JPH01274155A - 電子写真感光体 - Google Patents
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- JPH01274155A JPH01274155A JP10499188A JP10499188A JPH01274155A JP H01274155 A JPH01274155 A JP H01274155A JP 10499188 A JP10499188 A JP 10499188A JP 10499188 A JP10499188 A JP 10499188A JP H01274155 A JPH01274155 A JP H01274155A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/02—Charge-receiving layers
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- G03G5/08214—Silicon-based
- G03G5/08235—Silicon-based comprising three or four silicon-based layers
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光導電性アモルファスシリコンカーバイド層か
ら成る電子写真感光体に関し、特に負極性に帯電可能な
電子写真感光体に関するものである。
ら成る電子写真感光体に関し、特に負極性に帯電可能な
電子写真感光体に関するものである。
近年、電子写真感光体の進歩は目覚ましく、感光体を搭
載する複写機やプリンター等の開発に伴って感光体自体
にも種々の特性が要求されている。この要求に対してア
モルファスシリコン層が耐熱性、耐摩耗性、無公害性並
びに光感度特性等に優れているという理由から注目され
ている。
載する複写機やプリンター等の開発に伴って感光体自体
にも種々の特性が要求されている。この要求に対してア
モルファスシリコン層が耐熱性、耐摩耗性、無公害性並
びに光感度特性等に優れているという理由から注目され
ている。
しかし乍ら、アモルファスシリコン(以下、a−Siと
略す)層は、それに何ら不純物元素をドーピングしない
と約10”Ω・cmの暗抵抗率しか得られず、これを電
子写真感光体に用いる場合にはIQIZΩ・cm以上の
暗抵抗率にして電荷保持能力を高める必要がある。その
ためにホウ素などを添加しているが、十分に満足し得る
ような暗抵抗率が得られず約IQIIΩ・cm程度にす
ぎない。
略す)層は、それに何ら不純物元素をドーピングしない
と約10”Ω・cmの暗抵抗率しか得られず、これを電
子写真感光体に用いる場合にはIQIZΩ・cm以上の
暗抵抗率にして電荷保持能力を高める必要がある。その
ためにホウ素などを添加しているが、十分に満足し得る
ような暗抵抗率が得られず約IQIIΩ・cm程度にす
ぎない。
一方、上記の如きドーピング剤の開発と共に、a−Si
光導電層に別の非光導電層を積層して成る積層型感光体
が提塞されている。
光導電層に別の非光導電層を積層して成る積層型感光体
が提塞されている。
例えば、第2図はこの積層型感光体であり、基板(1)
の上にキャリア注入阻止層(2) 、a−3i光導電層
(3)及び表面保8i層(4)が順次積層されている。
の上にキャリア注入阻止層(2) 、a−3i光導電層
(3)及び表面保8i層(4)が順次積層されている。
この積層型感光体によれば、キャリア注入阻止層(2)
は基板(1)からのキ、ヤリアの注入を阻止するもので
あり、表面保護層(4)はa−Si光導電層(3)を保
護して耐湿性等を向上させるものであるが、両者の層(
2) (4)ともに感光体の暗抵抗率を大きくして帯電
能を高めることが目的であり、そのため、これらの層を
光導電性にする必要はない。
は基板(1)からのキ、ヤリアの注入を阻止するもので
あり、表面保護層(4)はa−Si光導電層(3)を保
護して耐湿性等を向上させるものであるが、両者の層(
2) (4)ともに感光体の暗抵抗率を大きくして帯電
能を高めることが目的であり、そのため、これらの層を
光導電性にする必要はない。
このように従来周知のa−5i悪感光は光キヤリア発生
層をa−5i光導電層により形成させた点に大きな特徴
があり、これによって耐熱性、耐久性及び光感度特性な
どに優れた長所を有しているが、その反面、暗抵抗率が
不十分であり、そのためにドーピング剤を用いたり、更
に積層型感光体にすることで暗抵抗率を大きくしている
。即ち、積層型感光体に形成されるキャリア注入阻止層
(2)及び表面保8iJ’ff1(4)はa−5i光導
電層自体が有する欠点を補完するものであり、a−Si
光導電層(3)と実質上区別し得る層と言える。
層をa−5i光導電層により形成させた点に大きな特徴
があり、これによって耐熱性、耐久性及び光感度特性な
どに優れた長所を有しているが、その反面、暗抵抗率が
不十分であり、そのためにドーピング剤を用いたり、更
に積層型感光体にすることで暗抵抗率を大きくしている
。即ち、積層型感光体に形成されるキャリア注入阻止層
(2)及び表面保8iJ’ff1(4)はa−5i光導
電層自体が有する欠点を補完するものであり、a−Si
光導電層(3)と実質上区別し得る層と言える。
本発明者等は上記事情に鑑みて、既にアモルファスシリ
コンカーバイド(以下、a−3iCと略す)は光導電性
を有すると共に暗抵抗率がドーピング剤の有無と無関係
に容易に1013Ω・cm以上になり、更にドーピング
剤の選択によって負極性に帯電可能な電子写真感光体と
成り得ることを見い出し゛た。
コンカーバイド(以下、a−3iCと略す)は光導電性
を有すると共に暗抵抗率がドーピング剤の有無と無関係
に容易に1013Ω・cm以上になり、更にドーピング
剤の選択によって負極性に帯電可能な電子写真感光体と
成り得ることを見い出し゛た。
上記a−5iC層が電子写真感光体と成り得た理由は、
その層が大きなキャリア移動度をもち、更に1O−13
(Ω・cm)−’以下の暗専電率となり、これによって
大きな帯電能が得られたためである。
その層が大きなキャリア移動度をもち、更に1O−13
(Ω・cm)−’以下の暗専電率となり、これによって
大きな帯電能が得られたためである。
しかしながら、このように大きなキャリア移動度をもつ
a−5iC電子写真感光体であっても、感光体搭載用機
器の開発が進展するのに伴って更に一層優れた電子写真
特性が望まれており、例えば光感度特性が要求される用
途に対して十分に満足し得ない場合であれば、画像にカ
ブリが生じたり、残留電位が大きくなる。
a−5iC電子写真感光体であっても、感光体搭載用機
器の開発が進展するのに伴って更に一層優れた電子写真
特性が望まれており、例えば光感度特性が要求される用
途に対して十分に満足し得ない場合であれば、画像にカ
ブリが生じたり、残留電位が大きくなる。
従って本発明は畝上に鑑みて案出されたものであり、そ
の目的はa−SiC層を実質上の光導電層とし、そして
、光感度特性などを改善して所要通りに電子写真特性を
向上させることができた電子写真感光体を提供すること
にある。
の目的はa−SiC層を実質上の光導電層とし、そして
、光感度特性などを改善して所要通りに電子写真特性を
向上させることができた電子写真感光体を提供すること
にある。
本発明の他の目的は負極性に帯電可能な電子写真感光体
を提供することにある。
を提供することにある。
本発明によれば、基板上に光導電性a−SiC層を形成
した電子写真感光体であって、前記a−SiC層は少な
くとも第1の層領域、第2の層領域及び第3の層領域を
具備し、第1の層領域は第2の層領域より、第2の層領
域は第3の層領域よりそれぞれ基板側に配置され、第3
の層領域は第2の層領域に比べて炭素が多く含まれ、第
2の層領域に周期律表第Va族元素(以下、Va族元素
と略す)を0乃至10. OOOppm含有させると共
に第1の層領域に比べて少なく含まれ、更に第2の層領
域及び第3のWJ層領域少な(とも一方の層領域に酸素
を5 ×10−5乃至1原子%含有させることを特徴と
する電子写真感光体が提供される。
した電子写真感光体であって、前記a−SiC層は少な
くとも第1の層領域、第2の層領域及び第3の層領域を
具備し、第1の層領域は第2の層領域より、第2の層領
域は第3の層領域よりそれぞれ基板側に配置され、第3
の層領域は第2の層領域に比べて炭素が多く含まれ、第
2の層領域に周期律表第Va族元素(以下、Va族元素
と略す)を0乃至10. OOOppm含有させると共
に第1の層領域に比べて少なく含まれ、更に第2の層領
域及び第3のWJ層領域少な(とも一方の層領域に酸素
を5 ×10−5乃至1原子%含有させることを特徴と
する電子写真感光体が提供される。
以下、本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明の電子写真感光体であり、同図によれば
、導電性基板(1)の上に光導電性a−SiC層(5)
が形成され、そして、核層(5)はVa族元素含有量又
は炭素含有量に対応された第1の層領域(5a)、第2
の層領域(5b)及び第3の層領域(5C)から成る。
、導電性基板(1)の上に光導電性a−SiC層(5)
が形成され、そして、核層(5)はVa族元素含有量又
は炭素含有量に対応された第1の層領域(5a)、第2
の層領域(5b)及び第3の層領域(5C)から成る。
本発明の電子写真感光体は第1の層領域(5a)及び第
2の層領域(5b)に所定の範囲内でVa族元素を含有
させた場合、負極性に帯電させることができ、しかも、
表面電位及び光感度が改善され、そして、第3の層領域
(5c)を形成して表面電位を更に高め、また、第2の
層領域(5b)及び/又は第3の層領域(5c)に所定
の範囲内で酸素を含有させ、これによって光感度が一層
改善されることが特徴である。
2の層領域(5b)に所定の範囲内でVa族元素を含有
させた場合、負極性に帯電させることができ、しかも、
表面電位及び光感度が改善され、そして、第3の層領域
(5c)を形成して表面電位を更に高め、また、第2の
層領域(5b)及び/又は第3の層領域(5c)に所定
の範囲内で酸素を含有させ、これによって光感度が一層
改善されることが特徴である。
先ず、a−SiC層が光導電性を有するようになった点
については、アモルファス化したケイ素と炭素を不可欠
な構成元素とし、更にそのダングリングボンドを終端さ
せるべく水素元素(H)やハロゲン元素を所要の範囲内
で含有させることによって光導電性が生じるものと考え
られる。本発明者等が炭素の含有比率を幾通りにも変え
て光導電性の有無を確かめる実験を行ったところ、a−
5iC層(5)中に炭素を1乃至90原子χ、好適には
5乃至50原子χの範囲内で含有させるとよく、或いは
この範囲内で層厚方向に亘って炭素含有量を変えてもよ
い。尚、上記炭素含有量はSi元素とC元素の合計含有
量に対するC元素含有比率によって表わされる。
については、アモルファス化したケイ素と炭素を不可欠
な構成元素とし、更にそのダングリングボンドを終端さ
せるべく水素元素(H)やハロゲン元素を所要の範囲内
で含有させることによって光導電性が生じるものと考え
られる。本発明者等が炭素の含有比率を幾通りにも変え
て光導電性の有無を確かめる実験を行ったところ、a−
5iC層(5)中に炭素を1乃至90原子χ、好適には
5乃至50原子χの範囲内で含有させるとよく、或いは
この範囲内で層厚方向に亘って炭素含有量を変えてもよ
い。尚、上記炭素含有量はSi元素とC元素の合計含有
量に対するC元素含有比率によって表わされる。
また、水素元素(H)やハロゲン元素の含有量は5乃至
50原子χ、好適には5乃至40原子χ、最適には10
乃至30原子χがよく、通常、11元素が用いられてい
る。このH元素はダングリングボンドの終端部に取り込
まれ易いのでバンドギャップ中の局在準位密度を低減化
させ、これにより、優れた半導体特性が得られる。
50原子χ、好適には5乃至40原子χ、最適には10
乃至30原子χがよく、通常、11元素が用いられてい
る。このH元素はダングリングボンドの終端部に取り込
まれ易いのでバンドギャップ中の局在準位密度を低減化
させ、これにより、優れた半導体特性が得られる。
更にこのH元素の一部をハロゲン元素に置換してもよく
、これにより、a−5iC層の局在準位密度を下げて光
導電性及び耐熱性(温度特性)を高めることができる。
、これにより、a−5iC層の局在準位密度を下げて光
導電性及び耐熱性(温度特性)を高めることができる。
その置換比率はダングリングボンド終端用全元素中0.
01乃至50原子χ、好適には1乃至30原子χがよい
。また、ハロゲン元素にはF、C1,Br、I、At等
があるが、就中、Fを用いるとその大きな電気陰性度に
よって原子間の結合が大きくなり、これによって熱的安
定性に優れるという点で望ましい。
01乃至50原子χ、好適には1乃至30原子χがよい
。また、ハロゲン元素にはF、C1,Br、I、At等
があるが、就中、Fを用いるとその大きな電気陰性度に
よって原子間の結合が大きくなり、これによって熱的安
定性に優れるという点で望ましい。
また、a−SiC層(5)の各層領域については、第2
の層領域(5b)のVa族元素含有量が0乃至10.0
00ppm 、好適には1乃至1,000ppmの範囲
内で適宜決められ、これによって表面電位及び光感度特
性などの所要な電子写真特性が得られる。そして、この
層領域(5b)よりもVa族元素を多く含有した第1の
層領域(5a)を形成すると光導電性a−3iC層(5
)の基板側領域で導電率が大きくなり、これにより、基
板側からのキャリアの注入が阻止され、a−SiC層(
5)の全領域で発生した光キャリアが基板へ円滑に流れ
、その結果、表面電位及び光感度が一層改善される。
の層領域(5b)のVa族元素含有量が0乃至10.0
00ppm 、好適には1乃至1,000ppmの範囲
内で適宜決められ、これによって表面電位及び光感度特
性などの所要な電子写真特性が得られる。そして、この
層領域(5b)よりもVa族元素を多く含有した第1の
層領域(5a)を形成すると光導電性a−3iC層(5
)の基板側領域で導電率が大きくなり、これにより、基
板側からのキャリアの注入が阻止され、a−SiC層(
5)の全領域で発生した光キャリアが基板へ円滑に流れ
、その結果、表面電位及び光感度が一層改善される。
第1の層領域(5a)にVa族元素を含有させるに当た
り、その含有量を1100pp以上に設定するとよく、
これによって暗抵抗率を下げて基板側へキャリアが有効
に流れ、その結果、表面電位及び光感度が最も有利に改
善される。
り、その含有量を1100pp以上に設定するとよく、
これによって暗抵抗率を下げて基板側へキャリアが有効
に流れ、その結果、表面電位及び光感度が最も有利に改
善される。
上記のような構成の感光体を正極性または負極性に帯電
させて両者の帯電性能を比較した場合、負極性で有利に
帯電能を高めることができる。
させて両者の帯電性能を比較した場合、負極性で有利に
帯電能を高めることができる。
このようにVa族元素のドーピングによって負極性に帯
電し易くなる点については、未だ解明されておらず、推
論の域を脱し得ないが、a−3iC層が負電荷を保持す
るのに十分に高い抵抗率がもち、また、基板からの正電
荷の注入を防ぐ効果にも優れ、しかも、負電荷に対する
電荷移動度が優れている等の理由によると考えられる。
電し易くなる点については、未だ解明されておらず、推
論の域を脱し得ないが、a−3iC層が負電荷を保持す
るのに十分に高い抵抗率がもち、また、基板からの正電
荷の注入を防ぐ効果にも優れ、しかも、負電荷に対する
電荷移動度が優れている等の理由によると考えられる。
このVa族元素としてはN、P、As、Sb、Biがあ
るが、就中、Pが共有結合性に優れて半導体特性を敏感
に変え得る点で望ましい。
るが、就中、Pが共有結合性に優れて半導体特性を敏感
に変え得る点で望ましい。
第3の層領域(5c)については、第2の層領域(5b
)に比べて炭素含有量を多くし、これにより、感光体表
面側の暗抵抗率が大きくなり、その結果、表面電位が顕
著に向上する。この第3の層領域(5C)の炭素含有量
は10乃至90原子%、好適には20乃至50原子%の
範囲内に設定するとよい。
)に比べて炭素含有量を多くし、これにより、感光体表
面側の暗抵抗率が大きくなり、その結果、表面電位が顕
著に向上する。この第3の層領域(5C)の炭素含有量
は10乃至90原子%、好適には20乃至50原子%の
範囲内に設定するとよい。
本発明によれば、上記のような層構成において、第2の
層領域(5b)及び/又は第3の層領域(5c)に酸素
が5X10−5乃至l原子χ含有された点に特徴があり
、この範囲内では電子写真特性全最に亘って特性の改善
が期待できるが、本発明者等は特に光感度特性に顕著な
効果があることを見い出した。
層領域(5b)及び/又は第3の層領域(5c)に酸素
が5X10−5乃至l原子χ含有された点に特徴があり
、この範囲内では電子写真特性全最に亘って特性の改善
が期待できるが、本発明者等は特に光感度特性に顕著な
効果があることを見い出した。
即ち、酸素を第2、第3の層領域(5b) (5c)に
5×1O−S乃至1原子χ、好適には5X10−5乃至
0.1原子χ、最適には5X10−5乃至0.1原子χ
の範囲内で含有させた場合、光感度が向上し、これによ
り、この感光体を搭載した機器を更に広範な用途に適応
し得るようになり、当然のことながら光感度の低下に伴
って生じていた問題、即ち、画像のカブリや高い残留電
位が解決される。
5×1O−S乃至1原子χ、好適には5X10−5乃至
0.1原子χ、最適には5X10−5乃至0.1原子χ
の範囲内で含有させた場合、光感度が向上し、これによ
り、この感光体を搭載した機器を更に広範な用途に適応
し得るようになり、当然のことながら光感度の低下に伴
って生じていた問題、即ち、画像のカブリや高い残留電
位が解決される。
このようにして解決し得た点について本発明者等は未だ
十分に解明していないが、酸素が上述したダングリング
ボンド終端用元素になっているものと考える。
十分に解明していないが、酸素が上述したダングリング
ボンド終端用元素になっているものと考える。
第2.3の層領域(5b) (5c)に酸素を含有させ
るに当たっては、種々の薄膜生成手段に用いられる原料
ガスに酸素ガス(0□)、または、co、 co□、N
01Neo 、Now等の酸素元素含有ガスを含有すれ
ばよく、或いは上述の範囲内で膜中に含有されるのであ
れば、不純物として不可避的に含有されたものであって
もよい。
るに当たっては、種々の薄膜生成手段に用いられる原料
ガスに酸素ガス(0□)、または、co、 co□、N
01Neo 、Now等の酸素元素含有ガスを含有すれ
ばよく、或いは上述の範囲内で膜中に含有されるのであ
れば、不純物として不可避的に含有されたものであって
もよい。
上記の如き光導電性a−5iC層(5)の厚みは、少な
くとも5μm以上あればよく、これによって表面電位が
200v以上となり、更に画像の分解能及び画像流れが
生じない範囲内でその上限が適宜選ばれており、本発明
者等の実験によれば、5乃至100μm、好適には10
乃至50μIの範囲内に設定するとよい。
くとも5μm以上あればよく、これによって表面電位が
200v以上となり、更に画像の分解能及び画像流れが
生じない範囲内でその上限が適宜選ばれており、本発明
者等の実験によれば、5乃至100μm、好適には10
乃至50μIの範囲内に設定するとよい。
また、第1のN6i域(5a)の厚みは0.05乃至1
0μm、好適には0.1乃至5μmの範囲内に設定する
とよく、この範囲内であれば残留電位を有利に低下させ
ることができ、また、第2の層領域(5b)の厚みは5
乃至100μm、好適には10乃至50μmの範囲内に
設定するとよく、この範囲内であれば表面電位及び光感
度の改善効果に優れる。
0μm、好適には0.1乃至5μmの範囲内に設定する
とよく、この範囲内であれば残留電位を有利に低下させ
ることができ、また、第2の層領域(5b)の厚みは5
乃至100μm、好適には10乃至50μmの範囲内に
設定するとよく、この範囲内であれば表面電位及び光感
度の改善効果に優れる。
第3の層領域(5c)ノ厚ミハ、第2(7)IjJf域
(5b)に比べて1倍以下、好適には172倍以下、最
適には174倍以下がよく、このような厚みに設定され
た場合、表面電位が顕著に向上し、光感度に優れ、残留
電位が小さくなる。
(5b)に比べて1倍以下、好適には172倍以下、最
適には174倍以下がよく、このような厚みに設定され
た場合、表面電位が顕著に向上し、光感度に優れ、残留
電位が小さくなる。
かくして本発明の電子写真感光体によれば、実質上光導
電性a−5iC層から成り、その層内部にVa族元素、
炭素及び酸素を所定の範囲内で含有させることにより表
面電位及び光感度などの電子写真特性が改善される。
電性a−5iC層から成り、その層内部にVa族元素、
炭素及び酸素を所定の範囲内で含有させることにより表
面電位及び光感度などの電子写真特性が改善される。
また、本発明の電子写真感光体については、a−SiC
層(5)の炭素含有量を層厚方向に亘って変化させても
よく、例えば第3図乃至第8図に示す通りにしてもよい
。
層(5)の炭素含有量を層厚方向に亘って変化させても
よく、例えば第3図乃至第8図に示す通りにしてもよい
。
これらの図において、横軸はa−SiC層(5)の層厚
方向を示し、aは基板(1)との界面、bは第1の層領
域(5a)と第2の層領域(5b)の界面、Cは第2の
層領域(5b)と第3の層領域(5c)の界面、dは感
光体表面であり、また、縦軸は炭素含有量である。
方向を示し、aは基板(1)との界面、bは第1の層領
域(5a)と第2の層領域(5b)の界面、Cは第2の
層領域(5b)と第3の層領域(5c)の界面、dは感
光体表面であり、また、縦軸は炭素含有量である。
或いは、a−5iC層(5)のVa族元素含有量を例え
ば第9図乃至第12図に示す通りに第1の層領域(5a
)及び第2の層領域(5b)の層厚方向に亘って変化さ
せてもよい。
ば第9図乃至第12図に示す通りに第1の層領域(5a
)及び第2の層領域(5b)の層厚方向に亘って変化さ
せてもよい。
更に本発明によれば、a−SiC層(5)の表面上に従
来周知の表面保護層を形成してもよい。この表面保護層
はそれ自体高絶縁性、高耐食性及び高硬度性を有するも
のであれば種々の材料を用いることができ、例えばポリ
イミド樹脂などの有機材料、 a−SiC,5iOz、
Sin、 Al2O,、SiC,5iJ4+ a−5
t、 a−Si :I(。
来周知の表面保護層を形成してもよい。この表面保護層
はそれ自体高絶縁性、高耐食性及び高硬度性を有するも
のであれば種々の材料を用いることができ、例えばポリ
イミド樹脂などの有機材料、 a−SiC,5iOz、
Sin、 Al2O,、SiC,5iJ4+ a−5
t、 a−Si :I(。
a−3i:F、a−3iC:H,a−5iC:Fなどの
無機材料を用いることができる。
無機材料を用いることができる。
或いは基板(1)とa−5iC層(5)の間に従来周知
のキャリア注入阻止層を形成してもよく、この層には上
記表面保護層と同じ材料が用いられる。
のキャリア注入阻止層を形成してもよく、この層には上
記表面保護層と同じ材料が用いられる。
次に本発明の電子写真感光体の製法を述べる。
本発明に係るa−SiC層を形成する場合、グロー放電
分解法、イオンブレーティング法、反応性スパッタリン
グ法、真空蒸着法、CVO法などの薄膜生成技術を用い
ることができ、また、これに用いられる原料には固体、
液体、気体のいずれでもよい。例えばグロー放電分解法
に用いられる気体原料として5i)14,5izl16
,5i3H6などのSi元素系ガス、CHt、CzHz
、CzlL、 CZl16. CJaなどのC元素系ガ
スがあり、そして、Heガス、H2ガス等をキャリアガ
スとして用いればよい。
分解法、イオンブレーティング法、反応性スパッタリン
グ法、真空蒸着法、CVO法などの薄膜生成技術を用い
ることができ、また、これに用いられる原料には固体、
液体、気体のいずれでもよい。例えばグロー放電分解法
に用いられる気体原料として5i)14,5izl16
,5i3H6などのSi元素系ガス、CHt、CzHz
、CzlL、 CZl16. CJaなどのC元素系ガ
スがあり、そして、Heガス、H2ガス等をキャリアガ
スとして用いればよい。
本発明の電子写真感光体をグロー放電分解法により製作
する場合、Si元素系ガス及びアセチレン(C2H4)
ガスの混合ガスよりa−3iC層を形成させると著しく
大きな高速成膜性が達成できる点で望ましい。本発明者
等が繰り返し行った実験によれば、SiH4ガス及びC
t 112ガスを用いた場合、5乃至20μm7時の成
膜速度が得られた。因にSiH4ガスとCH,ガスを用
いてa−3iC膜を生成した場合、その成膜速度は約0
.3乃至1μm/時である。
する場合、Si元素系ガス及びアセチレン(C2H4)
ガスの混合ガスよりa−3iC層を形成させると著しく
大きな高速成膜性が達成できる点で望ましい。本発明者
等が繰り返し行った実験によれば、SiH4ガス及びC
t 112ガスを用いた場合、5乃至20μm7時の成
膜速度が得られた。因にSiH4ガスとCH,ガスを用
いてa−3iC膜を生成した場合、その成膜速度は約0
.3乃至1μm/時である。
次に本発明の実施例に用いられる容量結合型グロー放電
分解装置を第13図により説明する。
分解装置を第13図により説明する。
図中、第1.第2.第3.第4.第5.第6タンク(6
) (7)(8) (9) (10) (11)には、
それぞれ5il14.CzH□、PH3(H2ガス希釈
で0.2χ含有)、PH:l (82ガス希釈で33p
pm含有)、Hz、Noガスが密封されており、Hzは
キャリアガスとしても用いられる。これらのガスは対応
する第1.第2.第3.第4.第5.第6調整弁(12
) (13)(14) (15) (16) (17)
を開放することにより放出され、その流量がマスフロー
コントローラ(18) (19) (20) (21)
(22) (23)により制御され、第1.第28第
3.第4、第5タンク(6) (7) (8) (9)
(10)からのガスは第1主管(24)へ、第6タン
ク(11)からのNoガスは第2主管(25)へ送られ
る。尚、(26) (27)は止め弁である。第1主管
(24)及び第2主管(25)を通じて流れるガスは反
応管(28)へと送り込まれるが、この反応管(28)
の内部には容量結合型放電用電極(29)が設置されて
おり、それに印加される高周波電力は50讐乃至3Kw
が、また、その周波数はI MHz乃至50MHzが適
当である。反応管(28)の内部には、アルミニウムか
ら成る筒状の成膜用基板(30)が試料保持台(31)
の上に載置されており、この保持台(31)はモーター
(32)により回転駆動され、そして、基板(30)は
適当な加熱手段により約200乃至400°C1好適に
は約200乃至350℃の温度に均一に加熱される。ま
た、反応管(28)の内部はa−SiC膜形成時に高度
の真空状態(放電時のガス圧0.1乃至2.0Torr
)を必要とし、そのため反応管(28)は回転ポンプ
(33)と拡散ポンプ(34)に連結されている。
) (7)(8) (9) (10) (11)には、
それぞれ5il14.CzH□、PH3(H2ガス希釈
で0.2χ含有)、PH:l (82ガス希釈で33p
pm含有)、Hz、Noガスが密封されており、Hzは
キャリアガスとしても用いられる。これらのガスは対応
する第1.第2.第3.第4.第5.第6調整弁(12
) (13)(14) (15) (16) (17)
を開放することにより放出され、その流量がマスフロー
コントローラ(18) (19) (20) (21)
(22) (23)により制御され、第1.第28第
3.第4、第5タンク(6) (7) (8) (9)
(10)からのガスは第1主管(24)へ、第6タン
ク(11)からのNoガスは第2主管(25)へ送られ
る。尚、(26) (27)は止め弁である。第1主管
(24)及び第2主管(25)を通じて流れるガスは反
応管(28)へと送り込まれるが、この反応管(28)
の内部には容量結合型放電用電極(29)が設置されて
おり、それに印加される高周波電力は50讐乃至3Kw
が、また、その周波数はI MHz乃至50MHzが適
当である。反応管(28)の内部には、アルミニウムか
ら成る筒状の成膜用基板(30)が試料保持台(31)
の上に載置されており、この保持台(31)はモーター
(32)により回転駆動され、そして、基板(30)は
適当な加熱手段により約200乃至400°C1好適に
は約200乃至350℃の温度に均一に加熱される。ま
た、反応管(28)の内部はa−SiC膜形成時に高度
の真空状態(放電時のガス圧0.1乃至2.0Torr
)を必要とし、そのため反応管(28)は回転ポンプ
(33)と拡散ポンプ(34)に連結されている。
以上のように構成されたグロー放電分解装置において、
例えば、a−3iC膜(酸素、Pを含有する)を基板(
30)に形成する場合には、第1.第2.第3.第5調
整弁(12) (13) (14) (16)を開いて
SiH4,CzHz、PI+ 、 、 H,ガスを放出
し、第6調整弁(17)を開いてNoガスを放出する。
例えば、a−3iC膜(酸素、Pを含有する)を基板(
30)に形成する場合には、第1.第2.第3.第5調
整弁(12) (13) (14) (16)を開いて
SiH4,CzHz、PI+ 、 、 H,ガスを放出
し、第6調整弁(17)を開いてNoガスを放出する。
放出量はマスフローコントローラ(18) (19)
(20) (22) (23)により制御卸され、5t
i14.Cd1z、PHz、Hzの混合ガスは第1主管
(24)を介して、また、Noガスは第2主管(25)
を介して反応管(28)へ流し込まれる。そして、反応
管(28)の内部が0゜■乃至2.0Torr程度の真
空状態、基板温度が200乃至400℃、容量型放電用
電極(29)の高周波電力が50讐乃至3Kw 、また
、周波数が1乃至50MHzに設定されていることに相
俟ってグロー放電が起こり、ガスが分解して酸素及びP
を含有したa−SiC膜が基板上に高速で形成される。
(20) (22) (23)により制御卸され、5t
i14.Cd1z、PHz、Hzの混合ガスは第1主管
(24)を介して、また、Noガスは第2主管(25)
を介して反応管(28)へ流し込まれる。そして、反応
管(28)の内部が0゜■乃至2.0Torr程度の真
空状態、基板温度が200乃至400℃、容量型放電用
電極(29)の高周波電力が50讐乃至3Kw 、また
、周波数が1乃至50MHzに設定されていることに相
俟ってグロー放電が起こり、ガスが分解して酸素及びP
を含有したa−SiC膜が基板上に高速で形成される。
次に本発明の実施例を詳細に説明する。
(例1)
本例においては、第1表に示す条件によりアルミニウム
製基板(30)の上に光導電性a−SiC層を形成し、
その電子写真特性を測定した。但し、第1の層領域(5
a)を形成するに当たって、Noガスを導入し、この層
領域(5a)に酸素及び窒素を含有せしめ、これによっ
て基板(30)に対する膜の密着力を高めている。
製基板(30)の上に光導電性a−SiC層を形成し、
その電子写真特性を測定した。但し、第1の層領域(5
a)を形成するに当たって、Noガスを導入し、この層
領域(5a)に酸素及び窒素を含有せしめ、これによっ
て基板(30)に対する膜の密着力を高めている。
電子写真特性として表面電位、光感度及び残留電位を測
定したところ、下記の通りの結果が得られた。この測定
結果は−5,6kvのコロナチャージャで帯電させ、次
いで、分光された単色光(650nm)を感光体表面に
照射して求められた。
定したところ、下記の通りの結果が得られた。この測定
結果は−5,6kvのコロナチャージャで帯電させ、次
いで、分光された単色光(650nm)を感光体表面に
照射して求められた。
表面電位・・・−800■
光感度 ・・・ 0.68 cm2erg柑残留電位(
露光開始5秒後の値) ・・・25V また、第1の層領域、第2の層領域及び第3の層領域の
それぞれの炭素含有ff1(Si元素とC元素の合計含
有量に対するC元素含有比率)をXMA分析により求め
、そして、各々の層領域のP含有量及び酸素含有量を二
次イオン質量分析により求めたところ、下記の通りの結
果が得られた。
露光開始5秒後の値) ・・・25V また、第1の層領域、第2の層領域及び第3の層領域の
それぞれの炭素含有ff1(Si元素とC元素の合計含
有量に対するC元素含有比率)をXMA分析により求め
、そして、各々の層領域のP含有量及び酸素含有量を二
次イオン質量分析により求めたところ、下記の通りの結
果が得られた。
第1の層領域
炭素含有量・・・23原子%
P含有量・・・・900ppm
酸素含有量・・・0.5原子%
筆し■暦J雇
炭素含有量・・・18原子%
P含有量・・・・15ppm
酸素含有量・・・5 ×10−”原子%第3の層領域
炭素含有量・・・34原子%
酸素含有量・・・5 ×10−2原子%(例2)
本例においては、(例1)の電子写真感光体を製作する
に当たって、第6タンク(11)にNOガスに代わって
0□ガスが密封されたタンクを用いて、第2表に示す条
件により電子写真感光体を製作した。その感光体の電子
写真特性は下記の通りとなった。
に当たって、第6タンク(11)にNOガスに代わって
0□ガスが密封されたタンクを用いて、第2表に示す条
件により電子写真感光体を製作した。その感光体の電子
写真特性は下記の通りとなった。
表面電位・・・−830v
光感度・・・・0.65cm”erg−’残留電位・・
・30V 〔以下余白〕 また、各々の層領域の炭素含有量、P含有量並びに酸素
含有量を測定したところ、下記の通りの結果が得られた
。
・30V 〔以下余白〕 また、各々の層領域の炭素含有量、P含有量並びに酸素
含有量を測定したところ、下記の通りの結果が得られた
。
茅し■1皿域
炭素含有量・・・23原子%
P含有量・・・・900ppm
酸素含有量・・・0.8原子%
第2の層領域
炭素含有量・・・18原子%
P含有量・・・・15 ppm
酸素含有量・・・8×10〜2原子%
第3の層領域
炭素含有量・・・34原子%
酸素含有量・・・8 ×10−2原子%(例3)
(例2)のなかで第2の層領域に含有されているP及び
酸素の含有量を変えた場合、また、第3のNa域に含有
されている酸素含有量を変えた場合、これによって得ら
れた各種感光体の画質評価を行ったところ、第3表に示
す通りの結果が得られた。
酸素の含有量を変えた場合、また、第3のNa域に含有
されている酸素含有量を変えた場合、これによって得ら
れた各種感光体の画質評価を行ったところ、第3表に示
す通りの結果が得られた。
同表中、画質評価は4段階に区分されており、◎印は画
像濃度が高く、しかも、高光感度で且っカブリが全く住
じなかった場合であり、○印は光感度及び画像濃度の点
で上記評価より劣るが、実用上支障がない位の画質の場
合であり、△印は画像濃度が得られたが、若干カブリが
生じて実用上支障がでた場合であり、X印は光感度、画
像濃度、カブリのいずれの点についても劣っている場合
を示す。
像濃度が高く、しかも、高光感度で且っカブリが全く住
じなかった場合であり、○印は光感度及び画像濃度の点
で上記評価より劣るが、実用上支障がない位の画質の場
合であり、△印は画像濃度が得られたが、若干カブリが
生じて実用上支障がでた場合であり、X印は光感度、画
像濃度、カブリのいずれの点についても劣っている場合
を示す。
第3表より明らかな通り、本発明の感光体C乃至Iは優
れた光感度及び画像濃度が得られ、しかも、カブリが顕
著に低減化された或いは全く生じないことが判った。
れた光感度及び画像濃度が得られ、しかも、カブリが顕
著に低減化された或いは全く生じないことが判った。
然るに、感光体A及び感光体Bは酸素含有量が少なく、
そのため画像にカブリが生じ、また、感光体JはP含有
量が多く、感光体に、Lについては酸素含有量が多く、
いずれの感光体も画像濃度が低く、しかも、光感度に劣
り、画像にカブリが生じた。
そのため画像にカブリが生じ、また、感光体JはP含有
量が多く、感光体に、Lについては酸素含有量が多く、
いずれの感光体も画像濃度が低く、しかも、光感度に劣
り、画像にカブリが生じた。
以上の通り、本発明の電子写真感光体によれば、全層に
亘って光導電性を有するa−5iCが高い暗抵抗率とな
り、且つ光感度特性にも優れていることによって実質上
表面保護層及びキャリア注入阻止層を不要とすることが
でき、その結果、光導電性a−3iC層から成る電子写
真感光体が提供できた。
亘って光導電性を有するa−5iCが高い暗抵抗率とな
り、且つ光感度特性にも優れていることによって実質上
表面保護層及びキャリア注入阻止層を不要とすることが
でき、その結果、光導電性a−3iC層から成る電子写
真感光体が提供できた。
また本発明の電子写真感光体によれば、所定量の酸素を
含有させることによって光感度が向上し、更に電子写真
特性全般に亘って改善され、その結果、−段と高性能な
電子写真感光体が提供できる。
含有させることによって光感度が向上し、更に電子写真
特性全般に亘って改善され、その結果、−段と高性能な
電子写真感光体が提供できる。
更に本発明の電子写真感光体によれば、層厚方向に亘っ
てVa族元素及び炭素の含有量を変えることによって表
面電位を向上させると共に光感度特性を高め、且つ残留
電位を顕著に小さくすることができ、その結果、格段に
高性能な電子写真感光体が提供できる。
てVa族元素及び炭素の含有量を変えることによって表
面電位を向上させると共に光感度特性を高め、且つ残留
電位を顕著に小さくすることができ、その結果、格段に
高性能な電子写真感光体が提供できる。
また、本発明によれば、負極性に有利に帯電することが
できる負極性用電子写真感光体が提供される。
できる負極性用電子写真感光体が提供される。
本発明の電子写真感光体によれば、それ自体で帯電能及
び耐環境性に優れていることから、特に保護層を設ける
必要がな(、例えばコロナ放電による被曝或いは現像剤
の樹脂成分の感光体表面へのフィルミング等によって表
面が劣化した場合、その劣化した表面を研摩剤等で研摩
再生を繰り返し行ってもその研摩量において制限を受け
ずに感光体の初期特性を維持することができ、それによ
って初期における良好な画像を長期に亘り安定して供給
することが可能となる。
び耐環境性に優れていることから、特に保護層を設ける
必要がな(、例えばコロナ放電による被曝或いは現像剤
の樹脂成分の感光体表面へのフィルミング等によって表
面が劣化した場合、その劣化した表面を研摩剤等で研摩
再生を繰り返し行ってもその研摩量において制限を受け
ずに感光体の初期特性を維持することができ、それによ
って初期における良好な画像を長期に亘り安定して供給
することが可能となる。
更に、従来のa−3i悪感光を長期間に亘って使用した
場合にはコロナ放電に伴って感光体表面の局所的な放電
破壊が発生し易くなり、これに起因して画像に斑点が生
じるという問題があったが、本発明によれば、a−5i
の誘電率がε=12であるのに対してa−SiCはε・
7と約半分程度であるために帯電能に優れており、これ
により、表面電位を高くしても何ら上記の放電破壊が発
生しなくなり、その結果、高品質且つ高信頼性の電子写
真感光体が提供される。
場合にはコロナ放電に伴って感光体表面の局所的な放電
破壊が発生し易くなり、これに起因して画像に斑点が生
じるという問題があったが、本発明によれば、a−5i
の誘電率がε=12であるのに対してa−SiCはε・
7と約半分程度であるために帯電能に優れており、これ
により、表面電位を高くしても何ら上記の放電破壊が発
生しなくなり、その結果、高品質且つ高信頼性の電子写
真感光体が提供される。
更にまた、本発明の電子写真感光体を従来のa−5i悪
感光と比較した場合、このa−5i悪感光の問題点とし
て耐湿性に劣っているので画像流れが生じ易く、また、
帯電能に劣っているのでゴースト現象が発生するが、こ
れを解決するためにa−3i悪感光の使用時にヒータを
用いてその感光体を加熱し、その発生を防止している。
感光と比較した場合、このa−5i悪感光の問題点とし
て耐湿性に劣っているので画像流れが生じ易く、また、
帯電能に劣っているのでゴースト現象が発生するが、こ
れを解決するためにa−3i悪感光の使用時にヒータを
用いてその感光体を加熱し、その発生を防止している。
これに対して本発明の電子写真感光体は耐湿性且つ帯電
能に優れているために上記のようにヒータを用いて使用
する必要はないという利点がある。
能に優れているために上記のようにヒータを用いて使用
する必要はないという利点がある。
また、本発明の電子写真感光体はa−Si感光体と比べ
て炭素の含有量を変えるだけで幅広い分光感度特性(ピ
ーク600〜700nm )が得られると共に光感度自
体を増大させることができ、更に必要に応じて不純物元
素をドーピングすれば長波長側の増感も可能になるとい
う利点がある。
て炭素の含有量を変えるだけで幅広い分光感度特性(ピ
ーク600〜700nm )が得られると共に光感度自
体を増大させることができ、更に必要に応じて不純物元
素をドーピングすれば長波長側の増感も可能になるとい
う利点がある。
第1図は本発明の電子写真感光体の層構成を示す断面図
、第2図は従来の電子写真感光体の層構造を示す断面図
、また、第3図、第4図、第5図、第6図、第7図及び
第8図は本発明電子写真感光体の炭素含有量を示す線図
、そして、第9図、第10図、第11図及び第12図は
本発明電子写真感光体の周期律表第Va族元素含有量を
示す線図、第13図は実施例に用いられる容量結合型グ
ロー放電分解装置の説明図である。 1・・・基板 5、・・・・先導t 性アモルファスシリコンカーバイ
ド層 5a・・・第1の層領域 5b・・・第2の層領域 5c・・・第3の層領域 特許出願人 (663)京セラ株式会社代表者安城欽寿
′ 同 河村孝夫
、第2図は従来の電子写真感光体の層構造を示す断面図
、また、第3図、第4図、第5図、第6図、第7図及び
第8図は本発明電子写真感光体の炭素含有量を示す線図
、そして、第9図、第10図、第11図及び第12図は
本発明電子写真感光体の周期律表第Va族元素含有量を
示す線図、第13図は実施例に用いられる容量結合型グ
ロー放電分解装置の説明図である。 1・・・基板 5、・・・・先導t 性アモルファスシリコンカーバイ
ド層 5a・・・第1の層領域 5b・・・第2の層領域 5c・・・第3の層領域 特許出願人 (663)京セラ株式会社代表者安城欽寿
′ 同 河村孝夫
Claims (1)
- 基板上に光導電性アモルファスシリコンカーバイド層を
形成した電子写真感光体であって、前記アモルファスシ
リコンカーバイド層は少なくとも第1の層領域、第2の
層領域及び第3の層領域を具備し、第1の層領域は第2
の層領域より、第2の層領域は第3の層領域よりそれぞ
れ基板側に配置され、第3の層領域は第2の層領域に比
べて炭素が多く含まれ、第2の層領域に周期律表第Va
族元素を0乃至10,000ppm含有させると共に第
1の層領域に比べて少なく含まれ、更に第2の層領域及
び第3の層領域の少なくとも一方の層領域に酸素を5×
10^−^5乃至1原子%含有させることを特徴とする
電子写真感光体。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10499188A JPH01274155A (ja) | 1988-04-27 | 1988-04-27 | 電子写真感光体 |
US07/336,891 US5106711A (en) | 1988-04-25 | 1989-04-12 | Electrophotographic sensitive member |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10499188A JPH01274155A (ja) | 1988-04-27 | 1988-04-27 | 電子写真感光体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01274155A true JPH01274155A (ja) | 1989-11-01 |
Family
ID=14395564
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10499188A Pending JPH01274155A (ja) | 1988-04-25 | 1988-04-27 | 電子写真感光体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01274155A (ja) |
-
1988
- 1988-04-27 JP JP10499188A patent/JPH01274155A/ja active Pending
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