JPH01247772A - 真空装置 - Google Patents

真空装置

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JPH01247772A
JPH01247772A JP63072562A JP7256288A JPH01247772A JP H01247772 A JPH01247772 A JP H01247772A JP 63072562 A JP63072562 A JP 63072562A JP 7256288 A JP7256288 A JP 7256288A JP H01247772 A JPH01247772 A JP H01247772A
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JP
Japan
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cryopump
vacuum
pump
air
load
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JP63072562A
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English (en)
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JPH0355678B2 (ja
Inventor
Mutsuo Mukuda
睦夫 椋田
Yasuo Kataoka
靖雄 片岡
Toshihiko Nakase
俊彦 中瀬
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Precision Products Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Precision Products Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH0355678B2 publication Critical patent/JPH0355678B2/ja
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B64AIRCRAFT; AVIATION; COSMONAUTICS
    • B64GCOSMONAUTICS; VEHICLES OR EQUIPMENT THEREFOR
    • B64G7/00Simulating cosmonautic conditions, e.g. for conditioning crews
    • B64G2007/005Space simulation vacuum chambers

Landscapes

  • Compressors, Vaccum Pumps And Other Relevant Systems (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 利用産業分野 この発明は、真空装置の改良に係り、特に、薄膜製造装
置やエツチング装置等のプロセス時にガス負荷のある真
空装置において、プロセス用真空ポンプの他に、大気開
放後の再起動時の立上のための空気負荷専用排気ポンプ
を装備し、稼動率を向上させた真空装置に関する。
−背景技術 真空装置は、半導体の製造や薄膜被着技術など、種々の
分野で使用されている。
例えば、スパッタリング等の装置は、不純物の混入を避
けるため、通常、1 x 1O−7Torr程度の真空
度まで、チャンバー内の真空度を上げた後、I X 1
0’Torr程度のやや低いレベルに落したり、所要の
不活性ガス雰囲気となして使用される。
スパッタリング装置等に付設させる真空装置は、1つの
真空槽に対して、排気用として低レベル排気用の粗引き
ポンプと、高真空用のポンプ、例えば、クライオポンプ
あるいはターボ分子ポンプ等を使用している。
従って、従来の真空装置の高真空用のポンプは、流量制
御弁の制御性が所要範囲を外れないように、使用するプ
ロセスに適した制御性を確保するため、クライオポンプ
のボンプロ径の大きさは制限されている。
高真空用ポンプは、プロセス条件には最適設計となって
いるが、稼働率の点では低いという問題があった。
半導体用スパッタリング装置を例に取って説明すると、
定期的、例えば、数日に1回程度、ターゲットを取替え
るために装置を停止し、真空槽を大気開放する必要があ
る。
そのために、真空槽内が大気にさらされることにより、
水分、空気等のガス負荷が高い状態で、再起動すること
になる。
従来の真空装置ではかかる再起動に際して、大気圧から
所要の高真空度までに排気するのに、長時間を要してい
た。
しかも、高真空、プロセス用真空ポンプに、溜め込み式
のクライオポンプを用いた場合には、大気解放時の空気
、水分等がポンプ内に予め溜め込まれるために、所定の
高真空時におけるガス負荷、例えば、アルゴンガス等の
溜め込み能力が減少しており、クライオポンプの再生イ
ンターバルが短くなる傾向にあり、真空装置の稼動率が
低下する問題があった。
発明の目的 この発明は、プロセス時にガス負荷のある真空装置にお
いて、大気解放後の再起動時間を短縮でき、かつプロセ
ス時のガスの溜め込み能力の低下がなく稼動率の高い真
空装置の提供を目的としている。
発明の構成 この発明は、 所要プロセス時に所要ガスの負荷を与える真空装置にお
いて、 1つの真空槽に、低レベル排気用の粗引ポンプと、粗引
ポンプ作動後の槽内空気を排気する空気負荷専用クライ
オポンプと、空気負荷専用クライオポンプ作動後の高真
空排気並びにプロセス用のクライオポンプあるいはター
ボ分子ポンプを設け、大気解放後の再起動時間を短縮し
たことを特徴とする真空装置である。
また、この発明において、空気負荷専用クライオポンプ
には、従来の2段型冷凍機構成のクライオポンプの他、
実施例に示す冷凍機が1段のクライオポンプを用いるこ
とができる。
すなわち、この発明は、前記構成において、冷凍機駆動
部の上部に接続したポンプケースに設けたクライオパネ
ルと、該駆動部に接続された1段型冷凍機に付設したク
ライオパネルとにて構成された1段型クライオポンプを
、空気負荷専用クライオポンプとしたことを特徴とする
真空装置である。
発明の図面に基づく開示 第1図はこの発明による真空装置の構成を示す概略説明
図である。
第2図はこの発明による空気負荷用クライオポンプの構
成を示す一部縦断説明図である。
真空装置の真空槽(1)には、粗引ポンプ(2)の吸引
配管(3)が第1制御弁(4)を介して接続され、空気
負荷専用クライオポンプ(5)が第2制御弁(6)を介
して接続され、さらに、プロセス用クライオポンプ(7
)が第3制御弁(8)を介して接続されている。
空気負荷用クライオポンプ(5)は、凝縮温度の比較的
高い気体、すなわち、冷凍機の能力が40°に程度が最
低であり、これより高い温度で凝縮できる気体を選択的
に排気することを目的とし、ここでは以下の構成からな
る1段型クライオポンプを用いている。
すなわち、第2図に示す如く、冷凍機駆動部(51)の
上部に冷凍機(52)が配設され、該駆動部(51)に
接続したポンプケース(53)に設けたクライオパネル
(54)と、冷凍機(52)に付設したクライオパネル
(55)とにて構成されている。
なお、上記構成の空気負荷用クライオポンプ(5)は、
冷凍機(52)の温度を制御することにより、排気する
気体の選択を行なうことができる。また、クライオパネ
ルに活性炭を貼付ければ、Ne、H2、He以外の気体
も排気できる経済性も有する。
高真空排気を行なうプロセス用クライオポンプ(7)は
、−段目にクライオパネル、二段目に活性炭等の吸着剤
を塗布したクライオパネルを装着し、全ての気体を排気
しようというもので、円筒状ポンプ本体内に、熱絶縁材
からなる円筒状ピストンのディスプレイサを嵌入した構
成からなり、外部のコンプレッサにて圧縮されたヘリウ
ムが冷凍機内に導入され、ディスプレイサが下降するこ
とにより、ディスプレイサ内を上昇して彫版室に入り、
第1ステージ、第2ステージの各々で、高圧ヘリウムが
断熱膨張して冷熱を発生し、各ステージに熱伝導的に接
続されるクライオパネルが冷却され、また、彫版するヘ
リウムはディスプレイサが上昇することにより、排出さ
れて再びコンプレッサ側へ流れ、この循環を繰り返すこ
とにより、クライオパネルを所要の極低温、すなわち、
第1ステージでは77°に以下、第2ステージでは20
°に以下に冷却し、槽(1)内の気体分子を極低温に冷
却したクライオパネルにて捕捉する作用を有する構成か
らなる。
作用 真空装置は、まず、粗引ポンプ(2)の第1制御弁(4
)を開いて排気し、槽(1)内を1xlO−”Torr
程度となし、第1制御弁(4)を閉じた後、空気負荷専
用クライオポンプ(5)を作動させて、 槽(1)内を1 x 1O−6Torr程度の真空度ま
でに高め、さらに、プロセス用クライオポンプ(7)を
作動させて、槽(1)内を、例えば1 x 1O−7T
orr−程度の目的真空度となす。
発明の効果 この発明による真空装置は、空気負荷専用のクライオポ
ンプ(5)を装備することにより、大気開放後の立上り
の際に、大幅に時間短縮が図れ、半導体の如き大量生産
設備においては、大きな生産性の向上が見込める。
例えば、スパッタリング装置で、真空槽(1)容量が5
0tの容積の場合、フランシロ径JIS 8Bの空気負
荷専用クライオポンプ(5)を配設したことにより、こ
れを有しない従来の真空装置での立上り時間が12時間
であったのを、6時間に短縮することができた。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明による真空装置の構成を示す概略説明
図である。 第2図は空気負荷用クライオポンプの構成を示す一部縦
断説明図である。 1・・・真空槽、2・・・粗引ポンプ、3・・・吸引配
管、4.6,8・・・制御弁、5・・・空気負荷専用ク
ライオポンプ、7・・・プロセス用クライオポンプ、5
1・・・冷凍機駆動部、52・・・冷凍機、54.55
・・・クライオパネル。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 所要プロセス時に所要ガスの負荷を与える真空装置にお
    いて、 1つの真空槽に、低レベル排気用の粗引ポンプと、粗引
    ポンプ作動後の槽内空気を排気する空気負荷専用クライ
    オポンプと、空気負荷専用クライオポンプ作動後の高真
    空排気並びにプロセス用のクライオポンプあるいはター
    ボ分子ポンプを設け、大気解放後の再起動時間を短縮し
    たことを特徴とする真空装置。 2 冷凍機駆動部の上部に接続したポンプケースに設けたク
    ライオパネルと、該駆動部に接続された1段型冷凍機に
    付設したクライオパネルとにて構成された1段型クライ
    オポンプを、空気負荷専用クライオポンプとしたことを
    特徴とする請求項1記載の真空装置。
JP63072562A 1988-03-26 1988-03-26 真空装置 Granted JPH01247772A (ja)

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JP63072562A JPH01247772A (ja) 1988-03-26 1988-03-26 真空装置

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JP63072562A JPH01247772A (ja) 1988-03-26 1988-03-26 真空装置

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Publication Number Publication Date
JPH01247772A true JPH01247772A (ja) 1989-10-03
JPH0355678B2 JPH0355678B2 (ja) 1991-08-26

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