JPH0123042B2 - - Google Patents
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- JPH0123042B2 JPH0123042B2 JP4987882A JP4987882A JPH0123042B2 JP H0123042 B2 JPH0123042 B2 JP H0123042B2 JP 4987882 A JP4987882 A JP 4987882A JP 4987882 A JP4987882 A JP 4987882A JP H0123042 B2 JPH0123042 B2 JP H0123042B2
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Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B21—MECHANICAL METAL-WORKING WITHOUT ESSENTIALLY REMOVING MATERIAL; PUNCHING METAL
- B21B—ROLLING OF METAL
- B21B38/00—Methods or devices for measuring, detecting or monitoring specially adapted for metal-rolling mills, e.g. position detection, inspection of the product
- B21B38/04—Methods or devices for measuring, detecting or monitoring specially adapted for metal-rolling mills, e.g. position detection, inspection of the product for measuring thickness, width, diameter or other transverse dimensions of the product
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B17/00—Measuring arrangements characterised by the use of infrasonic, sonic or ultrasonic vibrations
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B21—MECHANICAL METAL-WORKING WITHOUT ESSENTIALLY REMOVING MATERIAL; PUNCHING METAL
- B21B—ROLLING OF METAL
- B21B39/00—Arrangements for moving, supporting, or positioning work, or controlling its movement, combined with or arranged in, or specially adapted for use in connection with, metal-rolling mills
- B21B39/02—Feeding or supporting work; Braking or tensioning arrangements, e.g. threading arrangements
- B21B39/08—Braking or tensioning arrangements
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B21—MECHANICAL METAL-WORKING WITHOUT ESSENTIALLY REMOVING MATERIAL; PUNCHING METAL
- B21B—ROLLING OF METAL
- B21B41/00—Guiding, conveying, or accumulating easily-flexible work, e.g. wire, sheet metal bands, in loops or curves; Loop lifters
- B21B41/08—Guiding, conveying, or accumulating easily-flexible work, e.g. wire, sheet metal bands, in loops or curves; Loop lifters without overall change in the general direction of movement of the work
- B21B41/10—Loop deflectors
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は圧延中の板材の幅寸法を測定する方法
及びその装置に関するものである。
及びその装置に関するものである。
近年板圧延技術の向上により板幅精度が高く、
熱間若しくは冷間圧延の精整段階で幅揃えのため
に両側エツジ部を切り揃える必要のない所謂ノー
トリマーの圧延が可能になつている。しかしこの
ような高精度の板圧延に際してはその圧延過程に
おいて常時厳密な板幅管理が必要とされる。とこ
ろで上述の如き板幅管理を行うための板幅測定方
法としては従来第７図に示す如き方法が提案さ
れ、実施されている。
熱間若しくは冷間圧延の精整段階で幅揃えのため
に両側エツジ部を切り揃える必要のない所謂ノー
トリマーの圧延が可能になつている。しかしこの
ような高精度の板圧延に際してはその圧延過程に
おいて常時厳密な板幅管理が必要とされる。とこ
ろで上述の如き板幅管理を行うための板幅測定方
法としては従来第７図に示す如き方法が提案さ
れ、実施されている。
第７図は従来における光学式の板幅測定方法の
原理説明図であり、図中Ｓは被測定物たるストリ
ツプ、５０は光源、５１，５２は一次元センサを
示している。ストリツプＳは図面の表裏方向に移
送されるようにしてあり、その移送域の下方に光
源５０が配設され、また上方にストリツプＳの両
側エツジ部の移動域を含むその両側近傍領域にわ
たるよう一次元センサ５１，５２が配設されてい
る。光源５０はストリツプＳの幅寸法よりも十分
長い寸法を有しストリツプＳの移動域下にその移
動方向と直交する向きに配設されており、また一
次元センサ５１，５２はリニアダイオードアレイ
等にて構成されており、夫々光源５０と対向して
ストリツプＳの移動域上方に張り出したアーム５
３にその長手方向を光源５０のそれと平行にして
配設されている。
原理説明図であり、図中Ｓは被測定物たるストリ
ツプ、５０は光源、５１，５２は一次元センサを
示している。ストリツプＳは図面の表裏方向に移
送されるようにしてあり、その移送域の下方に光
源５０が配設され、また上方にストリツプＳの両
側エツジ部の移動域を含むその両側近傍領域にわ
たるよう一次元センサ５１，５２が配設されてい
る。光源５０はストリツプＳの幅寸法よりも十分
長い寸法を有しストリツプＳの移動域下にその移
動方向と直交する向きに配設されており、また一
次元センサ５１，５２はリニアダイオードアレイ
等にて構成されており、夫々光源５０と対向して
ストリツプＳの移動域上方に張り出したアーム５
３にその長手方向を光源５０のそれと平行にして
配設されている。
而して光源５０からストリツプＳの下面側に向
けて投光し、ストリツプＳによつて遮られること
なく一次元センサ５１，５２に受光された領域の
長さl1，l2を検出し、これと両一次元センサ５１，
５２の両外側端間距離ＬとからストリツプＳの幅
寸法Ｗを下記(1)式に従い算出する方法である。
けて投光し、ストリツプＳによつて遮られること
なく一次元センサ５１，５２に受光された領域の
長さl1，l2を検出し、これと両一次元センサ５１，
５２の両外側端間距離ＬとからストリツプＳの幅
寸法Ｗを下記(1)式に従い算出する方法である。
Ｗ＝Ｌ―（l1＋l2） ……(1)
しかしこの寸法は光学式のために、圧延過程で
用いられる多量の水、或いは発生する蒸気の影響
を受け易く、また通常多段圧延機の場合、圧延機
間に配設されている張力調節用のルーパのため光
源等の設置スペースを得がたく、そのうえルーパ
のためにストリツプＳの上下移動が激しくて誤差
が大きくなり更に例えば幅寸法が大幅に異なるス
トリツプに測定対象を切り換える際には両一次元
センサ５１，５２もそれに合せて移動調節する必
要があるがそのための高精度の移動調節機構も欠
くことが出来ず設備コストも高くなるなどの難点
があつた。
用いられる多量の水、或いは発生する蒸気の影響
を受け易く、また通常多段圧延機の場合、圧延機
間に配設されている張力調節用のルーパのため光
源等の設置スペースを得がたく、そのうえルーパ
のためにストリツプＳの上下移動が激しくて誤差
が大きくなり更に例えば幅寸法が大幅に異なるス
トリツプに測定対象を切り換える際には両一次元
センサ５１，５２もそれに合せて移動調節する必
要があるがそのための高精度の移動調節機構も欠
くことが出来ず設備コストも高くなるなどの難点
があつた。
本発明はかかる事情に鑑みなされたものであつ
てその目的とするところは板材表面に密接して転
動するローラ、例えばルーパローラと超音波とを
用いることによつて蒸気を含む雰囲気等に影響さ
れず、また板材の上、下移動にも影響されること
なく正確な測定が出来、更に設備コストも安価に
済む板幅測定方法及びその装置を提供するにあ
る。
てその目的とするところは板材表面に密接して転
動するローラ、例えばルーパローラと超音波とを
用いることによつて蒸気を含む雰囲気等に影響さ
れず、また板材の上、下移動にも影響されること
なく正確な測定が出来、更に設備コストも安価に
済む板幅測定方法及びその装置を提供するにあ
る。
本発明に係る板幅測定方法は板材の表面に、そ
の幅寸法よりも長い軸長寸法を有するローラを圧
接させつつ、ローラの両端側から中央部側に伝播
する表面波を生ぜしめるべくローラの両端側に超
音波を入射させると共に、ローラの中央側からの
反射波を検出し、超音波の入射点と板材の両端側
が密着しているローラ表面部との間の表面波往復
伝播時間に基いて板材の幅寸法を算出することを
特徴とする。
の幅寸法よりも長い軸長寸法を有するローラを圧
接させつつ、ローラの両端側から中央部側に伝播
する表面波を生ぜしめるべくローラの両端側に超
音波を入射させると共に、ローラの中央側からの
反射波を検出し、超音波の入射点と板材の両端側
が密着しているローラ表面部との間の表面波往復
伝播時間に基いて板材の幅寸法を算出することを
特徴とする。
以下先ず本発明に係る板幅測定方法の原理につ
いて説明する。第１図は本発明に板幅測定方法
（以下本発明方法という）の原理を示す説明図で
あり、図中Ｂは板材、３はローラを示している。
ローラ３は鋼製であつて板材Ｂの幅寸法よりも長
い軸長寸法を有し、板材Ｂの移動方向と直交する
向きに枢支され周面を板材Ｂの下面に圧接させた
状態で転動するようになつている。ローラ３の両
端部外周面には軸長方向に所要の間隔を隔てて相
対向する一対の超音波の発、受信用振動子５，５
が夫々ローラ３の表面に沿つて両端側から中央側
に向う表面波を生ぜしめるべくローラ３の両端側
周囲に超音波を入射し、且つローラ３の中央部側
からの反射波を受信すべく配設されている。而し
て各振動子５，５からは所定のタイミングでロー
ラ３の表面に超音波が入射され、表面波としてロ
ーラ３の両端側から中央部側に向けて伝播され
る。表面波がローラ３における板材Ｂの両側エツ
ジ部が圧接している部分に迄達すると、この部分
では音響インピーダンスが変化しているため、表
面波の一部が反射され、その反射エコーが振動子
５，５にて捉えられる。
いて説明する。第１図は本発明に板幅測定方法
（以下本発明方法という）の原理を示す説明図で
あり、図中Ｂは板材、３はローラを示している。
ローラ３は鋼製であつて板材Ｂの幅寸法よりも長
い軸長寸法を有し、板材Ｂの移動方向と直交する
向きに枢支され周面を板材Ｂの下面に圧接させた
状態で転動するようになつている。ローラ３の両
端部外周面には軸長方向に所要の間隔を隔てて相
対向する一対の超音波の発、受信用振動子５，５
が夫々ローラ３の表面に沿つて両端側から中央側
に向う表面波を生ぜしめるべくローラ３の両端側
周囲に超音波を入射し、且つローラ３の中央部側
からの反射波を受信すべく配設されている。而し
て各振動子５，５からは所定のタイミングでロー
ラ３の表面に超音波が入射され、表面波としてロ
ーラ３の両端側から中央部側に向けて伝播され
る。表面波がローラ３における板材Ｂの両側エツ
ジ部が圧接している部分に迄達すると、この部分
では音響インピーダンスが変化しているため、表
面波の一部が反射され、その反射エコーが振動子
５，５にて捉えられる。
第２図イ，ロは振動子５，５で捉えたエコーの
例を示す波形図であり、夫々横軸に逆向きに時間
軸をとつて示している。図中A0，A′0は振動子
５，５とローラ３の表面との界面からの反射エコ
ー、A1，A′1は板材Ｂの両側エツジ部が圧接して
いることによる音響インピーダンス変化部分から
の反射エコーを示している。而してローラ３表面
に対する超音波入射点A0，A′0とローラ３におけ
る板材Ｂの両側エツジ部が密接している部分との
表面波往復伝播時間t1，t2、換言すれば第２図
イ，ロに示す如く反射エコーA0，A′0のピーク値
から反射エコーA0，A′0のピーク値迄の時間、ロ
ーラ３表面に対する超音波入射点A0，A′0間の距
離Ｌ及びローラ３における表面波伝播速度ｖに基
いて超音波入射点A0，A′0と板材Ｂの両側エツジ
部との距離l1，l2が下記(2)，(3)式で与えられ、こ
れに基いて前述した(1)式に従い板材Ｂの幅寸法Ｗ
が算出できることとなる。
例を示す波形図であり、夫々横軸に逆向きに時間
軸をとつて示している。図中A0，A′0は振動子
５，５とローラ３の表面との界面からの反射エコ
ー、A1，A′1は板材Ｂの両側エツジ部が圧接して
いることによる音響インピーダンス変化部分から
の反射エコーを示している。而してローラ３表面
に対する超音波入射点A0，A′0とローラ３におけ
る板材Ｂの両側エツジ部が密接している部分との
表面波往復伝播時間t1，t2、換言すれば第２図
イ，ロに示す如く反射エコーA0，A′0のピーク値
から反射エコーA0，A′0のピーク値迄の時間、ロ
ーラ３表面に対する超音波入射点A0，A′0間の距
離Ｌ及びローラ３における表面波伝播速度ｖに基
いて超音波入射点A0，A′0と板材Ｂの両側エツジ
部との距離l1，l2が下記(2)，(3)式で与えられ、こ
れに基いて前述した(1)式に従い板材Ｂの幅寸法Ｗ
が算出できることとなる。
l1＝1/2t1 ｖ ……(2)
l2＝1/2t2 ｖ ……(3)
次に本発明に係る板幅測定方及びその実施のた
めの装置を圧延機間のルーパロールを利用した構
成につき具体的に説明する。
めの装置を圧延機間のルーパロールを利用した構
成につき具体的に説明する。
第３図は本発明に係る板幅測定方法（以下本発
明方法という）を実施するための装置（以下本発
明装置という）を示す模式的側面図、第４図は本
発明装置の模式図であり、図中Ｓはストリツプ、
１，２は相隣する圧延機、３は両圧延機間に配設
されたルーパロールを示している。ストリツプＳ
は矢符方向に移送されて両圧延機１，２を経る過
程でルーパロール３によつて所要の張力を付与さ
れつつ圧延されるようになつている。ルーパロー
ル３は鋼製であつて第４図に示す如くその両端部
を支持アーム４，４の先端部に軸受部４ａ，４ａ
を介して回転自在に軸支されており支持アーム
４，４の基端部回りに上、下方向に回動調節さ
れ、ストリツプＳに対する張力を制御するように
なつている。ルーパロール３の両端部外周面には
一対の超音波送、受信用の振動子５，５が軸長方
向に所定の間隔を隔てて相対向させ、且つルーパ
ロール３の表面に対して、その両端側から中央部
側に向う表面波を生ぜしめるべくルーパロール表
面に超音波を入射せしめ得るよう配設されてい
る。
明方法という）を実施するための装置（以下本発
明装置という）を示す模式的側面図、第４図は本
発明装置の模式図であり、図中Ｓはストリツプ、
１，２は相隣する圧延機、３は両圧延機間に配設
されたルーパロールを示している。ストリツプＳ
は矢符方向に移送されて両圧延機１，２を経る過
程でルーパロール３によつて所要の張力を付与さ
れつつ圧延されるようになつている。ルーパロー
ル３は鋼製であつて第４図に示す如くその両端部
を支持アーム４，４の先端部に軸受部４ａ，４ａ
を介して回転自在に軸支されており支持アーム
４，４の基端部回りに上、下方向に回動調節さ
れ、ストリツプＳに対する張力を制御するように
なつている。ルーパロール３の両端部外周面には
一対の超音波送、受信用の振動子５，５が軸長方
向に所定の間隔を隔てて相対向させ、且つルーパ
ロール３の表面に対して、その両端側から中央部
側に向う表面波を生ぜしめるべくルーパロール表
面に超音波を入射せしめ得るよう配設されてい
る。
またルーパロール３の両端部周面には前記振動
子５，５に対し周方向に所要の間隔を隔ててこれ
に高電圧の給電を行う高圧発信回路５ａ，５ａが
配設されており、この各高圧発信回路５ａ，５ａ
はルーパロール３の軸部に設けたスリツプリング
（図示せず）と、このスリツプリングに摺接する
ブラシ（図示せず）を介して支持アーム４，４に
設けた電池（直流電源でもよい）５ｂ，５ｂに接
続されている。電池５ｂ，５ｂから高圧発信回路
５ａ，５ａへの給電は水分の多い環境を考慮して
10〜50Vの低電圧にて行ない、高圧発振回路５
ａ，５ｂにて1KV前後に昇圧して振動子５，５
に給電を行うようにしてある。なお給電手段につ
いては特に上述の構成にのみ限定するものではな
く例えば電池自体も直接ローラ３の表面に固定す
ることとしてもよい。この振動子５，５を覆うべ
くルーパロール３の両端部外周には内カバー６，
６がまた支持アーム４，４の先端部には外カバー
７，７が装着されている。各内カバー６は外周面
及び両側面を覆う断面字形をなす環状に形成さ
れており、水蒸気を遮断すべく振動子５，５及び
高圧発振回路５ａ，５ｂの外周を覆う態様でルー
パロール３の外周に外嵌固定されている。
子５，５に対し周方向に所要の間隔を隔ててこれ
に高電圧の給電を行う高圧発信回路５ａ，５ａが
配設されており、この各高圧発信回路５ａ，５ａ
はルーパロール３の軸部に設けたスリツプリング
（図示せず）と、このスリツプリングに摺接する
ブラシ（図示せず）を介して支持アーム４，４に
設けた電池（直流電源でもよい）５ｂ，５ｂに接
続されている。電池５ｂ，５ｂから高圧発信回路
５ａ，５ａへの給電は水分の多い環境を考慮して
10〜50Vの低電圧にて行ない、高圧発振回路５
ａ，５ｂにて1KV前後に昇圧して振動子５，５
に給電を行うようにしてある。なお給電手段につ
いては特に上述の構成にのみ限定するものではな
く例えば電池自体も直接ローラ３の表面に固定す
ることとしてもよい。この振動子５，５を覆うべ
くルーパロール３の両端部外周には内カバー６，
６がまた支持アーム４，４の先端部には外カバー
７，７が装着されている。各内カバー６は外周面
及び両側面を覆う断面字形をなす環状に形成さ
れており、水蒸気を遮断すべく振動子５，５及び
高圧発振回路５ａ，５ｂの外周を覆う態様でルー
パロール３の外周に外嵌固定されている。
また外カバー７，７は前記内カバー６，６の外
周、並びに電池５ｂ，５ｂの外囲を覆うべく支持
アーム４，４の先端部に被嵌されている。８は演
算部であつて、両振動子５，５にて受信した反射
エコーをフイルタリングし、またゲート処理を施
した後、超音波入射点とストリツプＳの両側エツ
ジ部が圧接しているルーパロールにおける音響イ
ンピーダンスの変化部分との間の超音波伝播時間
t1，t2、ルーパロール３表面の超音波伝播速度Ｖ
及びルーパロール３表面に対する超音波入射点間
距離Ｌに基いて前記(1)式に従う演算を行いストリ
ツプＳの幅寸法を検出し、表示器９に表示するよ
うになつている。なお図面には示していないが支
持アーム４，４にはルーパロール３に水、スケー
ル等が付着しないような適切なパージ手段が設け
られている。
周、並びに電池５ｂ，５ｂの外囲を覆うべく支持
アーム４，４の先端部に被嵌されている。８は演
算部であつて、両振動子５，５にて受信した反射
エコーをフイルタリングし、またゲート処理を施
した後、超音波入射点とストリツプＳの両側エツ
ジ部が圧接しているルーパロールにおける音響イ
ンピーダンスの変化部分との間の超音波伝播時間
t1，t2、ルーパロール３表面の超音波伝播速度Ｖ
及びルーパロール３表面に対する超音波入射点間
距離Ｌに基いて前記(1)式に従う演算を行いストリ
ツプＳの幅寸法を検出し、表示器９に表示するよ
うになつている。なお図面には示していないが支
持アーム４，４にはルーパロール３に水、スケー
ル等が付着しないような適切なパージ手段が設け
られている。
かく構成した本発明装置にあつては、ストリツ
プＳが両圧延機１，２間をルーパロール３にて所
要の張力を付与されつつ圧延されている状態にお
いて、所定のタイミングで振動子５，５に発信指
令信号を発して各振動子５，５から超音波を発せ
しめると、超音波は夫々ルーパロール３の両端側
表面に入射され、表面波としてルーパロール３の
両端側から中央部側に向けて伝播され、ストリツ
プＳの両端部が密着している音響インピーダンス
の変化部分に迄達すると、その一部が反射され、
反射エコーとして振動子５，５に受信され、演算
部８に読み込まれて超音波入射時点から反射エコ
ー受信時迄の表面波伝播時間が検出され、予め入
力されているルーパロール３表面の表面波伝播速
度ｖ及び両振動子５，５による超音波入射点間距
離Ｌに基いて前記(1)式に従いストリツプＳの幅寸
法が算出されることとなる。なお表面波の周波数
はそれが低い程透過性が良好となる波束が広がり
易くなるため、要求精度、板材Ｂの幅寸法等に合
せて適切な周波数に定めればよい。例えば熱延ス
トリツプの幅寸法が2000mmの場合表面波周波数を
2MHzとすると１mm以下の精度が得られることが
確認された。
プＳが両圧延機１，２間をルーパロール３にて所
要の張力を付与されつつ圧延されている状態にお
いて、所定のタイミングで振動子５，５に発信指
令信号を発して各振動子５，５から超音波を発せ
しめると、超音波は夫々ルーパロール３の両端側
表面に入射され、表面波としてルーパロール３の
両端側から中央部側に向けて伝播され、ストリツ
プＳの両端部が密着している音響インピーダンス
の変化部分に迄達すると、その一部が反射され、
反射エコーとして振動子５，５に受信され、演算
部８に読み込まれて超音波入射時点から反射エコ
ー受信時迄の表面波伝播時間が検出され、予め入
力されているルーパロール３表面の表面波伝播速
度ｖ及び両振動子５，５による超音波入射点間距
離Ｌに基いて前記(1)式に従いストリツプＳの幅寸
法が算出されることとなる。なお表面波の周波数
はそれが低い程透過性が良好となる波束が広がり
易くなるため、要求精度、板材Ｂの幅寸法等に合
せて適切な周波数に定めればよい。例えば熱延ス
トリツプの幅寸法が2000mmの場合表面波周波数を
2MHzとすると１mm以下の精度が得られることが
確認された。
第５図は本発明方法及びその実施に使用する装
置に用いるルーパロールの他の例を示す模式図で
ありルーパロール３′の外周面における両振動子
５，５の固定位置から軸長方向の中央部側に所要
の寸法を隔てた位置に夫々軸長方向に正確に寸法
l0を隔てて２個一組とする２組の伝播速度校正用
のノツチ３ａ，３a′，３ｂ，３b′が形成されてお
り、振動子５，５から発射されルーパロール３′
表面を伝播される表面波の一部が夫々各ノツチ３
ａ，３a′，３ｂ，３b′からも反射されるようにし
てある。第６図イ，ロは各振動子５，５にて受信
した反射エコーの波形図であり、横軸に時間軸
（第６図イとロでは逆向き）をとつて示してある。
図中E0，E′0は振動子５，５とルーパロール３′表
面との界面からの反射エコー、またE1，E2，E′1，
E′2は各ノツチ３ａ，３a′，３ｂ，３b′からの反
射エコー、E3，E′3はストリツプＳのエツジ部が
圧接している音響インピーダンス変化部分からの
反射エコーを示している。波形図中E0，E1，E2，
E′0，E′1，E′2は常時出現するが、E3，E′3はルー
パロール３周面のうち各振動子５，５間にストリ
ツプＳが接した状態において振動子５，５から超
音波が入射されたときにのみ出現する。従つてス
トリツプＳの幅寸法を検出するときはA3，A′3が
出現すると考えられる領域にゲートG1，G′1を設
定し、また表面波伝播速度ｖの校正時には反射エ
コーE1，E2，E′1，E′2が出現する領域に夫々ゲー
トG2，G′2を設定して反射エコーを弁別して検出
するようにする。
置に用いるルーパロールの他の例を示す模式図で
ありルーパロール３′の外周面における両振動子
５，５の固定位置から軸長方向の中央部側に所要
の寸法を隔てた位置に夫々軸長方向に正確に寸法
l0を隔てて２個一組とする２組の伝播速度校正用
のノツチ３ａ，３a′，３ｂ，３b′が形成されてお
り、振動子５，５から発射されルーパロール３′
表面を伝播される表面波の一部が夫々各ノツチ３
ａ，３a′，３ｂ，３b′からも反射されるようにし
てある。第６図イ，ロは各振動子５，５にて受信
した反射エコーの波形図であり、横軸に時間軸
（第６図イとロでは逆向き）をとつて示してある。
図中E0，E′0は振動子５，５とルーパロール３′表
面との界面からの反射エコー、またE1，E2，E′1，
E′2は各ノツチ３ａ，３a′，３ｂ，３b′からの反
射エコー、E3，E′3はストリツプＳのエツジ部が
圧接している音響インピーダンス変化部分からの
反射エコーを示している。波形図中E0，E1，E2，
E′0，E′1，E′2は常時出現するが、E3，E′3はルー
パロール３周面のうち各振動子５，５間にストリ
ツプＳが接した状態において振動子５，５から超
音波が入射されたときにのみ出現する。従つてス
トリツプＳの幅寸法を検出するときはA3，A′3が
出現すると考えられる領域にゲートG1，G′1を設
定し、また表面波伝播速度ｖの校正時には反射エ
コーE1，E2，E′1，E′2が出現する領域に夫々ゲー
トG2，G′2を設定して反射エコーを弁別して検出
するようにする。
ストリツプＳの幅寸法測定時の信号処理につい
ては前述した実施例と同様である。一方表面波の
伝播速度校正時にはゲートG2，G′2の設定によつ
て反射エコーE1，E′1のピーク値からE2，E′2のピ
ーク値迄の時間tE2−tE1，t′E2−t′E1を検出する。
ルーパロール３′表面における超音波伝播速度v1，
v2は下記(4)，(4)′式によつて与えられる。所要の
タイミングにてこの超音波伝播速度を反復して算
出することによつて v1＝2l0／tE2−tE1 ……(4) v2＝2l0／t′E2−t′E1 ……(4)′ これらv1，v2或いはその平均値を演算し、ルー
パロール温度、或いはストリツプＳの張力等の変
化に起因する表面波伝播速度の変化を提えてこれ
を校正することが可能となり、ストリツプＳの幅
寸法精度がルーパロール温度等に何ら影響される
ことがなくなる。
ては前述した実施例と同様である。一方表面波の
伝播速度校正時にはゲートG2，G′2の設定によつ
て反射エコーE1，E′1のピーク値からE2，E′2のピ
ーク値迄の時間tE2−tE1，t′E2−t′E1を検出する。
ルーパロール３′表面における超音波伝播速度v1，
v2は下記(4)，(4)′式によつて与えられる。所要の
タイミングにてこの超音波伝播速度を反復して算
出することによつて v1＝2l0／tE2−tE1 ……(4) v2＝2l0／t′E2−t′E1 ……(4)′ これらv1，v2或いはその平均値を演算し、ルー
パロール温度、或いはストリツプＳの張力等の変
化に起因する表面波伝播速度の変化を提えてこれ
を校正することが可能となり、ストリツプＳの幅
寸法精度がルーパロール温度等に何ら影響される
ことがなくなる。
以上の如く本発明方法及び装置にあつては圧延
機間において板材表面に転接されるローラの設置
できる場所があれば板幅測定が可能となり設置場
所を制限されることがなく、また板材の位置変化
或いはローラ温度等に影響されることなく板幅を
測定し得て板幅測定精度が大幅に向上し、その上
圧延機の近くでの測定が可能となつて以後の圧延
機に対するフイードフオワードデータとして有効
に利用できるなど本発明は優れた効果を奏するも
のである。
機間において板材表面に転接されるローラの設置
できる場所があれば板幅測定が可能となり設置場
所を制限されることがなく、また板材の位置変化
或いはローラ温度等に影響されることなく板幅を
測定し得て板幅測定精度が大幅に向上し、その上
圧延機の近くでの測定が可能となつて以後の圧延
機に対するフイードフオワードデータとして有効
に利用できるなど本発明は優れた効果を奏するも
のである。
第１図は本発明方法の原理説明図、第２図イ，
ロは振動子により捉えた反射エコーの波形図、第
３図は本発明方法を実施する装置の模式的側面
図、第４図は本発明装置の模式図、第５図は本発
明方法及び装置において用いるローラの他の例を
示す模式図、第６図イ，ロは第５図に示すローラ
を用いた場合における振動子で捉えた波形図、第
７図は従来装置の模式図である。 Ｂ……板材、Ｓ……ストリツプ、１，２……圧
延機、３……ルーパロール、４……支持アーム、
４ａ，４ａ……軸受部、５……振動子、５ａ……
高圧発振回路、５ｂ……電池、６……内カバー、
７……外カバー、８……演算部、９……表示部。
ロは振動子により捉えた反射エコーの波形図、第
３図は本発明方法を実施する装置の模式的側面
図、第４図は本発明装置の模式図、第５図は本発
明方法及び装置において用いるローラの他の例を
示す模式図、第６図イ，ロは第５図に示すローラ
を用いた場合における振動子で捉えた波形図、第
７図は従来装置の模式図である。 Ｂ……板材、Ｓ……ストリツプ、１，２……圧
延機、３……ルーパロール、４……支持アーム、
４ａ，４ａ……軸受部、５……振動子、５ａ……
高圧発振回路、５ｂ……電池、６……内カバー、
７……外カバー、８……演算部、９……表示部。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 板材の表面にその幅寸法よりも長い軸長寸法
を有するローラを圧接させつつ、ローラの両端側
から中央部側に伝播する表面波を生ぜしめるべく
超音波をローラの両端側に入射させると共に、ロ
ーラの中央部側からの反射波を検出し、超音波の
入射点と、板材の両端部が圧接しているロール表
面部との間の表面波往復伝播時間に基いて板材の
幅寸法を算出することを特徴とする板幅測定方
法。 ２ ストリツプの移送方向と直交する向きに配設
され、ストリツプの表面に転接するストリツプの
幅寸法よりも長い軸長寸法を有するローラと、該
ローラの両端側周面に軸長方向に所要の間隔を隔
てて対向配置され、ローラ表面を両端側から中央
部側に伝播する表面波を生ぜしめるべくローラの
両端側に超音波を入射させ、且つストリツプの両
端部が転接する部分からの表面波の反射波を検出
する振動子と、超音波入射点とストリツプの両端
部が転接する部分との間の表面波往復伝播時間、
超音波の入射点間の離隔寸法及びローラ表面の表
面波伝播速度に基いてストリツプの幅寸法を算出
する演算部とを具備することを特徴とする板幅測
定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4987882A JPS58166206A (ja) | 1982-03-27 | 1982-03-27 | 板幅測定方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4987882A JPS58166206A (ja) | 1982-03-27 | 1982-03-27 | 板幅測定方法及びその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58166206A JPS58166206A (ja) | 1983-10-01 |
| JPH0123042B2 true JPH0123042B2 (ja) | 1989-04-28 |
Family
ID=12843298
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4987882A Granted JPS58166206A (ja) | 1982-03-27 | 1982-03-27 | 板幅測定方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58166206A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2683899A1 (fr) * | 1991-11-20 | 1993-05-21 | Siderurgie Fse Inst Rech | Procede et dispositif de mesure de la largeur d'une bande mince en defilement continu. |
| DE102006029139A1 (de) * | 2006-06-22 | 2007-12-27 | Betriebsforschungsinstitut VDEh - Institut für angewandte Forschung GmbH | Meßvorrichtung zur Bestimmung der Bandkantenlage, der Bandbreite und/oder der Zugspannungsverteilung über die Bandbreite eines Bandes |
-
1982
- 1982-03-27 JP JP4987882A patent/JPS58166206A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58166206A (ja) | 1983-10-01 |
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