JPH01265343A - 記憶装置の検査方法 - Google Patents
記憶装置の検査方法Info
- Publication number
- JPH01265343A JPH01265343A JP63094324A JP9432488A JPH01265343A JP H01265343 A JPH01265343 A JP H01265343A JP 63094324 A JP63094324 A JP 63094324A JP 9432488 A JP9432488 A JP 9432488A JP H01265343 A JPH01265343 A JP H01265343A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- memory
- ram
- storage device
- storage
- power
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 26
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 29
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 6
- 230000006870 function Effects 0.000 abstract description 15
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 12
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 11
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 6
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 5
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 5
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000012552 review Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/52—Protection of memory contents; Detection of errors in memory contents
-
- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07G—REGISTERING THE RECEIPT OF CASH, VALUABLES, OR TOKENS
- G07G1/00—Cash registers
- G07G1/12—Cash registers electronically operated
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Cash Registers Or Receiving Machines (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、たとえば電子式金銭登録機などの電子機器に
備えられ、ランダムアクセスメモリなどを含み、その記
憶内容が電源遮断後にも保持される記憶装置に対して好
適に実施される記憶装置の検査方法に関する。
備えられ、ランダムアクセスメモリなどを含み、その記
憶内容が電源遮断後にも保持される記憶装置に対して好
適に実施される記憶装置の検査方法に関する。
従来の技術
従来から、たとえば百貨店やスーパなどの各種小売店舗
などには電子式金銭登録機（以下、「ＥＣＲ，という）
が設置され、いわゆるレジ業務が行われている。このＥ
ＣＲには、顧客が購入した商品名、その数量および金銭
情報などのデータがキー人力手段によって入力され、こ
の入力されたデータに基づいて内部の処理回路では各種
の演算処理が行われる。
などには電子式金銭登録機（以下、「ＥＣＲ，という）
が設置され、いわゆるレジ業務が行われている。このＥ
ＣＲには、顧客が購入した商品名、その数量および金銭
情報などのデータがキー人力手段によって入力され、こ
の入力されたデータに基づいて内部の処理回路では各種
の演算処理が行われる。
キー人力手段によって入力されたデータは、ＥＣＲの内
部に備えられるランダムアクセスメモリ（以下、ｒＲＡ
ＭＪという）などの読出し／書込み自在な記憶装置に記
憶される。前述の処理回路では、この処理回路に接続さ
れるリードオンリメモリ（以下、ｒＲＯＭＪという）な
どと称される読出し専用の記憶装置に記憶された動作プ
ログラムに基づいて、キー人力手段からの入力に応答し
て、各種の演算処理を前記ＲＡＭへのアクセスを行いな
がら達成する。
部に備えられるランダムアクセスメモリ（以下、ｒＲＡ
ＭＪという）などの読出し／書込み自在な記憶装置に記
憶される。前述の処理回路では、この処理回路に接続さ
れるリードオンリメモリ（以下、ｒＲＯＭＪという）な
どと称される読出し専用の記憶装置に記憶された動作プ
ログラムに基づいて、キー人力手段からの入力に応答し
て、各種の演算処理を前記ＲＡＭへのアクセスを行いな
がら達成する。
前記ＲＡＭにはバックアップ用の電池から電圧変換回路
などを介してデータ保持用の電圧が供給されている。バ
ックアップ用の電池はＥＣＲに電源が投入されている期
間には充電されており、電源が遮断されている期間には
放電してＲＡＭにデータ保持用の電圧を供給する。
などを介してデータ保持用の電圧が供給されている。バ
ックアップ用の電池はＥＣＲに電源が投入されている期
間には充電されており、電源が遮断されている期間には
放電してＲＡＭにデータ保持用の電圧を供給する。
このようなデータ保持機能によってＥＣＲに電源が投入
されたときには、それ以前に電源が遮断された時点にお
けるデータに基づく演算処理を継続することができる。
されたときには、それ以前に電源が遮断された時点にお
けるデータに基づく演算処理を継続することができる。
ＲＡＭには金銭登録に関するデータが記憶されるため、
このデータはたとえばＥＣＲにオンライン回線などを介
して接続されるホストコンピュータに伝送される以前、
またはＥＣＲが単独で用いられる場合には、前記ＲＡＭ
内に記憶された金銭登録に関するデータの集計が行われ
る以前においては、たとえ電源が遮断された場合でもそ
の記憶内容が保持されなければならない。
このデータはたとえばＥＣＲにオンライン回線などを介
して接続されるホストコンピュータに伝送される以前、
またはＥＣＲが単独で用いられる場合には、前記ＲＡＭ
内に記憶された金銭登録に関するデータの集計が行われ
る以前においては、たとえ電源が遮断された場合でもそ
の記憶内容が保持されなければならない。
発明が解決しようとする課題
したがってＲＡＭのデータ保持機能が正常であるかどう
かは、ＥＣＲが用いられる場合には常に検査されること
が望ましい、しかしながら従来では、このデータ保持機
能が正常であるかどうかを積極的に検査する方法はなく
、ＥＣＲに電源を投入した時点において、それ以前に電
源が遮断された時点の動作が継続されることによって、
前記データ保持機能が正常であることの一応の目安を得
ているにすぎない。
かは、ＥＣＲが用いられる場合には常に検査されること
が望ましい、しかしながら従来では、このデータ保持機
能が正常であるかどうかを積極的に検査する方法はなく
、ＥＣＲに電源を投入した時点において、それ以前に電
源が遮断された時点の動作が継続されることによって、
前記データ保持機能が正常であることの一応の目安を得
ているにすぎない。
またバックアップ用の電池が正常であるかどうかを検査
するために、前記バックアップ用の電池が発生する電圧
を比較回路などによってレベル弁別するようにした構成
が従来から用いられている。
するために、前記バックアップ用の電池が発生する電圧
を比較回路などによってレベル弁別するようにした構成
が従来から用いられている。
しかしながらそのような構成では、たとえばＲＡＭに接
続される電圧変換回路などの異常、およびＲＡＭの異常
などを検出することができない、さらにバックアップ用
の電池の検査のために、比較回路などを新たに設けるた
めに、装置の生産コストが増大するという問題点があっ
た。
続される電圧変換回路などの異常、およびＲＡＭの異常
などを検出することができない、さらにバックアップ用
の電池の検査のために、比較回路などを新たに設けるた
めに、装置の生産コストが増大するという問題点があっ
た。
本発明の目的は、簡単な構成で記憶装置における記憶内
容の保持機能の検査が確実に行われるようにした記憶装
置の検査方法を提供することである。
容の保持機能の検査が確実に行われるようにした記憶装
置の検査方法を提供することである。
課題を解決するための手段
本発明は、電子機器に備えられる記憶装置の検査方法で
あって、 読出し専用の第１記憶装置に記憶された検査用情報を、
読出し／書込み自在な第２記憶装置の予め定められる記
憶領域に書込み、 電子機器の電源投入時には、第２記憶装置の前記記憶領
域の記憶内容を読出して、第１記憶装置に記憶されてい
る検査用情報と照合するようにしたことを特徴とする記
憶装置の検査方法である。
あって、 読出し専用の第１記憶装置に記憶された検査用情報を、
読出し／書込み自在な第２記憶装置の予め定められる記
憶領域に書込み、 電子機器の電源投入時には、第２記憶装置の前記記憶領
域の記憶内容を読出して、第１記憶装置に記憶されてい
る検査用情報と照合するようにしたことを特徴とする記
憶装置の検査方法である。
作 用
本発明においては、読出し専用の第１記憶装置に記憶さ
れた検査用情報は読出し／書込み自在な第２記憶装置の
予め定められる記憶領域に書込まれる。！子機器に電源
が投入されると、第２記憶装置の前記記憶領域の記憶内
容が読出され、第１記憶装置に記憶される検査用情報と
照合される。
れた検査用情報は読出し／書込み自在な第２記憶装置の
予め定められる記憶領域に書込まれる。！子機器に電源
が投入されると、第２記憶装置の前記記憶領域の記憶内
容が読出され、第１記憶装置に記憶される検査用情報と
照合される。
読出し／書込み自在な第２記憶装置には、たとえばバッ
クアップ用の電源が接続され、電子機器の電源遮断時に
おいてもその記憶内容を保持するための電圧が供給され
ている。そのようにして第２記憶装置の記憶内容は、第
２記憶装置の記憶内容を保持するための機能が正常に働
いている場合には、常に保持されることになる。したが
って第２記憶装置の前記記憶領域には、前記保持機能が
正常である場合には前記検査用情報が保持されている。
クアップ用の電源が接続され、電子機器の電源遮断時に
おいてもその記憶内容を保持するための電圧が供給され
ている。そのようにして第２記憶装置の記憶内容は、第
２記憶装置の記憶内容を保持するための機能が正常に働
いている場合には、常に保持されることになる。したが
って第２記憶装置の前記記憶領域には、前記保持機能が
正常である場合には前記検査用情報が保持されている。
したがって電源投入時において、第２記憶装置の前記予
め定められる記憶領域の記憶内容と検査用情報とを照合
することによって、前述の第２記憶装置に関する記憶内
容の保持機能が正常であるかどうかを検査することがで
きる。
め定められる記憶領域の記憶内容と検査用情報とを照合
することによって、前述の第２記憶装置に関する記憶内
容の保持機能が正常であるかどうかを検査することがで
きる。
実施例
第１（２Ｉは、本発明の一実施例に従う電子式金銭登ｊ
ｉ機（以下、ｒＥＣＲ，という）ｌの基本的な構成を示
すブロック図である。ＥＣＲＩにはたとえばＣＰ Ｕ
（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇｔｌｎｉｔ）
などを含んで構成される制御部２が備えられ、この制御
部２にはキー人力部３および表示部４などが接続されて
いる。操作者は表示部４を目視しながらキー入力部３を
操作することによって、たとえば顧客が購入した商品名
およびその数量などの金銭登録に関するデータを入力し
、また各種の演算処理を指示することができる。
ｉ機（以下、ｒＥＣＲ，という）ｌの基本的な構成を示
すブロック図である。ＥＣＲＩにはたとえばＣＰ Ｕ
（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇｔｌｎｉｔ）
などを含んで構成される制御部２が備えられ、この制御
部２にはキー人力部３および表示部４などが接続されて
いる。操作者は表示部４を目視しながらキー入力部３を
操作することによって、たとえば顧客が購入した商品名
およびその数量などの金銭登録に関するデータを入力し
、また各種の演算処理を指示することができる。
制御部２にはまた、第１記憶装置であるＲＯＭ（リード
オンリメモリ）５および第２記憶装置であるＲＡＭ （
ランダムアクセスメモリ）６がそれぞれパスライン７．
８を介して接続されている。
オンリメモリ）５および第２記憶装置であるＲＡＭ （
ランダムアクセスメモリ）６がそれぞれパスライン７．
８を介して接続されている。
前記ＲＯＭ５には制御部２の動作プログラムが記憶され
る他、後述する「を源オン処理」のためのプログラムＰ
１、および後述する検査用データＤ１が、それぞれ予め
定められる記憶領域５ａ。
る他、後述する「を源オン処理」のためのプログラムＰ
１、および後述する検査用データＤ１が、それぞれ予め
定められる記憶領域５ａ。
５ｂに記憶されている。またＲＡＭ６は、たとえばＣ−
Ｍ ＯＳ （Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ Ｍｅｔａｌ
０ｘｉｄｅＳｅ＋＊１ｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）ｉ積回路
素子などによって実現されるｎ個のＲＡＭチップＭ１〜
Ｍｎを含んで構成されており、各ＲＡＭチップＭ１〜Ｍ
ｎはパスライン８に接続されている。このようなＲＡＭ
６には、電圧変換回路９を介してバックアップ用の電池
１０が接続されている。
Ｍ ＯＳ （Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ Ｍｅｔａｌ
０ｘｉｄｅＳｅ＋＊１ｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）ｉ積回路
素子などによって実現されるｎ個のＲＡＭチップＭ１〜
Ｍｎを含んで構成されており、各ＲＡＭチップＭ１〜Ｍ
ｎはパスライン８に接続されている。このようなＲＡＭ
６には、電圧変換回路９を介してバックアップ用の電池
１０が接続されている。
ＥＣＲＩに電源が投入されている期間には、電池１０に
は図示しない構成によって電源電圧が供給され、これに
よって電池１０は充電される。ＥＣＲＩの電源が遮断さ
れている期間には、電池１０からの電圧は、電圧変換回
路９を介してＲＡＭＧ内の各ＲＡＭチップＭ１〜Ｍｎに
与えられ、そのようにしてＲＡＭ６の記憶内容が保持さ
れる。
は図示しない構成によって電源電圧が供給され、これに
よって電池１０は充電される。ＥＣＲＩの電源が遮断さ
れている期間には、電池１０からの電圧は、電圧変換回
路９を介してＲＡＭＧ内の各ＲＡＭチップＭ１〜Ｍｎに
与えられ、そのようにしてＲＡＭ６の記憶内容が保持さ
れる。
第２図は、第１図示のＥＣＲＩにおいてたとえば店頭な
どにおいていわゆる金銭登録作業などを行う金銭登録動
作状態のキー人力部３の各キーのＸ列を示す図である。
どにおいていわゆる金銭登録作業などを行う金銭登録動
作状態のキー人力部３の各キーのＸ列を示す図である。
キー人力部３には複数の操作キーが配列され、金銭情報
などを入力するいわゆるテンキー１１、および顧客との
１回の取引の総計を算出するためのｒＣＡ （、合計）
」キー１２などが備えられている。
などを入力するいわゆるテンキー１１、および顧客との
１回の取引の総計を算出するためのｒＣＡ （、合計）
」キー１２などが備えられている。
キー人力部３の近傍には、モード切換スイッチ１８が設
けられている。モード切換スイッチ１８は鍵孔２８にキ
ー（図示せず）を挿入して角変位させることによって、
ＲＡＭ６に記憶されたたとえば商品名などの情報の変更
操作などを行うプロダラム動作位置２９，３０、電源遮
断位置３１、時計機能位置３２、金銭登録動作位置３３
、日計または月評で点検または精算などを行う点検動作
位置４１，４２．４３、および保守動作位置３８の間で
切換えられ、ＥＣＲ１の動作状態をこれらの動作状態の
間で切換えることができる。
けられている。モード切換スイッチ１８は鍵孔２８にキ
ー（図示せず）を挿入して角変位させることによって、
ＲＡＭ６に記憶されたたとえば商品名などの情報の変更
操作などを行うプロダラム動作位置２９，３０、電源遮
断位置３１、時計機能位置３２、金銭登録動作位置３３
、日計または月評で点検または精算などを行う点検動作
位置４１，４２．４３、および保守動作位置３８の間で
切換えられ、ＥＣＲ１の動作状態をこれらの動作状態の
間で切換えることができる。
鍵孔２８には一般に、複数種類のキーを挿入することが
できる。しかしながら各種類のキー毎に、モード切換ス
イッチ１８において角変位することができる範囲が予め
定められており、たとえば保守動作位置３８まで角変位
することができるキーは、通常ＥＣＲ１の保守点検を行
うサービスマンなどが保有している１ｍ孔２８に挿入さ
れたキーがこの保守動作位置３８に角変位された状態で
、ＥＣＲＩが商用交流電源に接続されることによって、
後述する「マスターリセット処理」が行われる。
できる。しかしながら各種類のキー毎に、モード切換ス
イッチ１８において角変位することができる範囲が予め
定められており、たとえば保守動作位置３８まで角変位
することができるキーは、通常ＥＣＲ１の保守点検を行
うサービスマンなどが保有している１ｍ孔２８に挿入さ
れたキーがこの保守動作位置３８に角変位された状態で
、ＥＣＲＩが商用交流電源に接続されることによって、
後述する「マスターリセット処理」が行われる。
第３図は、「マスターリセット処理」時の制御部２の動
作を説明するためのフローチャートである。この「マス
ターリセット処理」は、ＥＣＲ１が製造されて工場から
出荷されるときに行われる他、必要に応じてサービスマ
ンによって行われる。
作を説明するためのフローチャートである。この「マス
ターリセット処理」は、ＥＣＲ１が製造されて工場から
出荷されるときに行われる他、必要に応じてサービスマ
ンによって行われる。
この「マスターリセット処理」では、ＲＡＭ６の記憶内
容のクリアなどの処理を含む、ＥＣＲ１のシステム全体
の初期化処理が行われる。
容のクリアなどの処理を含む、ＥＣＲ１のシステム全体
の初期化処理が行われる。
鍵孔２８に挿入されたキーが保守動作位置３８まで角変
位され、そのような状態でＥＣＲＩの電源コードに接続
されるプラグ（図示せず）がコンセントに挿入されるな
どして、ＥＣＲＩに商用交流電源が供給されると、ステ
ップａ１において制御部２はＲＯＭ５からその記憶領域
５ｂに記憶される検査用データＤ１を読出す、この読出
された検査用データＤ１はパスライン８を介してＲＡＭ
６に入力される。前記検査用データＤ１はＲＡＭ６内の
ＲＡＭチップＭ１〜Ｍｎにおいて、予め定められる各記
憶°領域Ｍ１ａｚＭｎａにそれぞれ記憶される。
位され、そのような状態でＥＣＲＩの電源コードに接続
されるプラグ（図示せず）がコンセントに挿入されるな
どして、ＥＣＲＩに商用交流電源が供給されると、ステ
ップａ１において制御部２はＲＯＭ５からその記憶領域
５ｂに記憶される検査用データＤ１を読出す、この読出
された検査用データＤ１はパスライン８を介してＲＡＭ
６に入力される。前記検査用データＤ１はＲＡＭ６内の
ＲＡＭチップＭ１〜Ｍｎにおいて、予め定められる各記
憶°領域Ｍ１ａｚＭｎａにそれぞれ記憶される。
ステップａ２では、制御部２はＲＡＭチップＭ１〜Ｍｎ
の記憶領域Ｍｌａ−Ｍｎａの記憶内容を読出し、ＲＯＭ
５の記憶領域５ｂに記憶された検査用データＤ１と照合
し、この検査用データＤ１が前述の記憶領域Ｍｌａ〜Ｍ
ｎａに正しく書込まれたかどうかを判断する。ステップ
ａ２における判断が否定とされるときにはステップａ４
に進み、肯定とされるとステップａ３に進む。
の記憶領域Ｍｌａ−Ｍｎａの記憶内容を読出し、ＲＯＭ
５の記憶領域５ｂに記憶された検査用データＤ１と照合
し、この検査用データＤ１が前述の記憶領域Ｍｌａ〜Ｍ
ｎａに正しく書込まれたかどうかを判断する。ステップ
ａ２における判断が否定とされるときにはステップａ４
に進み、肯定とされるとステップａ３に進む。
ステップａ３では、ＲＡＭ６において各ＲＡＭチップＭ
１〜Ｍｎの前記予め定められる記憶領域Ｍｌａ〜Ｍｎａ
を除く残余の記憶領域の記憶内容のクリアなどの初期化
処理が行われる。
１〜Ｍｎの前記予め定められる記憶領域Ｍｌａ〜Ｍｎａ
を除く残余の記憶領域の記憶内容のクリアなどの初期化
処理が行われる。
ステップａ２において、その判断が否定とされてステッ
プａ４に進むと、前記検査用データＤ１のＲＡＭ６に対
する書込み回数に対応するパラメータｉが＋１インクリ
メントされる。
プａ４に進むと、前記検査用データＤ１のＲＡＭ６に対
する書込み回数に対応するパラメータｉが＋１インクリ
メントされる。
この後、ステップａ５に進んでこのパラメータｉが予め
定められる定数に以上であるかどうかが判断される。パ
ラメータｉが定数に未満であるときにはステップａ１に
戻り、定数にとなるとステップａ６に進む、ステップａ
６ではＲＡＭ６に不良が生じている場合の処理、たとえ
ば表示部４に対応する表示を行うなどの処理が行われる
。
定められる定数に以上であるかどうかが判断される。パ
ラメータｉが定数に未満であるときにはステップａ１に
戻り、定数にとなるとステップａ６に進む、ステップａ
６ではＲＡＭ６に不良が生じている場合の処理、たとえ
ば表示部４に対応する表示を行うなどの処理が行われる
。
このようにしてＲＡＭ６の各ＲＡＭチップＭ１〜Ｍｎに
は検査用データＤ１がそれぞれ書込まれ、この検査用デ
ータＤ１はＲＡＭチップＭ１〜Ｍｎの不良、電圧変換回
＃９の故障、または電池１０の消耗が生じない限り、各
記憶領域Ｍｌａ〜Ｍｎａに保持される。
は検査用データＤ１がそれぞれ書込まれ、この検査用デ
ータＤ１はＲＡＭチップＭ１〜Ｍｎの不良、電圧変換回
＃９の故障、または電池１０の消耗が生じない限り、各
記憶領域Ｍｌａ〜Ｍｎａに保持される。
第４図は、鍵孔２８にキーが挿入されて電源遮断位置３
１からたとえば金銭登録動作位置３３などに角変位され
て電源が投入される場合において。
１からたとえば金銭登録動作位置３３などに角変位され
て電源が投入される場合において。
制御部２で行われる「電源オン処理」を説明するための
フローチャートである。この「電源オン処理」は、制御
部２がＲＯＭ５の記憶領域５ａに記憶される「電源オン
処理」のためのプログラムＰ１に基づいて動作すること
によって実現される。
フローチャートである。この「電源オン処理」は、制御
部２がＲＯＭ５の記憶領域５ａに記憶される「電源オン
処理」のためのプログラムＰ１に基づいて動作すること
によって実現される。
したがって電源投入時において、制御部２がＲＯＭ５の
記憶領域５ａの最初のアドレスにアクセスするようにす
ることによって、後述する「電源オン処理」が実現され
る。
記憶領域５ａの最初のアドレスにアクセスするようにす
ることによって、後述する「電源オン処理」が実現され
る。
ＥＣＲＩに電源が投入されると、ステップｂ１において
制御部２は、まずＲＡＭチップＭ１の記憶領域Ｍｌａの
記憶内容をその内部に読込む。
制御部２は、まずＲＡＭチップＭ１の記憶領域Ｍｌａの
記憶内容をその内部に読込む。
次にステップｂ２では、制御部２はＲＯＭ５からその記
憶領域５ｂに記憶される検査用データＤ１をその内部に
読込み、前記ＲＡＭチップＭ１から読込まれたデータと
照合する。この２つのデータが一致しないときにはステ
ップｂ４に進み、−致するときにはステップｂ３に進む
。
憶領域５ｂに記憶される検査用データＤ１をその内部に
読込み、前記ＲＡＭチップＭ１から読込まれたデータと
照合する。この２つのデータが一致しないときにはステ
ップｂ４に進み、−致するときにはステップｂ３に進む
。
ステップｂ３においては、全てのＲＡＭチップＭ１〜Ｍ
ｎの各記憶領域Ｍｌａ〜Ｍｎａの記憶内容と検査用デー
タＤ１との照合が行われたかどうかが判断され、全ての
ＲＡＭチップＭ１〜Ｍｎについての処理が終了していな
い場合にはステップｂ１に戻る。このようにして、全て
のＲＡＭチップＭ１〜Ｍｎの各記憶領域Ｍｌａ〜Ｍｎａ
の記憶内容と、検査用データＤ１とが照合される。
ｎの各記憶領域Ｍｌａ〜Ｍｎａの記憶内容と検査用デー
タＤ１との照合が行われたかどうかが判断され、全ての
ＲＡＭチップＭ１〜Ｍｎについての処理が終了していな
い場合にはステップｂ１に戻る。このようにして、全て
のＲＡＭチップＭ１〜Ｍｎの各記憶領域Ｍｌａ〜Ｍｎａ
の記憶内容と、検査用データＤ１とが照合される。
ＲＡＭ６のＲＡＭチップから制御部２に読込まれたデー
タと、検査用データＤ１との一致が検出されずにステッ
プｂ４に進むと、ＲＡＭ６のデータ保持機能に異常が生
じていることが検出され、たとえば表示部４に、対応す
る表示出力が行われる。
タと、検査用データＤ１との一致が検出されずにステッ
プｂ４に進むと、ＲＡＭ６のデータ保持機能に異常が生
じていることが検出され、たとえば表示部４に、対応す
る表示出力が行われる。
このような「電源オン処理」は、たとえば金凛登録作業
などが行われるたび毎、すなわち電源が投入されるたび
毎に行われるため、ＥＣＲＩの使用にあたってはＲＡＭ
６のデータ保持機能の検査が各回毎に行われることにな
る。したがってこのような検査の後にキー人力部３の操
作によって入力された金銭情報などは、電源遮断後にお
いてもＲＡＭ６に確実に保持されることになる。すなわ
ち予めＲＡＭ６のデータ保持機能が正常であることを確
認した後に、このＲＡＭ６にデータが入力されるため、
不所望なデータの消失などを確実に防ぐことができる。
などが行われるたび毎、すなわち電源が投入されるたび
毎に行われるため、ＥＣＲＩの使用にあたってはＲＡＭ
６のデータ保持機能の検査が各回毎に行われることにな
る。したがってこのような検査の後にキー人力部３の操
作によって入力された金銭情報などは、電源遮断後にお
いてもＲＡＭ６に確実に保持されることになる。すなわ
ち予めＲＡＭ６のデータ保持機能が正常であることを確
認した後に、このＲＡＭ６にデータが入力されるため、
不所望なデータの消失などを確実に防ぐことができる。
発明の効果
以上のように本発明によれば、簡単な構成によって電源
の投入のたび毎に第２記憶装置における記憶内容の保持
機能の検査が行われるようになる。
の投入のたび毎に第２記憶装置における記憶内容の保持
機能の検査が行われるようになる。
これによって第２記憶装置の記憶内容の保持機能の異常
を確実に検出することができるようになるため、第２記
憶装置に新たに入力される情報の不所望な消失を防ぐこ
とができる６
を確実に検出することができるようになるため、第２記
憶装置に新たに入力される情報の不所望な消失を防ぐこ
とができる６
第１図は本発明の一実施例に従うＥＣＲＩの基本的な構
成を示すブロック図、第２図はキー人力部３の各キーの
配列を示す平面図、第３図および第４図は制御部２の動
作を説明するためのフローチャートである。 １・・・ＥＣＲ１２・・・制御部、３・・・キー人力部
、５・・・ＲＯＭ、６・・・ＲＡＭ、９・・・電圧変換
回路、１゜・・・電池、Ｍ１〜Ｍｎ・・・ＲＡＭチップ
代理人 弁理士 西教 圭一部 第１図 第３図 第４図
成を示すブロック図、第２図はキー人力部３の各キーの
配列を示す平面図、第３図および第４図は制御部２の動
作を説明するためのフローチャートである。 １・・・ＥＣＲ１２・・・制御部、３・・・キー人力部
、５・・・ＲＯＭ、６・・・ＲＡＭ、９・・・電圧変換
回路、１゜・・・電池、Ｍ１〜Ｍｎ・・・ＲＡＭチップ
代理人 弁理士 西教 圭一部 第１図 第３図 第４図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 電子機器に備えられる記憶装置の検査方法であって、 読出し専用の第１記憶装置に記憶された検査用情報を、
読出し／書込み自在な第２記憶装置の予め定められる記
憶領域に書込み、 電子機器の電源投入時には、第２記憶装置の前記記憶領
域の記憶内容を読出して、第１記憶装置に記憶されてい
る検査用情報と照合するようにしたことを特徴とする記
憶装置の検査方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63094324A JPH01265343A (ja) | 1988-04-16 | 1988-04-16 | 記憶装置の検査方法 |
| EP19890106736 EP0338455B1 (en) | 1988-04-16 | 1989-04-14 | Elektronische Registrierkasse mit Speicherdefekterkennung |
| DE1989616834 DE68916834T2 (de) | 1988-04-16 | 1989-04-14 | Electronic cash register with memory defect judging means. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63094324A JPH01265343A (ja) | 1988-04-16 | 1988-04-16 | 記憶装置の検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01265343A true JPH01265343A (ja) | 1989-10-23 |
Family
ID=14107103
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63094324A Pending JPH01265343A (ja) | 1988-04-16 | 1988-04-16 | 記憶装置の検査方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0338455B1 (ja) |
| JP (1) | JPH01265343A (ja) |
| DE (1) | DE68916834T2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19601804A1 (de) * | 1996-01-19 | 1997-07-24 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren und Vorrichtung zum Überwachen einer elektronischen Recheneinheit |
| JP3766200B2 (ja) * | 1998-02-18 | 2006-04-12 | 株式会社日本コンラックス | 貨幣処理方法および装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53119637A (en) * | 1977-03-28 | 1978-10-19 | Nissin Electric Co Ltd | Data checking system |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5494850A (en) * | 1978-01-11 | 1979-07-26 | Nissan Motor | Arithmetic processor |
| JPS5562600A (en) * | 1978-11-02 | 1980-05-12 | Mitsubishi Electric Corp | Availability decision method of power failure security in volatile semiconductor memory |
| JPS56148796A (en) * | 1980-04-18 | 1981-11-18 | Hitachi Ltd | Computer application device |
-
1988
- 1988-04-16 JP JP63094324A patent/JPH01265343A/ja active Pending
-
1989
- 1989-04-14 EP EP19890106736 patent/EP0338455B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1989-04-14 DE DE1989616834 patent/DE68916834T2/de not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53119637A (en) * | 1977-03-28 | 1978-10-19 | Nissin Electric Co Ltd | Data checking system |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE68916834D1 (de) | 1994-08-25 |
| DE68916834T2 (de) | 1995-03-16 |
| EP0338455A2 (en) | 1989-10-25 |
| EP0338455B1 (en) | 1994-07-20 |
| EP0338455A3 (en) | 1990-05-09 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Pfleeger et al. | Investigating the influence of formal methods | |
| KR920004437B1 (ko) | 금전등록기의 거래선 관리방법 | |
| Chung | Diagnosing PN-based models with partial observable transitions | |
| JPH01265343A (ja) | 記憶装置の検査方法 | |
| JPH0314033A (ja) | マイクロプロセッサ比較チェック機能の検査方式 | |
| JP2002090369A (ja) | 自動分析装置 | |
| CN109857583A (zh) | 一种处理方法及装置 | |
| Pettijohn | Achieving quality in the development process | |
| CN109374038A (zh) | 一种基于应用样机的核安全级仪控产品的变更测试方法 | |
| JPH07271676A (ja) | メモリチップ挿入位置チェック装置 | |
| JPS60181947A (ja) | メモリ診断方式 | |
| JPH0755602Y2 (ja) | 制御ユニツトの検査装置 | |
| JPS592076B2 (ja) | 自動販売機の故障記録装置 | |
| CN115294689A (zh) | 一种基于售货机自检的出货故障判定系统 | |
| JPH06332805A (ja) | 電子機器 | |
| CN115481261A (zh) | 一种失效分析标准流程生成方法及系统 | |
| JPS60262249A (ja) | マイクロプロセツサ応用装置 | |
| CN113064813A (zh) | 一种板载固件版本检测方法及装置 | |
| Bukowski et al. | Case study of a year 2000 platform testing initiative | |
| Arya | Data integrity in CAD/CAM systems: problems and solutions | |
| KR20000013095A (ko) | 회계용 메모리의 에러 검출 장치 및 방법 | |
| JPH1185559A (ja) | エミュレータ | |
| JPH04276397A (ja) | メモリカードシステムの機能検査方法 | |
| JPH0359740A (ja) | メモリ障害検出方式 | |
| JPH04246726A (ja) | モジュール仕様書の検査システム |