JPH01260870A - 変性チタン酸ジルコン酸鉛薄膜の形成方法 - Google Patents
変性チタン酸ジルコン酸鉛薄膜の形成方法Info
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Landscapes
- Inorganic Insulating Materials (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、耐熱性の基体上に、誘電膜や圧電膜等とし
て作用する、変性チタン酸ジルコン酸鉛(変性PZT)
1膜を形成する方法に関する。
て作用する、変性チタン酸ジルコン酸鉛(変性PZT)
1膜を形成する方法に関する。
[従来の技術]
チタン酸ジルコン酸鉛(PZT)は、よく知られている
ように、PbZrO3とPbTiO3との固溶体で、強
誘電性、強圧電性等の特性を示すことから、発掘器、フ
ィルタ等のエレクトロニクス製品に多用されている。し
かして、そのようなPZTは、誘電特性や圧電特性等を
向上させる目的で、マグネシウム、カルシウム、バリウ
ム等を添加し、変性して用いることが多い。これが変性
PZTであり、鉛、ジルコニウム、チタンの酸化物のみ
からなる真性PZTとは、一応、区別されている。とこ
ろで、近年、エレクトロニクス製品は、高密度化、小型
化の要求が著しく、そのため、そのような変性PZTの
薄膜を基体上に形成することが望まれている。
ように、PbZrO3とPbTiO3との固溶体で、強
誘電性、強圧電性等の特性を示すことから、発掘器、フ
ィルタ等のエレクトロニクス製品に多用されている。し
かして、そのようなPZTは、誘電特性や圧電特性等を
向上させる目的で、マグネシウム、カルシウム、バリウ
ム等を添加し、変性して用いることが多い。これが変性
PZTであり、鉛、ジルコニウム、チタンの酸化物のみ
からなる真性PZTとは、一応、区別されている。とこ
ろで、近年、エレクトロニクス製品は、高密度化、小型
化の要求が著しく、そのため、そのような変性PZTの
薄膜を基体上に形成することが望まれている。
さて、真性PZTであるか変性PZTであるかを問わず
、基体上にそれらの薄膜を形成する方法は、いろいろあ
る。たとえば、鉛、ジルコニウムおよびチタンの化合物
を含む溶液に基体を浸漬し、引き上げて基体上に上記溶
液の薄膜を作り、乾燥して溶媒を飛ばした後、焼成して
薄膜をPZTに変換する方法がある。この方法は、化合
物の濃度を変えたり、溶液への浸漬回数を変えることに
よって膜厚を変えることができ、また、複雑な形状の基
体上でも形成が容易であるなどの利点があるが、一方で
、以下において説明するような問題がめる。
、基体上にそれらの薄膜を形成する方法は、いろいろあ
る。たとえば、鉛、ジルコニウムおよびチタンの化合物
を含む溶液に基体を浸漬し、引き上げて基体上に上記溶
液の薄膜を作り、乾燥して溶媒を飛ばした後、焼成して
薄膜をPZTに変換する方法がある。この方法は、化合
物の濃度を変えたり、溶液への浸漬回数を変えることに
よって膜厚を変えることができ、また、複雑な形状の基
体上でも形成が容易であるなどの利点があるが、一方で
、以下において説明するような問題がめる。
すなわち、上述した方法は、鉛、ジルコニウムおよびチ
タンの化合物としてそれらのフルコキシドを用いるのが
普通であるが、これらのアルコキシド化合物は加水分解
されやすいので、アルコキシド化合物のみを用いたので
は、鉛やジルコニウム、チタンの酸化物や水酸化物等が
薄膜中に微粒子状に析出しやすく、均質性に優れた薄膜
が得にくい。加水分解を抑制するために、すべての工程
を乾燥窒素等の雰囲気で行うことも考えられるが、工程
や装置が複雑になる。
タンの化合物としてそれらのフルコキシドを用いるのが
普通であるが、これらのアルコキシド化合物は加水分解
されやすいので、アルコキシド化合物のみを用いたので
は、鉛やジルコニウム、チタンの酸化物や水酸化物等が
薄膜中に微粒子状に析出しやすく、均質性に優れた薄膜
が得にくい。加水分解を抑制するために、すべての工程
を乾燥窒素等の雰囲気で行うことも考えられるが、工程
や装置が複雑になる。
加水分解による上述した不都合を解決しようとして、特
開昭61−97159号発明においては、上記アルコキ
シド化合物の一部のフルコキシ基をβ−ジケトン基で置
換しているが、そのような化合物は溶解度が低いために
沈澱しやすく、沈澱を防止するためにはアルデヒド等に
よる還流が必要になってきて、操作が容易ではない。
開昭61−97159号発明においては、上記アルコキ
シド化合物の一部のフルコキシ基をβ−ジケトン基で置
換しているが、そのような化合物は溶解度が低いために
沈澱しやすく、沈澱を防止するためにはアルデヒド等に
よる還流が必要になってきて、操作が容易ではない。
[発明が解決しようとする課題]
この発明の目的は、従来の方法の上述した問題点を解決
し、簡単な操作で、耐熱性基体上に均質性に優れた変性
PZT薄膜を形成することができる方法を提供すること
にある。
し、簡単な操作で、耐熱性基体上に均質性に優れた変性
PZT薄膜を形成することができる方法を提供すること
にある。
[課題を解決するための手段]
上記目的を達成するために、この発明においては、
(イ) 下記A群、B群、0群、D群、E群およびE群
の化合物を含む混合溶液を調製する工程と、A群:鉛の
メトキシド、エトキシド、プロポキシド、ブトキシド、
メトキシエトキシドもしくはエトキシエトキシドまたは
酢酸鉛もしくは酢酸鉛水和物 B群:ジルコニウムのメトキシド、エトキシド、プロポ
キシド、ブトキシド、メトキシエトキシドまたはエトキ
シエトキシド C群:チタンのメトキシド、エトキシド、プロポキシド
、ブトキシド、メトキシエトキシドまたはエトキシエト
キシド D群:マグネシウム、カルシウム、ストロンチウム、バ
リウム、スカンジウム、クロム、鉄、インジウム、アン
チモン、ランタン、ネオジム、ビスマス、ウラン、トリ
ウム、ニオブ、タンタルもしくはタングステンのメトキ
シド、エトキシド、プロポキシド、ブトキシド、メトキ
シエトキシドまたはエトキシエトキシド E群:モノエタノールアミン、ジェタノールアミン、ト
リエタノールアミン、モノ2−プロパノールアミン、ジ
2−プロパツールアミン、アセチルアセトン、エチレン
グリコール、ジエチレングリコール、プロピレングリコ
ールまたはジプロピレングリコール F群:メタノール、エタノール、プロパノール、ブタノ
ール、メトキシエタノールまたはエトキシエタノール (ロ) 耐熱性基体上に上記混合溶液の薄膜を形成する
工程と、 (ハ) 上記薄膜を乾燥し、ゲル化せしめる工程と、 (ニ) ゲル化せしめた薄膜を焼成し、変性チタン酸ジ
ルコンW鉛薄膜に変換する工程と、を含む変性チタン酸
ジルコン酸鉛薄膜の製造方法が提供される。
の化合物を含む混合溶液を調製する工程と、A群:鉛の
メトキシド、エトキシド、プロポキシド、ブトキシド、
メトキシエトキシドもしくはエトキシエトキシドまたは
酢酸鉛もしくは酢酸鉛水和物 B群:ジルコニウムのメトキシド、エトキシド、プロポ
キシド、ブトキシド、メトキシエトキシドまたはエトキ
シエトキシド C群:チタンのメトキシド、エトキシド、プロポキシド
、ブトキシド、メトキシエトキシドまたはエトキシエト
キシド D群:マグネシウム、カルシウム、ストロンチウム、バ
リウム、スカンジウム、クロム、鉄、インジウム、アン
チモン、ランタン、ネオジム、ビスマス、ウラン、トリ
ウム、ニオブ、タンタルもしくはタングステンのメトキ
シド、エトキシド、プロポキシド、ブトキシド、メトキ
シエトキシドまたはエトキシエトキシド E群:モノエタノールアミン、ジェタノールアミン、ト
リエタノールアミン、モノ2−プロパノールアミン、ジ
2−プロパツールアミン、アセチルアセトン、エチレン
グリコール、ジエチレングリコール、プロピレングリコ
ールまたはジプロピレングリコール F群:メタノール、エタノール、プロパノール、ブタノ
ール、メトキシエタノールまたはエトキシエタノール (ロ) 耐熱性基体上に上記混合溶液の薄膜を形成する
工程と、 (ハ) 上記薄膜を乾燥し、ゲル化せしめる工程と、 (ニ) ゲル化せしめた薄膜を焼成し、変性チタン酸ジ
ルコンW鉛薄膜に変換する工程と、を含む変性チタン酸
ジルコン酸鉛薄膜の製造方法が提供される。
以下、この発明を各工程別にざらに詳しく説明する。
混合溶液の調製工程:
この発明においては、まず、下記のA、B、C。
D、E、F各群の化合物を含む混合溶液を調製する。
A群:鉛のメトキシド、エトキシド、プロポキシド、ブ
トキシド、メトキシエトキシドもしくはエトキシエトキ
シドまたは酢酸鉛もしくは酢酸鉛水和物 8群:ジルコニウムのメトキシド、エトキシド、プロポ
キシド、ブトキシド、メトキシエトキシドまたはエトキ
シエトキシド C群:チタンのメトキシド、エトキシド、プロポキシド
、ブトキシド、メトキシエトキシドまたはエトキシエト
キシド D群:マグネシウム、カルシウム、ス1〜ロンチウム、
バリウム、スカンジウム、クロム、鉄、インジウム、ア
ンチモン、ランタン、ネオジム、ビスマス、ウラン、ト
リウム、ニオブ、タンタルもしくはタングステンのメト
キシド、エトキシド、プロポキシド、ブトキシド、メト
キシエトキシドまたはエトキシエトキシド E群:モノエタノールアミン、ジェタノールアミン、ト
リエタノールアミン、モノ2−プロパノールアミン、ジ
2−プロパツールアミン、アセチルアセトン、エチレン
グリコール、ジエチレングリコール、プロピレングリコ
ールまたはジプロピレングリコール F群:メタノール、エタノール、プロパノール、ブタノ
ール、メトキシエタノールまたはエトキシエタノール A群の酢酸鉛の水和物は、酢酸鉛に水が結晶水の形で結
合したもので、酢酸鉛含水塩とも呼ばれる。酢酸鉛1に
対して水が3の割合で結合した酢酸鉛3水塩が一般的で
あるが、3以外の割合で結合しているものもある。酢酸
鉛は潮解性があるが水和物にはそれがないので、操作性
の面からは水和物の形態でおるのが好ましい。また、酢
酸鉛の水和物は、酢酸鉛に比べて安価であるという利点
もある。
トキシド、メトキシエトキシドもしくはエトキシエトキ
シドまたは酢酸鉛もしくは酢酸鉛水和物 8群:ジルコニウムのメトキシド、エトキシド、プロポ
キシド、ブトキシド、メトキシエトキシドまたはエトキ
シエトキシド C群:チタンのメトキシド、エトキシド、プロポキシド
、ブトキシド、メトキシエトキシドまたはエトキシエト
キシド D群:マグネシウム、カルシウム、ス1〜ロンチウム、
バリウム、スカンジウム、クロム、鉄、インジウム、ア
ンチモン、ランタン、ネオジム、ビスマス、ウラン、ト
リウム、ニオブ、タンタルもしくはタングステンのメト
キシド、エトキシド、プロポキシド、ブトキシド、メト
キシエトキシドまたはエトキシエトキシド E群:モノエタノールアミン、ジェタノールアミン、ト
リエタノールアミン、モノ2−プロパノールアミン、ジ
2−プロパツールアミン、アセチルアセトン、エチレン
グリコール、ジエチレングリコール、プロピレングリコ
ールまたはジプロピレングリコール F群:メタノール、エタノール、プロパノール、ブタノ
ール、メトキシエタノールまたはエトキシエタノール A群の酢酸鉛の水和物は、酢酸鉛に水が結晶水の形で結
合したもので、酢酸鉛含水塩とも呼ばれる。酢酸鉛1に
対して水が3の割合で結合した酢酸鉛3水塩が一般的で
あるが、3以外の割合で結合しているものもある。酢酸
鉛は潮解性があるが水和物にはそれがないので、操作性
の面からは水和物の形態でおるのが好ましい。また、酢
酸鉛の水和物は、酢酸鉛に比べて安価であるという利点
もある。
また、D群の化合物は、PZTを変性して変性PZTと
するために必要なものである。
するために必要なものである。
さらにまた、E群の化合物は、後)ホする焼成に至るま
での各工程で、加水分解によって、A、B、C,D各群
の化合物から微粒子状の水酸化物や酸化物等が析出する
のを抑制するものである。
での各工程で、加水分解によって、A、B、C,D各群
の化合物から微粒子状の水酸化物や酸化物等が析出する
のを抑制するものである。
また、F群の化合物は溶媒として作用するものである。
上述した各群の化合物は、モレキュラシーブズ等であら
かじめ脱水しておくのが好ましい。
かじめ脱水しておくのが好ましい。
上記A、B、C,D各群におけるプロポキシドは、1−
プロポキシド、2−プロポキシドのいずれであってもよ
い。また、ブトキシドは、1−ブトキシド、2−ブトキ
シド、イソブトキシド、t−ブトキシドのいずれであっ
てもよい。ざらに、F群のプロパノールは、1−プロパ
ノール、2−プロパノールのいずれであってもよい。さ
らにまた、ブタノールは、1−ブタノール、2−ブタノ
ール、イソブタノール、t−ブタノールのいずれであっ
てもよい。
プロポキシド、2−プロポキシドのいずれであってもよ
い。また、ブトキシドは、1−ブトキシド、2−ブトキ
シド、イソブトキシド、t−ブトキシドのいずれであっ
てもよい。ざらに、F群のプロパノールは、1−プロパ
ノール、2−プロパノールのいずれであってもよい。さ
らにまた、ブタノールは、1−ブタノール、2−ブタノ
ール、イソブタノール、t−ブタノールのいずれであっ
てもよい。
A、B、C,E、F群からは、通常1種の化合物を選択
、使用する。2種以上を選択、使用することも可能であ
るが、そうしても得られる変性PZT薄膜に有意差はな
く、工程の複雑化によるコストの上昇など、不都合のほ
うが大きい。
、使用する。2種以上を選択、使用することも可能であ
るが、そうしても得られる変性PZT薄膜に有意差はな
く、工程の複雑化によるコストの上昇など、不都合のほ
うが大きい。
D群からは、変性PZTに要求される特性に応じて、1
種または2種以上の化合物を選択、使用する。2種以上
の化合物を併用する場合には、金属が異なるものを選択
、使用する。金属が同じで、基(アルコキシ基やアルコ
キシアルコキシ基)が異なるものを選択、使用しても、
得られる変性PZT薄膜に有意差は認められない。
種または2種以上の化合物を選択、使用する。2種以上
の化合物を併用する場合には、金属が異なるものを選択
、使用する。金属が同じで、基(アルコキシ基やアルコ
キシアルコキシ基)が異なるものを選択、使用しても、
得られる変性PZT薄膜に有意差は認められない。
A、B、C,D、E、F各群の化合物の混合割合は、そ
れらの種類によって多少異なるものの、A群の化合物を
aモル、B群の化合物をbモル、0群の化合物をCモル
、D群の化合物をdモル、E群の化合物をeモル、F群
の化合物をfリットルとした時、式 %式% )] ] を同時に満足するようにするのが好ましい。
れらの種類によって多少異なるものの、A群の化合物を
aモル、B群の化合物をbモル、0群の化合物をCモル
、D群の化合物をdモル、E群の化合物をeモル、F群
の化合物をfリットルとした時、式 %式% )] ] を同時に満足するようにするのが好ましい。
[b/ (a十d)コ<0.4
[b/ (a+d)] >0.6
[c/ (a十d)] <0.4
[c/ (a+d)] >0.6
(c/b)<0.8
(c/b)>1.2
(d/a><0.001
(d/a)>Q、1
の範囲では、得られる薄膜が変性PZTI膜とならない
ことがある。
ことがある。
[e/ (a十す十c十d)] <0.1では、A、B
、C,D各群の化合物の加水分解を十分に制御できない
ことがある。
、C,D各群の化合物の加水分解を十分に制御できない
ことがある。
[e/(a+b+c十d)] >10
では、混合溶液の粘度が高くなり過ぎて製膜できないこ
とがある。
とがある。
[(a+b+c+d)/fl <0.02では、F群の
化合物、つまり溶媒が多すぎて実用的でない。
化合物、つまり溶媒が多すぎて実用的でない。
[(a+b+c十d)/f] >2
では、A、B、C,D各群の化合物が溶は残ることがあ
る。好ましいのは、 0.5≦[e/ (a十り+c十d)]≦20.1≦[
(a+b+c+d)/fl≦1の範囲である。
る。好ましいのは、 0.5≦[e/ (a十り+c十d)]≦20.1≦[
(a+b+c+d)/fl≦1の範囲である。
混合操作は、E群とF群の化合物の混合溶液に、A、B
、C,D各群の化合物を同時に添加、混合してもよい。
、C,D各群の化合物を同時に添加、混合してもよい。
また、E群とF群の化合物の混合溶液に、A、B、C,
D各群の化合物を加えてなる混合溶液を別々に調製し、
各混合溶液から所定量を採取してざらに混合するように
してもよい。なお、混合操作が終了するまでは、ASB
%C,D各群の化合物は極力湿気に晒さないようにする
のが好ましく、乾燥窒素等で置換したグラブボックス内
等で行うのが好ましい。しかしながら、それ以俊の操作
は大気中で行うことができる。
D各群の化合物を加えてなる混合溶液を別々に調製し、
各混合溶液から所定量を採取してざらに混合するように
してもよい。なお、混合操作が終了するまでは、ASB
%C,D各群の化合物は極力湿気に晒さないようにする
のが好ましく、乾燥窒素等で置換したグラブボックス内
等で行うのが好ましい。しかしながら、それ以俊の操作
は大気中で行うことができる。
この発明においては、A、B、C,D各群において、金
属の種類が同じでアルコキシ基やアルコキシアルコキシ
基、アセトキシ基が異なるものを選択、使用しても、混
合量が同じであれば、得られる変性PZT薄膜に有意差
は認められない。また、E群とF群の化合物もまた、ど
れを選択、使用しても、混合量が同じであれば、得られ
る変性PZTN膜に有意差は認められない。
属の種類が同じでアルコキシ基やアルコキシアルコキシ
基、アセトキシ基が異なるものを選択、使用しても、混
合量が同じであれば、得られる変性PZT薄膜に有意差
は認められない。また、E群とF群の化合物もまた、ど
れを選択、使用しても、混合量が同じであれば、得られ
る変性PZTN膜に有意差は認められない。
薄膜形成工程:
この発明においては、次に、耐熱性基体上に上記混合溶
液の薄膜を形成する。つまり、製膜する。
液の薄膜を形成する。つまり、製膜する。
基体は、後述する焼成温度に耐えるものであればよく、
材質は、金、銀、白金などの金属や、これら金属の少な
くとも1種を主成分とする合金や、ガラス、炭素、ケイ
素、シリカ、アルミナ、マグネシア、ジルコニア、チタ
ニア、窒化ホウ素、窒化ケイ素、炭化ケイ素、炭化ホウ
素、チタン酸ストロンチウム等の無機材料であればよい
。形状は、繊維状、フィルム上、板状、バルク上など、
いずれであってもよい。これらの基体は、その表面を研
磨して平滑にし、ざらに洗浄して油分などによる汚れを
除去しておくのが望ましい。
材質は、金、銀、白金などの金属や、これら金属の少な
くとも1種を主成分とする合金や、ガラス、炭素、ケイ
素、シリカ、アルミナ、マグネシア、ジルコニア、チタ
ニア、窒化ホウ素、窒化ケイ素、炭化ケイ素、炭化ホウ
素、チタン酸ストロンチウム等の無機材料であればよい
。形状は、繊維状、フィルム上、板状、バルク上など、
いずれであってもよい。これらの基体は、その表面を研
磨して平滑にし、ざらに洗浄して油分などによる汚れを
除去しておくのが望ましい。
薄膜の形成は、刷毛、ローラーなどによる塗布や、スプ
レーによる塗布や、混合溶液に基体を浸漬した後、引き
めげるデイツプコーティング法などによることができる
。中でもデイツプコーティング法は、簡便であり、また
、引上速度を変えることによって膜厚を容易に変えるこ
とができるので好ましい。
レーによる塗布や、混合溶液に基体を浸漬した後、引き
めげるデイツプコーティング法などによることができる
。中でもデイツプコーティング法は、簡便であり、また
、引上速度を変えることによって膜厚を容易に変えるこ
とができるので好ましい。
乾燥、ゲル化工程:
この発明においては、次に、基体上に形成した混合溶液
の薄膜を乾燥し、F群の化合物、つまり溶媒を蒸発させ
て、A、B、C,D、E各群の化合物からなるゲル化薄
膜とする。この工程は、常温で行ってもよく、また、5
0〜100℃程度の恒温下で行ってもよい。さらに、1
%以下の湿度に制御されたグラブボックス内で行っても
よい。
の薄膜を乾燥し、F群の化合物、つまり溶媒を蒸発させ
て、A、B、C,D、E各群の化合物からなるゲル化薄
膜とする。この工程は、常温で行ってもよく、また、5
0〜100℃程度の恒温下で行ってもよい。さらに、1
%以下の湿度に制御されたグラブボックス内で行っても
よい。
焼成工程:
この発明においては、次に、上記ゲル化薄膜を基体ごと
焼成し、変性PZTI膜に変換する。この焼成は、たと
えば次のようにして行う。
焼成し、変性PZTI膜に変換する。この焼成は、たと
えば次のようにして行う。
すなわち、ゲル化薄膜を基体ごと加熱炉に入れ、酸化性
雰囲気下で、一定の速度で焼成温度まで昇温し、その温
度に一定時間保持した1赴、一定の速度で室温まで冷却
する。雰囲気は、空気でもよいし、20〜100%濃度
の酸素でもよい。昇温速度は1〜b を越えると薄膜に亀裂を生じることがある。また1°C
/分未満では、昇温に時間がかかりすぎて実用的でない
。焼成温度は500〜900℃であるのが好ましい。5
00℃未満では薄膜が十分に酸化しないことがある。ま
た、900℃を越えると、膜の一部が蒸発したりするこ
とがある。ざらに好ましくは、600〜800℃である
。焼成温度下に保持する時間は、薄膜が変性PZTに変
換される時間であり、通常、1時間程度である。降温速
度もまた、1〜b ℃/分を越えると、薄膜に亀裂が生じることがある。ま
た、1°C/分未満では、降温に時間がががりすぎて実
用的でない。
雰囲気下で、一定の速度で焼成温度まで昇温し、その温
度に一定時間保持した1赴、一定の速度で室温まで冷却
する。雰囲気は、空気でもよいし、20〜100%濃度
の酸素でもよい。昇温速度は1〜b を越えると薄膜に亀裂を生じることがある。また1°C
/分未満では、昇温に時間がかかりすぎて実用的でない
。焼成温度は500〜900℃であるのが好ましい。5
00℃未満では薄膜が十分に酸化しないことがある。ま
た、900℃を越えると、膜の一部が蒸発したりするこ
とがある。ざらに好ましくは、600〜800℃である
。焼成温度下に保持する時間は、薄膜が変性PZTに変
換される時間であり、通常、1時間程度である。降温速
度もまた、1〜b ℃/分を越えると、薄膜に亀裂が生じることがある。ま
た、1°C/分未満では、降温に時間がががりすぎて実
用的でない。
[実施例]
実施例1
乾燥窒素を流しているグラブボックス中で、鉛メトキシ
ドを0.009モル、ジルコニウムメトキシドを0.0
05モル、チタンメトキシドを0゜005モル、バリウ
ムメトキシドを0.001モルそれぞれ計り取り、これ
にモノエタノールアミンを0.02モル添加し、さらに
メタノールを100m1加え、スタークを用いて30分
攪拌し、透明な混合溶液を得た。
ドを0.009モル、ジルコニウムメトキシドを0.0
05モル、チタンメトキシドを0゜005モル、バリウ
ムメトキシドを0.001モルそれぞれ計り取り、これ
にモノエタノールアミンを0.02モル添加し、さらに
メタノールを100m1加え、スタークを用いて30分
攪拌し、透明な混合溶液を得た。
一方、厚みが0.2mmの白金板を、トリクロルエチレ
ン、アセトン、エタノール、純水を順次用いてそれぞれ
3分ずつ超音波洗浄した後、高純度乾燥窒素を吹き付け
て乾燥した。
ン、アセトン、エタノール、純水を順次用いてそれぞれ
3分ずつ超音波洗浄した後、高純度乾燥窒素を吹き付け
て乾燥した。
次に、上記混合溶液に上記白金板を浸漬し、1分後、垂
直に10Cm/分の速度で引上げ、白金板上に混合溶液
の薄膜を形成した。
直に10Cm/分の速度で引上げ、白金板上に混合溶液
の薄膜を形成した。
次に、上記薄膜を50℃の恒温炉中で30分乾燥し、ゲ
ル化させた。
ル化させた。
次に、ゲル化薄膜を白金板ごと電気炉に入れ、10’C
/分で700’Cまで昇温し、その温度に1時間保持し
た後、7℃/分の速度で室温まで冷却し、変性PZT薄
膜を得た。
/分で700’Cまで昇温し、その温度に1時間保持し
た後、7℃/分の速度で室温まで冷却し、変性PZT薄
膜を得た。
得られTCP b□、g B a□、I Z r o、
5 T ! o、503なる組成を有する変性PZT薄
膜は、透明で淡黄の干渉色を示し、光沢があった。60
0倍の光学顕微鏡で観察しても、異物や亀裂は認められ
なかった。膜厚は2 ’l nmであった。なお、化学
組成は蛍光X線分光法によって分析した。
5 T ! o、503なる組成を有する変性PZT薄
膜は、透明で淡黄の干渉色を示し、光沢があった。60
0倍の光学顕微鏡で観察しても、異物や亀裂は認められ
なかった。膜厚は2 ’l nmであった。なお、化学
組成は蛍光X線分光法によって分析した。
実施例2
鉛メトキシドに代えて鉛エトキシドを、ジルコニウムメ
トキシドに代えてジルコニウムエトキシドを、チタンメ
トキシドに代えてチタンエトキシドを、バリウムメトキ
シドに代えてバリウムエトキシドを、モノエタノールア
ミンに代えてジェタノールアミンを、メタノールに代え
てエタノールを、それぞれ用いたほかは実施例1と同様
にして、同一組成の変性PZT薄膜を得た。
トキシドに代えてジルコニウムエトキシドを、チタンメ
トキシドに代えてチタンエトキシドを、バリウムメトキ
シドに代えてバリウムエトキシドを、モノエタノールア
ミンに代えてジェタノールアミンを、メタノールに代え
てエタノールを、それぞれ用いたほかは実施例1と同様
にして、同一組成の変性PZT薄膜を得た。
この薄膜もまた、実施例1で1qられたものと同様、穫
めて均質であった。
めて均質であった。
実施例3
鉛メトキシドに代えて鉛2−プロポキシドを、ジルコニ
ウムメトキシドに代えてジルコニウム2−プロポキシド
を、チタンメトキシドに代えてチタン2−プロポキシド
を、バリウムメトキシドに代えてバリウム2−プロポキ
シドを、モノエタノールアミンに代えてトリエタノール
アミンを、メタノールに代えて2−プロパノールを、そ
れぞれ用いたほかは実施例1と同様にして、同一組成の
変性PZT薄膜を得た。
ウムメトキシドに代えてジルコニウム2−プロポキシド
を、チタンメトキシドに代えてチタン2−プロポキシド
を、バリウムメトキシドに代えてバリウム2−プロポキ
シドを、モノエタノールアミンに代えてトリエタノール
アミンを、メタノールに代えて2−プロパノールを、そ
れぞれ用いたほかは実施例1と同様にして、同一組成の
変性PZT薄膜を得た。
この薄膜もまた、実施例1で1nられたものと同様、極
めて均質であった。
めて均質であった。
実施例4
鉛メトキシドに代えて鉛1−ブトキシドを、ジルコニウ
ムメトキシドに代えてジルコニウム1−ブトキシドを、
チタンメトキシドに代えてチタン1−ブトキシドを、バ
リウムメトキシドに代えてバリウム1−ブトキシドを、
モノエタノールアミンに代えてモノ2−プロパノールア
ミンを、メタノールに代えて1−ブタノールを、それぞ
れ用いたほかは実施例1と同様にして、同一組成の変性
PZT薄膜を得た。
ムメトキシドに代えてジルコニウム1−ブトキシドを、
チタンメトキシドに代えてチタン1−ブトキシドを、バ
リウムメトキシドに代えてバリウム1−ブトキシドを、
モノエタノールアミンに代えてモノ2−プロパノールア
ミンを、メタノールに代えて1−ブタノールを、それぞ
れ用いたほかは実施例1と同様にして、同一組成の変性
PZT薄膜を得た。
この薄膜もまた、実施例1で得られたものと同様、極め
て均質であった。
て均質であった。
実施例5
鉛メトキシドに代えて鉛メトキシエトキシドを、ジルコ
ニウムメトキシドに代えてジルコニウムメトキシエトキ
シドを、チタンメトキシドに代えてチタンメトキシエト
キシドを、バリウムメトキシドに代えてバリウムメトキ
シエトキシドを、モノエタノールアミンに代えてジ2−
プロパノールアミンを、メタノールに代えてメトキシエ
タノールを、それぞれ用いたほかは実施例1と同様にし
て、同一組成の変性PZTI膜を1qた。
ニウムメトキシドに代えてジルコニウムメトキシエトキ
シドを、チタンメトキシドに代えてチタンメトキシエト
キシドを、バリウムメトキシドに代えてバリウムメトキ
シエトキシドを、モノエタノールアミンに代えてジ2−
プロパノールアミンを、メタノールに代えてメトキシエ
タノールを、それぞれ用いたほかは実施例1と同様にし
て、同一組成の変性PZTI膜を1qた。
この薄膜もまた、実施例1で1qられたものと同様、極
めて均質であった。
めて均質であった。
実施例6
鉛メトキシドに代えて鉛工トキシエトキーシドを、ジル
コニウムメトキシドに代えてジルコニウムエトキシエト
キシドを、チタンメトキシドに代えてチタンエトキシエ
トキシドを、バリウムメトキシドに代えてバリウムエト
キシエトキシドを、モノエタノールアミンに代えて7セ
チルアセトンを、メタノールに代えてエトキシエタノー
ルを、それぞれ用いたほかは実施例1と同様にして、同
一組成の変性PZT薄膜を得た。
コニウムメトキシドに代えてジルコニウムエトキシエト
キシドを、チタンメトキシドに代えてチタンエトキシエ
トキシドを、バリウムメトキシドに代えてバリウムエト
キシエトキシドを、モノエタノールアミンに代えて7セ
チルアセトンを、メタノールに代えてエトキシエタノー
ルを、それぞれ用いたほかは実施例1と同様にして、同
一組成の変性PZT薄膜を得た。
この薄膜もまた、実施例1で得られたものと同様、極め
て均質であった。
て均質であった。
実施例7
鉛メトキシドに代えて酢酸鉛を、ジルコニウムメトキシ
ドに代えてジルコニウム2−プロポキシドを、チタンメ
トキシドに代えてチタン2−プロポキシドを、バリウム
メトキシドに代えてバリウム2−プロポキシドを、モノ
エタノールアミンに代えてエチレングリコールを、それ
ぞれ用いたほかは実施例1と同様にして、同一組成の変
性PZT簿膜を得た。
ドに代えてジルコニウム2−プロポキシドを、チタンメ
トキシドに代えてチタン2−プロポキシドを、バリウム
メトキシドに代えてバリウム2−プロポキシドを、モノ
エタノールアミンに代えてエチレングリコールを、それ
ぞれ用いたほかは実施例1と同様にして、同一組成の変
性PZT簿膜を得た。
この薄膜もまた、実施例1で得られたものと同様、極め
て均質であった。
て均質であった。
実施例8
鉛メトキシドに代えて酢酸鉛3水塩を、ジルコニウムメ
トキシドに代えてジルコニウム2−プロポキシドを、チ
タンメトキシドに代えてチタン2−プロボキシドを、バ
リウムメトキシドに代えてバリウム2−プロポキシドを
、モノエタノールアミンに代えてジエチレングリコール
を、メタノールに代えてエタノールを、それぞれ用いた
ほかは実施例1と同様にして、同一組成の変性PZT薄
膜を得た。
トキシドに代えてジルコニウム2−プロポキシドを、チ
タンメトキシドに代えてチタン2−プロボキシドを、バ
リウムメトキシドに代えてバリウム2−プロポキシドを
、モノエタノールアミンに代えてジエチレングリコール
を、メタノールに代えてエタノールを、それぞれ用いた
ほかは実施例1と同様にして、同一組成の変性PZT薄
膜を得た。
この薄膜もまた、実施例1で得られたものと同様、極め
て均質であった。
て均質であった。
実施例9
鉛メトキシドに代えて鉛2−プロポキシドを、ジルコニ
ウムメトキシドに代えてジルコ臣つム2−プロポキシド
を、チタンメトキシドに代えてチタン2−プロポキシド
を、バリウムメトキシドに代えてストロンチウム2−プ
ロポキシドを、モノエタノールアミンに代えてプロピレ
ングリコールを、メタノールに代えて2−プロパノール
を、それぞれ用いたほかは実施例1と同様にして、変性
PZ丁薄膜を得た。
ウムメトキシドに代えてジルコ臣つム2−プロポキシド
を、チタンメトキシドに代えてチタン2−プロポキシド
を、バリウムメトキシドに代えてストロンチウム2−プ
ロポキシドを、モノエタノールアミンに代えてプロピレ
ングリコールを、メタノールに代えて2−プロパノール
を、それぞれ用いたほかは実施例1と同様にして、変性
PZ丁薄膜を得た。
得られたP bo、g S r o、I Z r o、
5 T ! o、503な組成の薄膜もまた、実施例1
で得られたものと同様、極めて均質であった。
5 T ! o、503な組成の薄膜もまた、実施例1
で得られたものと同様、極めて均質であった。
実施例10
鉛メトキシドに代えて鉛2−プロポキシドを、ジルコニ
ウムメトキシドに代えてジルコニウム2−プロポキシド
を、チタンメトキシドに代えてチタン2−プロポキシド
を、バリウムメトキシドに代えてカルシウム2−プロポ
キシドを、モノエタノールアミンに代えてジプロピレン
グリコールを、メタノールに代えて1−ブタノールを、
それぞれ用いたほかは実施例1と同様にして、変性PZ
T薄膜を得た。
ウムメトキシドに代えてジルコニウム2−プロポキシド
を、チタンメトキシドに代えてチタン2−プロポキシド
を、バリウムメトキシドに代えてカルシウム2−プロポ
キシドを、モノエタノールアミンに代えてジプロピレン
グリコールを、メタノールに代えて1−ブタノールを、
それぞれ用いたほかは実施例1と同様にして、変性PZ
T薄膜を得た。
得られたP bo、g Ca□、I Z r □、5
T ! 0.503なる組成の薄膜もまた、実施例1で
得られたものと同様、極めて均質であった。
T ! 0.503なる組成の薄膜もまた、実施例1で
得られたものと同様、極めて均質であった。
実施例11
乾燥窒素を流しているグラブボックス中で、鉛2−プロ
ポキシドを0.01モル、ジルコニウム2−プロポキシ
ドを0.005モル、チタン2−プロポキシドを0.0
05モル、マグネシウム2−プロポキシドを0.000
1モル計り取り、これにモノエタノールアミンを0.0
2モル添加し、ざらにメトキシエタノールを100m1
加え、スタークを用いて30分攪拌し、透明な混合溶液
を得た。
ポキシドを0.01モル、ジルコニウム2−プロポキシ
ドを0.005モル、チタン2−プロポキシドを0.0
05モル、マグネシウム2−プロポキシドを0.000
1モル計り取り、これにモノエタノールアミンを0.0
2モル添加し、ざらにメトキシエタノールを100m1
加え、スタークを用いて30分攪拌し、透明な混合溶液
を得た。
以下、実施例1と同様にして、変性PZT薄膜を1qだ
。
。
得られたP b Z r o、5 T f □、5 M
go、01o3なる組成の変性PZTI膜もまた、実
施例1で得られたものと同様、極めて均質であった。
go、01o3なる組成の変性PZTI膜もまた、実
施例1で得られたものと同様、極めて均質であった。
実施例12
マグネシウム2−プロポキシドに代えてスカンジウム2
−プロポキシドを、モノエタノールアミンに代えてジェ
タノールアミンを、メトキシエタノールに代えてエトキ
シエタノールを、それぞれ用いたほかは実施例11と同
様にして、変性PZT薄膜を得た。
−プロポキシドを、モノエタノールアミンに代えてジェ
タノールアミンを、メトキシエタノールに代えてエトキ
シエタノールを、それぞれ用いたほかは実施例11と同
様にして、変性PZT薄膜を得た。
得られたP b Z r o、s T j o、5S
CO,01o3なる組成の変性PZTi膜もまた、実施
例11で得られたものと同様、極めて均質であった。
CO,01o3なる組成の変性PZTi膜もまた、実施
例11で得られたものと同様、極めて均質であった。
実施例13
マグネシウム2−プロポキシドに代えてクロム2−プロ
ポキシドを、モノエタノールアミンに代えてトリエタノ
ールアミンを、メトキシエタノールに代えてメタノール
を、それぞれ用いたほかは実施例11と同様にして、変
性PZT薄膜を得た。
ポキシドを、モノエタノールアミンに代えてトリエタノ
ールアミンを、メトキシエタノールに代えてメタノール
を、それぞれ用いたほかは実施例11と同様にして、変
性PZT薄膜を得た。
得られたP b Z r” o、5 T ! o、5
Cr o、o103なる組成の変性PZTI膜もまた、
実施例11で得られたものと同様、極めて均質でめった
。
Cr o、o103なる組成の変性PZTI膜もまた、
実施例11で得られたものと同様、極めて均質でめった
。
実施例14
マグネシウム2−プロポキシドに代えて鉄2−プロポキ
シドを、モノエタノールアミンに代えてモノ2−プロパ
ノールアミンを、メトキシエタノールに代えてエタノー
ルを、それぞれ用いたほかは実施例11と同様にして、
変性PZT薄膜を得た。
シドを、モノエタノールアミンに代えてモノ2−プロパ
ノールアミンを、メトキシエタノールに代えてエタノー
ルを、それぞれ用いたほかは実施例11と同様にして、
変性PZT薄膜を得た。
得られたPbZr Ti Fe Oな0.
5 0.5 0.01 3る組成の変性PZT
I膜もまた、実施例11で得られたものと同様、極めて
均質であった。
5 0.5 0.01 3る組成の変性PZT
I膜もまた、実施例11で得られたものと同様、極めて
均質であった。
実施例15
マグネシウム2−プロポキシドに代えてインジウム2−
プロポキシドを、モノエタノールアミンに代えてジ2−
プロパノールアミンを、メトキシエタノールに代えて2
−プロパノールを、それぞれ用いたほかは実施例11と
同様にして、変性PZT薄膜を得た。
プロポキシドを、モノエタノールアミンに代えてジ2−
プロパノールアミンを、メトキシエタノールに代えて2
−プロパノールを、それぞれ用いたほかは実施例11と
同様にして、変性PZT薄膜を得た。
得られたPbZr Ti Irl Oな0
.5 0.5 0.01 3 る組成の変性PZT薄膜もまた、実施例11で得られた
ものと同様、極めて均質であった。
.5 0.5 0.01 3 る組成の変性PZT薄膜もまた、実施例11で得られた
ものと同様、極めて均質であった。
実施例16
マグネシウム2−プロポキシドに代えてアンチモン2−
プロポキシドを、モノエタノールアミンに代えてアセチ
ルアセトンを、メトキシエタノールに代えて1−ブタノ
ールを、それぞれ用いたほかは実施例11と同様にして
、変性PZTI膜を得た。
プロポキシドを、モノエタノールアミンに代えてアセチ
ルアセトンを、メトキシエタノールに代えて1−ブタノ
ールを、それぞれ用いたほかは実施例11と同様にして
、変性PZTI膜を得た。
得られたP b Z r g、5 T i O,5S
bo、0103なる組成の変性PZT薄膜もまた、実施
例11で得られたものと同様、極めて均質であった。
bo、0103なる組成の変性PZT薄膜もまた、実施
例11で得られたものと同様、極めて均質であった。
実施例17
マグネシウム2−プロポキシドに代えてランタン2−プ
ロポキシドを、モノエタノールアミンに代えてエチレン
グリコールを、それぞれ用いたほかは実施例11と同様
にして、変性PZTI膜を得た。
ロポキシドを、モノエタノールアミンに代えてエチレン
グリコールを、それぞれ用いたほかは実施例11と同様
にして、変性PZTI膜を得た。
得られたP bZ r (35T ! o、5 L a
O,0103なる組成の変性PZTI膜もまた、実施例
11で得られたものと同様、極めて均質であった。
O,0103なる組成の変性PZTI膜もまた、実施例
11で得られたものと同様、極めて均質であった。
実施例18
マグネシウム2−プロポキシドに代えてネオジム2−プ
ロポキシドを、モノエタノールアミンに代えてジエチレ
ングリコールを、メトキシエタノールに代えてエトキシ
エタノールを、それぞれ用いたほかは実施例11と同様
にして、変性PZT薄膜を得た。
ロポキシドを、モノエタノールアミンに代えてジエチレ
ングリコールを、メトキシエタノールに代えてエトキシ
エタノールを、それぞれ用いたほかは実施例11と同様
にして、変性PZT薄膜を得た。
得られたP b Z r □、5 T ! 0.5 N
d 。、0103なる組成の変性PZT薄膜もまた、
実施例11で得られたものと同様、極めて均質であった
。
d 。、0103なる組成の変性PZT薄膜もまた、
実施例11で得られたものと同様、極めて均質であった
。
実施例19
マグネシウム2−プロポキシドに代えてビスマス2−プ
ロポキシドを、モノエタノールアミンに代えてプロピレ
ングリコールを、メトキシエタノールに代えてメタノー
ルを、それぞれ用いたほかは実施例11と同様にして、
変性PZT薄膜を(qだ。
ロポキシドを、モノエタノールアミンに代えてプロピレ
ングリコールを、メトキシエタノールに代えてメタノー
ルを、それぞれ用いたほかは実施例11と同様にして、
変性PZT薄膜を(qだ。
1qられたP bZ r (35T ! 0.5 B
! 0.0103なる組成の変性PZT薄膜もまた、実
施例11で得られたものと同様、極めて均質であった。
! 0.0103なる組成の変性PZT薄膜もまた、実
施例11で得られたものと同様、極めて均質であった。
実施例20
マグネシウム2−プロポキシドに代えてウラン2−プロ
ポキシドを、モノエタノールアミンに代えてジプロピレ
ングリコールを、メトキシエタノールに代えてエタノー
ルを、それぞれ用いたほかは実施例11と同様にして、
変性PZT薄膜を得た。
ポキシドを、モノエタノールアミンに代えてジプロピレ
ングリコールを、メトキシエタノールに代えてエタノー
ルを、それぞれ用いたほかは実施例11と同様にして、
変性PZT薄膜を得た。
1qられたP b Z r o、5 T l o、5L
J(3otO3なる組成の変性PZTI膜もまた、実施
例11で得られたものと同様、極めて均質であった。
J(3otO3なる組成の変性PZTI膜もまた、実施
例11で得られたものと同様、極めて均質であった。
実施例21
マグネシウム2−プロポキシドに代えてトリウム2−プ
ロポキシドを、メトキシエタノールに代えて2−プロパ
ノールを、それぞれ用いたほかは実施例11と同様にし
て、変性PZTI膜を得た。
ロポキシドを、メトキシエタノールに代えて2−プロパ
ノールを、それぞれ用いたほかは実施例11と同様にし
て、変性PZTI膜を得た。
得られたP bZ r o、5 T f o、s T
ho、o103なる組成の変性PZT薄膜もまた、実施
例11で得られたものと同様、極めて均質であった。
ho、o103なる組成の変性PZT薄膜もまた、実施
例11で得られたものと同様、極めて均質であった。
実施例22
マグネシウム2−プロポキシドに代えてニオブ2−プロ
ポキシドを、モノエタノールアミンに代えてジェタノー
ルアミンを、メトキシエタノールに代えて1−ブタノー
ルを、それぞれ用いたほかは実施例11と同様にして、
変性PZT薄膜を得た。
ポキシドを、モノエタノールアミンに代えてジェタノー
ルアミンを、メトキシエタノールに代えて1−ブタノー
ルを、それぞれ用いたほかは実施例11と同様にして、
変性PZT薄膜を得た。
得られたP b Z rg、5 T i O,5N b
、o103なる組成の変性PZT薄膜もまた、実施例1
1で得られたものと同様、極めて均質であった。
、o103なる組成の変性PZT薄膜もまた、実施例1
1で得られたものと同様、極めて均質であった。
実施例23
マグネシウム2−プロポキシドに代えてタンタル2−プ
ロポキシドを、モノエタノールアミンに代えてトリエタ
ノールアミンを、それぞれ用いたほかは実施例11と同
様にして、変性PZT薄膜を得た。
ロポキシドを、モノエタノールアミンに代えてトリエタ
ノールアミンを、それぞれ用いたほかは実施例11と同
様にして、変性PZT薄膜を得た。
得られたP bZ r □、5 T 1o、5 T a
o、01o3なる組成の変性PZTaI膜もまた、実施
例11で得られたものと同様、極めて均質であった。
o、01o3なる組成の変性PZTaI膜もまた、実施
例11で得られたものと同様、極めて均質であった。
実施例24
マグネシウム2−プロポキシドに代えてタングステン2
−プロポキシドを、モノエタノールアミンに代えてモノ
2−プロパノールアミンを、メトキシエタノールに代え
てエトキシエタノールを、それぞれ用いたほかは実施例
11と同様にして、変性PZT薄膜を得た。
−プロポキシドを、モノエタノールアミンに代えてモノ
2−プロパノールアミンを、メトキシエタノールに代え
てエトキシエタノールを、それぞれ用いたほかは実施例
11と同様にして、変性PZT薄膜を得た。
得られたP bZ r □、5 T ! 0.5 W□
、0103なる組成の変性PZT薄膜もまた、実施例1
1で得られたものと同様、極めて均質であった。
、0103なる組成の変性PZT薄膜もまた、実施例1
1で得られたものと同様、極めて均質であった。
[発明の効果]
この発明は、基体上に、上述したA、B、C1D、E、
F各群の化合物を含む混合溶液の薄膜を形成するが、薄
膜中にA、B、C,D各群の化合物が微粒子状に析出す
るのを、1群の化合物、つまり加水分解抑制剤の作用に
よって防止することができるので、実施例にも示したよ
うに、簡単な操作で、亀裂等のない、均質な変性PZT
博膜を得ることができるようになる。
F各群の化合物を含む混合溶液の薄膜を形成するが、薄
膜中にA、B、C,D各群の化合物が微粒子状に析出す
るのを、1群の化合物、つまり加水分解抑制剤の作用に
よって防止することができるので、実施例にも示したよ
うに、簡単な操作で、亀裂等のない、均質な変性PZT
博膜を得ることができるようになる。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (イ)下記A群、B群、C群、D群、E群およびF群の
化合物を含む混合溶液を調製する工程と、A群:鉛のメ
トキシド、エトキシド、プロポキシド、ブトキシド、メ
トキシエトキシド もしくはエトキシエトキシドまたは酢酸 鉛もしくは酢酸鉛水和物 B群:ジルコニウムのメトキシド、エトキシド、プロポ
キシド、ブトキシド、メトキシエ トキシドまたはエトキシエトキシド C群:チタンのメトキシド、エトキシド、プロポキシド
、ブトキシド、メトキシエトキ シドまたはエトキシエトキシド D群:マグネシウム、カルシウム、ストロンチウム、バ
リウム、スカンジウム、クロム、 鉄、インジウム、アンチモン、ランタン、 ネオジム、ビスマス、ウラン、トリウム、 ニオブ、タンタルもしくはタングステン のメトキシド、エトキシド、プロポキシ ド、ブトキシド、メトキシエトキシドま たはエトキシエトキシド E群:モノエタノールアミン、ジエタノールアミン、ト
リエタノールアミン、モノ2− プロパノールアミン、ジ2−プロパノー ルアミン、アセチルアセトン、エチレン グリコール、ジエチレングリコール、プ ロピレングリコールまたはジプロピレン グリコール F群:メタノール、エタノール、プロパノール、ブタノ
ール、メトキシエタノールまたは エトキシエタノール (ロ)耐熱性基体上に前記混合溶液の薄膜を形成する工
程と、 (ハ)前記薄膜を乾燥し、ゲル化せしめる工程と、 (ニ)ゲル化せしめた薄膜を焼成し、変性チタン酸ジル
コン酸鉛薄膜に変換する工程と、 を含む変性チタン酸ジルコン酸鉛薄膜の形成方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63089696A JPH01260870A (ja) | 1988-04-12 | 1988-04-12 | 変性チタン酸ジルコン酸鉛薄膜の形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63089696A JPH01260870A (ja) | 1988-04-12 | 1988-04-12 | 変性チタン酸ジルコン酸鉛薄膜の形成方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01260870A true JPH01260870A (ja) | 1989-10-18 |
Family
ID=13977930
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63089696A Pending JPH01260870A (ja) | 1988-04-12 | 1988-04-12 | 変性チタン酸ジルコン酸鉛薄膜の形成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01260870A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1997040537A1 (de) * | 1996-04-19 | 1997-10-30 | Siemens Aktiengesellschaft | Monolithischer vielschicht-piezoaktor und verfahren zur herstellung |
EP0897901A1 (en) | 1997-08-21 | 1999-02-24 | Rohm Co., Ltd. | Solution for forming ferroelectric film and method for forming ferroelectric film |
US5993901A (en) * | 1993-01-20 | 1999-11-30 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Production of thin films of a lead titanate system |
CN1103328C (zh) * | 2000-04-06 | 2003-03-19 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 钛酸锶钡薄膜材料的制备方法 |
EP1056594A4 (en) * | 1998-02-20 | 2003-08-20 | Advanced Tech Materials | A-SITE AND / OR B-SITE MODIFIED PBZRTIO3 MATERIALS AND FILMS |
US7754660B2 (en) | 2007-12-18 | 2010-07-13 | E.I. Du Pont De Nemours And Company | Process to prepare zirconium-based cross-linker compositions and their use in oil field applications |
-
1988
- 1988-04-12 JP JP63089696A patent/JPH01260870A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5993901A (en) * | 1993-01-20 | 1999-11-30 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Production of thin films of a lead titanate system |
WO1997040537A1 (de) * | 1996-04-19 | 1997-10-30 | Siemens Aktiengesellschaft | Monolithischer vielschicht-piezoaktor und verfahren zur herstellung |
EP0897901A1 (en) | 1997-08-21 | 1999-02-24 | Rohm Co., Ltd. | Solution for forming ferroelectric film and method for forming ferroelectric film |
EP1056594A4 (en) * | 1998-02-20 | 2003-08-20 | Advanced Tech Materials | A-SITE AND / OR B-SITE MODIFIED PBZRTIO3 MATERIALS AND FILMS |
CN1103328C (zh) * | 2000-04-06 | 2003-03-19 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 钛酸锶钡薄膜材料的制备方法 |
US7754660B2 (en) | 2007-12-18 | 2010-07-13 | E.I. Du Pont De Nemours And Company | Process to prepare zirconium-based cross-linker compositions and their use in oil field applications |
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