JPH0124599B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

この発明は、Sn―Pb―Bi―Cu系のはんだ合金
に関し、とくに、各種電子回路基板、半導体部品
等の電子部品のはんだ付けに際し、銀くわれを防
止するとともに、はんだ接合部の繰り返し応力に
対する耐疲労特性を向上させるものである。 一般に、各種電子回路基板等の電子部品は、ガ
ラス、セラミツク、合成樹脂等の基板の表面に、
銀めつきを施して導電パターンを形成し、この導
電パターンに端子や個別部品等をはんだ付けした
ものが使用されている。これらの電子部品のはん
だ付けにSn―Pb系のはんだ合金を用いた場合、
基板上の銀めつき膜がはんだ合金中に拡散溶解し
て、いわゆる銀くわれ現象が発生し、接合部のは
んだ付け強度が著しく低下する。また、薄型の電
子回路基板のように耐熱性の低い電子部品に融点
の高いはんだ合金ではんだ付けすると、亀裂がで
きて製品の品質を害することになる。 このような問題を解決するはんだ合金として、
従来から各種の提案がなされており、たとえば
Sn―Pb―Cd系（特公昭49−21028号）、Sn―Pb
―Cd―Ag系（特公昭49−23986号）、Bi―Pb系、
Bi―Sb／Ag―Pb系（特開昭53−113245号）、Bi
―Sn―Pb系、Bi―Sn―Sb／Ag―Pb系（特開昭
54−72738号）、Sn―Ag―Sb―Pb系（特開昭56−
144893号）、Sn―Cd―Ｐ―Pb系（特公昭57−
39880号）、Sn―Pb―REM系、Sn―Pb―Ag―
REM系（特開昭57−160594号）、Bi―Pb―Sn系
（特開昭58−218394号）等が知られている。 これらのはんだ合金は、銀くわれが防止され、
低温度でのはんだ付けが可能である点では、すぐ
れた効果を有しているが、経済性、作業性、衛生
面のほか、ぬれ性等の点において一長一短がある
ほか、はんだ接合部の機械的強度については、な
お改善すべき問題が残されていた。 とくに、半導体パワーデバイスのように、金属
フレームにシリコンペレツトをはんだ付けする構
造のものでは、金属フレームとシリコンとの熱膨
張率の差によつて生ずる歪が接合部のはんだによ
つて吸収されるため、はんだ接合部には、機械的
性質として引張り、クリープ、曲げなどの繰り返
し応力に耐えられる接合強度が要求される。しか
し、従来のはんだ合金では、接合部が繰り返し応
力を受けると、疲労によりはんだ材の特性が劣化
して、接合部が早期に剥離することが多く、半導
体部品の信頼性に大きな影響を与えるという問題
がある。 この発明者らは、上記の問題を解決するため、
種々の実験と検討とを重ねた結果、Sn―Pb―Bi
系はんだ合金に、一定範囲のCuを添加すること
により、従来のはんだ合金の銀くわれ防止効果を
損うことなく、しかも繰り返し応力に対する耐疲
労特性にすぐれたはんだ合金が得られることを見
出して、この発明を完成するに至つたのである。 すなわち、この発明のはんだ合金は、20〜47重
量％のSn、２〜12重量％のBi、0.03〜0.5重量％
のCu、残部Pbの組成からなることを特徴とする
ものである。 この発明の各成分の組成範囲およびその限定理
由は、下記の通りである。 Snは、20重量％未満の含有量では、固相線温
度が183℃以上となり、融点が高くなつて過熱に
よる酸化が著しくなり、耐熱性の低い電子部品に
悪影響を与えるから適当でない。また、47重量％
を超えて含有すると、Agとの金属間化合物の生
成が促進されるため、硬くて脆い接合部が形成さ
れ易く、電子回路基板上のAgめつき膜の溶解防
止効果が減少するだけでなく、はんだ合金の製造
コストが高くなるので好ましくない。 Biは、Agの溶解を抑制するのに有効な元素で
あるだけでなく、はんだ自体の融点を低下させる
効果がある。しかしこの発明のはんだ合金の場
合、２重量％未満の含有量では、この効果が十分
でなく、また12重量％を超えて含有すると、はん
だの融点が下がりすぎるだけでなく、はんだ自体
の粘性が減少して脆くなるので機械的強度が低下
する。また溶融はんだの表面酸化が著しくなつ
て、はんだ付け作業性を害するので好ましくな
い。 Cuは、この発明のはんだ合金の特徴を与える
重要元素であつて、微量の添加によつて、機械的
強度を著しく向上させることができる。しかしこ
の発明のはんだ合金においてはBiとの配合関係
から0.03重量％未満の添加では十分な改善が得ら
れないので、最低0.03重量％は必要である。しか
し、0.5重量％を超えて添加すると融点が高くな
り、またはんだの機械的強度を低下させ、流動性
にも悪影響を与えるので適当でない。 次に、この発明のはんだ合金の機械的強度につ
いて試験した結果を、従来のSn―Pb系はんだ合
金と対比して第１表に示す。 試験用試料は、JIS6号に規定する試験片を調製
し、インストロン型万能試験機により引張り強さ
と伸びとを測定した。引張り速度は10mm／min、
試験温度は20℃である。 この発明のはんだ合金の化学成分（重量％）
は、Sn46％、Bi8％、Cu0.05％、Pb残部である。 従来のはんだ合金は、JIS―Ｚ―3282に規定さ
れたＡ等級に属する製品である。

【表】 第１表の数値から明らかなように、この発明の
はんだ合金の引張り強さは、従来のはんだ合金の
うちSn60―Pb40と同等であるが、伸びがほぼ４
倍近くまで増大し、高い粘性を有していることが
わかる。したがつて、この発明のはんだ合金は、
繰り返し応力を受けても劣化し難く、破断に至る
までの時間が長く、従来のはんだ合金よりもはる
かにすぐれた耐疲労特性を備えていることにな
る。 また、この発明のはんだ合金のはんだ付け強度
の試験結果を、従来の銀くわれ防止用はんだ合金
と対比して第２表に示す。 アルミナ基板（30mm×30mm×1.0mm）の表面に、
Ag―Pdのめつき膜（厚さ20μm）を形成して、
その上にリード線（直径1.0mmのSnめつきされた
銅線）をはんだ付けしたもの（10個）について試
験した。 (1) はんだ付け条件 予備加熱 120℃×30sec 本加熱 230℃×40sec ホツトプレート加熱 (2) はんだ印刷条件 メタルマスク 穴径3.0mm、厚さ0.3mm (3) インストロン型万能試験機による引張り試験
条件 引張り速度 10mm／min 試験温度 20℃

【表】 第２表の結果から明らかなように、この発明の
はんだ付け強度は、従来のはんだ合金に比べて２
倍以上であることが確認された。 なお、上記のはんだ付け強度試験に用いたアル
ミナ基板上のAg―Pbめつき膜のはんだ合金中へ
の拡散状態を調べるため、はんだ付け温度250℃
で20sec、160sec間、はんだ付けを行なつものに
ついて、はんだ付け部断面の組織を顕微鏡下で観
察したところ、はんだ付け時間20secではめつき
膜の拡散はほとんど見られず、はんだ付け時間
160secの場合でも、僅かに拡散層が判別できる程
度であつて、めつき膜がほぼ完全に近い状態で残
存しており、銀くわれ防止の点についても、すぐ
れた効果を発揮することが裏付けされた。 以上、説明したように、この発明のはんだ合金
は、従来のはんだ合金よりも大きな伸びを有し、
粘性がすぐれているので、はんだ接合部に繰り返
し応力が作用しても疲労による特性の劣化が生ぜ
ず、しかも銀くわれ防止効果については、従来の
この種のはんだ合金よりもすぐれた特性を有して
いるから、電子回路基板、半導体部品等の電子部
品のはんだ付け用として成型品はんだやクリーム
はんだに適用して、高信頼性および安定性が得ら
れるだけでなく、その他の電気機器部品および一
般工作品用の棒状はんだ、板状はんだ、やに入り
はんだ等にも広く適用することができる。

【特許請求の範囲】

１ 被覆剤全体に対して25〜60重量％の鉄粉を含
有する被覆剤原料を固着剤と共に混練してなる被
覆剤を、軟鋼心線外周に塗布して被覆アーク溶接
棒を製造するに当り、流動度が19〜33秒／50g
（JIS Ｚ 2502）である鉄粉を使用することを特
徴とする被覆アーク溶接棒の製造方法。