JPH01270654A - 回路基板材料の熱膨張収縮率計測装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、回路基板材料の熱膨張収縮率を計測する装置
に関する。

（従来技術及び発明が解決しようとする課題）従来、熱
膨張収縮率の計測は、試料と機械的に接触したプローブ
のため、回路基板材料のように薄い試験片では、そりを
生じ計測は困難であった。

最近では、非接触による測定装置が特開昭６０−３９５
４０号公報に示されている。第２図はこの測定装置を示
すもので、図において、２１は加熱炉で、この中に試料
２２がおかれ、照明装置２３よりの光は望遠レンズを介
してカメラ２４に入り、インターフェースを介してオッ
シロスコープ２５に試料間の伸びが表示される。また試
料の温度はデジタル温度計２６によりデジタルプロッタ
２７に試料の温度と熱膨張率との関係が表示されるもの
である。しかし、この装置においては試料の長さが固定
化される点と、常に試料エツジがカメラに収まるような
セツティングの必要があった。

本発明は、上記事由に鑑みてなしたものであって、試験
片にそりを生じさせることなく、精度よく薄い回路基板
材料でも計測でき、加えて計測データも自動的に処理し
て得られる計測装置を提供することを目的とする。

（課題を解決するための手段） 」−記の目的を達成するため、本発明は試験片の一端を
、長さ方向に試験片への軸力を極力小にしたスラスト軸
受と、前記試験片の他端を固定する固定治具と、前記試
験片の長さ方向に対して直角方向に平行光を照射する光
源と、前記光源の光を感知するイメージセンサと、前記
平行光をさえぎるように、前記試験片に取りつけられた
平行アンテナと、前記試験片を加熱するヒータと、前記
試験片付近の温度を測定する温度センサと、前記イメー
ジセンサ及び温度センサよりの信号によって少なくとも
前記試験片の熱膨張率を算出する手段とを具備すること
を特徴とする回路基板材料の熱膨張収縮率計測装置を発
明の要旨とするものである。

（作用） 本発明は自動熱膨張収縮率計測装置において、試験片を
加熱するヒータと平行光を照射する光源と、その光をさ
えぎる光アンテナと、その光を受光するイメージセンサ
及び試験片への軸力を極めて小さくするスラスト軸受、
さらにイメージセンサ、温度センサから得られる信号を
処理するマイクロコンピュータより構成されることによ
って極めて薄い試験片に対しても、精度よく熱膨張収縮
率の計測を行うことができる。

（実施例） 次に本発明の実施例について説明する。なお、実施例は
一つの例示であって、本発明の精神を逸脱しない範囲で
、種々の変更あるいは改良を行いうろことは言うまでも
ない。

第１図は本発明の熱膨張収縮率計測装置を示す。

図において、１は光の明暗部を感知するイメージセンサ
、２は試験片に取り付けられ試験片の膨張収縮に応して
変位する光をさえぎる光アンテナ、３は平行光をイメー
ジセンサに向って照射するライト、４は試験片への軸力
を極めて小さくするスラスト軸受、５は試験片の一端を
保持し、試験片の膨張収縮に応して水平にスラスト軸受
内をスムーズに移動する試験片治具Ａ、６ば試験片、７
は試験片の他の一端を側面から点保持する固定試験片治
具Ｂ、８ば試験片とほぼ平行に配置され、試験片を加熱
するヒータ、９は主として試験片を収納するガラス管、
１０は前記のガラス管内に配置されている温度をモニタ
ーする温度センサである。

１１は光アンテナ２を試験片６に固定する光アンテナ治
具、１２はイメージプロセンサ、１３は温度センサの信
号を受けるＡ／Ｄコンハーク、１４ばイメージセンサ１
と温度センサ１０の信号を処理するマイクロコンピュー
タ、１５はデータを出力するプロッタである。

次に動作について説明する。

今、試験片６がヒータ８により加熱される。温度は温度
センサ１０の情報をもとにマイクロコンピュータ１４に
より所定温度に制御される。この場合、試験片６は熱膨
張し、試験片治具Ａ側にのびる。

同時に、光アンテナ２が変位する。するとイメージセン
サが感知する光の明暗部が変化する。その情報をマイク
ロコンピュータ１４取り込むことにより、熱膨張率が決
定できる。収縮率も同様である。

（発明の効果） 本発明は叙上のように、試験片の一端を、長さ方向に試
験片への軸力を極力小にしたスラスト軸受と、前記試験
片の他端を固定する固定治具と、前記試験片の長さ方向
に対して直角方向に平行光を照射する光源と、前記光源
の光を感知するイメージセンサと、前記平行光をさえぎ
るように、前記試験片に取りつけられた平行アンテナと
、前記試験片を加熱するヒータと、前記試験片付近の温
度を測定する温度センサと、前記イメージセンサ及び温
度センサよりの信号によって少なくとも前記試験片の熱
膨張率を算出する手段とを具備することによって、試験
片への軸力を極めて小さくしたため、試験片のそりが生
じない。さらに試験片の固定治具を、試験片の側面から
点支持する。その結果、試験片固定部の熱変位は、はと
んど試験片の熱膨張収縮率に影響を与えない。以上によ
り、回路基板材料の精度のよい熱膨張収縮率の計測を行
うことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る熱膨張収縮率計測装置の一実施例
、第２図は従来例を示す。 １・・・イメージセンサ　２・・・光アンテナ３・・・
ライト　　　　　４・・・スラスト軸受５・・・試験片
治具Ａ　　６・・・試験片７・・・試験片治具Ｂ　　８
・・・ヒータ９・・・ガラス管　　　　１０・・・温度
センサ１１・・・光アンテナ治具　１２・・・イメージ
プロセッサ１３・・・Ａ／Ｄコンバータ １４・・・マイクロコンピュータ １５・・・ブロック

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 試験片の一端を、長さ方向に試験片への軸力を極力小に
   したスラスト軸受と、前記試験片の他端を固定する固定
   治具と、前記試験片の長さ方向に対して直角方向に平行
   光を照射する光源と、前記光源の光を感知するイメージ
   センサと、前記平行光をさえぎるように、前記試験片に
   取りつけられた平行アンテナと、前記試験片を加熱する
   ヒータと、前記試験片付近の温度を測定する温度センサ
   と、前記イメージセンサ及び温度センサよりの信号によ
   って少なくとも前記試験片の熱膨張率を算出する手段と
   を具備することを特徴とする回路基板材料の熱膨張収縮
   率計測装置。