JPH04353751A - 膨張率測定装置 - Google Patents
膨張率測定装置Info
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- JPH04353751A JPH04353751A JP12912891A JP12912891A JPH04353751A JP H04353751 A JPH04353751 A JP H04353751A JP 12912891 A JP12912891 A JP 12912891A JP 12912891 A JP12912891 A JP 12912891A JP H04353751 A JPH04353751 A JP H04353751A
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Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は膨張率測定装置に関し、
特に被測定試料を無負荷にした状態で測定できる膨張率
測定装置に関するものである。
特に被測定試料を無負荷にした状態で測定できる膨張率
測定装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】樹脂材料等の線膨張率の測定方法は、例
えばJISK6714やASTM規格D−696等に規
定されているが、いずれの方法においても、膨張率伝達
棒やダイアルゲージ等による負荷が、試料に与えられた
状態で測定が行われている。図7は従来の膨張率測定装
置の概要を示す図である。図において、71はダイアル
ゲージで、プランジャ73を介して膨張率伝達棒74に
接触している。72は、このダイアルゲージ71を支持
している支持具、75はレベルプレートである。膨張率
伝達棒74は、例えば石英ガラス等で形成され、同じく
石英ガラスで形成された支持具(ホルダ)75内に試料
77と共に収容され、試料77の膨張量をダイアルゲー
ジ71のプランジャ73に伝達している。このようにし
て、ダイアルゲージ71の目盛りを読み取ることにより
、試料77の膨張量を測定することができる。
えばJISK6714やASTM規格D−696等に規
定されているが、いずれの方法においても、膨張率伝達
棒やダイアルゲージ等による負荷が、試料に与えられた
状態で測定が行われている。図7は従来の膨張率測定装
置の概要を示す図である。図において、71はダイアル
ゲージで、プランジャ73を介して膨張率伝達棒74に
接触している。72は、このダイアルゲージ71を支持
している支持具、75はレベルプレートである。膨張率
伝達棒74は、例えば石英ガラス等で形成され、同じく
石英ガラスで形成された支持具(ホルダ)75内に試料
77と共に収容され、試料77の膨張量をダイアルゲー
ジ71のプランジャ73に伝達している。このようにし
て、ダイアルゲージ71の目盛りを読み取ることにより
、試料77の膨張量を測定することができる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来例で
は、試料77には膨張率伝達棒74の重みとダイアルゲ
ージ71のスプリングの反力が印加されているため、正
確な膨張率の測定が困難である。即ち、例えば自動車部
品の分野では、多くの樹脂材料が使用されており、それ
らは省エネルギーのために軽量であることが必須の要件
である。このため、試料77は、実際に製品に使用され
るのと同様に、薄肉の試料片で膨張率を測定する必要が
ある。ところが、このような薄肉の試料片を、図7に示
すような膨張率測定装置を用いて測定すると、温度を上
げることにより試料が軟化、変形するが、このような試
料の変形が、試料の分子配向の緩和等の収縮によって生
じるのか、膨張率伝達棒74及びダイアルゲージ71の
スプリングの反力によって生じるのか判別できない。 又、このように試料77に対して上側より負荷を加える
と、実際に試料77が膨張しているのもかかわらず、膨
張率伝達棒74やダイアルゲージ71の押し付け力によ
り試料77が曲げられてしまい、試料77が膨張したと
判別できなくなくなる虞がある。
は、試料77には膨張率伝達棒74の重みとダイアルゲ
ージ71のスプリングの反力が印加されているため、正
確な膨張率の測定が困難である。即ち、例えば自動車部
品の分野では、多くの樹脂材料が使用されており、それ
らは省エネルギーのために軽量であることが必須の要件
である。このため、試料77は、実際に製品に使用され
るのと同様に、薄肉の試料片で膨張率を測定する必要が
ある。ところが、このような薄肉の試料片を、図7に示
すような膨張率測定装置を用いて測定すると、温度を上
げることにより試料が軟化、変形するが、このような試
料の変形が、試料の分子配向の緩和等の収縮によって生
じるのか、膨張率伝達棒74及びダイアルゲージ71の
スプリングの反力によって生じるのか判別できない。 又、このように試料77に対して上側より負荷を加える
と、実際に試料77が膨張しているのもかかわらず、膨
張率伝達棒74やダイアルゲージ71の押し付け力によ
り試料77が曲げられてしまい、試料77が膨張したと
判別できなくなくなる虞がある。
【0004】本発明は上記従来例に鑑みてなされたもの
で、測定時に、試料に対して負荷を加えることがなく、
試料の膨張率を正確に測定できる膨張率測定装置を提供
することを目的とする。
で、測定時に、試料に対して負荷を加えることがなく、
試料の膨張率を正確に測定できる膨張率測定装置を提供
することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明の膨張率測定装置は以下のような構成を備える
。即ち、試料に熱を印加或いは前記試料を冷却して前記
試料の膨張率/収縮率を測定する膨張率測定装置であっ
て、前記試料の膨張率/収縮率を測定するための温度値
を設定する温度設定手段と、前記温度設定手段により設
定された温度値になるように、前記試料を加熱或いは冷
却する加熱/冷却手段と、前記試料の一端を固定もしく
はそれを収容する容器に当接し、前記試料の他端の先端
及びその近傍に光を照射し、その通過光量により前記試
料の長さの変化量を光学的に検出する検出手段と、前記
温度設定手段により設定された温度値及び前記検出手段
により検出された前記試料の長さの変化量とから、前記
試料の膨張率/収縮率を計算する計算手段とを有する。
に本発明の膨張率測定装置は以下のような構成を備える
。即ち、試料に熱を印加或いは前記試料を冷却して前記
試料の膨張率/収縮率を測定する膨張率測定装置であっ
て、前記試料の膨張率/収縮率を測定するための温度値
を設定する温度設定手段と、前記温度設定手段により設
定された温度値になるように、前記試料を加熱或いは冷
却する加熱/冷却手段と、前記試料の一端を固定もしく
はそれを収容する容器に当接し、前記試料の他端の先端
及びその近傍に光を照射し、その通過光量により前記試
料の長さの変化量を光学的に検出する検出手段と、前記
温度設定手段により設定された温度値及び前記検出手段
により検出された前記試料の長さの変化量とから、前記
試料の膨張率/収縮率を計算する計算手段とを有する。
【0006】
【作用】以上の構成において、試料の膨張率/収縮率を
測定するための温度値を設定する温度設定手段により設
定された温度値になるように、試料を加熱或いは冷却す
る。そして、その試料の一端を固定もしくはそれを収容
する容器に当接し、その加熱或いは冷却された試料の他
端の先端及びその近傍に光を照射し、その通過光量によ
り試料の長さの変化量を光学的に検出する。そして、そ
の設定された温度値及び検出された試料の長さの変化量
とから、その試料の膨張率/収縮率を計算するように動
作する。
測定するための温度値を設定する温度設定手段により設
定された温度値になるように、試料を加熱或いは冷却す
る。そして、その試料の一端を固定もしくはそれを収容
する容器に当接し、その加熱或いは冷却された試料の他
端の先端及びその近傍に光を照射し、その通過光量によ
り試料の長さの変化量を光学的に検出する。そして、そ
の設定された温度値及び検出された試料の長さの変化量
とから、その試料の膨張率/収縮率を計算するように動
作する。
【0007】
【実施例】以下、添付図面を参照して本発明の好適な実
施例を詳細に説明する。
施例を詳細に説明する。
【0008】図1は本実施例の膨張率測定装置の概略構
成を示すブロック図、図2〜図4はこの実施例の膨張率
測定装置の主要部の形状を示す外観図である。
成を示すブロック図、図2〜図4はこの実施例の膨張率
測定装置の主要部の形状を示す外観図である。
【0009】まず最初に、図2を参照して、この実施例
の膨張率測定装置の測定部の構成を説明する。
の膨張率測定装置の測定部の構成を説明する。
【0010】図2は本実施例の膨張率測定装置の概略図
である。
である。
【0011】図2において、201は加熱浴槽で、この
浴槽201の中には伝熱媒体が入っており、この伝熱媒
体の中に透明な石英ガラス管で構成され、被測定サンプ
ルである試料203が収容されたホルダ202が入れら
れている。このホルダ202は、長さ30〜40cmで
、内径が10〜15mmφの円筒管である。204は撹
拌機で、この伝熱媒体を撹拌することにより、浴槽20
1内の温度を均一に保っている。206は光ファイバで
、この光束径は3〜10mmφで、発光部102よりの
光を変位検出部207に導き、その受光した光を受光部
103に伝達している。
浴槽201の中には伝熱媒体が入っており、この伝熱媒
体の中に透明な石英ガラス管で構成され、被測定サンプ
ルである試料203が収容されたホルダ202が入れら
れている。このホルダ202は、長さ30〜40cmで
、内径が10〜15mmφの円筒管である。204は撹
拌機で、この伝熱媒体を撹拌することにより、浴槽20
1内の温度を均一に保っている。206は光ファイバで
、この光束径は3〜10mmφで、発光部102よりの
光を変位検出部207に導き、その受光した光を受光部
103に伝達している。
【0012】105は浴槽201内の温度を検出する温
度センサ、104は浴槽201内の伝熱媒体を加熱する
ためのヒータ、また106は浴槽201内の伝熱媒体を
冷却するための冷却管である。尚、前述した発光部10
2、受光部103、温度センサ105及びヒータ104
等は、制御部101(図1)に接続されて制御されてい
る。
度センサ、104は浴槽201内の伝熱媒体を加熱する
ためのヒータ、また106は浴槽201内の伝熱媒体を
冷却するための冷却管である。尚、前述した発光部10
2、受光部103、温度センサ105及びヒータ104
等は、制御部101(図1)に接続されて制御されてい
る。
【0013】図3は実施例の膨張率測定装置の変位測定
部207の詳細を示す側面図、図4はその上面図である
。
部207の詳細を示す側面図、図4はその上面図である
。
【0014】発光部102で発光された光は、光ファイ
バ206を伝播してレンズ209を通り、透明なホルダ
202を通して試料203の端部を照射している。この
発光部102の光源としては、ハロゲンランプや炭素光
源、或いはレーザ光源等が用いられ、受光部103のC
CDの受光素子面上に十分なコントラストを付けられる
ように、電圧調整器等を接続して、その発光する光量を
調節できるようにしている。210は、レンズ209よ
り試料203を照射した光のうち、試料203により遮
蔽されない、又は遮蔽された分の光を、ホルダ202の
ガラス管を通して集光するレンズで、このレンズ206
に入射された光は光ファイバ206を通して受光部10
3に送られる。この受光部103には、ライン型の1次
元ラインセンサ(CCD)103aが備えられており、
このCCD103aに入射される光の変位により、試料
203の伸縮を検出することができる。尚、208は、
この変位測定部207をホルダ202に固定するための
ネジで、試料203の長さに応じてホルダ202を上下
方向に移動して、変位測定部207を任意の位置に固定
することができる。
バ206を伝播してレンズ209を通り、透明なホルダ
202を通して試料203の端部を照射している。この
発光部102の光源としては、ハロゲンランプや炭素光
源、或いはレーザ光源等が用いられ、受光部103のC
CDの受光素子面上に十分なコントラストを付けられる
ように、電圧調整器等を接続して、その発光する光量を
調節できるようにしている。210は、レンズ209よ
り試料203を照射した光のうち、試料203により遮
蔽されない、又は遮蔽された分の光を、ホルダ202の
ガラス管を通して集光するレンズで、このレンズ206
に入射された光は光ファイバ206を通して受光部10
3に送られる。この受光部103には、ライン型の1次
元ラインセンサ(CCD)103aが備えられており、
このCCD103aに入射される光の変位により、試料
203の伸縮を検出することができる。尚、208は、
この変位測定部207をホルダ202に固定するための
ネジで、試料203の長さに応じてホルダ202を上下
方向に移動して、変位測定部207を任意の位置に固定
することができる。
【0015】尚、この変位測定部207は、約250°
Cまでの温度に耐えられる材質で構成されている。
Cまでの温度に耐えられる材質で構成されている。
【0016】図5は、この実施例の膨張率測定装置の受
光部103のCCD103aによる試料203の長さを
測定する原理を説明するための図である。
光部103のCCD103aによる試料203の長さを
測定する原理を説明するための図である。
【0017】図5において、例えばCCDセンサ103
aの解像度を400dpiとすると、このCCDセンサ
103aの1つの受光素子521の長さは約0.062
5mmとなる。いま、試料203に対して図5の下方よ
り矢示方向に光が照射されているとすると、CCDセン
サ103aの受光素子のうち、斜線を付した部分が陰に
なって光が照射されず、残りの受光素子部分には光が照
射される。
aの解像度を400dpiとすると、このCCDセンサ
103aの1つの受光素子521の長さは約0.062
5mmとなる。いま、試料203に対して図5の下方よ
り矢示方向に光が照射されているとすると、CCDセン
サ103aの受光素子のうち、斜線を付した部分が陰に
なって光が照射されず、残りの受光素子部分には光が照
射される。
【0018】又、501は、このCCDセンサ103a
に印加される水平同期信号を示し、502は、このCC
Dセンサ103aに印加される画素クロックを示してい
る。いま、試料203の長さが点線510で示す位置ま
でとすると、このときのCCDセンサ103aの出力波
形は、503の点線で示すようになる。これに対し、試
料203を加熱することにより試料203が膨張して長
くなり、試料203の長さが実線511で示す位置まで
伸びると、このときのCCDセンサ103aの出力波形
は503の実線で示すようになる。
に印加される水平同期信号を示し、502は、このCC
Dセンサ103aに印加される画素クロックを示してい
る。いま、試料203の長さが点線510で示す位置ま
でとすると、このときのCCDセンサ103aの出力波
形は、503の点線で示すようになる。これに対し、試
料203を加熱することにより試料203が膨張して長
くなり、試料203の長さが実線511で示す位置まで
伸びると、このときのCCDセンサ103aの出力波形
は503の実線で示すようになる。
【0019】ここで、画素クロック502の1クロック
周期は、前述したように400dpiのセンサの場合で
は、0.0625mmに相当しているため、この場合の
試料203が膨張して長くなった量(膨張量)は、6ク
ロック分、即ち、6×0.0625=0.375mmと
して検出される。尚、この膨張した試料の長さの検出感
度は、より解像度の高いCCDセンサを用いればより高
くなることは容易に想到できる。また、レンズ210を
含む光学系の倍率を変更することにより、CCDセンサ
103aにより検出できる試料203の長さの解像度を
変更することもできる。
周期は、前述したように400dpiのセンサの場合で
は、0.0625mmに相当しているため、この場合の
試料203が膨張して長くなった量(膨張量)は、6ク
ロック分、即ち、6×0.0625=0.375mmと
して検出される。尚、この膨張した試料の長さの検出感
度は、より解像度の高いCCDセンサを用いればより高
くなることは容易に想到できる。また、レンズ210を
含む光学系の倍率を変更することにより、CCDセンサ
103aにより検出できる試料203の長さの解像度を
変更することもできる。
【0020】次に、図1に示す膨張率測定装置のブロッ
ク図を参照して、その構成を説明する。
ク図を参照して、その構成を説明する。
【0021】図1において、101は装置全体を制御す
る制御部で、例えばマイクロプロセッサ等のCPU11
1、CPU111の制御プログラムや各種データを記憶
しているROM112、CPU111のワークエリアと
して使用され、各種データを一時的に記憶するRAM1
13などを備えている。発光部102は、前述したよう
にハロゲンランプやレーザなどを備えており、制御部1
01の制御により、例えば駆動電圧等を変更して、その
発光量を調整することができる。これにより例えば、試
料203が比較的光を通しやすいサンプルである時は、
発光部102より試料203を照射する光の量を少なく
して、試料203により遮蔽された光を検出しやすくす
ることができる。
る制御部で、例えばマイクロプロセッサ等のCPU11
1、CPU111の制御プログラムや各種データを記憶
しているROM112、CPU111のワークエリアと
して使用され、各種データを一時的に記憶するRAM1
13などを備えている。発光部102は、前述したよう
にハロゲンランプやレーザなどを備えており、制御部1
01の制御により、例えば駆動電圧等を変更して、その
発光量を調整することができる。これにより例えば、試
料203が比較的光を通しやすいサンプルである時は、
発光部102より試料203を照射する光の量を少なく
して、試料203により遮蔽された光を検出しやすくす
ることができる。
【0022】受光部103は、2000個以上、望まし
くは40000個以上の受光素子を備えたCCDセンサ
103aを有し、入射した光に応じたパルス信号を制御
部101に出力している。制御部101は、このパルス
信号を入力し、適当なスレッショホルド信号により2値
化して入力している。109は、この受光部103のC
CDセンサの駆動回路で、図5を参照して前述した水平
同期信号、画素クロック信号等を出力しており、これら
クロック信号や水平同期信号は制御部101にも入力さ
れている。これにより、図5を参照して前述したように
して、試料203の伸縮量を測定することができる。
くは40000個以上の受光素子を備えたCCDセンサ
103aを有し、入射した光に応じたパルス信号を制御
部101に出力している。制御部101は、このパルス
信号を入力し、適当なスレッショホルド信号により2値
化して入力している。109は、この受光部103のC
CDセンサの駆動回路で、図5を参照して前述した水平
同期信号、画素クロック信号等を出力しており、これら
クロック信号や水平同期信号は制御部101にも入力さ
れている。これにより、図5を参照して前述したように
して、試料203の伸縮量を測定することができる。
【0023】104はヒータで、浴槽201内の伝熱媒
体を加熱している。110は冷却器で、設定された温度
が現在の浴槽201内の伝熱媒体の温度よりも低い時は
、前述した冷却管106を通して伝熱媒体を冷却するこ
とができる。105は浴槽201内の伝熱媒体の温度を
検知するための温度センサである。107は表示部で、
現在の浴槽201内の温度及び試料203の膨張率等を
表示する。108は操作パネルで、浴槽201内の温度
設定用スイッチ、膨張率の測定開始指示スイッチなどを
備えている。
体を加熱している。110は冷却器で、設定された温度
が現在の浴槽201内の伝熱媒体の温度よりも低い時は
、前述した冷却管106を通して伝熱媒体を冷却するこ
とができる。105は浴槽201内の伝熱媒体の温度を
検知するための温度センサである。107は表示部で、
現在の浴槽201内の温度及び試料203の膨張率等を
表示する。108は操作パネルで、浴槽201内の温度
設定用スイッチ、膨張率の測定開始指示スイッチなどを
備えている。
【0024】以上の構成を備える膨張率測定装置の動作
を図6のフローチャートを参照して説明する。この処理
を実行する制御プログラムはROM112に記憶されて
おり、この処理は操作パネル108より膨張率の測定指
示が入力されることにより開始される。
を図6のフローチャートを参照して説明する。この処理
を実行する制御プログラムはROM112に記憶されて
おり、この処理は操作パネル108より膨張率の測定指
示が入力されることにより開始される。
【0025】まずステップS1では、温度センサ105
よりの信号をもとに、浴槽201内の現在の温度を検出
し、この時の温度データをRAM113の現在温度エリ
ア121に記憶する。次にステップS2に進み、CCD
センサ103aにより検知されている信号をもとに、現
在の試料203の長さに応じたCCDセンサ103aの
出力データを検出してRAM113のCCD値122に
記憶する。次にステップS3に進み、操作パネル108
より入力された設定温度値を読取り、RAM113に記
憶されている現在の温度値と比較して、それよりも上で
あればヒータ104により加熱し、以下であれば冷却器
110により伝熱媒体を冷却する。こうしてステップS
5で、その設定された温度値と、伝熱媒体の温度値とが
一致するかどうかを調べ、一致するまでステップS3〜
S5を実行する。
よりの信号をもとに、浴槽201内の現在の温度を検出
し、この時の温度データをRAM113の現在温度エリ
ア121に記憶する。次にステップS2に進み、CCD
センサ103aにより検知されている信号をもとに、現
在の試料203の長さに応じたCCDセンサ103aの
出力データを検出してRAM113のCCD値122に
記憶する。次にステップS3に進み、操作パネル108
より入力された設定温度値を読取り、RAM113に記
憶されている現在の温度値と比較して、それよりも上で
あればヒータ104により加熱し、以下であれば冷却器
110により伝熱媒体を冷却する。こうしてステップS
5で、その設定された温度値と、伝熱媒体の温度値とが
一致するかどうかを調べ、一致するまでステップS3〜
S5を実行する。
【0026】こうして浴槽201内の温度が設定された
温度と等しくなるとステップS6に進み、その時の試料
203の長さを検出するためにCCDセンサ103aの
出力データを入力する。このステップS6で読み取った
CCDセンサ103aの出力値と、RAM113に記憶
されているCCD値122との間のパルス数の差分を求
め、図5を参照して前述したようにして、これに応じた
試料203の伸縮量を求める(ステップS8)。
温度と等しくなるとステップS6に進み、その時の試料
203の長さを検出するためにCCDセンサ103aの
出力データを入力する。このステップS6で読み取った
CCDセンサ103aの出力値と、RAM113に記憶
されているCCD値122との間のパルス数の差分を求
め、図5を参照して前述したようにして、これに応じた
試料203の伸縮量を求める(ステップS8)。
【0027】次にステップS9に進み、この時の印加温
度差と、その膨張/収縮量とから膨張係数または収縮計
数を求め、その結果を表示部107に表示する。
度差と、その膨張/収縮量とから膨張係数または収縮計
数を求め、その結果を表示部107に表示する。
【0028】尚、この実施例の膨張率測定装置では、室
温から60°C〜160°Cまでの昇温が可能である。
温から60°C〜160°Cまでの昇温が可能である。
【0029】又、この実施例では、試料203を収容す
るホルダ202を垂直方向にして、その中に試料203
を入れる構成としたが、本発明はこれに限定されるもの
でなく、例えばホルダ202を水平方向に設置し、その
中に試料203を収容して膨張率を測定しても良い。 尚、この場合には、試料203の一端をホルダ202の
底部に接触させておくか、或いは試料203の一端をホ
ルダ202内に固定させる必要がある。
るホルダ202を垂直方向にして、その中に試料203
を入れる構成としたが、本発明はこれに限定されるもの
でなく、例えばホルダ202を水平方向に設置し、その
中に試料203を収容して膨張率を測定しても良い。 尚、この場合には、試料203の一端をホルダ202の
底部に接触させておくか、或いは試料203の一端をホ
ルダ202内に固定させる必要がある。
【0030】以上説明したように本実施例によれば、試
料を無負荷状態にして、試料の膨張率或いは収縮率を測
定することができるため、精度良く試料の膨張率或いは
収縮率を測定することができる。
料を無負荷状態にして、試料の膨張率或いは収縮率を測
定することができるため、精度良く試料の膨張率或いは
収縮率を測定することができる。
【0031】また、本実施例によれば、設定された温度
に自動的に調整して膨張率(収縮率)が測定できるため
、測定処理を省力化できる効果がある。
に自動的に調整して膨張率(収縮率)が測定できるため
、測定処理を省力化できる効果がある。
【0032】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、測
定時に、試料に対して負荷を加えることがないため、試
料の膨張率を正確に測定できる効果がある。
定時に、試料に対して負荷を加えることがないため、試
料の膨張率を正確に測定できる効果がある。
【図1】本実施例の膨張率測定装置の概略構成を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図2】本実施例の膨張率測定装置の構成を示す概略図
である。
である。
【図3】本実施例の膨張率測定装置の変位測定部の詳細
を示す側面図である。
を示す側面図である。
【図4】本実施例の膨張率測定装置の変位測定部の詳細
を示す上面図である。
を示す上面図である。
【図5】本実施例の膨張率測定装置におけるCCDセン
サによる試料の長さの変化量の検出法を説明するための
図である。
サによる試料の長さの変化量の検出法を説明するための
図である。
【図6】本実施例の膨張率測定装置の測定処理を示すフ
ローチャートである。
ローチャートである。
【図7】従来の膨張率測定装置の構成を示す図である。
101 制御部
102 発光部
103 受光部
103a CCDセンサ
104 ヒータ
105 温度センサ
106 冷却管
107 表示部
108 操作パネル
111 CPU
112 ROM
113 RAM
201 浴槽
202 ホルダ
203 試料
206 光ファイバ
Claims (2)
- 【請求項1】 試料に熱を印加或いは前記試料を冷却
して前記試料の膨張率/収縮率を測定する膨張率測定装
置であって、前記試料の膨張率/収縮率を測定するため
の温度値を設定する温度設定手段と、前記温度設定手段
により設定された温度値になるように、前記試料を加熱
或いは冷却する加熱/冷却手段と、前記試料の一端を固
定もしくはそれを収容する容器に当接し、前記試料の他
端の先端及びその近傍に光を照射して、その通過光変化
により前記試料の長さの変化量を光学的に検出する検出
手段と、前記温度設定手段により設定された温度値及び
前記検出手段により検出された前記試料の長さの変化量
とから、前記試料の膨張率/収縮率を計算する計算手段
と、を有することを特徴とする膨張率測定装置。 - 【請求項2】 前記検出手段は前記試料に光を照射す
る光照射部と、前記試料により遮蔽された光部分と、前
記試料により遮蔽されない光部分を入射するCCDライ
ンセンサを備え、前記CCDラインセンサより出力され
る光検知パルス信号により前記試料の長さの変化量を検
出するようにしたことを特徴とする請求項1に記載の膨
張率測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12912891A JPH04353751A (ja) | 1991-05-31 | 1991-05-31 | 膨張率測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12912891A JPH04353751A (ja) | 1991-05-31 | 1991-05-31 | 膨張率測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04353751A true JPH04353751A (ja) | 1992-12-08 |
Family
ID=15001790
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12912891A Withdrawn JPH04353751A (ja) | 1991-05-31 | 1991-05-31 | 膨張率測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04353751A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002057770A1 (fr) | 2001-01-22 | 2002-07-25 | Teijin Limited | Appareil et procede pour mesurer la concentration et le debit de gaz par ultrasons |
JP2002214203A (ja) * | 2001-01-22 | 2002-07-31 | Teijin Ltd | 超音波反射式ガス濃度測定方法及び装置 |
JP2002214012A (ja) * | 2001-01-22 | 2002-07-31 | Teijin Ltd | 超音波式ガス濃度流量測定方法及び装置 |
US6623159B2 (en) * | 1999-11-29 | 2003-09-23 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | Method for analyzing thermal deformation |
US8885038B2 (en) | 2009-04-28 | 2014-11-11 | Fuji Machine Mfg. Co., Ltd. | Measuring apparatus and measuring method thereof, apparatus for correcting processing position of cutting machine and method thereof for correcting processing position, and imaging apparatus and cutting machine comprising the same |
-
1991
- 1991-05-31 JP JP12912891A patent/JPH04353751A/ja not_active Withdrawn
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6623159B2 (en) * | 1999-11-29 | 2003-09-23 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | Method for analyzing thermal deformation |
WO2002057770A1 (fr) | 2001-01-22 | 2002-07-25 | Teijin Limited | Appareil et procede pour mesurer la concentration et le debit de gaz par ultrasons |
JP2002214203A (ja) * | 2001-01-22 | 2002-07-31 | Teijin Ltd | 超音波反射式ガス濃度測定方法及び装置 |
JP2002214012A (ja) * | 2001-01-22 | 2002-07-31 | Teijin Ltd | 超音波式ガス濃度流量測定方法及び装置 |
EP1286159A1 (en) * | 2001-01-22 | 2003-02-26 | Teijin Limited | Equipment and method for measuring concentration and flow rate of gas ultrasonically |
US6912907B2 (en) | 2001-01-22 | 2005-07-05 | Teijin Limited | Ultrasonic apparatus and method for measuring the concentration and flow rate of gas |
EP1286159A4 (en) * | 2001-01-22 | 2007-05-09 | Teijin Ltd | APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING CONCENTRATION AND ULTRASONIC GAS FLOW |
JP4536939B2 (ja) * | 2001-01-22 | 2010-09-01 | 帝人株式会社 | 超音波反射式ガス濃度測定方法及び装置 |
US8885038B2 (en) | 2009-04-28 | 2014-11-11 | Fuji Machine Mfg. Co., Ltd. | Measuring apparatus and measuring method thereof, apparatus for correcting processing position of cutting machine and method thereof for correcting processing position, and imaging apparatus and cutting machine comprising the same |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19980806 |