測定
結果は−5,6kvのコロナチャージャで帯電させ、次
いで、分光された単色光(650nm)を感光体表面に
照射して求められた。
定したところ、下記の通りの結果が得られた。この測定
結果は−5,6kvのコロナチャージャで帯電させ、次
いで、分光された単色光(650nm)を感光体表面に
照射して求められた。
表面電位・・・−840■
光感度 ・・・0.70 cm”erg−’残留電位(
露光開始5秒後の値) ・・・35V また、第1の層領域、第2の層領域及び第3の層領域の
それぞれの炭素含有量(Si元素とC元素の合計含有量
に対するC元素含有比率)をXMA分析により求め、そ
して、各々の層領域のP含有量及び酸素含有量を二次イ
オン質量分析により求めたところ、下記の通りの結果が
得られた。
露光開始5秒後の値) ・・・35V また、第1の層領域、第2の層領域及び第3の層領域の
それぞれの炭素含有量(Si元素とC元素の合計含有量
に対するC元素含有比率)をXMA分析により求め、そ
して、各々の層領域のP含有量及び酸素含有量を二次イ
オン質量分析により求めたところ、下記の通りの結果が
得られた。
築U■1皿履
炭素含有量・・・23原子%
P含有量・・・・900ppm
酸素含有量・・・0.5原子%
玉し■鳳皿l
炭素含有量・・・工8原子%
P含有量・・・・15ppm
酸素含有量・・・5 Xl0−”原子%策り旦尋■履
炭素含有量・・・34原子%
酸素含有量・・・5 Xl0−”原子%員(叫1班戦
炭素含有量・・・45原子%
酸素含有量・・・5 Xl0−”原子%(例2)
本例においては、(例1)の電子写真感光体を製作する
に当たって、第6タンク(11)にNOガスに代わって
0□ガスが密封されたタンクを用いて、第2表に示す条
件により電子写真感光体を製作した。その感光体の電子
写真特性は下記の通りとなった。
に当たって、第6タンク(11)にNOガスに代わって
0□ガスが密封されたタンクを用いて、第2表に示す条
件により電子写真感光体を製作した。その感光体の電子
写真特性は下記の通りとなった。
表面電位・・・−850ν
光感度・・・・0.68cmterg−1残留型位・・
・37V 〔以下余白〕 また、各々の層領域の炭素含有量、P含有量並びに酸素
含有量を測定したところ、下記の通りの結果が得られた
。
・37V 〔以下余白〕 また、各々の層領域の炭素含有量、P含有量並びに酸素
含有量を測定したところ、下記の通りの結果が得られた
。
爪り色腹皿故
炭素含有量・・・23原子%
P含有量・・・・900ppm
酸素含有量・・・0.8原子%
工し■履凱贋
炭素含有量・・・18原子%
P含有量・・・・15 ppm
酸素含有量・・・8 Xl0−”原子%第亀−!lii
成 炭素含有量・・・34原子% 酸素含有量・・・8 Xl0−”原子%策V■星凱域 炭素含有量・・・45原子% 酸素含有量・・・8 Xl0−”原子%(例3) (例2)のなかで第2の層領域に含有されているP及び
酸素の含有量を変えた場合、また、第3の層領域に含有
されている酸素含有量を変えた場合、これによって得ら
れた各種感光体の画質評価を行ったところ、第3表に示
す通りの結果が得られた。
成 炭素含有量・・・34原子% 酸素含有量・・・8 Xl0−”原子%策V■星凱域 炭素含有量・・・45原子% 酸素含有量・・・8 Xl0−”原子%(例3) (例2)のなかで第2の層領域に含有されているP及び
酸素の含有量を変えた場合、また、第3の層領域に含有
されている酸素含有量を変えた場合、これによって得ら
れた各種感光体の画質評価を行ったところ、第3表に示
す通りの結果が得られた。
同表中、画質評価は4段階に区分されており、◎印は画
像濃度が高く、しかも、高光感度で且つカブリが全く生
じなかった場合であり、O印は光感度及び画像濃度の点
で上記評価より劣るが、実用上支障がない位の画質の場
合であり、Δ印は画像濃度が得られたが、若干カブリが
生じて実用上支障がでた場合であり、X印は光感度、画
像濃度、カプリのいずれの点についても劣っている場合
を示す。
像濃度が高く、しかも、高光感度で且つカブリが全く生
じなかった場合であり、O印は光感度及び画像濃度の点
で上記評価より劣るが、実用上支障がない位の画質の場
合であり、Δ印は画像濃度が得られたが、若干カブリが
生じて実用上支障がでた場合であり、X印は光感度、画
像濃度、カプリのいずれの点についても劣っている場合
を示す。
第3表より明らかな通り、本発明の感光体C乃至Iは優
れた光感度及び画像濃度が得られ、しかも、カプリが顕
著に低減化された或いは全く生じ・ないことが判った。
れた光感度及び画像濃度が得られ、しかも、カプリが顕
著に低減化された或いは全く生じ・ないことが判った。
然るに、感光体A及び感光体Bは酸素含有量が少なく、
そのため画像にカプリが生じ、また、感光体JはP含有
量が多く、感光体に、Lについては酸素含有量が多く、
いずれの感光体も画像濃度が低く、しかも、光感度に劣
り、画像にカブリが生じた。
そのため画像にカプリが生じ、また、感光体JはP含有
量が多く、感光体に、Lについては酸素含有量が多く、
いずれの感光体も画像濃度が低く、しかも、光感度に劣
り、画像にカブリが生じた。
(例4)
(例3)の感光体Eについて、第4の層領域を形成する
に当たって、炭素含有量を変えた場合、これによって得
られた各種感光体の画質評価を行ったところ、第4表に
示す通りの結果が得られた。
に当たって、炭素含有量を変えた場合、これによって得
られた各種感光体の画質評価を行ったところ、第4表に
示す通りの結果が得られた。
第4表
第4表より明らかな通り、感光体N及び感光体Oは優れ
た画質が得られた。然るに、感光体とは炭素含有量が多
く、そのために画質にガブリが認められた。また、感光
体P及び感光体0は炭素含有量が少なく、顕著に劣った
画質となった。
た画質が得られた。然るに、感光体とは炭素含有量が多
く、そのために画質にガブリが認められた。また、感光
体P及び感光体0は炭素含有量が少なく、顕著に劣った
画質となった。
以上の通り、本発明の電子写真感光体によれば、全層に
亘って光導電性を有するa−SiCが高い暗抵抗率とな
り、且つ光感度特性にも優れていることによって実質上
表面保護層及びキャリア注入阻止層を不要とすることが
でき、その結果、光導電性a−SiC層から成る電子写
真感光体が提供できた。
亘って光導電性を有するa−SiCが高い暗抵抗率とな
り、且つ光感度特性にも優れていることによって実質上
表面保護層及びキャリア注入阻止層を不要とすることが
でき、その結果、光導電性a−SiC層から成る電子写
真感光体が提供できた。
また本発明の電子写真感光体によれば、所定量の酸素を
含有させることによって光感度が向上し、更に電子写真
特性全般に亘って改善され、その結果、−段と高性能な
電子写真感光体が提供できる。
含有させることによって光感度が向上し、更に電子写真
特性全般に亘って改善され、その結果、−段と高性能な
電子写真感光体が提供できる。
更に本発明の電子写真感光体によれば、層厚方向に亘っ
てVa族元素及び炭素の含有量を変えることによって表
面電位を向上させると共に光感度特性を高め、且つ残留
電位を顕著に小さくすることができ、その結果、格段に
高性能な電子写真感光体が提供できる。
てVa族元素及び炭素の含有量を変えることによって表
面電位を向上させると共に光感度特性を高め、且つ残留
電位を顕著に小さくすることができ、その結果、格段に
高性能な電子写真感光体が提供できる。
また、本発明によれば、負極性に有利に帯電することが
できる負極性用電子写真感光体が提供される。
できる負極性用電子写真感光体が提供される。
本発明の電子写真感光体によれば、それ自体で帯電能及
び耐環境性に優れていることから、特に保護層を設ける
必要がな(、例えばコロナ放電による被曝或いは現像剤
の樹脂成分の感光体表面へのフィルミング等によって表
面が劣化した場合、その劣化した表面を研摩剤等で研摩
再生を繰り返し行ってもその研摩量において制限を受け
ずに感光体の初期特性を維持することができ、それによ
って初期における良好な画像を長期に亘り安定して供給
することが可能となる。
び耐環境性に優れていることから、特に保護層を設ける
必要がな(、例えばコロナ放電による被曝或いは現像剤
の樹脂成分の感光体表面へのフィルミング等によって表
面が劣化した場合、その劣化した表面を研摩剤等で研摩
再生を繰り返し行ってもその研摩量において制限を受け
ずに感光体の初期特性を維持することができ、それによ
って初期における良好な画像を長期に亘り安定して供給
することが可能となる。
更に、従来のa−5t悪感光を長期間に亘って使用した
場合にはコロナ放電に伴って感光体表面の局所的な放電
破壊が発生し易くなり、これに起因して画像に斑点が生
じるという問題があったが、本発明によれば、a−St
の誘電率がε=12であるのに対してa−5iCはε・
7と約半分程度であるために帯電能に優れており、これ
により、表面電位を高くしても何ら上記の放電破壊が発
生しなくなり、その結果、高品質且つ高信頼性の電子写
真感光体が提供される。
場合にはコロナ放電に伴って感光体表面の局所的な放電
破壊が発生し易くなり、これに起因して画像に斑点が生
じるという問題があったが、本発明によれば、a−St
の誘電率がε=12であるのに対してa−5iCはε・
7と約半分程度であるために帯電能に優れており、これ
により、表面電位を高くしても何ら上記の放電破壊が発
生しなくなり、その結果、高品質且つ高信頼性の電子写
真感光体が提供される。
更にまた、本発明の電子写真感光体を従来のa−5t悪
感光と比較した場合、このa−3i悪感光の問題点とし
て耐湿性に劣っているので画像流れが生じ易く、また、
帯電能に劣っているのでゴースト現象が発生するが、こ
れを解決するためにa−St感光体の使用時にヒータを
用いてその感光体を加熱し、その発生を防止している。
感光と比較した場合、このa−3i悪感光の問題点とし
て耐湿性に劣っているので画像流れが生じ易く、また、
帯電能に劣っているのでゴースト現象が発生するが、こ
れを解決するためにa−St感光体の使用時にヒータを
用いてその感光体を加熱し、その発生を防止している。
これに対して本発明の電子写真感光体は耐湿性且つ帯電
能に優れているために上記のようにヒータを用いて使用
する必要はないという利点がある。
能に優れているために上記のようにヒータを用いて使用
する必要はないという利点がある。
また、本発明の電子写真感光体はa−5i悪感光と比べ
て炭素の含有量を変えるだけで幅広い分光感度特性(ピ
ーク600〜700nm )が得られると共に光感度自
体を増大させることができ、更に必要に応じて不純物元
素をドーピングすれば長波長側の増感も可能になるとい
う利点がある。
て炭素の含有量を変えるだけで幅広い分光感度特性(ピ
ーク600〜700nm )が得られると共に光感度自
体を増大させることができ、更に必要に応じて不純物元
素をドーピングすれば長波長側の増感も可能になるとい
う利点がある。
第1図は本発明の電子写真感光体の層構成を示す断面図
、第2図は従来の電子写真感光体の層構造を示す断面図
、また、第3図、第4図、第5図及び第6図は本発明電
子写真感光体の炭素含有量を示す線図、そして、第7図
、第8図、第9図及び第1O図は本発明電子写真感光体
の周期律表第Va族元素含を量を示す線図、第11図は
実施例に用いられる容量結合型グロー放電分解装置の説
明図である。 1・・・基板 5.・・・・光導電性アモルファスシリコンカーバイド
層 5a・・・第1の層領域 5b・・・第2の層領域 5c・・・第3の1i領域 5d・・・第4のI′!領域 特許出願人 (663)京セラ株式会社代表者安城欽寿 同 河村孝夫
、第2図は従来の電子写真感光体の層構造を示す断面図
、また、第3図、第4図、第5図及び第6図は本発明電
子写真感光体の炭素含有量を示す線図、そして、第7図
、第8図、第9図及び第1O図は本発明電子写真感光体
の周期律表第Va族元素含を量を示す線図、第11図は
実施例に用いられる容量結合型グロー放電分解装置の説
明図である。 1・・・基板 5.・・・・光導電性アモルファスシリコンカーバイド
層 5a・・・第1の層領域 5b・・・第2の層領域 5c・・・第3の1i領域 5d・・・第4のI′!領域 特許出願人 (663)京セラ株式会社代表者安城欽寿 同 河村孝夫
Claims (1)
- 基板上に光導電性アモルファスシリコンカーバイド層を
形成した電子写真感光体であって、前記アモルファスシ
リコンカーバイド層は少なくとも第1の層領域、第2の
層領域、第3の層領域及び第4の層領域を具備し、第1
の層領域は第2の層領域より、第2の層領域は第3の層
領域より、第3の層領域は第4の層領域よりそれぞれ基
板側に配置され、第3の層領域は第2の層領域に比べて
、第4の層領域は第3の層領域に比べてそれぞれ炭素が
多く含まれ、第2の層領域に周期律表第Va族元素を0
乃至10,000ppm含有させると共に第1の層領域
に比べて少なく含まれ、更に第2の層領域及び第3の層
領域の少なくとも一方の層領域に酸素を5×10^−^
5乃至1原子%含有させることを特徴とする電子写真感
光体。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10659888A JPH01277246A (ja) | 1988-04-28 | 1988-04-28 | 電子写真感光体 |
US07/336,891 US5106711A (en) | 1988-04-25 | 1989-04-12 | Electrophotographic sensitive member |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10659888A JPH01277246A (ja) | 1988-04-28 | 1988-04-28 | 電子写真感光体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01277246A true JPH01277246A (ja) | 1989-11-07 |
Family
ID=14437586
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10659888A Pending JPH01277246A (ja) | 1988-04-25 | 1988-04-28 | 電子写真感光体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01277246A (ja) |
-
1988
- 1988-04-28 JP JP10659888A patent/JPH01277246A/ja active Pending
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