JPH01232451A - Memory device - Google Patents

Memory device

Info

Publication number
JPH01232451A
JPH01232451A JP5816288A JP5816288A JPH01232451A JP H01232451 A JPH01232451 A JP H01232451A JP 5816288 A JP5816288 A JP 5816288A JP 5816288 A JP5816288 A JP 5816288A JP H01232451 A JPH01232451 A JP H01232451A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
memory
access
signal
memory element
speed mode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5816288A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Katsuya Tabata
田端 克也
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP5816288A priority Critical patent/JPH01232451A/en
Publication of JPH01232451A publication Critical patent/JPH01232451A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE:To shorten the memory access cycle by allocating the continuous addresses to different memory elements and producing the access signal in a low-speed mode when a deciding means produces the same signals and in a high-speed mode with production of unequal signals respectively. CONSTITUTION:The different memory elements (two elements in the diagram) receive successively accesses in case the accesses are given to the continuous addresses (addresses n, n+1...). Thus it is possible to give an access to a 2nd memory element regardless of a precharging time (tRP) mode of a 1st memory element. While the accesses are carried out in a low-speed mode in consideration of said time tRP in case the accesses are given continuously to the same memory element. As a result, the memory access cycle is shortened for a memory device when the accesses are given to the continuous addresses.

Description

【発明の詳細な説明】 (概要) メモリ装置に係り、特に複数のメモリ素子をメモリアク
セス装置でアクセスしてデータの読み取り書き込みを行
なうメモリ装置に関し、メモリアクセスサイクルを短い
ものとすることを目的とし、 複数のメモリ素子をメモリアクセス装置でアクセスして
データの読み取り書き込みを行なうメモリ装置において
、連続するアドレスを異なったメモリ素子に割り振り、
上記メモリアクセス装置は、連続してアクセスするアド
レスが同一のメモリ素子に属するときには同一信号を、
又非同一の時には非同一信号を発生する判定手段と、上
記判定手段が同一信号を発生したときには低速モードで
、また非同一信号を発生したときには高速モードでアク
セス信号を発生するアクセス信号発生部とを設けて構成
する。
[Detailed Description of the Invention] (Summary) An object of the present invention is to shorten the memory access cycle in relation to a memory device, particularly in a memory device in which a plurality of memory elements are accessed by a memory access device to read and write data. , In a memory device in which multiple memory elements are accessed by a memory access device to read and write data, allocating consecutive addresses to different memory elements,
The above memory access device transmits the same signal when consecutively accessed addresses belong to the same memory element.
Further, a determining means generates a non-identical signal when the determining means generates the same signal, and an access signal generating section generates the access signal in a low speed mode when the determining means generates the same signal, and in a high speed mode when the determining means generates a non-identical signal. and configure it.

(産業上の利用分野) 本発明は、メモリ装置に係り、特に複数のメモリ素子を
メモリアクセス装置でアクセスしてデータの読み取り書
き込みを行なうメモリ装置に関する。
(Industrial Application Field) The present invention relates to a memory device, and particularly to a memory device in which a plurality of memory elements are accessed by a memory access device to read and write data.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

一般にメモリ装置にメモリ素子としてダイナミックRA
Mを用いることがあるが、このダイナミックRAMは、
メモリアクセス装置からのローアドレスストローブ信号
(RAS)とカラムアドレスストローブ信号(CAS)
によってアドレスを確定してアクセスを行ないデータの
格納読出しを行なうようにしている。
Dynamic RA is generally used as a memory element in memory devices.
M is sometimes used, but this dynamic RAM is
Row address strobe signal (RAS) and column address strobe signal (CAS) from memory access device
The address is determined and accessed to store and read data.

このようなメモリ装置として第5図に示すようなものが
ある。同図において、10.11はメモリ素子でこの例
においては2台設けるようにしている。13はアクセス
制御回路でRASのコントロール信号を発生する。また
14はアドレス信号をデコードして各メモリに対してイ
ネーブル信号を発生するデコーダ、15.16は上記の
RASコントロール信号と上記のイネーブル信号との論
理和を出力するアンドゲートを示しており、これらのア
クセス制御回路13、デコーダ14、及びアンドゲート
15,16でアクセス制御回路を構成している。
An example of such a memory device is the one shown in FIG. In the figure, reference numeral 10.11 denotes memory elements, and in this example, two memory elements are provided. Reference numeral 13 denotes an access control circuit that generates a RAS control signal. Further, 14 is a decoder that decodes the address signal and generates an enable signal for each memory, and 15 and 16 are AND gates that output the logical sum of the above RAS control signal and the above enable signal. The access control circuit 13, decoder 14, and AND gates 15 and 16 constitute an access control circuit.

〔発明が解決しようとする課題〕 このようなメモリアクセス制御装置を有するメモリ装置
においては、メモリ素子の一列のデータを読出した時点
でそのデータが失われる所謂破壊読出しを行なうため、
アクセスを実行したのち直ちにメモリ素子に対して書き
込みを行なう必要がある。このような処理はRASがデ
ィセーブルになった直後に行なわれ、この処理の為に必
要な時間がプリチャージタイムであり、一般にこのプリ
チャージタイムはアクセスタイムが100n秒〜150
n秒のメモリ素子であれば、80n秒〜100n秒を要
する。
[Problems to be Solved by the Invention] In a memory device having such a memory access control device, a so-called destructive read is performed in which data in one row of memory elements is lost when the data is read out.
It is necessary to write to the memory element immediately after performing the access. Such processing is performed immediately after RAS is disabled, and the time required for this processing is precharge time, and generally this precharge time is an access time of 100 ns to 150 ns.
For a n second memory element, 80 to 100 n seconds is required.

このため、第6図に示すように第1のメモリ素子のアド
レスOとアドレス1とを連続してアクセスするような場
合には、アドレス0へのアクセスの後上記のプリチャー
ジタイム(第2図中tRPで示した)が経過しなけば、
次のアドレス1のアクセスができない。即ち、メモリア
クセスサイクルタイムはアクセスタイム+プリチャージ
タイム+αとなる。そのため、メモリアクセス装置には
高速にアクセスを要求された場合プリチャージタイムを
確保するため遅延回路を設けなければならず、これ以上
高速にアクセスすることはできないという問題がある。
Therefore, when accessing address O and address 1 of the first memory element consecutively as shown in FIG. 6, the above precharge time (see FIG. If the period (indicated by the middle tRP) does not elapse,
The next address 1 cannot be accessed. That is, the memory access cycle time is access time+precharge time+α. Therefore, when a memory access device is required to access at a high speed, a delay circuit must be provided to ensure a precharge time, and there is a problem in that it is not possible to access at a higher speed.

そこで本発明はメモリアクセスサイクルを短いものとで
きるメモリ装置を提供することを目的とする。
Therefore, an object of the present invention is to provide a memory device that can shorten memory access cycles.

(課題を解決するための手段) 本発明にあって、上記の課題を解決するための手段は複
数のメモリ素子i−,,1−2・・・をメモリアクセス
装置2でアクセスしてデータの読み取り書き込みを行な
うメモリ装置において、連続するアドレスを異なったメ
モリ素子に割り振り、メモリアクセス装置は、連続して
アクセスするアドレスが同一のメモリ素子に属するとき
には同一信号を、又弁開−の時には非同一信号を発生す
る判定手段3と、判定手段3が同一信号を発生したとき
には低速モードで、また非同一信号を発生したときには
高速モードでアクセス信号を発生するアクセス信号発生
部4とを設けたことである。
(Means for Solving the Problem) In the present invention, the means for solving the above problem is to access a plurality of memory elements i-, 1-2, etc. with a memory access device 2 to access data. In a memory device that performs reading and writing, consecutive addresses are allocated to different memory elements, and the memory access device issues the same signal when consecutively accessed addresses belong to the same memory element, and non-identical signals when the valve is open. By providing a determining means 3 that generates a signal and an access signal generating section 4 that generates an access signal in a low speed mode when the determining means 3 generates the same signal, and in a high speed mode when the determining means 3 generates a non-identical signal. be.

(作用) 本発明によれば、第2図に示すように連続したアドレス
(アドレスn、アドレスn+1・・・)に対するアクセ
スがあったときには、異なったメモリ素子(同図におい
ては2つのメモリ素子)を次々にアクセスすることとな
るから、当該メモリ素子(第1メモリ素子)のプリチャ
ージタイム(同図中tRPで示している)中であっても
、これを考慮することなく他のメモリ素子(第2のメモ
リ素子)にアクセスすることができる。また、連続して
同一のメモリ素子にアクセスする場合にはプリチャージ
タイムを考慮した低速モードでアクセスされる。このた
め、連続したアドレスにアクセスするときにはメモリ装
置のメモリアクセスサイクルを短いものとすることがで
きる。
(Function) According to the present invention, when there is access to consecutive addresses (address n, address n+1, etc.) as shown in FIG. 2, different memory elements (two memory elements in the figure) are accessed one after another, so even during the precharge time (indicated by tRP in the figure) of the memory element (first memory element), other memory elements ( a second memory element). Furthermore, when accessing the same memory element continuously, it is accessed in a low-speed mode that takes precharge time into consideration. Therefore, when accessing consecutive addresses, the memory access cycle of the memory device can be shortened.

〔実施例〕〔Example〕

以下本発明に係るメモリ装置の実施例を図面に基づいて
説明する。
Embodiments of a memory device according to the present invention will be described below with reference to the drawings.

第3図及び第4図は本発明に係るメモリ装置の実施例を
示すものである。本実施例において、メモリ素子は2台
設けて連続するアドレスを交互に割振っている。例えば
アドレスOは第1のメモリ素子20に、アドレス1は第
2のメモリ素子21に、アドレス3は第1のメモリ素子
20に、という具合に偶数アドレスを第1のメモリ素子
に、奇数アドレスを第2のメモリ素子に割振っている。
FIGS. 3 and 4 show an embodiment of a memory device according to the present invention. In this embodiment, two memory devices are provided and consecutive addresses are alternately allocated to them. For example, address O is placed in the first memory element 20, address 1 is placed in the second memory element 21, address 3 is placed in the first memory element 20, etc. Even addresses are placed in the first memory element and odd addresses are placed in the first memory element 20. It is allocated to the second memory element.

そして本実施例においてこれらのメモリ素子20.21
はメモリアクセス装置によってアクセスされる。本実施
例においてメモリアクセス装置は第3図に示すような構
成を有するものである。
In this embodiment, these memory elements 20 and 21
is accessed by a memory access device. In this embodiment, the memory access device has a configuration as shown in FIG.

同図において、22はアドレス信号をデコードして、ど
ちらのメモリ素子にそのアドレスが属しているかを判定
して当該アドレスが属しているメモリ素子側にイネーブ
ル信号を発生するデコーダ、23はアクセス終了信号を
受け、次のアクセスタイミング信号を発生するアクセス
タイミング発生回路、24.25は上記のデコーダ22
の信号を上記のアクセスタイミング発生回路のアクセス
タイミング信号でラッチする第1及び第2のフリップフ
ロップ(FF) 、26.27は夫々のフリップフロッ
プ24.25の出力信号と上記のアクセスタイミング信
号との論理和を出力する2台のアンドゲート、28.2
9はこれらのアンドゲート26,27の出力により第1
のメモリ素子20及び第2のメモリ素子21にRAS信
号及びCAS信号を、またアクセスが終了したときに上
記アクセスタイミング発生回路23にアクセス終了信号
(END)を出力する2台のRAS/CAS発生回路で
ある。そして第1及び第2のメモリ素子20.21は、
上記のRAS信号及びCAS信号によりアドレスが特定
され、アドレスバス30及びデータバス31とアドレス
及びデータのやりとりを行なう。ここで夫々のRAS/
CAS発生回路28.29は、連続してアクセスするア
ドレスが同一のメモリ素子に属するときには同一信号を
、又弁開−の時には非同一信号を発生する判定手段と、
上記判定手段が同一信号を発生したときには低速モード
で、また非同一信号を発生したときには高速モードでア
クセス信号を発生するアクセス信号発生部とを有してお
り、連続して同一のメモリにRAS/CAS信号を発生
するときは、メモリへのアクセスを行なった後に、次の
アクセスを行なうときにはメモリ素子のプリチャージの
時間を含めたアクセスサイクル(低速モード)で次のメ
モリアクセスを行ない、また、前回のメモリ装置のアク
セスが他方のメモリ素子に対して行なわれている場合に
は、他方のメモリ素子のプリチャージに関わりなくでき
るだけ短時間のアクセスサイクル(高速モード)でメモ
リアクセスを実行するようにしている。
In the figure, 22 is a decoder that decodes the address signal, determines which memory element the address belongs to, and generates an enable signal to the memory element to which the address belongs, and 23 is an access end signal. 24.25 is the decoder 22 described above;
The first and second flip-flops (FF) 26.27 latch the signal of 26.25 with the access timing signal of the access timing generation circuit, and 26.27 are the latches of the output signals of the respective flip-flops 24.25 and the access timing signal of the access timing generation circuit. Two AND gates that output a logical sum, 28.2
9 is the first one by the output of these AND gates 26 and 27
two RAS/CAS generation circuits that output a RAS signal and a CAS signal to the memory element 20 and the second memory element 21, and output an access end signal (END) to the access timing generation circuit 23 when the access is completed; It is. The first and second memory elements 20.21 are
An address is specified by the above RAS signal and CAS signal, and addresses and data are exchanged with the address bus 30 and data bus 31. Here, each RAS/
The CAS generation circuits 28 and 29 include determining means for generating the same signal when consecutively accessed addresses belong to the same memory element, and generating non-identical signals when the valve is open;
The access signal generating section generates an access signal in a low-speed mode when the determination means generates the same signal, and in a high-speed mode when it generates a non-identical signal. When generating a CAS signal, after accessing the memory, the next access is performed in an access cycle (low speed mode) that includes the time for precharging the memory element, and When one memory device is accessing the other memory element, the memory access is performed in the shortest possible access cycle (high-speed mode) regardless of the precharging of the other memory element. There is.

次に本実施例に係るメモリ装置の作動について説明する
。第4図は本実施例に係るメモリ装置の作動を示すもの
である。先ずアドレス0をアクセスした場合においてセ
レクタ23は第1のメモリ素子20側(Sl)にイネー
ブル信号を発生し、第1のフリップフロップ24はこの
セレクト信号をアクセスタイミングを基準としてラッチ
して、セレクトラッチ信号(SIL)を発生する(#A
)。そして第1のアンドゲート26はこのセレクトラッ
チ信号と上記のアクセスタイミング信号とを受け、メモ
リアクセスモード信号(Ml)を発生する。そして、第
1のRAS/CAS発生回路28はこのメモリアクセス
モード信号(Ml)と上記のアクセスタイミング信号と
アドレスセレクト信号とを受けRASI及びCASIな
る信号を発生して(#B)第1のメモリ素子20のアド
レスを特定する。メモリ装置はこのRAS/CASの信
号を、当該メモリの読出し書き込みを実行する。このア
ドレス0のアクセスに続いて、アドレスlのアクセスが
あった場合には、第2のフリップフロップ25はアクセ
ス終了信号(END)を受けて発生されるアクセスタイ
ミング信号(TA)によりデコーダ22からのセレクト
信号(S2)をラッチして第2のメモリ素子21に対す
るメモリアクセスモード信号(M2)を立ちあげ(#C
)、これを受けて第2のRAS/CAS発生回路29は
このメモリアクセスモード信号(M2)と上記のアクセ
スタイミング信号とアドレスセレクト信号とを受けRA
S2及びCAS2なる信号を発生して(#D)第2のメ
モリ素子2工のアドレスを特定する。メモリ装置はこの
RAS/CASの信号を、当該メモリの読出し書き込み
を実行する。この際アクセスされるアドレスは連続した
ものであるので、異なったメモリ素子に対してアクセス
が行なわれ、第2のRAS/CAS発生回路29は第1
のメモリ素子のプリチャージ時間には関係なく高速モー
ドで短いメモリアクセスサイクルで第2のメモリ素子2
1をアクセスする。
Next, the operation of the memory device according to this embodiment will be explained. FIG. 4 shows the operation of the memory device according to this embodiment. First, when address 0 is accessed, the selector 23 generates an enable signal on the first memory element 20 side (Sl), and the first flip-flop 24 latches this select signal based on the access timing, and uses the select latch. Generates a signal (SIL) (#A
). The first AND gate 26 receives this select latch signal and the above-mentioned access timing signal, and generates a memory access mode signal (Ml). Then, the first RAS/CAS generation circuit 28 receives this memory access mode signal (Ml), the above-mentioned access timing signal, and address select signal, and generates signals RASI and CASI (#B) to generate the first memory Identify the address of element 20. The memory device uses this RAS/CAS signal to read and write the memory. If there is an access to address l following this access to address 0, the second flip-flop 25 receives the access from the decoder 22 by the access timing signal (TA) generated in response to the access end signal (END). Latch the select signal (S2) and raise the memory access mode signal (M2) for the second memory element 21 (#C
), in response to this, the second RAS/CAS generation circuit 29 receives this memory access mode signal (M2), the above-mentioned access timing signal, and address select signal, and generates the RA
Signals S2 and CAS2 are generated (#D) to specify the address of the second memory element 2. The memory device uses this RAS/CAS signal to read and write the memory. Since the addresses accessed at this time are consecutive, different memory elements are accessed, and the second RAS/CAS generation circuit 29
The second memory element 2 can be accessed in a short memory access cycle in high-speed mode regardless of the precharge time of the second memory element.
Access 1.

次の、このアドレス1の次にアドレス7をアクセスする
場合には、前回と同様にデコーダからのセレクト信号(
S2)が発生される。第2のフリップフロップ25はア
クセス終了信号(END)を受けて発生されるアクセス
タイミング信号(TA)によりデコーダ22からのセレ
クト信号(S2)をラッチして第2のメモリ素子21に
対するメモリアクセスモード信号(M2)を引き続き立
ちあげ(#E)、これを受けて第2のRAS/CAS発
生回路29はこのメモリアクセスモード信号(M2)と
上記のアクセスタイミング信号とアドレスセレクト信号
とを受けRAS2及びCAS2なる信号を発生して(#
F)メモリ素子29のアドレスを特定する。
When accessing address 7 next after address 1, the select signal from the decoder (
S2) is generated. The second flip-flop 25 latches the select signal (S2) from the decoder 22 in response to the access timing signal (TA) generated in response to the access end signal (END), and generates a memory access mode signal for the second memory element 21. (M2) continues to rise (#E), and in response, the second RAS/CAS generation circuit 29 receives this memory access mode signal (M2), the above-mentioned access timing signal, and address select signal. Generate a signal (#
F) Identifying the address of memory element 29.

メモリ装置はこのRAS/CASの信号を、当該メモリ
の読み出し書き込みを実行する。この際RAS/CAS
発生回路29は同一のメモリ素子に対するアクセスであ
ることを認識して、前回のアクセスによるプリチャージ
の時間を含めた高速モードに比べるとゆっくりとしたタ
イミングの低速モードのメモリアクセスサイクルでRA
S2信号を立ち上げる。
The memory device uses this RAS/CAS signal to read and write the memory. At this time, RAS/CAS
The generation circuit 29 recognizes that the access is to the same memory element, and performs RA in the memory access cycle in the low-speed mode, which has a slower timing than the high-speed mode, which includes the precharge time from the previous access.
Raise S2 signal.

従って本実施例によれば、連続したアドレスの行なうと
きには、異なったメモリ素子に次々に高速モードでアク
セスを実行することができ、全体としてメモリ装置のア
クセス時間を短いものととすることができる。
Therefore, according to this embodiment, when performing consecutive addresses, different memory elements can be accessed one after another in high-speed mode, and the overall access time of the memory device can be shortened.

なお、上記の実施例において、メモリ素子は2台とした
が、これは3台以上あっても差支えないことは勿論であ
る。
In the above embodiment, two memory devices are used, but it goes without saying that there may be three or more memory devices.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように、本発明によればメモリ装置におい
て連続するアドレスを異なったメモリ素子に割り振り、
上記メモリアクセス装置は、連続してアクセスするアド
レスが同一のメモリ素子に属するときには同一信号を、
又非同一の時には非同一信号を発生する判定手段と、上
記判定手段が同一信号を発生したときには低速モードで
、また非同一信号を発生したときには高速モードでアク
セス信号を発生するアクセス信号発生部とを設けるよう
にしたから、連続したアドレスのアクセスを行なうとき
には、異なったメモリ素子に次々に高速モードでアクセ
スを実行することができ、全体としてメモリ装置のアク
セス時間を短いものとすることができるという効果を奏
する
As explained above, according to the present invention, consecutive addresses are allocated to different memory elements in a memory device,
The above memory access device transmits the same signal when consecutively accessed addresses belong to the same memory element.
Further, a determining means generates a non-identical signal when the determining means generates the same signal, and an access signal generating section generates the access signal in a low speed mode when the determining means generates the same signal, and in a high speed mode when the determining means generates a non-identical signal. Therefore, when accessing consecutive addresses, different memory elements can be accessed one after another in high-speed mode, and the access time of the memory device as a whole can be shortened. be effective

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の原理図、第2図は本発明に係るメモリ
装置の作動を示すタイムチャート、第3図は本発明に係
るメモリ装置の実施例を示すブロック図、第4図は第3
図に示したメモリ装置の作動を示すタイムチャート、第
5図は従来のメモリ装置を示すブロック図、第6図は第
5図に示した従来のメモリ装置の作動を示すタイムチャ
ートである。 18,1.・・・メモリ素子 4・・・アクセス信号発生部 ■ 6 図
FIG. 1 is a principle diagram of the present invention, FIG. 2 is a time chart showing the operation of the memory device according to the present invention, FIG. 3 is a block diagram showing an embodiment of the memory device according to the present invention, and FIG. 4 is a diagram showing the operation of the memory device according to the present invention. 3
FIG. 5 is a block diagram showing the conventional memory device, and FIG. 6 is a time chart showing the operation of the conventional memory device shown in FIG. 18,1. ...Memory element 4...Access signal generation section ■ 6 Figure

Claims (1)

【特許請求の範囲】 複数のメモリ素子(1_−_1)、(1_−_2)・・
・をメモリアクセス装置(2)でアクセスしてデータの
読み取り書き込みを行なうメモリ装置において、連続す
るアドレスを異なったメモリ素子に割り振り、 上記メモリアクセス装置(2)は、連続してアクセスす
るアドレスが同一のメモリ素子に属するときには同一信
号を、又非同一の時には非同一信号を発生する判定手段
(3)と、上記判定手段が同一信号を発生したときには
低速モードで、また非同一信号を発生したときには高速
モードでアクセス信号を発生するアクセス信号発生部(
4)とを設けたことを特徴とするメモリ装置。
[Claims] A plurality of memory elements (1_-_1), (1_-_2)...
・In a memory device that reads and writes data by accessing it with a memory access device (2), consecutive addresses are allocated to different memory elements, and the memory access device (2) is configured to access the same address continuously. determining means (3) which generates an identical signal when it belongs to a memory element, and a non-identical signal when it is non-identical; Access signal generator (which generates access signals in high-speed mode)
4) A memory device characterized by comprising:
JP5816288A 1988-03-14 1988-03-14 Memory device Pending JPH01232451A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5816288A JPH01232451A (en) 1988-03-14 1988-03-14 Memory device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5816288A JPH01232451A (en) 1988-03-14 1988-03-14 Memory device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH01232451A true JPH01232451A (en) 1989-09-18

Family

ID=13076294

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5816288A Pending JPH01232451A (en) 1988-03-14 1988-03-14 Memory device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH01232451A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6466511B2 (en) Semiconductor memory having double data rate transfer technique
JP3100622B2 (en) Synchronous dynamic RAM
JP3843145B2 (en) Synchronous semiconductor memory device
JPS63102098A (en) Integrated circuit
JPH1031886A (en) Random access memory
US6557090B2 (en) Column address path circuit and method for memory devices having a burst access mode
JP3949543B2 (en) Integrated circuit device and method for accessing data in an integrated circuit device
JP3681892B2 (en) Data input / output circuit and data input / output method of semiconductor device
JP2746222B2 (en) Semiconductor storage device
JPH10172283A (en) Semiconductor storage and system
JPH10134576A (en) Semiconductor memory device
JPS5848293A (en) Memory refreshing device
JPH01232451A (en) Memory device
JP3631557B2 (en) Semiconductor memory test equipment
KR100287879B1 (en) Memory with function of burst read and write
JP3348632B2 (en) Memory with high-speed test function
JPH11306760A (en) Semiconductor memory
JPH0863997A (en) Semiconductor memory circuit device
KR0154717B1 (en) Memory management system
JPH047761A (en) Memory access method
JPH0973775A (en) Semiconductor memory
JPH0331946A (en) Memory
JPH0474378A (en) Semiconductor memory device
JPH01286056A (en) Interleave memory access device
JPH0325790A (en) Memory device