JPH01220876A - 酸化物超伝導体膜の配線化方法 - Google Patents
酸化物超伝導体膜の配線化方法Info
- Publication number
- JPH01220876A JPH01220876A JP63047722A JP4772288A JPH01220876A JP H01220876 A JPH01220876 A JP H01220876A JP 63047722 A JP63047722 A JP 63047722A JP 4772288 A JP4772288 A JP 4772288A JP H01220876 A JPH01220876 A JP H01220876A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wiring
- oxide superconductor
- film
- superconductor film
- substrate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000002887 superconductor Substances 0.000 title claims abstract description 57
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 24
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 10
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims abstract description 10
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 10
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims abstract description 9
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 14
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 3
- 239000000470 constituent Substances 0.000 claims description 2
- 238000000059 patterning Methods 0.000 claims description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 abstract description 33
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 21
- 239000010409 thin film Substances 0.000 abstract description 7
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 abstract description 6
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 4
- 238000005530 etching Methods 0.000 abstract description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 2
- 229910003098 YBa2Cu3O7−x Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 abstract description 2
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 abstract description 2
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 abstract description 2
- 238000000992 sputter etching Methods 0.000 abstract description 2
- 229910009203 Y-Ba-Cu-O Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 25
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 6
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 6
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 5
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N Magnesium oxide Chemical compound [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 2
- VEALVRVVWBQVSL-UHFFFAOYSA-N strontium titanate Chemical compound [Sr+2].[O-][Ti]([O-])=O VEALVRVVWBQVSL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- 229910052692 Dysprosium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052691 Erbium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052693 Europium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052688 Gadolinium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021486 amorphous silicon dioxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 1
- DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N barium atom Chemical compound [Ba] DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003486 chemical etching Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 description 1
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 1
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
- 238000007738 vacuum evaporation Methods 0.000 description 1
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 description 1
- VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N yttrium atom Chemical compound [Y] VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は酸化物超伝導体膜の配線化方法に関し、特にエ
レクトロニクスへの応用に有用な単結晶化及び結晶成長
温度の低温化を図った酸化物超伝導体膜の配線化方法に
関するものである。
レクトロニクスへの応用に有用な単結晶化及び結晶成長
温度の低温化を図った酸化物超伝導体膜の配線化方法に
関するものである。
(従来の技術)
酸化物超伝導体配線を形成するためには、この薄膜化技
術が不可欠である。現在までに、真空蒸着法やスパッタ
法を用いて酸化物超伝導体膜をマグネシア(MgO)や
サファイヤ(Al□03)基板上にlpm程度被着し、
引き続き酸素雰囲気中850〜1000°Cで数時間熱
処理することにより、液体窒素温度(77K)以上の高
い超伝導転移温度を示す薄膜が得られている。しかしな
がら、これらの薄膜は通常多結晶であるため、各結晶粒
が結晶粒界によって分離された構造をとる。この結晶粒
界は超伝導性をもたない半導体的あるいは絶縁体的性質
の相で構成されるため、たとえ結晶粒が高温超伝導性を
有する相であっても結晶粒界が弱結合領域となって超伝
導臨界電流が抑制される。一般に、超伝導体薄膜を配線
に適用するためには10’A/cm2以上の大きな臨界
電流が必要なため、結晶粒界の存在は非常に大きな問題
である。また、高温超伝導性を示す多結晶膜では結晶粒
の成長が著しく、膜厚に匹敵する凹凸を生じる。この表
面荒れはりソグラフィらドライエツチングなどの微細加
工技術を用いた配線の作製を著しく困難にする。
術が不可欠である。現在までに、真空蒸着法やスパッタ
法を用いて酸化物超伝導体膜をマグネシア(MgO)や
サファイヤ(Al□03)基板上にlpm程度被着し、
引き続き酸素雰囲気中850〜1000°Cで数時間熱
処理することにより、液体窒素温度(77K)以上の高
い超伝導転移温度を示す薄膜が得られている。しかしな
がら、これらの薄膜は通常多結晶であるため、各結晶粒
が結晶粒界によって分離された構造をとる。この結晶粒
界は超伝導性をもたない半導体的あるいは絶縁体的性質
の相で構成されるため、たとえ結晶粒が高温超伝導性を
有する相であっても結晶粒界が弱結合領域となって超伝
導臨界電流が抑制される。一般に、超伝導体薄膜を配線
に適用するためには10’A/cm2以上の大きな臨界
電流が必要なため、結晶粒界の存在は非常に大きな問題
である。また、高温超伝導性を示す多結晶膜では結晶粒
の成長が著しく、膜厚に匹敵する凹凸を生じる。この表
面荒れはりソグラフィらドライエツチングなどの微細加
工技術を用いた配線の作製を著しく困難にする。
従来、こうした多結晶膜の問題点を解決する単結晶化の
手段として、ピー・チャウダリ(P。
手段として、ピー・チャウダリ(P。
Chaudhari)らによって1987年にフィジカ
ルレピューレターズ(Physical Review
Letterrs)第58巻2684〜2686ペー
ジで提案された方法がある。この方法を第2図(a)〜
(e)を用いて工程順に説明する。まず、チタン酸スト
ロンチウム(SrTiO3) (100)単結晶からな
る基板21上に、10−4〜1O−3Torrの酸素雰
囲気中で3連真空蒸着装置を用いてイツトリウム(Y)
、バリウム(Ba)、銅(Cu)を同時蒸着し、YBa
2CuaO□−エからなる酸化物超伝導体膜22を形成
する(第2図(a))。蒸着時の基板温度は約400°
Cである。引き続き、この酸化物超伝導体膜22を酸素
雰囲気巾約900°Cで熱処理して単結晶化し高温超伝
導性の酸化物超伝導体膜23を形成する(第2図(b)
)。基板21に用いた5rTiOa単結晶は格子定数3
.90人の立方晶であり、高温超伝導性を示す酸素欠損
型ペロブスカイト構造のYBa2Cu3O7−xの格子
定数a=3.82人、 b=3.88人に近い。そのた
め、YBa2Cu30□−8単結晶膜23を5rTtO
a単結晶上にエピタキシャル成長させることが可能であ
る。酸化物超伝導体配線24を作製するには、引き続き
エツチングマスクを用いてドライエツチング法やケミカ
ルエツチング法でパターニングする(第2図(C))。
ルレピューレターズ(Physical Review
Letterrs)第58巻2684〜2686ペー
ジで提案された方法がある。この方法を第2図(a)〜
(e)を用いて工程順に説明する。まず、チタン酸スト
ロンチウム(SrTiO3) (100)単結晶からな
る基板21上に、10−4〜1O−3Torrの酸素雰
囲気中で3連真空蒸着装置を用いてイツトリウム(Y)
、バリウム(Ba)、銅(Cu)を同時蒸着し、YBa
2CuaO□−エからなる酸化物超伝導体膜22を形成
する(第2図(a))。蒸着時の基板温度は約400°
Cである。引き続き、この酸化物超伝導体膜22を酸素
雰囲気巾約900°Cで熱処理して単結晶化し高温超伝
導性の酸化物超伝導体膜23を形成する(第2図(b)
)。基板21に用いた5rTiOa単結晶は格子定数3
.90人の立方晶であり、高温超伝導性を示す酸素欠損
型ペロブスカイト構造のYBa2Cu3O7−xの格子
定数a=3.82人、 b=3.88人に近い。そのた
め、YBa2Cu30□−8単結晶膜23を5rTtO
a単結晶上にエピタキシャル成長させることが可能であ
る。酸化物超伝導体配線24を作製するには、引き続き
エツチングマスクを用いてドライエツチング法やケミカ
ルエツチング法でパターニングする(第2図(C))。
(発明が解決しようとする課題)
この方法では、配線に用いる酸化物超伝導体膜は単結晶
基板上へのエピタキシャル成長によって単結晶化が図ら
れる。そのため、基板は成長させようとする酸化物超伝
導体膜と格子整合性のよい単結晶体でなければならない
。実際のデバイスでは多層配線をセ・要とするものが多
いが、従来のエピタキシャル成長技術では、基板と直接
接することのない上層部に単結晶の酸化物超伝導体配線
を作製することは難しい。
基板上へのエピタキシャル成長によって単結晶化が図ら
れる。そのため、基板は成長させようとする酸化物超伝
導体膜と格子整合性のよい単結晶体でなければならない
。実際のデバイスでは多層配線をセ・要とするものが多
いが、従来のエピタキシャル成長技術では、基板と直接
接することのない上層部に単結晶の酸化物超伝導体配線
を作製することは難しい。
本発明の目的は、このような従来の欠点を取り除いた酸
化物超伝導体膜の配線化方法を提供することにある。
化物超伝導体膜の配線化方法を提供することにある。
(課題を解決するための手段)
本発明は、構成元素として銅を有する酸化物超伝導体膜
の配線化方法において、前記酸化物超伝導体膜の被着時
に銅の平均的組成が化学量論的組成よりも50at%以
内で過剰となるように前記酸化物超伝導体膜を被着した
後、配線形状にパターニングし、引き続き酸素を含む雰
囲気中で配線パターン上をレーザビームで走査して前記
酸化物超伝導体膜を超伝導化することを特徴とする酸化
物超伝導体膜の配線化方法である。
の配線化方法において、前記酸化物超伝導体膜の被着時
に銅の平均的組成が化学量論的組成よりも50at%以
内で過剰となるように前記酸化物超伝導体膜を被着した
後、配線形状にパターニングし、引き続き酸素を含む雰
囲気中で配線パターン上をレーザビームで走査して前記
酸化物超伝導体膜を超伝導化することを特徴とする酸化
物超伝導体膜の配線化方法である。
(作用)
本発明では、酸素を含む雰囲気中で配線パターン上をレ
ーザビームで走査しながら、ビーム照射部を溶融して結
晶化を図る。最初のレーザビーム照射部をまず結晶化し
、この結晶を種としてビームの走査方向にそって結晶を
成長させ単結晶超伝導配線を形成する。しかも、本発明
では化学量論的組成に比べCu過剰の酸化物超伝導体膜
を用いることによって、レーザビーム照射時にこのCu
に基づく酸化鋼(Cub)をフラックスとして作用させ
、酸化物超伝導体膜の結晶化温度を低下させることがで
きる。膜中に含まれる過剰Cu量の増加により結晶化温
度は減少するが、このCu量が10at%以下ではその
効果は小さく、約50at%を越えるとCuOの結晶化
が優先的に起こる。従って、過剰Cu量は10〜50a
t%の範囲であることが好ましい。過剰のCuはレーザ
ビーム照射による溶融部の移動とともに液相状態で移動
し配線パターン端部で偏析するため、配線の超伝導特性
を悪化させることはない。以上のように、本発明によれ
ば、単結晶超伝導配線の形成に、基板材料としてエピタ
キシャル成長用の単結晶体を用いる必要はなく、結晶化
を行うとき基板の温度を上げずに済むので多層配線等の
実デバイスへの応用の可能性が広がる。
ーザビームで走査しながら、ビーム照射部を溶融して結
晶化を図る。最初のレーザビーム照射部をまず結晶化し
、この結晶を種としてビームの走査方向にそって結晶を
成長させ単結晶超伝導配線を形成する。しかも、本発明
では化学量論的組成に比べCu過剰の酸化物超伝導体膜
を用いることによって、レーザビーム照射時にこのCu
に基づく酸化鋼(Cub)をフラックスとして作用させ
、酸化物超伝導体膜の結晶化温度を低下させることがで
きる。膜中に含まれる過剰Cu量の増加により結晶化温
度は減少するが、このCu量が10at%以下ではその
効果は小さく、約50at%を越えるとCuOの結晶化
が優先的に起こる。従って、過剰Cu量は10〜50a
t%の範囲であることが好ましい。過剰のCuはレーザ
ビーム照射による溶融部の移動とともに液相状態で移動
し配線パターン端部で偏析するため、配線の超伝導特性
を悪化させることはない。以上のように、本発明によれ
ば、単結晶超伝導配線の形成に、基板材料としてエピタ
キシャル成長用の単結晶体を用いる必要はなく、結晶化
を行うとき基板の温度を上げずに済むので多層配線等の
実デバイスへの応用の可能性が広がる。
(実施例)
次に第1図を用いて本発明の一実施例を示す。
まず、Y−Ba−Cu−0系ターゲツトを用いたスパッ
タ法により、表面を熱酸化二酸化ケイ素(8102)で
被覆したシリコン(Si)基板11上に、YBa2Cu
3O7−xよりCuが約40at%過−剰な酸化物超伝
導体膜12を約0.5μm被着する(第1図(a))。
タ法により、表面を熱酸化二酸化ケイ素(8102)で
被覆したシリコン(Si)基板11上に、YBa2Cu
3O7−xよりCuが約40at%過−剰な酸化物超伝
導体膜12を約0.5μm被着する(第1図(a))。
スパッタはアルゴン(Ar)と酸素(02)との混合ガ
ス雰囲気中で、基板温度室温〜800°Cで行なう。さ
らに、通常のりソゲラフイエ程で酸化物超伝導体膜12
上にエツチングマスクを形成し、イオンミリング法で酸
化物超伝導体膜12を加工して酸化物超伝導体配線13
を形成する(第1図(b))。この段階では酸化物超伝
導体配線13はアモルファスかアモルファスに近い多結
晶体であるため超伝導性は示さない。次に、酸素フロー
中で酸化物超伝導体配線13表面にArレーザビームを
照射してビーム照射部を溶融、反応させ結晶化領域14
を形成する(第1図(C))。酸化物超伝導体配線13
に沿ってレーザビームを走査し、この走査方向に結晶成
長させ単結晶化した酸化物超伝導体配線15を作製する
(第1図(d))。この配線は80に以上で完全に超伝
導となる。レーザビームアニール条件は、ビームスポッ
ト直径40pm1出力パワー5W走査速度10cm/s
ec、基板温度600°Cである。本実施例に示すよう
に、本発明による方法を用いれば、酸化物超伝導体に対
しても基板に直接エピタキシャル成長させることなく高
温超伝導性を有する単結晶配線が得られる。また、この
膜はアモルファス状のSiO2上にも作製可能なことか
ら、多層構造にも適用でき広くデバイスへの応用が期待
される。
ス雰囲気中で、基板温度室温〜800°Cで行なう。さ
らに、通常のりソゲラフイエ程で酸化物超伝導体膜12
上にエツチングマスクを形成し、イオンミリング法で酸
化物超伝導体膜12を加工して酸化物超伝導体配線13
を形成する(第1図(b))。この段階では酸化物超伝
導体配線13はアモルファスかアモルファスに近い多結
晶体であるため超伝導性は示さない。次に、酸素フロー
中で酸化物超伝導体配線13表面にArレーザビームを
照射してビーム照射部を溶融、反応させ結晶化領域14
を形成する(第1図(C))。酸化物超伝導体配線13
に沿ってレーザビームを走査し、この走査方向に結晶成
長させ単結晶化した酸化物超伝導体配線15を作製する
(第1図(d))。この配線は80に以上で完全に超伝
導となる。レーザビームアニール条件は、ビームスポッ
ト直径40pm1出力パワー5W走査速度10cm/s
ec、基板温度600°Cである。本実施例に示すよう
に、本発明による方法を用いれば、酸化物超伝導体に対
しても基板に直接エピタキシャル成長させることなく高
温超伝導性を有する単結晶配線が得られる。また、この
膜はアモルファス状のSiO2上にも作製可能なことか
ら、多層構造にも適用でき広くデバイスへの応用が期待
される。
本実施例では、被着時におけるCuの組成が化学量論的
組成よりも約40at%過剰なY−Ba−Cu−0薄膜
に関して説明したが、5oat%以内であれば過剰なC
uによる結晶化温度の低減効果が認められた。また、Y
の代わりにEu、 Gd、 Dy、 Er’、 Ybな
と他の希土類元素を構成元素とする酸化物超伝導体やL
a−8r−Cu−0系など他の酸化物超伝導体の薄膜に
適用することができる。基板には、表面をSiO□で被
覆したSi基板を使用したが、5rTio3やMgOな
ど従来酸化物超伝導体膜によく用いられている材料から
なる基板を用いてもよい。特に酸化物超伝導体と格子整
合性のよい単結晶基板をレーザビームアニールのシード
として用いれば、基板の結晶面の選択により酸化物超伝
導体配線の結晶方位を制御することができる。本実施例
ではスパッタ法により酸化物超伝導体膜を被着したが、
蒸着法やCVD法など他の成膜技術で被着することもで
きる。さらに、本実施例のArレーザビームアニール法
に変わる技術として、CO□、YAGレーザビームアニ
ール法や電子ビームアニール法があることは言うまでも
ない。
組成よりも約40at%過剰なY−Ba−Cu−0薄膜
に関して説明したが、5oat%以内であれば過剰なC
uによる結晶化温度の低減効果が認められた。また、Y
の代わりにEu、 Gd、 Dy、 Er’、 Ybな
と他の希土類元素を構成元素とする酸化物超伝導体やL
a−8r−Cu−0系など他の酸化物超伝導体の薄膜に
適用することができる。基板には、表面をSiO□で被
覆したSi基板を使用したが、5rTio3やMgOな
ど従来酸化物超伝導体膜によく用いられている材料から
なる基板を用いてもよい。特に酸化物超伝導体と格子整
合性のよい単結晶基板をレーザビームアニールのシード
として用いれば、基板の結晶面の選択により酸化物超伝
導体配線の結晶方位を制御することができる。本実施例
ではスパッタ法により酸化物超伝導体膜を被着したが、
蒸着法やCVD法など他の成膜技術で被着することもで
きる。さらに、本実施例のArレーザビームアニール法
に変わる技術として、CO□、YAGレーザビームアニ
ール法や電子ビームアニール法があることは言うまでも
ない。
(発明の効果)
本発明によれば、スパッタ法やCVD法などで被着され
た通常の絶縁膜上にも、優れた超伝導特性を有する単結
晶化された酸化物超伝導体配線を作製することができる
。従って、本発明による方法は多層構造の酸化物超伝導
体配線を必要とする多くのエレクトロニクスデバイスに
適用することが可能である。
た通常の絶縁膜上にも、優れた超伝導特性を有する単結
晶化された酸化物超伝導体配線を作製することができる
。従って、本発明による方法は多層構造の酸化物超伝導
体配線を必要とする多くのエレクトロニクスデバイスに
適用することが可能である。
第1図(a)〜(d)は本発明の酸化物超伝導体配線の
作製方法を工程順に示す断面図、第2図(a)〜(C)
は従来の酸化物超伝導体配線の作製方法を示す断面図で
ある。 図において、11.21は基板、12.22は酸化物超
伝導体膜、13は酸化物超伝導体配線、1′4は結晶化
領域、15は単結晶化した酸化物超伝導体配線、23は
高温超伝導性の酸化物超伝導体膜、24は高温超伝導性
の酸化物超伝導体配線である。
作製方法を工程順に示す断面図、第2図(a)〜(C)
は従来の酸化物超伝導体配線の作製方法を示す断面図で
ある。 図において、11.21は基板、12.22は酸化物超
伝導体膜、13は酸化物超伝導体配線、1′4は結晶化
領域、15は単結晶化した酸化物超伝導体配線、23は
高温超伝導性の酸化物超伝導体膜、24は高温超伝導性
の酸化物超伝導体配線である。
Claims (1)
- 構成元素として銅を有する酸化物超伝導体膜の配線化
方法において、前記酸化物超伝導体膜の被着時に銅の平
均的組成が化学量論的組成よりも50at%以内で過剰
となるように前記酸化物超伝導体膜を被着した後、配線
形状にパターニングし、引き続き酸素を含む雰囲気中で
配線パターン上をレーザビームで走査して前記酸化物超
伝導体膜を超伝導化することを特徴とする酸化物超伝導
体膜の配線化方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63047722A JPH01220876A (ja) | 1988-02-29 | 1988-02-29 | 酸化物超伝導体膜の配線化方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63047722A JPH01220876A (ja) | 1988-02-29 | 1988-02-29 | 酸化物超伝導体膜の配線化方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01220876A true JPH01220876A (ja) | 1989-09-04 |
Family
ID=12783213
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63047722A Pending JPH01220876A (ja) | 1988-02-29 | 1988-02-29 | 酸化物超伝導体膜の配線化方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01220876A (ja) |
-
1988
- 1988-02-29 JP JP63047722A patent/JPH01220876A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5173474A (en) | Silicon substrate having an epitaxial superconducting layer thereon and method of making same | |
US5358925A (en) | Silicon substrate having YSZ epitaxial barrier layer and an epitaxial superconducting layer | |
US5077266A (en) | Method of forming weak-link josephson junction, and superconducting device employing the junction | |
JPH01320224A (ja) | 超伝導体構造体 | |
JP3278638B2 (ja) | 高温超伝導ジョセフソン接合およびその製造方法 | |
JPH0577347B2 (ja) | ||
JPH07267791A (ja) | 酸化物超電導体薄膜の製造方法及び酸化物超電導体薄膜積層体 | |
KR970005158B1 (ko) | 복합 산화물 초전도박막 또는 선재와 그 제작방법 | |
JP3189403B2 (ja) | 超電導接合を有する素子およびその作製方法 | |
JPH0218974A (ja) | 超伝導体素子及びその製法 | |
JPH01220876A (ja) | 酸化物超伝導体膜の配線化方法 | |
JP3096050B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
KR100721901B1 (ko) | 초전도 소자 및 그 제조방법 | |
JPH01115899A (ja) | 酸化物超伝導体膜の製造方法 | |
JPH01100096A (ja) | 酸化物超伝導体膜の製造方法 | |
JPH01100095A (ja) | 酸化物超伝導体配線の作製方法 | |
JPH01219019A (ja) | 酸化物超伝導体膜の製造方法 | |
JP2005294240A (ja) | 多結晶配向中間薄膜とその製造方法及び酸化物超電導導体とその製造方法 | |
JPH0375204A (ja) | 酸化物超伝導膜パターン作製法 | |
JPH0577315B2 (ja) | ||
JP3230329B2 (ja) | 超電導装置用基板の表面清浄化方法 | |
US5362709A (en) | Superconducting device | |
JPH04226090A (ja) | エピタキシャル超伝導層を有するシリコン基板とその製作法 | |
JP3188912B2 (ja) | 酸化物超伝導薄膜の製造方法 | |
JP2768066B2 (ja) | 酸化物超電導薄膜上に上層の薄膜を積層する方法 |