JPH01220876A - 酸化物超伝導体膜の配線化方法 - Google Patents

酸化物超伝導体膜の配線化方法

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JPH01220876A
JPH01220876A JP63047722A JP4772288A JPH01220876A JP H01220876 A JPH01220876 A JP H01220876A JP 63047722 A JP63047722 A JP 63047722A JP 4772288 A JP4772288 A JP 4772288A JP H01220876 A JPH01220876 A JP H01220876A
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JP
Japan
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wiring
oxide superconductor
film
superconductor film
substrate
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JP63047722A
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English (en)
Inventor
Hisanao Tsuge
久尚 柘植
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は酸化物超伝導体膜の配線化方法に関し、特にエ
レクトロニクスへの応用に有用な単結晶化及び結晶成長
温度の低温化を図った酸化物超伝導体膜の配線化方法に
関するものである。
(従来の技術) 酸化物超伝導体配線を形成するためには、この薄膜化技
術が不可欠である。現在までに、真空蒸着法やスパッタ
法を用いて酸化物超伝導体膜をマグネシア(MgO)や
サファイヤ(Al□03)基板上にlpm程度被着し、
引き続き酸素雰囲気中850〜1000°Cで数時間熱
処理することにより、液体窒素温度(77K)以上の高
い超伝導転移温度を示す薄膜が得られている。しかしな
がら、これらの薄膜は通常多結晶であるため、各結晶粒
が結晶粒界によって分離された構造をとる。この結晶粒
界は超伝導性をもたない半導体的あるいは絶縁体的性質
の相で構成されるため、たとえ結晶粒が高温超伝導性を
有する相であっても結晶粒界が弱結合領域となって超伝
導臨界電流が抑制される。一般に、超伝導体薄膜を配線
に適用するためには10’A/cm2以上の大きな臨界
電流が必要なため、結晶粒界の存在は非常に大きな問題
である。また、高温超伝導性を示す多結晶膜では結晶粒
の成長が著しく、膜厚に匹敵する凹凸を生じる。この表
面荒れはりソグラフィらドライエツチングなどの微細加
工技術を用いた配線の作製を著しく困難にする。
従来、こうした多結晶膜の問題点を解決する単結晶化の
手段として、ピー・チャウダリ(P。
Chaudhari)らによって1987年にフィジカ
ルレピューレターズ(Physical Review
 Letterrs)第58巻2684〜2686ペー
ジで提案された方法がある。この方法を第2図(a)〜
(e)を用いて工程順に説明する。まず、チタン酸スト
ロンチウム(SrTiO3) (100)単結晶からな
る基板21上に、10−4〜1O−3Torrの酸素雰
囲気中で3連真空蒸着装置を用いてイツトリウム(Y)
、バリウム(Ba)、銅(Cu)を同時蒸着し、YBa
2CuaO□−エからなる酸化物超伝導体膜22を形成
する(第2図(a))。蒸着時の基板温度は約400°
Cである。引き続き、この酸化物超伝導体膜22を酸素
雰囲気巾約900°Cで熱処理して単結晶化し高温超伝
導性の酸化物超伝導体膜23を形成する(第2図(b)
)。基板21に用いた5rTiOa単結晶は格子定数3
.90人の立方晶であり、高温超伝導性を示す酸素欠損
型ペロブスカイト構造のYBa2Cu3O7−xの格子
定数a=3.82人、 b=3.88人に近い。そのた
め、YBa2Cu30□−8単結晶膜23を5rTtO
a単結晶上にエピタキシャル成長させることが可能であ
る。酸化物超伝導体配線24を作製するには、引き続き
エツチングマスクを用いてドライエツチング法やケミカ
ルエツチング法でパターニングする(第2図(C))。
(発明が解決しようとする課題) この方法では、配線に用いる酸化物超伝導体膜は単結晶
基板上へのエピタキシャル成長によって単結晶化が図ら
れる。そのため、基板は成長させようとする酸化物超伝
導体膜と格子整合性のよい単結晶体でなければならない
。実際のデバイスでは多層配線をセ・要とするものが多
いが、従来のエピタキシャル成長技術では、基板と直接
接することのない上層部に単結晶の酸化物超伝導体配線
を作製することは難しい。
本発明の目的は、このような従来の欠点を取り除いた酸
化物超伝導体膜の配線化方法を提供することにある。
(課題を解決するための手段) 本発明は、構成元素として銅を有する酸化物超伝導体膜
の配線化方法において、前記酸化物超伝導体膜の被着時
に銅の平均的組成が化学量論的組成よりも50at%以
内で過剰となるように前記酸化物超伝導体膜を被着した
後、配線形状にパターニングし、引き続き酸素を含む雰
囲気中で配線パターン上をレーザビームで走査して前記
酸化物超伝導体膜を超伝導化することを特徴とする酸化
物超伝導体膜の配線化方法である。
(作用) 本発明では、酸素を含む雰囲気中で配線パターン上をレ
ーザビームで走査しながら、ビーム照射部を溶融して結
晶化を図る。最初のレーザビーム照射部をまず結晶化し
、この結晶を種としてビームの走査方向にそって結晶を
成長させ単結晶超伝導配線を形成する。しかも、本発明
では化学量論的組成に比べCu過剰の酸化物超伝導体膜
を用いることによって、レーザビーム照射時にこのCu
に基づく酸化鋼(Cub)をフラックスとして作用させ
、酸化物超伝導体膜の結晶化温度を低下させることがで
きる。膜中に含まれる過剰Cu量の増加により結晶化温
度は減少するが、このCu量が10at%以下ではその
効果は小さく、約50at%を越えるとCuOの結晶化
が優先的に起こる。従って、過剰Cu量は10〜50a
t%の範囲であることが好ましい。過剰のCuはレーザ
ビーム照射による溶融部の移動とともに液相状態で移動
し配線パターン端部で偏析するため、配線の超伝導特性
を悪化させることはない。以上のように、本発明によれ
ば、単結晶超伝導配線の形成に、基板材料としてエピタ
キシャル成長用の単結晶体を用いる必要はなく、結晶化
を行うとき基板の温度を上げずに済むので多層配線等の
実デバイスへの応用の可能性が広がる。
(実施例) 次に第1図を用いて本発明の一実施例を示す。
まず、Y−Ba−Cu−0系ターゲツトを用いたスパッ
タ法により、表面を熱酸化二酸化ケイ素(8102)で
被覆したシリコン(Si)基板11上に、YBa2Cu
3O7−xよりCuが約40at%過−剰な酸化物超伝
導体膜12を約0.5μm被着する(第1図(a))。
スパッタはアルゴン(Ar)と酸素(02)との混合ガ
ス雰囲気中で、基板温度室温〜800°Cで行なう。さ
らに、通常のりソゲラフイエ程で酸化物超伝導体膜12
上にエツチングマスクを形成し、イオンミリング法で酸
化物超伝導体膜12を加工して酸化物超伝導体配線13
を形成する(第1図(b))。この段階では酸化物超伝
導体配線13はアモルファスかアモルファスに近い多結
晶体であるため超伝導性は示さない。次に、酸素フロー
中で酸化物超伝導体配線13表面にArレーザビームを
照射してビーム照射部を溶融、反応させ結晶化領域14
を形成する(第1図(C))。酸化物超伝導体配線13
に沿ってレーザビームを走査し、この走査方向に結晶成
長させ単結晶化した酸化物超伝導体配線15を作製する
(第1図(d))。この配線は80に以上で完全に超伝
導となる。レーザビームアニール条件は、ビームスポッ
ト直径40pm1出力パワー5W走査速度10cm/s
ec、基板温度600°Cである。本実施例に示すよう
に、本発明による方法を用いれば、酸化物超伝導体に対
しても基板に直接エピタキシャル成長させることなく高
温超伝導性を有する単結晶配線が得られる。また、この
膜はアモルファス状のSiO2上にも作製可能なことか
ら、多層構造にも適用でき広くデバイスへの応用が期待
される。
本実施例では、被着時におけるCuの組成が化学量論的
組成よりも約40at%過剰なY−Ba−Cu−0薄膜
に関して説明したが、5oat%以内であれば過剰なC
uによる結晶化温度の低減効果が認められた。また、Y
の代わりにEu、 Gd、 Dy、 Er’、 Ybな
と他の希土類元素を構成元素とする酸化物超伝導体やL
a−8r−Cu−0系など他の酸化物超伝導体の薄膜に
適用することができる。基板には、表面をSiO□で被
覆したSi基板を使用したが、5rTio3やMgOな
ど従来酸化物超伝導体膜によく用いられている材料から
なる基板を用いてもよい。特に酸化物超伝導体と格子整
合性のよい単結晶基板をレーザビームアニールのシード
として用いれば、基板の結晶面の選択により酸化物超伝
導体配線の結晶方位を制御することができる。本実施例
ではスパッタ法により酸化物超伝導体膜を被着したが、
蒸着法やCVD法など他の成膜技術で被着することもで
きる。さらに、本実施例のArレーザビームアニール法
に変わる技術として、CO□、YAGレーザビームアニ
ール法や電子ビームアニール法があることは言うまでも
ない。
(発明の効果) 本発明によれば、スパッタ法やCVD法などで被着され
た通常の絶縁膜上にも、優れた超伝導特性を有する単結
晶化された酸化物超伝導体配線を作製することができる
。従って、本発明による方法は多層構造の酸化物超伝導
体配線を必要とする多くのエレクトロニクスデバイスに
適用することが可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)〜(d)は本発明の酸化物超伝導体配線の
作製方法を工程順に示す断面図、第2図(a)〜(C)
は従来の酸化物超伝導体配線の作製方法を示す断面図で
ある。 図において、11.21は基板、12.22は酸化物超
伝導体膜、13は酸化物超伝導体配線、1′4は結晶化
領域、15は単結晶化した酸化物超伝導体配線、23は
高温超伝導性の酸化物超伝導体膜、24は高温超伝導性
の酸化物超伝導体配線である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  構成元素として銅を有する酸化物超伝導体膜の配線化
    方法において、前記酸化物超伝導体膜の被着時に銅の平
    均的組成が化学量論的組成よりも50at%以内で過剰
    となるように前記酸化物超伝導体膜を被着した後、配線
    形状にパターニングし、引き続き酸素を含む雰囲気中で
    配線パターン上をレーザビームで走査して前記酸化物超
    伝導体膜を超伝導化することを特徴とする酸化物超伝導
    体膜の配線化方法。
JP63047722A 1988-02-29 1988-02-29 酸化物超伝導体膜の配線化方法 Pending JPH01220876A (ja)

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