JPH01270335A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
- Publication number
- JPH01270335A JPH01270335A JP9938788A JP9938788A JPH01270335A JP H01270335 A JPH01270335 A JP H01270335A JP 9938788 A JP9938788 A JP 9938788A JP 9938788 A JP9938788 A JP 9938788A JP H01270335 A JPH01270335 A JP H01270335A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pellet
- heat sink
- resin
- lead
- package
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 27
- 239000008188 pellet Substances 0.000 claims abstract description 59
- 230000003014 reinforcing effect Effects 0.000 claims description 43
- 229920005989 resin Polymers 0.000 abstract description 17
- 239000011347 resin Substances 0.000 abstract description 17
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 11
- 238000007789 sealing Methods 0.000 abstract description 6
- 230000002787 reinforcement Effects 0.000 abstract 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 abstract 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 abstract 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 12
- 239000000463 material Substances 0.000 description 10
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 6
- 238000001721 transfer moulding Methods 0.000 description 6
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 4
- 239000003292 glue Substances 0.000 description 4
- 230000013011 mating Effects 0.000 description 4
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 239000011295 pitch Substances 0.000 description 3
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 3
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 2
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 230000005496 eutectics Effects 0.000 description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 2
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 2
- OFLYIWITHZJFLS-UHFFFAOYSA-N [Si].[Au] Chemical compound [Si].[Au] OFLYIWITHZJFLS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 238000004026 adhesive bonding Methods 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011889 copper foil Substances 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 239000012776 electronic material Substances 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- JVPLOXQKFGYFMN-UHFFFAOYSA-N gold tin Chemical compound [Sn].[Au] JVPLOXQKFGYFMN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 239000012778 molding material Substances 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
- 235000012771 pancakes Nutrition 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
- H01L2224/161—Disposition
- H01L2224/16151—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/16221—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/16245—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73253—Bump and layer connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/303—Surface mounted components, e.g. affixing before soldering, aligning means, spacing means
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/341—Surface mounted components
- H05K3/3421—Leaded components
Landscapes
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、半導体装置、特に、ペレットの放熱技術に関
するもので、例えば、多ピン、低熱抵抗で、小型かつ低
価格化が要求される半導体集積回路装置(以下、ICと
いう、)に利用して有効なものに関する。
するもので、例えば、多ピン、低熱抵抗で、小型かつ低
価格化が要求される半導体集積回路装置(以下、ICと
いう、)に利用して有効なものに関する。
低価格で、作業性良くして、薄形の実装を実現するため
のパッケージを備えているICとして、ペレットとリー
ド群とがテープ・オートメイテッド・ボンディング(T
ape AuLomated BondIng:T
AB)により機械的かつ電気的に接続されるように構成
されているもの(以下、TAB構造のICということが
ある。)がある。すなわち、リード群はポリイミド等の
ような絶縁性樹脂からなるキャリアテープ上に銅等のよ
うな導電材料を用いて付設されている。ペレットはこの
テープに形成されているサポートリング内に各バンブが
各リードに整合するように配されて、バンブおよびリー
ドをボンディング工具により熱圧着されることによって
接続される。その後、封止樹脂がサポートリング、リー
ドおよびペレットを封止するようにボッティングされる
ことにより、樹脂封止パッケージが成形される。
のパッケージを備えているICとして、ペレットとリー
ド群とがテープ・オートメイテッド・ボンディング(T
ape AuLomated BondIng:T
AB)により機械的かつ電気的に接続されるように構成
されているもの(以下、TAB構造のICということが
ある。)がある。すなわち、リード群はポリイミド等の
ような絶縁性樹脂からなるキャリアテープ上に銅等のよ
うな導電材料を用いて付設されている。ペレットはこの
テープに形成されているサポートリング内に各バンブが
各リードに整合するように配されて、バンブおよびリー
ドをボンディング工具により熱圧着されることによって
接続される。その後、封止樹脂がサポートリング、リー
ドおよびペレットを封止するようにボッティングされる
ことにより、樹脂封止パッケージが成形される。
なお、TAB技術を述べである例としては、株式会社工
業調査会発行「電子材料1987年11月号別冊」昭和
62年If月20日発行PI30〜P136、がある。
業調査会発行「電子材料1987年11月号別冊」昭和
62年If月20日発行PI30〜P136、がある。
また、所謂パワー+c等のような消費電力が大きいIC
においては、パッケージにヒートシンクを内蔵すること
が行われている。
においては、パッケージにヒートシンクを内蔵すること
が行われている。
なお、ヒートシンクが内蔵されているパワーICを述べ
である例としては、日経マグロウヒル社発行「別冊マイ
クロデバイセズN112J昭和59年6月l1日発行
P135、がある。
である例としては、日経マグロウヒル社発行「別冊マイ
クロデバイセズN112J昭和59年6月l1日発行
P135、がある。
前述したようなTAB構造のICにおいて、消費電力が
大きい場合、ヒートシンクを付設することが考えられる
が、前述したようなTAB構造のICの構成上の特徴か
ら、ヒートシンクの付設については多くの制限があるた
め、極一部のコンピュータの中央処理ユニットに使用さ
れるICにしか適用されていないのが現状である。
大きい場合、ヒートシンクを付設することが考えられる
が、前述したようなTAB構造のICの構成上の特徴か
ら、ヒートシンクの付設については多くの制限があるた
め、極一部のコンピュータの中央処理ユニットに使用さ
れるICにしか適用されていないのが現状である。
また、TAB構造のlCにおいては、熱抵抗を小さくす
るために、ヒートシンクをペレットに付けたままの構造
にすると、リード群が細く機械的に弱いため、プリント
配線基J&に実装された後において、移送中の振動等に
よる外力がこのICに加わると、リード曲がり事故が起
き易く、短絡不良や、断線不良等が発生するという問題
点があることが、本発明者によって明らかにされた。
るために、ヒートシンクをペレットに付けたままの構造
にすると、リード群が細く機械的に弱いため、プリント
配線基J&に実装された後において、移送中の振動等に
よる外力がこのICに加わると、リード曲がり事故が起
き易く、短絡不良や、断線不良等が発生するという問題
点があることが、本発明者によって明らかにされた。
また、ICのバフケージにヒートシンクを内蔵する技術
は、パッケージの外形的制限を受けるため、パッケージ
の外形についての設計に自由度のあるピン(リード)数
の少ないICにのみ適用されているのが現状である。
は、パッケージの外形的制限を受けるため、パッケージ
の外形についての設計に自由度のあるピン(リード)数
の少ないICにのみ適用されているのが現状である。
しかし、ICの多機能化、高集積化、高速化が進む最近
、ピン数の多いICについても、熱放散性の良好なヒー
トシンク内蔵形パッケージを備えているICの開発が要
望されている。
、ピン数の多いICについても、熱放散性の良好なヒー
トシンク内蔵形パッケージを備えているICの開発が要
望されている。
本発明の目的は、生産性および実装性良好かつ低価格に
して、小型化および多ピン化を促進することができると
ともに、高い放熱性能を得ることができる半導体装置を
提供することにある。
して、小型化および多ピン化を促進することができると
ともに、高い放熱性能を得ることができる半導体装置を
提供することにある。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう
。
明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう
。
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を説明すれば、次の通りである。
を説明すれば、次の通りである。
すなわち、リード群にペレットをテープ・オートメイテ
ッド・ボンディングするとともに、このペレットの裏面
にヒートシンクを付設し、これらペレットと、リードの
一部と、ヒートシンクの一部とを樹脂封止パッケージに
より樹脂封止し、さらに、この樹脂封止パッケージから
補強用部材を突設させるようにしたものである。
ッド・ボンディングするとともに、このペレットの裏面
にヒートシンクを付設し、これらペレットと、リードの
一部と、ヒートシンクの一部とを樹脂封止パッケージに
より樹脂封止し、さらに、この樹脂封止パッケージから
補強用部材を突設させるようにしたものである。
前記した手段によれば、ペレットがリード群にテープ・
オートメイテッド・ボンディングされるため、多ビン化
することができるとともに、実装性および生産性を高め
ることができる。
オートメイテッド・ボンディングされるため、多ビン化
することができるとともに、実装性および生産性を高め
ることができる。
また、ペレット、リード群およびヒートシンクは樹脂封
止パッケージにより樹脂封止されており、かつ、樹脂封
止パッケージから補強用部材が突設されているため、こ
の半導体装置がプリント配線基板に実装される時や、実
装された後において、移送中の振動等による外力がこの
半導体装置に加わった場合においても、リード曲がり等
のような事故が起きるのを防止することができ、その結
果、短絡不良や、断線不良の発生のを未然に回避するこ
とができる。
止パッケージにより樹脂封止されており、かつ、樹脂封
止パッケージから補強用部材が突設されているため、こ
の半導体装置がプリント配線基板に実装される時や、実
装された後において、移送中の振動等による外力がこの
半導体装置に加わった場合においても、リード曲がり等
のような事故が起きるのを防止することができ、その結
果、短絡不良や、断線不良の発生のを未然に回避するこ
とができる。
しかも、ペレットにヒートシンクが直接的に接触されて
いるため、ペレットの発熱はこのヒートシンクを経て外
部に直接的に放出されることになる。これにより、充分
な放熱性能が確保されるため、TAB構造のIC等にお
いても充分満足し得る低熱抵抗化を実現させることがで
きる。
いるため、ペレットの発熱はこのヒートシンクを経て外
部に直接的に放出されることになる。これにより、充分
な放熱性能が確保されるため、TAB構造のIC等にお
いても充分満足し得る低熱抵抗化を実現させることがで
きる。
第1図は本発明の一実施例である半導体装置を示す一部
切断正面図、第2図はその外観斜視図、第3図はその製
造途中を示す一部省略平面図、第4図はインナリードボ
ンディング作業を示す縦断面図、第5図はヒートシンク
取り付は作業を示す縦断面図、第6図は樹脂封止パッケ
ージ成形作業を示す一部省略縦断面図、第7図はパッケ
ージ成形後を示す一部省略平面図、第8図はその半導体
装置の実装状態を示す縦断面図、第9図はその斜視図で
ある。
切断正面図、第2図はその外観斜視図、第3図はその製
造途中を示す一部省略平面図、第4図はインナリードボ
ンディング作業を示す縦断面図、第5図はヒートシンク
取り付は作業を示す縦断面図、第6図は樹脂封止パッケ
ージ成形作業を示す一部省略縦断面図、第7図はパッケ
ージ成形後を示す一部省略平面図、第8図はその半導体
装置の実装状態を示す縦断面図、第9図はその斜視図で
ある。
本実施例において、本発明に係る半導体装置は表面実装
形の樹脂封止パッケージを備えているICとして構成さ
れている。このICIのパッケージ1日は略正方形の平
盤形状に形成されており、このバフケージの4側面の下
端辺付近からリード群のアウタ部10が複数本宛突設さ
れているとともに、パフケージの4隅から補強用部材I
Iが突設されている。このICIはリード8群にベレッ
)12がテープ・オートメイテッド・ボンディングされ
ているとともに、このベレットの裏面にヒートシンク1
6が付設されており、これらベレッ樹脂封止パンケージ
18により樹脂封止されており、さらに、この樹脂封止
パッケージから補強用部材が前記のように突設されてい
る。そして、このICは以下に述べるような製造方法に
よって製造されている。
形の樹脂封止パッケージを備えているICとして構成さ
れている。このICIのパッケージ1日は略正方形の平
盤形状に形成されており、このバフケージの4側面の下
端辺付近からリード群のアウタ部10が複数本宛突設さ
れているとともに、パフケージの4隅から補強用部材I
Iが突設されている。このICIはリード8群にベレッ
)12がテープ・オートメイテッド・ボンディングされ
ているとともに、このベレットの裏面にヒートシンク1
6が付設されており、これらベレッ樹脂封止パンケージ
18により樹脂封止されており、さらに、この樹脂封止
パッケージから補強用部材が前記のように突設されてい
る。そして、このICは以下に述べるような製造方法に
よって製造されている。
以下、本発明の一実施例である表面実装形樹脂封止パッ
ケージを備えているICの製造方法を説明する。この説
明により、前記ICについての構成の詳細が明らかにさ
れる。
ケージを備えているICの製造方法を説明する。この説
明により、前記ICについての構成の詳細が明らかにさ
れる。
本実施例において、ICIはそのベレットとリード群と
がテープ・オートメイテッド・ボンディングにより機械
的かつ電気的に接続されている。
がテープ・オートメイテッド・ボンディングにより機械
的かつ電気的に接続されている。
すなわち、キャリア用のテープ2はポリイミド等のよう
な絶縁性樹脂を用いて、同一パターンが長手方向に連続
するように一体成形されている。但し、説明および図示
は一単位だけについて行われている。キャリアテープ2
における幅方向の両側端辺部にはピッチ送りに使用され
る送り孔3が等ピッチに配されて開設されており、両側
の送り孔群間にはサポートリング4が等ピッチをもって
1列縦隊に配されて形成されている。サポートリング4
は略正方形の枠形状に形成されており、その枠の内側空
所には後記するベレットを収容するためのベレット収容
部5が実質的に構成されている。
な絶縁性樹脂を用いて、同一パターンが長手方向に連続
するように一体成形されている。但し、説明および図示
は一単位だけについて行われている。キャリアテープ2
における幅方向の両側端辺部にはピッチ送りに使用され
る送り孔3が等ピッチに配されて開設されており、両側
の送り孔群間にはサポートリング4が等ピッチをもって
1列縦隊に配されて形成されている。サポートリング4
は略正方形の枠形状に形成されており、その枠の内側空
所には後記するベレットを収容するためのベレット収容
部5が実質的に構成されている。
サポートリング4の外側空所6には保持部材7が四隅に
配されて、サポートリング4を保持するように一体的に
架設されている。
配されて、サポートリング4を保持するように一体的に
架設されている。
集積回路を電気的に外部に引き出すためのり一部8は複
数本が、キャリアテープ2の片側平面(以下、第1生面
とする。)上に配されて、銅箔等のような導電性材料を
用いて溶着や接着等のような適当な手段により固定的に
付設されている。
数本が、キャリアテープ2の片側平面(以下、第1生面
とする。)上に配されて、銅箔等のような導電性材料を
用いて溶着や接着等のような適当な手段により固定的に
付設されている。
リード8群はサポートリング4における4辺に分けられ
て、サポートリング4を径方向に貫通するように配設さ
れており、各リード8同士が互いに電気的に非接続にな
るように形成されている。各リード8におけるベレット
収容部5内に突き出された内側先端部によってインナ部
としてのインナリード9が構成されており、各リード8
における外側空所6を横断して外方に突き出された外側
端部によってアウタ部としてのアウタリード10が構成
されている。アウタリード10はキャリアテープ2上に
固着されており、リード8群の表面にはソルダビリティ
−を高めるために錫めっき膜(図示せず)が被着されて
いる。
て、サポートリング4を径方向に貫通するように配設さ
れており、各リード8同士が互いに電気的に非接続にな
るように形成されている。各リード8におけるベレット
収容部5内に突き出された内側先端部によってインナ部
としてのインナリード9が構成されており、各リード8
における外側空所6を横断して外方に突き出された外側
端部によってアウタ部としてのアウタリード10が構成
されている。アウタリード10はキャリアテープ2上に
固着されており、リード8群の表面にはソルダビリティ
−を高めるために錫めっき膜(図示せず)が被着されて
いる。
本実施例において、キャリアテープ2には補強用部材1
1群が第1主面上に電気的接続用のリード8群と同時に
製作されて、固定的に付設されており、補強用部材11
は8本のものがサポートリング4における4隅にそれぞ
れ2本宛配されている。各隅の2本の補強用部材11は
略り字形状に配されて互いに一体的に連結されており、
それらの内側端がサポートリング4の内縁付近に、外側
端がサポートリング4の外側空所6の外部にそれぞれ位
置するように構成されている。
1群が第1主面上に電気的接続用のリード8群と同時に
製作されて、固定的に付設されており、補強用部材11
は8本のものがサポートリング4における4隅にそれぞ
れ2本宛配されている。各隅の2本の補強用部材11は
略り字形状に配されて互いに一体的に連結されており、
それらの内側端がサポートリング4の内縁付近に、外側
端がサポートリング4の外側空所6の外部にそれぞれ位
置するように構成されている。
一方、詳細な説明は省略するが、このICIに使用され
るベレッ)12は半導体装置の製造工程における所謂前
工程において、ウェハ状態にて所望の集積回路を適宜作
り込まれる。そして、集積回路(図示せず)が作り込ま
れたペレット12はサポートリング4のペレット収容部
5に収容され得る略正方形の小片にグイシングされてお
り、その−平面(以下、第1主面とする。)における周
辺部には全系材料を用いて形成されたバンブ13が複数
個、キャリアテープ2における各インナリード9に整合
し得るように配されて突設されている。
るベレッ)12は半導体装置の製造工程における所謂前
工程において、ウェハ状態にて所望の集積回路を適宜作
り込まれる。そして、集積回路(図示せず)が作り込ま
れたペレット12はサポートリング4のペレット収容部
5に収容され得る略正方形の小片にグイシングされてお
り、その−平面(以下、第1主面とする。)における周
辺部には全系材料を用いて形成されたバンブ13が複数
個、キャリアテープ2における各インナリード9に整合
し得るように配されて突設されている。
リード8群にペレット12がインナリードボンディング
される際、キャリアテープ2は複数のスプロケット(図
示せず)間に張設されて一方向に間欠送りされる。そし
て、張設されたキャリアテープ2の途中に配設されてい
るインナリードボンディングステージにおいて、第4図
に示されているようにペレット12はペレット収容部5
内にサポートリング4の下方から収容されるとともに、
各バンブ13を各インナリード9にそれぞれ整合されて
ボンディング工具14により熱圧着されることにより、
キャリアテープ2に組み付けられる。
される際、キャリアテープ2は複数のスプロケット(図
示せず)間に張設されて一方向に間欠送りされる。そし
て、張設されたキャリアテープ2の途中に配設されてい
るインナリードボンディングステージにおいて、第4図
に示されているようにペレット12はペレット収容部5
内にサポートリング4の下方から収容されるとともに、
各バンブ13を各インナリード9にそれぞれ整合されて
ボンディング工具14により熱圧着されることにより、
キャリアテープ2に組み付けられる。
すなわち、リード8の表面に被着されている錫めて、金
−錫の共晶が形成されるため、リード8のインナリード
9とバンブ13とは一体的に結合されることになる。
−錫の共晶が形成されるため、リード8のインナリード
9とバンブ13とは一体的に結合されることになる。
本実施例において、第5図に示されているように、ペレ
ット12の第2主面(裏面に相当する。
ット12の第2主面(裏面に相当する。
)にはヒートシンク16が接着材層15により機械的に
固着される。このヒートシンク16は銅等のような熱伝
導性の良好な材料を用いて、ペレット12の平面形状に
対して大きめに形成されており、ヒートシンク16のベ
レット取付面には環状溝17が複数条(本実施例におい
ては、2条)がペレット12の外方に配されるとともに
、ペレット12を取り囲むように形成されてそれぞれ没
設されている。そして、これら環状溝17は後述する樹
脂封止パッケージ成形後において、リークバスを延長さ
せるとともに、樹脂と形状結合することにより、この樹
脂封止パッケージを備えているICIの耐湿性を高める
ことになる。
固着される。このヒートシンク16は銅等のような熱伝
導性の良好な材料を用いて、ペレット12の平面形状に
対して大きめに形成されており、ヒートシンク16のベ
レット取付面には環状溝17が複数条(本実施例におい
ては、2条)がペレット12の外方に配されるとともに
、ペレット12を取り囲むように形成されてそれぞれ没
設されている。そして、これら環状溝17は後述する樹
脂封止パッケージ成形後において、リークバスを延長さ
せるとともに、樹脂と形状結合することにより、この樹
脂封止パッケージを備えているICIの耐湿性を高める
ことになる。
このようにして、ペレット12とリード8群とがテープ
・オートメイテッド・ボンディングされるとともに、ヒ
ートシンク16がペレット12に結合されたキャリアテ
ープ2には、エポキシ樹脂等のような絶縁性樹脂からな
る樹脂封止パッケージ18群が、第6図に示されている
ようなトランスファ成形装置30を使用されて各ペレッ
ト12について同時成形される。
・オートメイテッド・ボンディングされるとともに、ヒ
ートシンク16がペレット12に結合されたキャリアテ
ープ2には、エポキシ樹脂等のような絶縁性樹脂からな
る樹脂封止パッケージ18群が、第6図に示されている
ようなトランスファ成形装置30を使用されて各ペレッ
ト12について同時成形される。
第6図に示されているトランスファ成形装置はシリンダ
装置等(図示せず)によって互いに型締めされる一対の
上型31と下型32とを備えており、上型31と下型3
2との合わせ面には上型キャビティー凹部33aと、下
型キャビティー凹部33bとが互いに協働してキャビテ
ィー33を形成するように複数組(1ml!のみが図示
されている。
装置等(図示せず)によって互いに型締めされる一対の
上型31と下型32とを備えており、上型31と下型3
2との合わせ面には上型キャビティー凹部33aと、下
型キャビティー凹部33bとが互いに協働してキャビテ
ィー33を形成するように複数組(1ml!のみが図示
されている。
)没設されている。上型31の合わせ面にはポット34
が開設されており、ボンド34にはシリンダ装置(図示
せず)により進退されるプランジャ35が成形材料とし
ての樹脂(以下、レジンという、)を送給し得るように
挿入されている。下型32の合わせ面にはカル36がポ
ット34との対向位置に配されて没設されているととも
に、複数条のランナ37がポット34にそれぞれ接続す
るように放射状に配されて没設されている。各ランナ3
7の他端部は下側キャビティー凹部33bにそれぞれ接
続されており、その接続部にはゲート38がレジンをキ
ャビティー33内に注入し得るように形成されている。
が開設されており、ボンド34にはシリンダ装置(図示
せず)により進退されるプランジャ35が成形材料とし
ての樹脂(以下、レジンという、)を送給し得るように
挿入されている。下型32の合わせ面にはカル36がポ
ット34との対向位置に配されて没設されているととも
に、複数条のランナ37がポット34にそれぞれ接続す
るように放射状に配されて没設されている。各ランナ3
7の他端部は下側キャビティー凹部33bにそれぞれ接
続されており、その接続部にはゲート38がレジンをキ
ャビティー33内に注入し得るように形成されている。
また、下型32の合わせ面には逃げ凹所39がテープ2
の厚みを逃げ得るように、テープ2の外形よりも若干大
きめの長方形で、その厚さと略等しい寸法の一定深さに
没設されている。
の厚みを逃げ得るように、テープ2の外形よりも若干大
きめの長方形で、その厚さと略等しい寸法の一定深さに
没設されている。
前記構成にかかるキャリアテープ2を用いて樹脂封止形
パッケージ18をトランスファ成形する場合、上型31
および下型32における各キャビティー33はキャリア
テープ2におけるサポートリング4の空間にそれぞれ対
応される。
パッケージ18をトランスファ成形する場合、上型31
および下型32における各キャビティー33はキャリア
テープ2におけるサポートリング4の空間にそれぞれ対
応される。
トランスファ成形時において、前記構成にかかるキャリ
アテープ2は下型32に没設されている逃げ凹所39内
に、各ペレット12が各キャビティー33内にそれぞれ
収容されるように配されてセットされる。続いて、上型
31と下型32とが型締めされ、ボット34からプラン
ジ中35によリレジン40がランナ37およびゲート3
8を通じて各キャビティー33に送給されて圧入される
。
アテープ2は下型32に没設されている逃げ凹所39内
に、各ペレット12が各キャビティー33内にそれぞれ
収容されるように配されてセットされる。続いて、上型
31と下型32とが型締めされ、ボット34からプラン
ジ中35によリレジン40がランナ37およびゲート3
8を通じて各キャビティー33に送給されて圧入される
。
注入後、レジンが熱硬化されて樹脂封止形パッケージ1
日が成形されると、上型31および下型32は型開きさ
れるとともに、エジェクタ・ピン(図示せず)によりパ
ッケージ18群が離型される。このようにして、第7図
に示されているように、パッケージ18群を成形された
テープ2はトランスファ成形装置30から脱装される。
日が成形されると、上型31および下型32は型開きさ
れるとともに、エジェクタ・ピン(図示せず)によりパ
ッケージ18群が離型される。このようにして、第7図
に示されているように、パッケージ18群を成形された
テープ2はトランスファ成形装置30から脱装される。
そして、このよう′に樹脂成形されたパッケージ18の
内部には、ペレット12、リード8群のインナ部9およ
びサポートリング4と共に、ベレット12の第2主面に
結合されたヒートシンク16の一部、および補強用部材
11の一部も樹脂封止されることになる。この状態にお
いて、ヒートシンク16はそのペレット取付面とは反対
側の端面がパッケージ18の表面から露出するようにな
っており、リード8群のアウタ部lOおよび補強用角に
突出するようになっている。
内部には、ペレット12、リード8群のインナ部9およ
びサポートリング4と共に、ベレット12の第2主面に
結合されたヒートシンク16の一部、および補強用部材
11の一部も樹脂封止されることになる。この状態にお
いて、ヒートシンク16はそのペレット取付面とは反対
側の端面がパッケージ18の表面から露出するようにな
っており、リード8群のアウタ部lOおよび補強用角に
突出するようになっている。
このようにして樹脂封止パッケージ18を成形されたI
CIはキャリアテープ2に付設された状態のまま、電気
的特性試験等のような検査を受けた後、出荷される。
CIはキャリアテープ2に付設された状態のまま、電気
的特性試験等のような検査を受けた後、出荷される。
そして、出荷されたIC1はキャリアテープ2に付設さ
れた状態のまま、または、樹脂封止パッケージ18の外
方位置で切断されてキャリアテープ2から個別に分離さ
れた状態において、第7図に示されているように、プリ
ント配線基板21上にヒートシンク16を上向きにして
配され、アウタリード10とランドパッド22との間が
リフローはんだ処理される。このとき、リード8の表面
には錫めっき膜が被着されているため、ソルダビリティ
−は良好に行われる。
れた状態のまま、または、樹脂封止パッケージ18の外
方位置で切断されてキャリアテープ2から個別に分離さ
れた状態において、第7図に示されているように、プリ
ント配線基板21上にヒートシンク16を上向きにして
配され、アウタリード10とランドパッド22との間が
リフローはんだ処理される。このとき、リード8の表面
には錫めっき膜が被着されているため、ソルダビリティ
−は良好に行われる。
本実施例においては、電気的な接続を実行するリード8
群とランドパッド22とのりフローはんだ処理ともに、
補強用部材11についてのプリント配線基板21に対す
る機械的接続処理が実行される。すなわち、プリント配
線基板21上には補強用パッド23が補強用部材11に
対応するように配されて形成されており、ICIの電気
的接続用リード8群がプリント配線基板21のランドパ
ッド22群に整合されると、ICIの補強用部材11が
補強用パッド23にそれぞれ整合することになる。そし
て、リード8群とランドパッド22とのりフローはんだ
処理と同様に、補強用部材11と補強用パッド23とが
リフローはんだ処理されると、ICIは補強用部材11
によってプリント配線基板21に機械的に強固に固定さ
れた状態になる。
群とランドパッド22とのりフローはんだ処理ともに、
補強用部材11についてのプリント配線基板21に対す
る機械的接続処理が実行される。すなわち、プリント配
線基板21上には補強用パッド23が補強用部材11に
対応するように配されて形成されており、ICIの電気
的接続用リード8群がプリント配線基板21のランドパ
ッド22群に整合されると、ICIの補強用部材11が
補強用パッド23にそれぞれ整合することになる。そし
て、リード8群とランドパッド22とのりフローはんだ
処理と同様に、補強用部材11と補強用パッド23とが
リフローはんだ処理されると、ICIは補強用部材11
によってプリント配線基板21に機械的に強固に固定さ
れた状態になる。
ところで、補強用部材11を有しない場合、テープ・オ
ートメイテッド・ボンディングを適正かつ精密に実行す
る必要上、テープ・オートメイテッド・ボンディングに
使用される電気的接続用のリードはきわめて薄く、かつ
、細く形成されているため、ICに外力が加わると、き
わめて容易に変形されてしまう、このようなリード群の
変形は、断線不良や、短絡不良の原因になるため、未然
に回避する必要がある。
ートメイテッド・ボンディングを適正かつ精密に実行す
る必要上、テープ・オートメイテッド・ボンディングに
使用される電気的接続用のリードはきわめて薄く、かつ
、細く形成されているため、ICに外力が加わると、き
わめて容易に変形されてしまう、このようなリード群の
変形は、断線不良や、短絡不良の原因になるため、未然
に回避する必要がある。
本実施例において、IC1は補強用部材IIによってプ
リント配線基板21に機械的に固定されているため、電
気的接続用リード8群の変形は防止されることになる。
リント配線基板21に機械的に固定されているため、電
気的接続用リード8群の変形は防止されることになる。
すなわち、補強用部材11はテープ・オートメイテッド
・ボンディングの実行には直接使用されないため、必要
に応じて幅広に設定することができる。つまり、厚さが
薄くても、補強用部材11の機械的強度は大きく設定す
ることができるため、IC1に加わる外力に抗し得るよ
うに構成することができる。したがって、ICIに加わ
った外力がリード8群に作用するのをこの補強用部材1
1によって阻止することができるため、リード8群が当
該外力によって変形されるのを防止することができる。
・ボンディングの実行には直接使用されないため、必要
に応じて幅広に設定することができる。つまり、厚さが
薄くても、補強用部材11の機械的強度は大きく設定す
ることができるため、IC1に加わる外力に抗し得るよ
うに構成することができる。したがって、ICIに加わ
った外力がリード8群に作用するのをこの補強用部材1
1によって阻止することができるため、リード8群が当
該外力によって変形されるのを防止することができる。
これにより、断線不良や、短絡不良の原因になる電気的
接続用リード8群の変形が、未然に回避されることにな
る。
接続用リード8群の変形が、未然に回避されることにな
る。
ここで、補強用部材11は電気的接続用のリード8より
も短くなるように形成することが望ましい、なぜなら、
補強用部材11が電気的接続用のリード8よりも短い場
合には、ICIに加わった外力が短い方のJ#17!用
部材11に優先的に作用することになるため、補強用部
材11によって当該外力が電気的接続用のり−ド8に加
わるのを確実に防止することができるからである。
も短くなるように形成することが望ましい、なぜなら、
補強用部材11が電気的接続用のリード8よりも短い場
合には、ICIに加わった外力が短い方のJ#17!用
部材11に優先的に作用することになるため、補強用部
材11によって当該外力が電気的接続用のり−ド8に加
わるのを確実に防止することができるからである。
そして、必要に応じて、このICIにはヒートシンク1
6に放熱フィン(図示せず)が取り付けられたり、ヒー
トシンク16が押さえ具(図示せず)によりプリント配
線基板21に押さえられて固定されたりする。
6に放熱フィン(図示せず)が取り付けられたり、ヒー
トシンク16が押さえ具(図示せず)によりプリント配
線基板21に押さえられて固定されたりする。
この実装状態で、ICIが稼働されてペレット12が発
熱した場合、その熱はペレット12からヒートシンク1
6に直接的に熱伝導されるとともに、ヒートシンク16
の広い表面積から外気に放熱されるため、相対的にペレ
ット12は充分に冷却される。また、ヒートシンク16
に放熱フィンや、押さえ具等が連設されている場合には
、ヒートシンク16の熱が放熱フィンや、押さえ具等を
通じてさらに広い範囲に熱伝導されるため、放熱効果は
より一層高くなる。
熱した場合、その熱はペレット12からヒートシンク1
6に直接的に熱伝導されるとともに、ヒートシンク16
の広い表面積から外気に放熱されるため、相対的にペレ
ット12は充分に冷却される。また、ヒートシンク16
に放熱フィンや、押さえ具等が連設されている場合には
、ヒートシンク16の熱が放熱フィンや、押さえ具等を
通じてさらに広い範囲に熱伝導されるため、放熱効果は
より一層高くなる。
前記実施例によれば次の効果が得られる。
(1) リード群にペレットをテープ・オートメイテ
ッド・ボンディングすることにより、小型軽量化および
多ピン化を促進することができるとともに、実装性およ
び生産性を高めることができるため、多ビンの半導体装
置においても、低価格化を実現することができる。
ッド・ボンディングすることにより、小型軽量化および
多ピン化を促進することができるとともに、実装性およ
び生産性を高めることができるため、多ビンの半導体装
置においても、低価格化を実現することができる。
(2) ペレットの裏面にヒートシンクを付設するこ
とにより、ペレットの熱をヒートシンクに直接的に熱伝
導させることができるため、放熱性能を高めることがで
き、TAB構造のIC等においても低熱抵抗化を実現さ
せることができる。
とにより、ペレットの熱をヒートシンクに直接的に熱伝
導させることができるため、放熱性能を高めることがで
き、TAB構造のIC等においても低熱抵抗化を実現さ
せることができる。
(3) ペレット、リード群およびヒートシンクを樹
脂封止パッケージにより封止することにより、TAB構
造の半導体装置であっても、充分満足し得る封止性能を
確保することができるとともに、アウタリードを樹脂封
止パッケージにより保定することができるため、その強
度を高めることができる。
脂封止パッケージにより封止することにより、TAB構
造の半導体装置であっても、充分満足し得る封止性能を
確保することができるとともに、アウタリードを樹脂封
止パッケージにより保定することができるため、その強
度を高めることができる。
(4)樹脂封止パッケージから補強用部材を突設すると
ともに、この半導体装置がプリント配線基板に実装され
る際に補強用部材をプリント配線基板に機械的に接続す
ることにより、実装された後、移送中の振動等による外
力がこの半導体装置に加わった場合において、当該外力
を補強用部材によって受けることができるため、当該外
力によって電気的接続用のリード曲がり等のような事故
が起きるのを防止することができ、その結果、短絡不良
や、断線不良の発生のを未然に回避することができる。
ともに、この半導体装置がプリント配線基板に実装され
る際に補強用部材をプリント配線基板に機械的に接続す
ることにより、実装された後、移送中の振動等による外
力がこの半導体装置に加わった場合において、当該外力
を補強用部材によって受けることができるため、当該外
力によって電気的接続用のリード曲がり等のような事故
が起きるのを防止することができ、その結果、短絡不良
や、断線不良の発生のを未然に回避することができる。
(5) Mi強用部材を電気的接続用のリードよりも
短くなるように形成することにより、半導体装置に加わ
った外力が短い方の補強用部材に優先的に作用すること
になり、当該外力が電気的接続用のリードに加わるのを
確実に防止することができるため、前記(4)のリード
曲がり防止効果を一層高めることができる。
短くなるように形成することにより、半導体装置に加わ
った外力が短い方の補強用部材に優先的に作用すること
になり、当該外力が電気的接続用のリードに加わるのを
確実に防止することができるため、前記(4)のリード
曲がり防止効果を一層高めることができる。
(6) ヒートシンクのベレット搭S!面に環状溝を
ペレットを取り囲むように配して没設することにより、
樹脂封止パッケージ成形後において、当該環状溝をして
樹脂封止パッケージへの外部からの湿気の侵入に対する
リークパスを延長させることができるとともに、環状溝
と樹脂との形状結合により、パッケージの強度、および
耐湿性を高めることができる。
ペレットを取り囲むように配して没設することにより、
樹脂封止パッケージ成形後において、当該環状溝をして
樹脂封止パッケージへの外部からの湿気の侵入に対する
リークパスを延長させることができるとともに、環状溝
と樹脂との形状結合により、パッケージの強度、および
耐湿性を高めることができる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。
体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。
例えば、補強用部材はキャリアテープに予め付設してお
くように構成するに限らず、別体かつ別材質のものを後
に付設するように構成してもよい。
くように構成するに限らず、別体かつ別材質のものを後
に付設するように構成してもよい。
この場合、第10図および第11図に示されているよう
に、補強用部材11Aは肉厚等を増して機械的強度を高
めることができる。
に、補強用部材11Aは肉厚等を増して機械的強度を高
めることができる。
また、補強用部材はサポートリングを延長する等して絶
縁材料により構成してもよい。
縁材料により構成してもよい。
但し、キャリアテープにおけるサポートリングの省略を
妨げるものではない。
妨げるものではない。
ペレットがリード群にインナボンディングされた後に、
ヒートシンクをペレットに付設させるように構成するに
限らず、インナボンディングと同時ないしは前に、ヒー
トシンクをペレットに付設させるように構成してもよい
。
ヒートシンクをペレットに付設させるように構成するに
限らず、インナボンディングと同時ないしは前に、ヒー
トシンクをペレットに付設させるように構成してもよい
。
また、ヒートシンクのベレット裏面への付設方法として
は、接着材による接着方法を使用するに限らず、金−シ
リコン共晶層による固着方法等を使用してもよい。
は、接着材による接着方法を使用するに限らず、金−シ
リコン共晶層による固着方法等を使用してもよい。
ヒートシンクの形状、大きさ、構造等は、要求される放
熱性能、実装形態(例えば、押さえ具や締結ボルトの使
用の有無等)、ペレットの性能、大きさ、形状、構造等
々の諸条件に対応して選定することが望ましく、必要に
応じて、放熱フィンやボルト挿通孔、雌ねじ等々を設け
ることができる。
熱性能、実装形態(例えば、押さえ具や締結ボルトの使
用の有無等)、ペレットの性能、大きさ、形状、構造等
々の諸条件に対応して選定することが望ましく、必要に
応じて、放熱フィンやボルト挿通孔、雌ねじ等々を設け
ることができる。
また、ヒートシンクを形成する材料としては銅系材料を
使用するに限らず、アルミニューム系等のような熱伝導
性の良好な他の金属材料を使用することができる。特に
、炭化シリコン(Sic)等のように熱伝導性に優れ、
かつ、熱膨張率がペレットの材料であるシリコンのそれ
と略等しい材料を使用することが望ましい。
使用するに限らず、アルミニューム系等のような熱伝導
性の良好な他の金属材料を使用することができる。特に
、炭化シリコン(Sic)等のように熱伝導性に優れ、
かつ、熱膨張率がペレットの材料であるシリコンのそれ
と略等しい材料を使用することが望ましい。
以上の説明では土として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野である表面実装形樹脂封止
パッケージを備えたICに適用した場合について説明し
たが、それに限定されるものではなく、樹脂封止型パワ
ートランジスタや、その他の電子装置全般に適用するこ
とができる。
をその背景となった利用分野である表面実装形樹脂封止
パッケージを備えたICに適用した場合について説明し
たが、それに限定されるものではなく、樹脂封止型パワ
ートランジスタや、その他の電子装置全般に適用するこ
とができる。
特に、小型軽量、多ビンで、しかも、低価格であり、高
い放熱性能が要求される半導体装置に利用して優れた効
果が得られる。
い放熱性能が要求される半導体装置に利用して優れた効
果が得られる。
本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、次の通りである。
て得られる効果を簡単に説明すれば、次の通りである。
リード群にペレットをテープ・オートメイテツド・ボン
ディングすることにより、小型軽量化および多ピン化を
促進することができるとともに、実装性および生産性を
高めることができるため、多ビンの半導体装置において
も、低価格化を実現することができる。また、ペレット
の裏面にヒートシンクを付設することにより、ペレット
の熱をヒートシンクに直接的に熱伝導させることができ
るため、放熱性能を高めることができ、TAB構造のI
C等においても低熱抵抗化を実現させることができる。
ディングすることにより、小型軽量化および多ピン化を
促進することができるとともに、実装性および生産性を
高めることができるため、多ビンの半導体装置において
も、低価格化を実現することができる。また、ペレット
の裏面にヒートシンクを付設することにより、ペレット
の熱をヒートシンクに直接的に熱伝導させることができ
るため、放熱性能を高めることができ、TAB構造のI
C等においても低熱抵抗化を実現させることができる。
さらに、樹脂封止パッケージから補強用部材を突設する
とともに、この半導体装置がプリント配線基板に実装さ
れる際に補強用部材をプリント配線基板に機械的に接続
することにより、実装された後、振動等による外力がこ
の半導体装置に加わった場合において、当該外力を補強
用部材によって受けることができるため、当該外力によ
って電気的接続用のリード曲がり等のような事故が起き
るのを防止することができ、その結果、短絡不良や、W
r線不良の発生のを未然に回避することができる。
とともに、この半導体装置がプリント配線基板に実装さ
れる際に補強用部材をプリント配線基板に機械的に接続
することにより、実装された後、振動等による外力がこ
の半導体装置に加わった場合において、当該外力を補強
用部材によって受けることができるため、当該外力によ
って電気的接続用のリード曲がり等のような事故が起き
るのを防止することができ、その結果、短絡不良や、W
r線不良の発生のを未然に回避することができる。
第1図は本発明の一実施例である半導体装置を示す一部
切断正面図、 第2図はその外観斜視図、 第3図はその製造途中を示す一部省略平面図、第4図は
インナリードボンディング作業を示す縦断面図、 第5図はヒートシンク取り付は作業を示す縦断面図、 第6図は樹脂封止パッケージ成形作業を示す一部省略縦
断面図、 第7図はパフケージ成形後を示す一部省略平面図、 第8図はその半導体装置の実装状態を示す縦断面図、 第9図はその斜視図である。 第10図および第11図は補強用部材の変形例を示す正
面断面図および斜視図である。 1・・・TAB構造のIC(半導体装ff)、2川テー
プ、3・・・送り孔、4・・・サポートリング、5・・
・ベレット収容部、6・・・外側空所、7・・・保持部
材、8・・・リード、9・・・インナリード、10・・
・アウタリード、It、l’lA・・・補強用部材、1
2・・・ペレット、l3・・・バンブ、14・・・ボン
ディング工具、15−・・接着材層、16・・・ヒート
シンク、17・・・環状溝、18・・・パッケージ、2
1・・・プリント配線基板、22・・・ランドパッド、
23・・・補強用パッド、30・・・トランスファ成形
装置、31・・・上型、32・・・下型、33・・・キ
ャビティー、34・・・ポット、35・・・プランジャ
、36・・・カル、37・・・ランナ、38・・・ゲー
ト、39・・・凹所、40・・・レジン。
切断正面図、 第2図はその外観斜視図、 第3図はその製造途中を示す一部省略平面図、第4図は
インナリードボンディング作業を示す縦断面図、 第5図はヒートシンク取り付は作業を示す縦断面図、 第6図は樹脂封止パッケージ成形作業を示す一部省略縦
断面図、 第7図はパフケージ成形後を示す一部省略平面図、 第8図はその半導体装置の実装状態を示す縦断面図、 第9図はその斜視図である。 第10図および第11図は補強用部材の変形例を示す正
面断面図および斜視図である。 1・・・TAB構造のIC(半導体装ff)、2川テー
プ、3・・・送り孔、4・・・サポートリング、5・・
・ベレット収容部、6・・・外側空所、7・・・保持部
材、8・・・リード、9・・・インナリード、10・・
・アウタリード、It、l’lA・・・補強用部材、1
2・・・ペレット、l3・・・バンブ、14・・・ボン
ディング工具、15−・・接着材層、16・・・ヒート
シンク、17・・・環状溝、18・・・パッケージ、2
1・・・プリント配線基板、22・・・ランドパッド、
23・・・補強用パッド、30・・・トランスファ成形
装置、31・・・上型、32・・・下型、33・・・キ
ャビティー、34・・・ポット、35・・・プランジャ
、36・・・カル、37・・・ランナ、38・・・ゲー
ト、39・・・凹所、40・・・レジン。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、リード群にペレットがテープ・オートメイテッド・
ボンディングされているとともに、このペレットの裏面
にヒートシンクが付設されており、これらペレットと、
リードの一部と、ヒートシンクの一部とが樹脂封止パッ
ケージにより樹脂封止されており、さらに、この樹脂封
止パッケージから補強用部材が突設されていることを特
徴とする半導体装置。 2、補強用部材が、リード群のアウタ部よりも短くなる
ように形成されていることを特徴とする特許請求の範囲
第1項記載の半導体装置。 3、補強用部材が、テープ・オートメイテッド・ボンデ
ィングされているリード群とは別の部材によって形成さ
れていることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9938788A JPH01270335A (ja) | 1988-04-22 | 1988-04-22 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9938788A JPH01270335A (ja) | 1988-04-22 | 1988-04-22 | 半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01270335A true JPH01270335A (ja) | 1989-10-27 |
Family
ID=14246097
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9938788A Pending JPH01270335A (ja) | 1988-04-22 | 1988-04-22 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01270335A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0448740A (ja) * | 1990-06-15 | 1992-02-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Tab半導体装置 |
JPH04354342A (ja) * | 1991-05-31 | 1992-12-08 | Kawasaki Steel Corp | 半導体装置 |
JPH07297224A (ja) * | 1994-04-22 | 1995-11-10 | Nec Corp | 半導体装置 |
JPH09237807A (ja) * | 1996-02-28 | 1997-09-09 | Nec Corp | 放熱性樹脂封止型半導体装置の製造方法 |
-
1988
- 1988-04-22 JP JP9938788A patent/JPH01270335A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0448740A (ja) * | 1990-06-15 | 1992-02-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Tab半導体装置 |
JPH04354342A (ja) * | 1991-05-31 | 1992-12-08 | Kawasaki Steel Corp | 半導体装置 |
JPH07297224A (ja) * | 1994-04-22 | 1995-11-10 | Nec Corp | 半導体装置 |
JPH09237807A (ja) * | 1996-02-28 | 1997-09-09 | Nec Corp | 放熱性樹脂封止型半導体装置の製造方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100392713B1 (ko) | 전자장치 | |
US6246115B1 (en) | Semiconductor package having a heat sink with an exposed surface | |
US5302849A (en) | Plastic and grid array semiconductor device and method for making the same | |
US5843808A (en) | Structure and method for automated assembly of a tab grid array package | |
US5147821A (en) | Method for making a thermally enhanced semiconductor device by holding a leadframe against a heatsink through vacuum suction in a molding operation | |
US8659146B2 (en) | Lead frame based, over-molded semiconductor package with integrated through hole technology (THT) heat spreader pin(s) and associated method of manufacturing | |
KR100442880B1 (ko) | 적층형 반도체 모듈 및 그 제조방법 | |
KR100632459B1 (ko) | 열방출형 반도체 패키지 및 그 제조방법 | |
US20100019379A1 (en) | External heat sink for bare-die flip chip packages | |
US7605020B2 (en) | Semiconductor chip package | |
JP2982126B2 (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
KR20080029904A (ko) | 범프 기술을 이용하는 ic 패키지 시스템 | |
JP2593702B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JP2651427B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPH01270335A (ja) | 半導体装置 | |
JP2660732B2 (ja) | 半導体装置 | |
JPS63293928A (ja) | 電子装置 | |
JPH06204385A (ja) | 半導体素子搭載ピングリッドアレイパッケージ基板 | |
JP3599566B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPH09312372A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPH03286558A (ja) | 半導体装置およびその製造方法並びにそれに使用されるリードフレーム | |
JPH11163229A (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
KR100233860B1 (ko) | 반도체 패키지 및 그 제조방법 | |
JPH11243162A (ja) | 膨張緩衝用インサートを有するボールグリッドアレーパッケージとその製造方法 | |
JPH0621268A (ja) | Tabパッケージ |