JP3708252B2 - 電子部品リフロー実装用はんだ合金粉末 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は電子部品をリフロ−法により実装する場合に使用されるはんだ合金粉末に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
電子部品を回路基板に実装する場合、リフロ−法、すなわち、回路基板の所定位置に電子部品をクリ−ムはんだ(はんだ粉末とフラックスとの混合物)で粘着し、更に加熱炉に通してクリ−ムはんだを溶融し、而るのち、はんだを冷却凝固させて電子部品を回路基板に電気的・機械的に接合する方法を用いることがあり、このクリ−ムはんだのはんだ粉末には、伝統的にPb−Sn共晶はんだが使用されてきた。
このPb−Sn共晶では、固相線温度と液相線温度とが一致するから、融点に達すると固相から液相に即時に移行する。
上記のリフロ−法実装においては、電子部品の加熱の不均一が避けられず、電子部品の片サイド電極のクリ−ムはんだが先に融点に達して液相化され、この際電子部品の他サイド電極のクリ−ムはんだが固相のままである状態が生じ、片サイド電極のクリ−ムはんだの液相化による表面張力で電子部品が起立されて他サイド電極が浮き上がり(いわゆる、マンハッタン現象)、はんだ付け不良が発生することがある。
【0003】
而るに、固相線温度と液相線温度との間に差があるはんだ合金を、その温度差を上記の不均一温度差に応じて設定して使用すれば、電子部品の上記片サイド電極側が固相線温度と液相線温度との中間温度になってクリ−ムはんだが半溶融状態(固相と液相との混在相状態)となり、他サイド電極側のクリ−ムはんだがまだ固相状態であっても、半溶融状態での表面張力が小さいために電子部品の起立を防止することが可能となり、更に片サイド電極側が液相線温度を越えて液相状態となり、他サイド電極側のクリ−ムはんだがまだ半溶融状態であっても、液相状態と半溶融状態での表面張力の差が小さいために、電子部品の起立を防止することが可能となる。
【0004】
そこで、液相線温度と固相線温度とに差をもたせてマンハッタン現象を防止することを企図して、JIS Z 3282−1986でSn43PbBi14(Sn43重量%、Bi14重量%、残部Pbであり、固相線温度135℃、液相線温度165℃)が規格され、更に、Sn46PbBi8(固相線温度175℃、液相線温度190℃)やSn57PbBi3(固相線温度175℃、液相線温度185℃)も公知である。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、近来、電子部品の複合化、高機能化、表面実装の高密度化が加速され、電子回路基板の発熱量が増し、通電ヒ−トサイクルに基づきはんだ付け部が受ける繰返し熱応力がますます厳しくなりつつあり、より優れた耐熱疲労特性が要求されている。
しかしながら、上記のSn−Pb−Bi系はんだ合金では、溶融液相が冷却されて半溶融状態を通過する際にボイドが形成され易く、またSnやPbにBiが溶け込んで固溶体が形成され易いために、Pb−Sn共晶はんだに較べ機械的強度が低く、上記耐熱疲労性の向上を望み難い。
従来、Sn−Pb−Bi系はんだ合金をベ−スにしてCuを0.2重量%以下添加した電子部品用はんだ合金が公知である(特公平1−24599号公報)。
【0006】
しかしながら、本発明者において、マンハッタン現象抑制作用を維持しつつ耐熱疲労特性の向上を達成すべく鋭意検討したところ、CuとSbとを特定の割合で添加することにより、上記のCu単独添加では達成できない飛躍的な耐熱疲労性の向上を得ることができることを知った。
本発明の目的は、上記予想外の実験結果に基づき、Sn−Pb−Bi系はんだ合金のマンハッタン現象抑制作用を充分に維持しつつ耐熱疲労特性の飛躍的向上を達成することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る電子部品リフロー実装用はんだ合金粉末は、Sn40〜70重量%、Bi2.5〜15.0重量%、残部がPbのSn−Pb−Bi系はんだ合金100重量部にCu0.5〜2.0重量部とSb0.5〜2.0重量部とが添加されていることを特徴とし、また更に、Gaを0.5重量部以下とが添加することができる。
本発明に係る他の電子部品リフロー実装用はんだ合金粉末は、Sn40〜70重量%、Bi2.5〜15.0重量%、残部がPbのSn−Pb−Bi系はんだ合金100重量部にCu0.5〜2.0重量部とSb0.5〜2.0重量部とAg0.5〜3.5重量部とが添加されていることを特徴とし、また更に、Gaを0.5重量部以下とが添加することができる。
【0008】
本発明において、Snを40〜70重量%とする理由は、40重量%未満でははんだ付けの作業性が悪くなるばかりか、合金強度及び接合強度が著しく低くなり、接合信頼性が損なわれ、また、液相線温度が高くなる結果、はんだ付け時での基板や表面実装部品への熱衝撃が過酷になり、他方、70重量%を越えると、コストアップとなるばかりか、前記と同様に液相線温度が高くなる結果、はんだ付け時での基板や表面実装部品への熱衝撃が過酷になるからである。
本発明において、Biの添加は固相線温度と液相線温度とに差をもたせてマンハッタン現象を抑制するためであり、その添加量を2.5〜15.0重量%とする理由は、2.5重量%未満ではマンハッタン現象を満足に抑制し難く、他方15.0重量%を越えると、伸びが減少し脆くなって機械的強度が低下し、接合信頼性を保証し難くなるからである。
【0009】
本発明において、CuとSbとの添加はマンハッタン現象抑制作用を充分に維持しつつ耐熱疲労性を飛躍的に向上させためであり、CuまたはSbの単独では不適当であり、Cuを0.5〜2.0重量部、Sbを0.5〜2.0重量部とすることにより耐熱疲労特性の飛躍的向上が達成できる。Cu2.0重量部以上やSb2.0重量部以上では、液相線温度が高くなって、はんだ付け時での基板や表面実装電子部品への熱的衝撃が相当過酷になる。
本発明において、Agの添加は、被接合部材がAgである場合に、Ag食われ(Agがはんだ中に拡散すること、溶食とも称されている)による接合不良が懸念されるため、これを防止することにある。その添加量を0.5〜3.5重量部とした理由は、0.5重量部以下ではAg食われを満足に抑制し難く、他方、3.5重量部を越えるとコスト高になるばかりか、液相線温度が高くなって、はんだ付け時での基板や表面実装電子部品への熱的衝撃が過酷になるからである。
【0010】
本発明において、Gaの添加は、上記添加したCuやSbによるはんだ合金の濡れ性低下を補償すると共にはんだ合金溶融下での酸化を抑制し当該酸化物の巻き込みによるはんだ接合部の強度低下を防止するためであり、その添加量を0.5重量部以下とする理由は、0.5重量部を越えるとはんだ合金の脆弱化が招来されるからである。
【0011】
はんだ合金においては、添加元素以外の成分を不純物として含有するのが通常であり、JIS Z −3282−1986−表3に規定されているA級の化学成分に従い、本発明に係るはんだ合金においても、Znを0.003重量%以下、Feを0.03重量%以下、Alを0.005重量%以下、Asを0.03重量%以下、Cdを0.005重量%以下の範囲で含有することが許容される。
【0012】
【発明の実施の形態】
本発明において、べ−スのSn−Pb−Bi系はんだ合金としては、例えば、日本工業規格で規定された、 Sn43重量%、Bi14重量%、残部Pb(固相線温度135℃、液相線温度165℃)、または、公知の Sn46重量%、Bi8、残部Pb(固相線温度175℃、液相線温度190℃) Sn57、Bi3、残部Pb(固相線温度175℃、液相線温度185℃)等を使用できる。
【0013】
本発明に係る電子部品実装用はんだ合金は、リフロ−法におけるクリ−ムはんだとして好適に使用される。この場合、粉末はんだは、例えば、遠心噴霧法により得ることができ、その粒直径は通常65〜20μmであり、フラックスの組成は、ロジン20〜60重量%、活性剤0.2〜5重量%、チクソ剤3〜20重量%、残部溶剤であり、クリ−ムはんだの組成は、通常粉末はんだ85〜93重量%、残部フラックスである。
リフロ−法により表面実装を行うには、回路基板の電子部品搭載予定箇所にクリ−ムはんだを印刷し、更に、電子部品をそのクリ−ムはんだの粘着力で仮固定し、次いで、はんだ合金の液相線温度よりも数十度高い温度の加熱炉、例えば赤外線加熱炉等に通してクリ−ムはんだを溶融し、而るのち、はんだを冷却凝固させ、最終的にフラックス残渣の洗浄を行い、これにて実装を終了する。
【0014】
本発明に係るはんだ合金においては、Cu及びSbの添加量がSn−Pb−Bi系はんだ合金のマンハッタン現象抑制作用を充分に維持できる範囲内であり、上記加熱の不均一のために、電子部品の片サイド電極側が固相線温度と液相線温度との中間温度になってクリ−ムはんだが半溶融状態(固相と液相との混在相状態)となり、他サイド電極側のクリ−ムはんだにおいてはまだ固相状態であっても、半溶融状態での表面張力が小さいために電子部品の起立をよく防止でき、更に片サイド電極側が液相線温度を越えて液相状態となり、他サイド電極側のクリ−ムはんだにおいてはまだ半溶融状態であっても、液相状態と半溶融状態での表面張力の差が小さいために、電子部品の起立をよく防止できる。
【0015】
上記リフロ−法により実装された電子部品のはんだ付け部の通電ヒ−トサイクルに起因する破壊(クラックやしわの発生)のメカニズムは複雑であり、はんだと基板や電子部品との熱膨張収縮係数の差やヤング率の差や環境温度変化等に基づき熱応力が発生し、その熱応力がはんだの破断強度に達したときに破断することを根拠にしてのはんだ合金の抗張力や伸び率の評価だけでは耐熱疲労特性の適確な把握は困難であり、適確な把握のためには、はんだの濡れ状態や電極や導体とはんだとの界面部分での合金層形成による機械的特性(組織の強度、ヤング率、伸び率、熱膨張収縮係数等)の変化を反映させることが妥当である。しかるに、次に述べる接合強度は、はんだの濡れ状態と界面部分での合金層形成による機械的特性の変化を充分に反映して耐熱疲労性を評価できるものであり、この接合強度はつぎのようにして求められる。
【0016】
すなわち、巾10mm、厚み0.5mmの銅箔2枚をギャップを隔てて重ね、片端部にスペ−サを挾着してギャップを0.5mmに設定し、この重ね銅箔の他端部にフラックスを塗布した後、溶融はんだ浴に浸漬して毛細管現象により溶融はんだをギャップ間に深さ10mmになるように侵入させ、はんだの冷却凝固後、スペ−サを外して銅箔をはんだの侵入端箇所で直角に外側に曲げ、この曲げた両銅箔を引張り端子としてロ−ドセル方式万能試験機を用い、引張り速度5mm/min、温度20℃で破断するときの引張り応力(kgf/mm2)を測定する。この接合強度によれば、はんだ合金の抗張力や伸び率とは異なり、銅とはんだとの界面での金属学的反応による機械的強度の変化や濡れ性を反映させることができ、はんだ付け部の耐熱疲労性を適確に評価できる。
而るに、本発明に係る実装においては、Cu0.3〜2.0重量部とSb0.1〜2.0重量部とを添加しているために抜群に優れた接合強度を呈し、極めて優れた耐熱疲労特性を保証できる。
【0017】
かかる耐熱疲労特性の保証は、機械的に脆弱な固溶体の生成を抑制でき、ボイドの発生を排除でき、かつ濡れ性に優れ、しかも電極や導体とはんだとの界面部分での合金層形成による機械的特性(組織の強度、ヤング率、伸び率、熱膨張収縮係数等)の異変をよく防止できた結果と推定される。
【0018】
【実施例】
以下の実施例及び比較例において、クリ−ムはんだのはんだ粉末には遠心噴霧法による粒直径63〜38μmのものを使用し、フラックスには、ロジン50.0重量%、活性剤(シクロヘキシルアミン臭化水素酸塩)1.0重量%、チクソ剤(水素添加ヒマシ油)5.0重量%、残部溶剤(ブチルカルビト−ル)を使用し、クリ−ムはんだの配合は、はんだ粉末90重量%、残部フラックスとした。
また、マンハッタン現象発生率は、チップ寸法3.2mm×1.6mm×0.5mmのチップ抵抗器をガラスエポキシ回路基板にクリ−ムはんだを用いてリフロ−法により実装した試料1000箇から求めた。
更に、ヒ−トサイクル試験も上記と同様にして製作した試料について行い、125℃で1時間加熱 、−55℃で1時間冷却を1サイクルとして500サイクルを課し、はんだ接合部にクラック、しわ、剥離等が発生したものを不良とし、試料数は100箇とした。
【0019】
〔実施例1〜5及び比較例1〜4〕
べ−スのSn−Pb−Bi系はんだ合金に、Sn57重量%、Bi3重量%、残部Pb(固相線温度175℃、液相線温度185℃)を用いたものであり、使用したはんだ合金の配合は表1(配合の単位は重量部)の通りである。
それぞれの接合強度(実施例1の接合強度を1として示してある。実施例1の接合強度は、6.18kgf/mm2)並びにヒ−トサイクル試験の結果は表1に示す通りである。
【0020】
【表1】
【0021】
表1から明らかな通り、実施例ではヒ−トサイクル試験の不良発生率が0%であり、比較例1や比較例2との対比からこの効果がCuとSbとの相乗効果によるものであることが推定できる。また、Cu0.3重量部以下及びSb0.1重量部以下ではヒ−トサイクル試験の不良発生率を0にできず、更にCu2.0重量部以上及びSb2.0重量部以上ではヒ−トサイクル試験の不良発生率を0にできないことが比較例3、比較例4から明らかであり、本発明におけるCu及びSbの添加量限定の意義が確認できる。
実施例が耐熱疲労性に優れていることは、ヒ−トサイクル試験の不良発生率が0で、かつ接合強度にも優れていることから裏付けられる。
なお、Sn−Pb共晶はんだ合金についてのマンハッタン現象発生率は15%〜20%であり、本発明によれば、べ−スのSn−Pb−Bi系はんだ合金のマンハッタン現象抑制効果も充分に維持できることが表1から確認できる。
【0022】
〔実施例6〜10〕
べ−スのSn−Pb−Bi系はんだ合金に、Sn46重量%、Bi8重量%、残部Pb(固相線温度175℃、液相線温度190℃)を用いたものであり、使用したはんだ合金の配合は表2(配合の単位は重量部)の通りである。
それぞれの接合強度(実施例1の接合強度を1として示してある)並びにヒ−トサイクル試験の結果は表2に示す通りである。
【0023】
【表2】
【0024】
〔実施例11〜15〕
べ−スのSn−Pb−Bi系はんだ合金に、Sn43重量%、Bi14重量%、残部Pb(固相線温度135℃、液相線温度165℃)を用いたものであり、使用したはんだ合金の配合は表3(配合の単位は重量部)の通りである。
それぞれの接合強度(実施例1の接合強度を1として示してある)並びにヒ−トサイクル試験の結果は表3に示す通りである。
【0025】
【表3】
【0026】
【発明の効果】
本発明に係る電子部品用はんだ合金よれば、Sn−Pb−Bi系はんだ合金のマンハッタン現象抑制作用を充分に維持し得、かつ、Sn−Pb−Bi系はんだ合金の耐熱疲労性に劣る不利をよく解消して耐熱疲労特性の飛躍的向上を達成でき、電子部品実装時の不良率を低減しつつ実装後での耐熱疲労に対する信頼性を飛躍的に向上できる。
Claims (3)
- Sn40〜70重量%、Bi2.5〜15.0重量%、残部がPbのSn−Pb−Bi系はんだ合金100重量部にCu0.5〜2.0重量部とSb0.5〜2.0重量部とが添加されていることを特徴とする電子部品リフロー実装用はんだ合金粉末。
- Sn40〜70重量%、Bi2.5〜15.0重量%、残部がPbのSn−Pb−Bi系はんだ合金100重量部にCu0.5〜2.0重量部とSb0.5〜2.0重量部とAg0.5〜3.5重量部とが添加されていることを特徴とする電子部品リフロー実装用はんだ合金粉末。
- Gaが0.5重量部以下添加されている請求項1または2記載の電子部品リフロー実装用はんだ合金粉末。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28167496A JP3708252B2 (ja) | 1996-10-02 | 1996-10-02 | 電子部品リフロー実装用はんだ合金粉末 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28167496A JP3708252B2 (ja) | 1996-10-02 | 1996-10-02 | 電子部品リフロー実装用はんだ合金粉末 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10109187A JPH10109187A (ja) | 1998-04-28 |
JP3708252B2 true JP3708252B2 (ja) | 2005-10-19 |
Family
ID=17642407
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28167496A Expired - Fee Related JP3708252B2 (ja) | 1996-10-02 | 1996-10-02 | 電子部品リフロー実装用はんだ合金粉末 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3708252B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002153990A (ja) * | 2000-11-21 | 2002-05-28 | Senju Metal Ind Co Ltd | はんだボール用合金 |
DE10319888A1 (de) | 2003-04-25 | 2004-11-25 | Siemens Ag | Lotmaterial auf SnAgCu-Basis |
JP5775791B2 (ja) * | 2011-10-25 | 2015-09-09 | 株式会社日立産機システム | 給水装置および給水装置の運転方法 |
-
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- 1996-10-02 JP JP28167496A patent/JP3708252B2/ja not_active Expired - Fee Related
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---|---|
JPH10109187A (ja) | 1998-04-28 |
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A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20041116 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Written amendment |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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