JPH01274035A - 冷熱衝撃試験装置 - Google Patents
冷熱衝撃試験装置Info
- Publication number
- JPH01274035A JPH01274035A JP10253088A JP10253088A JPH01274035A JP H01274035 A JPH01274035 A JP H01274035A JP 10253088 A JP10253088 A JP 10253088A JP 10253088 A JP10253088 A JP 10253088A JP H01274035 A JPH01274035 A JP H01274035A
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- Japan
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- air
- chamber
- temperature chamber
- low temperature
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- Pending
Links
- 238000010257 thawing Methods 0.000 claims abstract description 9
- 230000035939 shock Effects 0.000 claims description 5
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 abstract 1
- 239000003570 air Substances 0.000 description 65
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
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- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
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- 230000008646 thermal stress Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、各種材料、各a[機器の部品等を、高温、低
温の雰囲気に父互にさらして、上記材料等の熱ストレス
特性、耐久性、熱的強度等を試験するための冷熱#隼試
威装置に関する。
温の雰囲気に父互にさらして、上記材料等の熱ストレス
特性、耐久性、熱的強度等を試験するための冷熱#隼試
威装置に関する。
冷熱#卓試験装置は時間開58−42952号公報に記
載のように、試験室と低温気体供給室と高温気体供給室
の3つの断熱された室と、冷気と熱気と外気を切り換え
る6個のダンパより構成されており、この中で低温気体
供給室は0℃以下となるので層霜により運転できなくな
る。このため試験を中断し、低温域の温度制御用ヒータ
を利用して、低温気体供給室の温度な0℃以上まで上昇
させることで除霜を行っていた。
載のように、試験室と低温気体供給室と高温気体供給室
の3つの断熱された室と、冷気と熱気と外気を切り換え
る6個のダンパより構成されており、この中で低温気体
供給室は0℃以下となるので層霜により運転できなくな
る。このため試験を中断し、低温域の温度制御用ヒータ
を利用して、低温気体供給室の温度な0℃以上まで上昇
させることで除霜を行っていた。
上記従来技術は温度制御用ヒータを利用しているので、
低温気体供給室の温度を上昇させるのに時間を要し除霜
時間が長くなる問題があった。
低温気体供給室の温度を上昇させるのに時間を要し除霜
時間が長くなる問題があった。
本発明の目的は除1時間を短縮し、ひいては試験時間を
短縮することVこある。
短縮することVこある。
上記目的は、低温気体供給室に空気導入口と空気排出口
を設置し、本空気導入口と空気排出口を装置周囲あるい
は高温気体供給室に遅、結することにより達成される。
を設置し、本空気導入口と空気排出口を装置周囲あるい
は高温気体供給室に遅、結することにより達成される。
装置周囲あるいは高温気体供給室の空気は0 ’C以上
であり、この空気を空気導入口より低温気体供給室に入
れ、空気排出口より排気することにより、低温気体供給
室の温度を急速に上昇させることりこなるので、除ネi
時間を短縮することができる〔実施例〕 以下、本発明の一実施例を第1図により説明する。第1
図にて試験室1は#r熱された室で、本試験室1の上部
には同様に断熱された高温室2がある。高温室2には加
熱器3、送風@4、バイパス通路5力粕己置され、高温
室2と試、・威室1の相対する断熱部に−ば、熱風吹出
口11aと、該吹出口11aを開閉する高温ダンパ12
a及び、熱風吸込口+Ibと、該1吸込口11bを開閉
する高温ダンパ12bが設けらitている。また試験室
1の下部には試験室1と同様に断熱された低温室6があ
る。低温室6には冷却器7、加熱器8、送1虱機9、バ
イパス通路10が配(tされ、低温室6と試験室1の相
対する断熱部には、冷風吹出口13aとここを開閉する
低温ダンパ14a及び、冷風吸込口+3bとここを開閉
する低温ダンパ14bが設けられている。さらに低温室
6の冷却器Iの隣接した断熱部に空気導入口+58とこ
こを開閉する除霜ダンパ16aが設けらn、一方送風機
7の吹出口付近の断熱部には空気排出口15bとここを
開閉する除霜ダンパ16bが設けられている。
であり、この空気を空気導入口より低温気体供給室に入
れ、空気排出口より排気することにより、低温気体供給
室の温度を急速に上昇させることりこなるので、除ネi
時間を短縮することができる〔実施例〕 以下、本発明の一実施例を第1図により説明する。第1
図にて試験室1は#r熱された室で、本試験室1の上部
には同様に断熱された高温室2がある。高温室2には加
熱器3、送風@4、バイパス通路5力粕己置され、高温
室2と試、・威室1の相対する断熱部に−ば、熱風吹出
口11aと、該吹出口11aを開閉する高温ダンパ12
a及び、熱風吸込口+Ibと、該1吸込口11bを開閉
する高温ダンパ12bが設けらitている。また試験室
1の下部には試験室1と同様に断熱された低温室6があ
る。低温室6には冷却器7、加熱器8、送1虱機9、バ
イパス通路10が配(tされ、低温室6と試験室1の相
対する断熱部には、冷風吹出口13aとここを開閉する
低温ダンパ14a及び、冷風吸込口+3bとここを開閉
する低温ダンパ14bが設けられている。さらに低温室
6の冷却器Iの隣接した断熱部に空気導入口+58とこ
こを開閉する除霜ダンパ16aが設けらn、一方送風機
7の吹出口付近の断熱部には空気排出口15bとここを
開閉する除霜ダンパ16bが設けられている。
次に本発明の動作について説明する。まず冷熱試験に先
だって高温室2の空気は、加熱器3、送風機4、バイパ
ス通路5を通って加熱器3に戻る循環路により所定温度
まで加熱される。一方低温室6の空気も冷却47、送風
機9、バイパス通路10を通って冷却器7に戻る循環路
により所定温度まで冷却される。なお所定温度に冷却さ
れた空気は加熱器8によりこの温度で一定に保持される
。このように高温室2の空気と低温室6の空気の予熱・
予冷が準備されると初めて、高温ダンパ12aと12b
が開となり、高温槽2の加熱された空気が熱風となって
熱風吹出口+18より試験室1に流入し、熱風吸込口1
1bから高温室2に戻る。今匿は高温ダンパ12aと1
2bが閉じて低温ダンパ14aと14bが開となり、低
温室6の冷却された空気が冷風吹出口+38より試験室
1に流入し、冷風吸込口13bから低温室6に戻る。こ
のように試験室1に熱風と冷風を父互に入れて冷熱試験
が行われるが、時間の経緯と共に冷却器70庸1が多く
なり試験できなくなる。この時点で低温ダンパ13a、
13bが閉となり試験が中断する。そして除霜ダンパ+
6aと16bが閉となる。そうすると装置周囲の空気(
温度として0℃以上)が空気導入口15aより低温室6
に流入し、空気排出口15bから出て行く。周囲の空気
としては無限に1舜時に利用できるので、低温室6の温
度は急速に上昇し短時間に除霜が終る。除霜終了後は試
、検開始前と同様に低温室60受気が冷却され、予冷が
準備されると冷熱試験が再開される。
だって高温室2の空気は、加熱器3、送風機4、バイパ
ス通路5を通って加熱器3に戻る循環路により所定温度
まで加熱される。一方低温室6の空気も冷却47、送風
機9、バイパス通路10を通って冷却器7に戻る循環路
により所定温度まで冷却される。なお所定温度に冷却さ
れた空気は加熱器8によりこの温度で一定に保持される
。このように高温室2の空気と低温室6の空気の予熱・
予冷が準備されると初めて、高温ダンパ12aと12b
が開となり、高温槽2の加熱された空気が熱風となって
熱風吹出口+18より試験室1に流入し、熱風吸込口1
1bから高温室2に戻る。今匿は高温ダンパ12aと1
2bが閉じて低温ダンパ14aと14bが開となり、低
温室6の冷却された空気が冷風吹出口+38より試験室
1に流入し、冷風吸込口13bから低温室6に戻る。こ
のように試験室1に熱風と冷風を父互に入れて冷熱試験
が行われるが、時間の経緯と共に冷却器70庸1が多く
なり試験できなくなる。この時点で低温ダンパ13a、
13bが閉となり試験が中断する。そして除霜ダンパ+
6aと16bが閉となる。そうすると装置周囲の空気(
温度として0℃以上)が空気導入口15aより低温室6
に流入し、空気排出口15bから出て行く。周囲の空気
としては無限に1舜時に利用できるので、低温室6の温
度は急速に上昇し短時間に除霜が終る。除霜終了後は試
、検開始前と同様に低温室60受気が冷却され、予冷が
準備されると冷熱試験が再開される。
なお第2図は他の実施例であり、第1図とは、低温室6
の空気導入口15aと高温室2の熱風吹出口+78とが
空気ダク)18aで連絡され、他方低温室6の空気排出
口15bと高温室2の熱風吸込口17bとが空気ダクト
18bで連絡されている点が異なる。この場合は破線の
矢印で示すように、高温室2の熱風が送風@4にて送風
され、バイパス通路5、熱風吹出ロ17a1空気ダクト
18a1空気導入口15aを通って低温室6を加熱する
。そして送風機9により空気排出口15b、空気ダクト
+8b、熱風吸込口17bを通って高温室2に戻る。
の空気導入口15aと高温室2の熱風吹出口+78とが
空気ダク)18aで連絡され、他方低温室6の空気排出
口15bと高温室2の熱風吸込口17bとが空気ダクト
18bで連絡されている点が異なる。この場合は破線の
矢印で示すように、高温室2の熱風が送風@4にて送風
され、バイパス通路5、熱風吹出ロ17a1空気ダクト
18a1空気導入口15aを通って低温室6を加熱する
。そして送風機9により空気排出口15b、空気ダクト
+8b、熱風吸込口17bを通って高温室2に戻る。
本実施例では高温室2の温度が−i装置周囲の空気の温
度より高いため、第1図よりさらに急激に除重を行うこ
とができる。
度より高いため、第1図よりさらに急激に除重を行うこ
とができる。
本発明によれば低温室に多量の加熱空気を入れることに
より、低温室の温度を急速に上昇させ短時間に除霜する
ことができるので、試誠時間を短縮する効果がある。ま
た第1図の実施例でrt=イ周囲の空気を利用している
ので、′框気ヒータの消費電力を節電する効果もある。
より、低温室の温度を急速に上昇させ短時間に除霜する
ことができるので、試誠時間を短縮する効果がある。ま
た第1図の実施例でrt=イ周囲の空気を利用している
ので、′框気ヒータの消費電力を節電する効果もある。
第1図は本発明の一実施例の冷熱衝撃試験装置を示す縦
断面図であり、第2図は他の実施例の冷熱(#単試験装
置の縦断面図である。 1・・・試験室 2・・・高温層 3・・・加熱器
4・・・送風機 5・・・バイパス通路 6・・・
低温室7・・・冷却6 8・・・加熱器 9・・・送
風機10・・・バイパス通路 11a・・・熱風吹出
口+lb・・・熱風吸込口 +21 、+2b・・・
高温ダンパ 13a・・・冷風吹出口 +3b・・
・冷風吸込口 14a 、+4b・・・低温ダンパ
+5a・・・空気導入口 15b・・・空気排出口
+6a、16b・・・除痛ダンパ 17a・・・
熱風吹出口+7b・・・熱風吸込口 +sa、+sb
・・・望気ダ第1図
断面図であり、第2図は他の実施例の冷熱(#単試験装
置の縦断面図である。 1・・・試験室 2・・・高温層 3・・・加熱器
4・・・送風機 5・・・バイパス通路 6・・・
低温室7・・・冷却6 8・・・加熱器 9・・・送
風機10・・・バイパス通路 11a・・・熱風吹出
口+lb・・・熱風吸込口 +21 、+2b・・・
高温ダンパ 13a・・・冷風吹出口 +3b・・
・冷風吸込口 14a 、+4b・・・低温ダンパ
+5a・・・空気導入口 15b・・・空気排出口
+6a、16b・・・除痛ダンパ 17a・・・
熱風吹出口+7b・・・熱風吸込口 +sa、+sb
・・・望気ダ第1図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、試験室と、本試験室に低温空気を供給するための低
温室と、本低温室の冷気吹出口と冷気吸込口を開閉する
低温ダンパと、前記試験室に高温空気と供給するための
高温室と、高温室の熱風吹出口と熱風吸込口を開閉する
高温ダンパとを供えた冷熱衝撃試験装置において、装置
周囲の空気を導入する空気導入口と本空気を排気する空
気排出口と、本空気導入口と空気排出口を各々開閉する
除霜ダンパを低温槽に設けたことを特徴とする冷熱衝撃
試験装置。 2、低温室と高温室をダクトで連給し、本ダクトの途中
に開閉する除霜ダンパを設けたことを特徴とする請求項
1記載の冷熱衝撃試験装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10253088A JPH01274035A (ja) | 1988-04-27 | 1988-04-27 | 冷熱衝撃試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10253088A JPH01274035A (ja) | 1988-04-27 | 1988-04-27 | 冷熱衝撃試験装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01274035A true JPH01274035A (ja) | 1989-11-01 |
Family
ID=14329862
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10253088A Pending JPH01274035A (ja) | 1988-04-27 | 1988-04-27 | 冷熱衝撃試験装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01274035A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03195946A (ja) * | 1989-12-25 | 1991-08-27 | Daikin Ind Ltd | 冷熱衝撃試験装置 |
JPH04191638A (ja) * | 1990-11-26 | 1992-07-09 | Daikin Ind Ltd | 冷熱衝撃試験装置 |
US6113262A (en) * | 1999-01-22 | 2000-09-05 | Trw Inc. | Apparatus for testing electrical components |
KR100729115B1 (ko) * | 2006-02-10 | 2007-06-14 | 엘에스전선 주식회사 | 케이블 시편용 열화시험장치 |
CN103335908A (zh) * | 2013-06-17 | 2013-10-02 | 广州赛宝仪器设备有限公司 | 两厢式冲击试验箱 |
CN104826672A (zh) * | 2015-05-26 | 2015-08-12 | 哈尔滨理工大学 | 一种密封带式冷热冲击箱 |
-
1988
- 1988-04-27 JP JP10253088A patent/JPH01274035A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03195946A (ja) * | 1989-12-25 | 1991-08-27 | Daikin Ind Ltd | 冷熱衝撃試験装置 |
JPH04191638A (ja) * | 1990-11-26 | 1992-07-09 | Daikin Ind Ltd | 冷熱衝撃試験装置 |
US6113262A (en) * | 1999-01-22 | 2000-09-05 | Trw Inc. | Apparatus for testing electrical components |
KR100729115B1 (ko) * | 2006-02-10 | 2007-06-14 | 엘에스전선 주식회사 | 케이블 시편용 열화시험장치 |
CN103335908A (zh) * | 2013-06-17 | 2013-10-02 | 广州赛宝仪器设备有限公司 | 两厢式冲击试验箱 |
CN104826672A (zh) * | 2015-05-26 | 2015-08-12 | 哈尔滨理工大学 | 一种密封带式冷热冲击箱 |
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