JPH01219580A - 磁気センサ - Google Patents

磁気センサ

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JPH01219580A
JPH01219580A JP63045056A JP4505688A JPH01219580A JP H01219580 A JPH01219580 A JP H01219580A JP 63045056 A JP63045056 A JP 63045056A JP 4505688 A JP4505688 A JP 4505688A JP H01219580 A JPH01219580 A JP H01219580A
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JP
Japan
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magnetic
magnetic core
magnetic field
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external magnetic
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Pending
Application number
JP63045056A
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English (en)
Inventor
Junichi Nakaho
純一 仲保
Hisashi Aoki
久 青木
Shigeru Kato
茂 加藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokai Rika Co Ltd
Original Assignee
Tokai Rika Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、地磁気等の微弱な磁気の測定に好適する所謂
フラックスゲートを利用した磁気センサに関する。
(従来の技術) この種の磁気センサの一例を第8図及び第9図を参照し
て説明する。即ち、互いに平行状態に配設された第1の
磁芯部1及び第2の磁芯部2は、第9図に示す磁気飽和
特性を有する強磁性体によって棒状に形成されており、
これらの各一端側には、電源3と接続された励磁巻線4
が夫々の巻回方向(電流の流れる方向)が反対方向とな
るように巻装されている。また、各磁芯部1及び2の他
端側には、電気フィルタ5と接続された検知巻線6が夫
々の巻回方向(ffi流の流れる方向)が一致するよう
に巻装されており、この場合、検知巻線6において、第
1の磁芯部1に巻装された部位が第1の検知巻線7とし
て機能し、第2の磁芯部2に巻装された部位が第2の検
知巻線8として機能する。尚、電源3は、励磁巻線4に
対して各磁芯部1及び2が間欠的に磁気飽和状態を呈す
るような大きさの正弦波状の励磁電流を与え、また、電
気フィルタ5は、電源3から出力される励磁電流の周波
数の2倍の周波数に相当する交流信号のみを選択してこ
の交流信号の大きさに比例した測定電圧を出力するよう
になっている。
斯様なフラッフスゲ−・トを利用した磁気センサによれ
ば、地磁気等の外部磁界Heが各磁芯部1及び2に重畳
していない場合は、各磁芯部1及び2には電源3から励
磁巻線4に与えられる励磁電流の大きさに比例して、同
じ大きさで且つ互いに反対方向となる磁束Φl及びΦ2
が、間欠的に磁気飽和レベルに達するように発生する。
そして、各検知巻線7及び8からは各磁芯部1及び2に
発生する磁束Φ及びΦ2が変化している間(磁束が磁気
飽和レベルに達するまでの間)はその変化度合いに比例
した第1及び第2の電圧信号が出力される(このとき第
1及び第2の電圧信号の信号レベルは逆極性である)。
この場合、各磁芯部1及び2が磁気飽和状態を呈するタ
イミングは一致しているから、検知巻線6から電気フィ
ルタ5に与えられる検知電圧(第1及び第2の電圧信号
の和)は零レベルであり、この結果、電気フィルタ5か
ら出力される測定電圧も零レベルが維持される。
従って、電気フィルタ5から出力される測定電圧が零レ
ベルであることに基づいて、外部磁界Heの大きさが零
レベルであると判断することができる。
而して、外部磁界Heの大きさが零レベルよりも大きい
場合、これに応じて各磁芯部1及び2には外部磁界Ho
が重畳するようになる。すると、外部磁界HOの向きに
応じて、例えば第1の磁芯部1に発生する磁束の大きさ
が相対的に小さくなってこれが磁気飽和レベルとなるタ
イミングが遅れるのに対して、第2の磁芯部2に発生す
る磁束の大きさが相対的に大きくなってこれが磁気飽和
レベルとなるタイミングが進むようになる。この結果、
電気フィルタ5に与えられる検知電圧には励磁電流の周
波数の2倍の周波数成分を基本とする交流信号が外部磁
界Heの大きさに応じて含まれるようになり、これによ
り電気フィルタ5からは外部磁界Heの大きさに応じた
測定電圧が出力されるようになる。従って、電気フィル
タ5からの測定電圧の大小に基づいて、各磁芯部1及び
2に重畳している外部磁界Heの大きさを検出すること
ができる。
(発明が解決しようとする課題) ところが上記従来例のものでは、電気フィルタ5という
アナログ回路を介して外部磁界Heの大きさを検出する
構成であるから、例えば電気フィルタ5を構成する各回
路素子の特性誤差並びにこれら回路素子での電圧降下に
よって、外部磁界Hθの大きさの測定が不正確となり勝
ちになるという欠点がある。
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、その目的は
、フラックスゲートを利用した構成でありながら、外部
磁界の大きさの測定が正確に行える磁気センサを提供す
るにある。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) 本発明は、磁気飽和特性を有し互いに平行状態となるよ
うに配設された第1及び第2の磁芯部、通電状態で前記
第1及び第2の磁芯部に互いに反対方向の磁束を発生さ
せる励磁巻線、この励磁巻線に対して逓増的な立上がり
波形及び逓減的な立下がり波形の少なくとも一方を有す
る電流を周期的に供給して前記第1及び第2の磁芯部を
磁気飽和させる電源、前記第1及び第2の磁芯部に夫々
巻装され各磁芯部の磁束変化に応じて第1及び第2の電
圧信号を発生する第1及び第2の検知巻線、並びに前記
第1及び第2の電圧信号の出力時間の差を測定する測定
手段とを夫々設けた上で、前記第1及び第2の磁芯部に
外部磁界が重畳した状態で前記測定手段により測定され
た時間差に基づいて上記外部磁界の大きさを測定するよ
うにしたことを特徴とする。
(作用) 電源から励磁巻線に供給される励磁電流の大きさに応じ
て、第1及び第2の磁芯部には同じ太きさで且つ互いに
反対方向となる磁束が、間欠的に磁気飽和レベルに達す
るように発生する。
このとき、外部磁界の大きさが零レベルであると、各磁
芯部には外部磁界が重畳していないから、各磁芯部に発
生する磁束は励磁巻線によって発生する磁束のみであり
、これにより第1及びm2の磁芯部が磁気飽和状態とな
るタイミングは一致している。この結果、第1及び第2
の検知巻線から出力される第1及び第2の電圧信号は同
じ出力タイミングとなっているから、測定手段において
測定される第1及び第2の電圧信号の出力時間の差は零
である、従って、このことに基づいて外部磁界の大きさ
が零レベルであると判断することができる。
而して、外部磁界の大きさが零レベルよりも大きい場合
、その外部磁界が第1及び第2の磁芯部に重畳すること
により、一方の磁芯部に発生する磁束の大きさは上記し
た励磁巻線によって発生する磁束の大きさよりも相対的
に増加するのに対して、他方の磁芯部に発生する磁束の
大きさは励磁巻線によって発生する磁束の大きさから相
対的に減少し、これにより、一方の磁芯部が磁気飽和状
態となるタイミングが進むようになるのに対して、他方
の磁芯部が磁気飽和状態となるタイミングは遅れるよう
になる。この結果、第1及び第2の検知巻線から出力さ
れる第1及び第2の電圧信号の出力タイミングが外部磁
界の大きさに応じて変化するようになり、これによって
測定手段で測定される第1及びff12の電圧信号の出
力時間の差は外部磁界の大きさに応じた値となる。従っ
て、測定手段により測定された第1及び第2の電圧信号
の出力時間の差に基づいて外部磁界の大きさを知ること
ができる。
(実施例) 以下、本発明の第1の実施例を第1図乃至第4図を参照
して説明する。
磁気センサ全体のブロック図を示す第1図において、1
1及び12は磁気飽和特性を有する強磁性体によって棒
状に形成された第1の磁芯部及び第2の磁芯部で、これ
らは平行状態となるように配設されている。13は電源
14と接続された励磁巻線で、これは第1及び第2の磁
芯部11及び12の各一端側に夫々の巻回方向(1R流
の流れる方向)が反対方向となるように巻装されている
上記電源14には、第2図に示すようにクロック発生回
路15からのクロックパルスPcを分周するための分周
回路16が接続されており、その分周回路16からの分
周パルスPdが入力するタイミング毎に逓増的に立上が
る三角波形状の励磁電流を励磁巻線13に与えるように
なっている。尚、電源14から励磁巻線13に供給され
る電流のピーク値は、各磁芯部11及び12が間欠的に
磁気飽和状態を呈するような大きさに定められている。
一方、17は測定手段18と接続された検知巻線で、こ
れらは各磁芯部11及び12の他端側に夫々の巻回方向
(電流の流れる方向)が一致するように巻装されており
、この場合、検知巻線17において第1の磁芯部11に
巻装された部位が第1の検知巻線19として機能し、第
2の磁芯部12に巻装された部位が第2の検知巻線20
として機能する。
次に測定手段18について第2図も参照して説明する。
21は4個のダイオード22乃至25から成る周知の整
流回路で、その交流入力端子°a及びbが夫々検知巻線
17の両端に接続され、直流出力端子C及びdが夫々比
較器26の非反転入力端子(+)及び接地ラインに接続
されている。また、上記比較器26の反転入力端子(−
)は、電源ラインと接地ラインとの間に直列接続された
抵抗器27及び28の共通接続点と接続されて基準電圧
VSが与えられるようになっている。29はアンド回路
で、これの一方の入力端子は比較器26の出力端子と接
続され、また、他方の入力端子はクロック発生回路15
の出力端子と接続されている。
従って、アンド回路29は、比較器26の出力がハイレ
ベル信号に反転した状態でのみクロック発生回路15か
らのクロックパルスPcを通過させる。30はカラン夛
で、これのクロック入力端子Ckはアンド回路29の出
力端子と接続されておリ、これによりアンド回路29を
通過したクロ・ツクパルスPcを計数すると共に、その
計数値をIくイナリデータに変換してデータ出力端子列
Dロー・Dnから出力するようになっている。尚、カウ
ンタ30のリセット端子Rは遅延回路31を介して分周
回路16の出力端子と接続されており、その遅延回路3
1の遅延動作によって分周回路16から出力されるクロ
ックパルスPcの出力タイミングから1クロックパルス
分遅れたタイミングでリセットされるようになっている
。32はう・ソチ回路で、これのデータ入力端子列P(
1−Pnカウンタ30のデータ出力端子列D0〜Dnと
接続されていると共に、これのホールド端子Hは分周回
路16の出力端子と接続されており、ホールド端子Hの
入力レベルがハイレベルの期間、即ち分周回路16から
分周パルスPdが出力されている期間はカウンタ30か
らのバイナリデータをそのままデータ出力端子列Qo 
=Qnから出力すると共に、この出力状態を分周回路1
6から新たな分周)くルスPdが出力されるまでホール
ドするようになっている。
33は比較器で、これの非反転入力端子(+)は図示極
性のダイオード34を介して検知巻線17の一端(第2
の検知巻線20側の一端)と接続され、また、反転入力
端子(−)は抵抗器27及び28の共通接続点に接続さ
れて基準電圧VSが与えられている。35はD形フリッ
プフロップ回路で、これのデータ入力端子りは比較器3
3の出力端子と接続され、クロック端子Ckはアンド回
路29の出力端子と接続されている。
次に上記構成の作用について説明する。
“クロック発生回路15から出力されるクロックパルス
Pcは、分周回路16で分周されることにより分周パル
スPdとして電源14に与えられ、これにより、電源1
4からは分周パルスPdの入力タイミングに基づいて第
3図(a)に示すような周期的に零レベルから直線的(
逓増的)に立上がる三角波形状の励磁電流が出力され、
これが励磁巻線13に供給される。すると、各磁芯部1
1及び12には第1図に示すように励磁電流の太きさに
比例した磁束Φ1及びΦ2が発生する。
このとき、例えば地磁気等の外部磁界Heの大きさが零
レベルの場合は、各磁芯部11及び12に全く外部磁界
Heが重畳していないから、各磁芯部11及び12には
上述したように励磁巻線13によって発生する磁束Φl
及びΦ2のみが発生している。しかも各磁芯部11及び
12は磁気飽和特性ををしているから、励磁電流の大き
さが所定値を上回るときは各磁芯部11及び12は磁気
飽和状態を呈し、これによって各磁芯部11及び12に
発生する磁束は間欠的に飽和レベルとなる。
従って、第3図(a)に示される三角波形状の励磁電流
が電源14から励磁巻線13に供給されると、第1の磁
芯部11には同図(b)に示すような波形の磁束Φ1が
発生すると共に、第2の磁芯部12には同図(9)に示
すような波形の磁束Φ2が発生する。即ち、各磁芯部1
1及び12に発生する磁束Φ1及びΦ2は同じ強さで且
つ互いに反対方向となっていると共に、同じタイミング
で磁気飽和レベルΦS及び−ΦSに達する。この結果、
第1及び第2の検知巻線19及び20には、各磁芯部1
1及び12に発生する磁束Φl及びΦ2の大きさが変化
している間、周知の誘導起電力によってその変化度合い
に比例した第1の電圧信号v1及び第2の電圧信号v2
が同図(d)及び(e)に示すように出力される。即ち
、各磁芯部11及び12に発生する磁束Φ1及びΦ2が
飽和レベルΦS及び−ΦSに達するまでの間は、各磁芯
部11及び12に発生する磁束の変化度合いは一定であ
り、これにより、各検知巻線17及び18から出力され
る第1及び第2の電圧信号v1及びv2は一定電圧とな
る。また、磁束Φl及びΦ2が飽和レベルΦS及び−Φ
Sに達した状態ではその大きさは変化しないから、その
間は、第1及び第2の電圧信号v1及びv2は零レベル
となる。
このとき、同図(d)及び(e)から明らかなように第
1及び第2の電圧信号vi及びv2が出力されるタイミ
ングは完全に一致しているから、第1及び第2の電圧信
号Vl及びv2の出力時間の差は零である。従って、後
述するように測定手段18において、第1及びm2の電
圧信号v1及びv2の出力時間の差が零であると測定さ
れるので、このことに基づいて外部磁界Heの大きさは
零レベルであると判断することができる。
さて、地磁気等の外部磁界Heが例えば第1図に示す向
きに各磁芯部11及び12に重畳した場合、各磁芯部1
1及び12には外部磁界Hθに比例した磁束Φeが同じ
強さで且つ同じ方向に発生するようになる。これにより
、第1の磁芯部11には励磁電流によって発生している
磁束Φlと反対方向の磁束Φeが印加されると共に、第
2の磁芯部12には励磁電流によって発生している磁束
Φ2と同じ方向の磁束Φeが印加される。従って、各磁
芯部11及び12に外部磁界MCIが1¥I!!kした
状態では、第4図(b)に示すように第1の磁芯部11
に発生する磁束Φ1′の大きさはその外部磁界Heによ
って発生する磁束00分だけΦ1から相対的に小さくな
り、また、同図(C)に示すように第2の磁芯部12に
発生する磁束Φ2′は外部磁界Heによって発生する磁
束08分だけ相対的に増大する。すると、同図(b)及
び(C)から明らかなように、第1の磁芯部11に発生
する磁束Φl′が飽和レベルΦSとなるタイミングが遅
れるのに対して、第2の磁芯部12に発生する磁束Φ2
′が飽和レベル−ΦSとなるタイミングは進むようにな
る。この結果、同図(d)及び(e)に示すように、第
1の電圧信号Vlの出力時間は外部磁界Heの大きさが
零レベルの場合に比べて延長されるのに対して、第2の
電圧信号V2の出力時間は短縮されるようになる。従っ
て、測定手段18には第1及び第2の電圧信号Vl及び
v2の出力時間の差ΔTとなるタイミングで正のレベル
となる検知電圧vtが与えられるようになる。このとき
、第1及び第2の電圧信号v1及びv2の出力時間が延
長及び短縮される程度は外部磁界Heの大きさと比例関
係にあるから、測定手段18において、検知電圧Vjが
正のレベルとなる時間ΔTを測定することにより外部磁
界Heの大きさを検出することができる。尚、この場合
において、励磁巻線13に供給される励磁電流は三角波
形状であるから、上記のような比例関係は外部磁界Hθ
が大きい状態時でも維持されるものであり、従って外部
磁界Heの検出誤差がその外部磁界Heの大小に起因し
て大きくなる虞がない。
以下、61定手段18により第1及び第2の電圧信号v
1及びv2の時間差ΔTを測定するについて説明する。
即ち、測定手段18の整流回路21には61時間だけ正
のレベルとなる検知電圧Vjが与えられる。すると、整
流回路21において周知の整流作用が施されて比較器2
6の非反転入力端子(+)には検知電圧vlがその電圧
レベル状態を維持されて与えられる。ここで、比較器2
6の反転入力端子(−)には検知電圧vlの信号レベル
よりも低い電圧レベルの基準電圧VSが与えられており
、結果的に比較器26の出力は、検知電圧vtが与えら
れてVt >Vsの関係が成立する毎にハイレベル信号
に反転する(ノイズ除去のために行なわれる)。従って
、アンド回路29にあっては、上記のように比較器26
の出力がハイレベル信号に反転した期間毎にクロック発
生回路15からのクロックパルスPcを通過させる。す
ると、カウンタ30はアンド回路29からのクロックパ
ルスPcを計数すると共に、その計数値をバイナリデー
タに変換してデータ出力端子列り。
〜Dnから出力する。そして、ラッチ回路32はデータ
入力端子列Po−pnに与えられたバイナリデータをデ
ータ出力端子列Qo =Qnから出力すると共に、その
バイナリデータを分周回路16から新たな分周パルスP
dが与えられるまでホールドする。このとき、カウンタ
30から出力されるバイナリデータは、アンド回路29
がクロックパルスPcの通過を許容している時間幅即ち
第1及び第2の電圧信号V1及びv2の出力時間の差Δ
Tに比例しているから、ラッチ回路32から出力される
バイナリデータに基づいて第1及び第2の電圧信号v1
及びv2の出力時間差ΔTひいては外部磁界Heの大き
さを検出することができる。
続いて、分周回路16から分周パルスPdが出力される
タイミングから1クロック分遅れたタイミングでカウン
タ30がリセットされ、これにより分周回路16から次
の分周パルスPdが出力されるまでの間、上述同様にカ
ウンタ30による計数動作が行なわれて、そのときの外
部磁界Heの大きさに対応したバイナリデータがラッチ
回路32から出力される。従って、ラッチ回路32から
出力されるバイナリデータに基づいて外部磁界HOの大
きさを連続して測定することができる。尚、外部磁界H
eの向きが上述した場合と反対方向の場合は、第1の磁
芯部11が磁気飽和状態となるタイミングが進むのに対
して、第2の磁芯部12が磁気飽和状態となるタイミン
グが遅れるようになり、この結果、第2の電圧信号v2
の出力時間の方が第1の電圧信号v1の出力時間よりも
長くなって、測定手段18には61時間だけ負のレベル
となる検知電圧Viが与えられるようになる。
しかしながら、検知電圧Viは整流回路21においてΔ
Tの時間だけ正のレベルとなるように整流作用を施され
るから、これにより、測定手段18において、外部磁界
Heの向きにかかわらずその外部磁界Hθの大きさを検
出することができる。
また、測定手段18に与えられる検知電圧Viが正のレ
ベル(第1の電圧信号v1の出力時間が第2の電圧信号
v2の出力時間よりも長い場合)となっている間は、比
較器33からD形フリップフロップ回路35のデータ入
力端子りに与えられる電圧レベルはハイレベルとなって
いるから、その間り形フリップフロップ回路35はアン
ド回路29からのクロック信号によりセットされ続けら
れ、これにより、D形フリップフロップ回路35からの
出力信号はハイレベルとなっている。また、測定手段1
8に与えられる検知電圧Vjの電圧レベルが正のレベル
でなくなる(零レベル或は負のレベルとなる)と、比較
器33からの出力レベルはロウレベルとなり、これによ
りD形フリップフロップ回路35はアンド回路29から
のクロックパルスPcに同期してロウレベル信号を記憶
するようになり、この結果、D形フリップフロップ回路
35の出力信号はロウレベルとなる。従って、D形フリ
ップフロップ回路35から出力される信号のレベルを検
出することにより、測定手段18に与えられている検知
電圧vlの電圧レベルの極性ひいては外部磁界Heの方
向を判断することができる。
第5図は本発明の第2の実施例を示すもので、第1の実
施例と異なる点は、第1の実施例では第1及び第2の磁
芯部11及び12を別体で構成したが、この第2の実施
例においては、磁気飽和特性を有する矩形枠状の磁芯体
36において平行位置にある二辺を第1及び第2の磁芯
部37及び38に設定したことにある。そして、第1及
び第2の磁芯部37及び38には測定手段18と接続さ
れた検知巻線39が同じ巻回方向となるように巻装され
ており、そしてこの場合、検知巻線39において、第1
の磁芯部37に巻装された部位が第1の検知巻線40と
して機能すると共に、第2の磁芯部38に巻装された部
位が第2の検知巻線41として機能する。また、第1及
び第2の磁芯部37及び38を接続している辺42には
電源43と接続された励磁巻線44が巻装されている。
この第2の実施例においても、電源43から励磁巻線4
4に励磁電流が通電されると、その励磁電流の大きさに
比例した大きさの磁束が磁芯体36に発生して、第1の
実施例と同様に第1及び第2の磁芯部37及び38に同
じ強さで且つ反対方向の磁束が間欠的に磁気飽和レベル
に達するように発生する。これにより、第1及び第2の
検知巻線40及び41からは磁束の変化度合いに比例し
た第1及び第2の電圧信号v1及びv2が出力される。
このとき、第1及び12の電圧信号v1及びv2の出力
時間の差ΔTは各磁芯部40及び41に重畳する外部磁
界Hθの大きさに比例しているから、測定手段18によ
りその時間差ΔTを測定することにより外部磁界Heの
大きさを測定することができる。
第6図は本発明の第3の実施例を示すもので、第2の実
施例と異なるところは、矩形枠状の磁芯体36において
第1及び第2の磁芯部37及び38全体を囲むようにし
て、測定手段18と接続された検知巻線45が巻装され
ていることにある。
そしてこの場合、検知巻線45において、第1及び第2
の磁芯部37及び38の外周に位置する部位が夫々第1
及び第2の検知巻線46及び47として機能する。
この第3の実施例においても、電源43から励磁巻線4
4に励磁電流が供給されると、第1及び第2の検知巻線
46及び47から第1及び第2の電圧信号v1及びv2
が外部磁界Heの大きさに応じた出力時間で出力される
。従って、測定手段18において、第1及び第2の電圧
信号Vl及びv2の出力時間の差ΔTを測定することに
より外部磁界Haの大きさを測定することができる。
第7図は本発明の第4の実施例を示すもので、磁気飽和
特性を有する環状の磁芯体48には、これの全体にわた
って電源43と接続された励磁巻線49が巻装されてい
る。また、磁芯体48において、対向して平行位置にあ
る第1及び第2の磁芯部50及び51全体を囲むように
して測定手段18と接続された検知巻線52が巻装され
ており、その検知巻線48において、第1及び第2の磁
芯部50及び51の外周に位置する部位が第1及び第2
の検知巻線53及び54として機能する。また、磁芯体
48において、第1及び第2の磁芯部50及び51から
夫々直交した部位は、もう一方の第1及び第2の磁芯部
55及び56に設定されている。そして、これら第1及
び第2の磁芯部55及び56全体を囲むようにして測定
手段18と接続されたもう一方の検知巻線57が巻装さ
れており、この場合、検知巻線57において、第1及び
第2の磁芯部55及び56の外周に位置する部位が夫々
第1及び第2の検知巻線58及び59として機能する。
この第4の実施例においては、電源43がら励磁巻線4
9に励磁電流が供給されると、環状の磁芯体48全体に
わたって同じ方向に磁束が発生して、検知巻線52にお
ける第1及び第2の検知巻線53及び54から第1及び
第2の電圧信号v1及びv2が出力されると共に、もう
一方の検知巻線57における第1及び第2の検知巻線5
8及び59から同様に第1及び第2の電圧信号v1及び
v2が出力される。この結果、各測定手段18には外部
磁界Heの大きさに応じた時間だけ第1及び第2の電圧
信号v1及びv2が出力されるから、測定手段18にお
いて、第1及び第2の電圧信号v1及びv2の出力時間
の差ΔTを測定することにより、各磁芯部50,51,
55.56にtrriしている外部磁界Heの大きさを
検出することができる。特にこの場合、各検知巻線52
及び57は環状の磁芯体48に直交する形態で巻装され
ているから、例えば地磁気等の外部磁界Heが第7図に
示すように磁芯体48にffi畳していた場合、その外
部磁界HeのX軸方向のベクトル成分Hxの大きさと向
きを一方の検知巻線52から出力される検知電圧vlに
基づいて測定することができると共に、外部磁界Heの
Y軸方向のベクトル成分Hyを他方の検知巻線57から
出力される検知電圧vtに基づいて検出することができ
る。従って、測定手段18により検出した外部磁界He
のベクトル成分Hx及びByに基づいて外部磁界Heの
大きさ及び向きを知ることができる。斯様な磁気センサ
は、車両の移動方向を検出するための地磁気センサ等の
如く外部磁界Heの向きが頻繁に変化する際の検出に好
適するものである。
尚、各上記実施例においては、測定手段18に与えられ
る検知電圧Vjが正のレベル(或は負のレベル)となる
タイミング幅をクロック発生回路15から出力されるク
ロック信号に基づいて検出したが、これに代えて、その
タイミング幅をデジタルタイマにより測定するように構
成しでもよい。
また、電源14から出力する励磁電流の電流波形は三角
波形状に限定されることなく、例えば正弦波状としても
よい。
更に、上記各実施例では、測定手段18において、第1
及び第2の電圧信号v1及びV2の出力時間の差ΔTを
検知電圧vtがら求める構成であるが、これに代えて、
第1及び第2の電圧信号V1及びv2の出力時間を別々
に測定し、これに基づいて第1及び第2の電圧信号VB
及びv2の出力時間の差ΔTを求めるようにしてもよい
その他、本発明は上記し且つ図面に示したものに限定さ
れることなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更し
て実施できる。
[発明の効果] 本発明は以上の記述から明らかなように、第1及び第2
の磁芯部に外部磁界が重畳した状態で測定手段により測
定された時間差に基づいて外部磁界の大きさを測定する
ように構成したので、フラックスゲートを利用した磁気
センサでありながら、外部磁界の大きさを正確に測定す
ることができるという優れた効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図乃至第4図は本発明の第1の実施例を示すもので
あり、第1図は全体の電気的構成を示すブロック図、第
2図は全体の電気回路図、第3図及び第4図は作用を説
明するための各信号波形図である。また、第5図乃至第
7図は夫々本発明の第2乃至第4の実施例を示す第1図
相当図である。 そして、第8図及び第9図は従来例を示すものであり、
第8図は第1図相当図、第9図は第1及び第2の磁芯部
に重畳する磁界の大きさと磁芯部に発生する磁束の大き
さとの関係を示す特性図である。 図中、11は第1の磁芯部、12は第2の磁芯部、13
は励磁巻線、14は電源、18は測定手段、19は第1
の検知巻線、20は第2の検知巻線、31は第1の磁芯
部、38は第2の磁芯部、43は電源、44は励磁巻線
、46は第1の検知巻線、47は第2の検知巻線、50
.55は第1の磁芯部、51.56は第2の磁芯部、5
3及び58は第1の検知巻線、54及び59は第2の検
知巻線である。 出願人  株式会社東海理化電機製作所1PJ1  図 第 2 図 第3図    第4図 第 5 図 県 7 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、磁気飽和特性を有し互いに平行状態となるように配
    設された第1及び第2の磁芯部と、通電状態で前記第1
    及び第2の磁芯部に互いに反対方向の磁束を発生させる
    励磁巻線と、この励磁巻線に対して逓増的な立上がり波
    形及び逓減的な立下がり波形の少なくとも一方を有する
    励磁電流を周期的に供給して前記第1及び第2の磁芯部
    を磁気飽和させる電源と、前記第1及び第2の磁芯部に
    夫々巻装され各磁芯部の磁束変化に応じて第1及び第2
    の電圧信号を発生する第1及び第2の検知巻線と、前記
    第1及び第2の電圧信号の出力時間の差を測定する測定
    手段とを備え、前記第1及び第2の磁芯部に外部磁界が
    重畳した状態で前記測定手段により測定された時間差に
    基づいて上記外部磁界の大きさを測定するようにした構
    成したことを特徴とする磁気センサ。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07146348A (ja) * 1993-11-25 1995-06-06 Amorphous Denshi Device Kenkyusho:Kk 電流センサ
JP2007003288A (ja) * 2005-06-22 2007-01-11 Kanazawa Inst Of Technology フラックスゲートセンサおよびフラックスゲートセンサ用コア
JP2007017369A (ja) * 2005-07-11 2007-01-25 Kanazawa Inst Of Technology 拡張差分型フラックスゲートセンサ
US7212001B2 (en) 2002-03-13 2007-05-01 Samsung Electro—Mechanics Co., Ltd. Fluxgate sensor integrated having pick-up coil mounted on excitation coil in printed circuit board and method for manufacturing the same
US7557571B2 (en) 2002-03-14 2009-07-07 Samsung Electronics Co., Ltd. Fluxgate sensor integrated in semiconductor substrate and method for manufacturing the same
JP2014106150A (ja) * 2012-11-28 2014-06-09 Fujikura Ltd 磁気素子制御装置、磁気素子制御方法及び磁気検出装置

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07146348A (ja) * 1993-11-25 1995-06-06 Amorphous Denshi Device Kenkyusho:Kk 電流センサ
US7212001B2 (en) 2002-03-13 2007-05-01 Samsung Electro—Mechanics Co., Ltd. Fluxgate sensor integrated having pick-up coil mounted on excitation coil in printed circuit board and method for manufacturing the same
US7407596B2 (en) 2002-03-13 2008-08-05 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Fluxgate sensor integrated in printed circuit board and method for manufacturing the same
US7557571B2 (en) 2002-03-14 2009-07-07 Samsung Electronics Co., Ltd. Fluxgate sensor integrated in semiconductor substrate and method for manufacturing the same
JP2007003288A (ja) * 2005-06-22 2007-01-11 Kanazawa Inst Of Technology フラックスゲートセンサおよびフラックスゲートセンサ用コア
JP2007017369A (ja) * 2005-07-11 2007-01-25 Kanazawa Inst Of Technology 拡張差分型フラックスゲートセンサ
JP2014106150A (ja) * 2012-11-28 2014-06-09 Fujikura Ltd 磁気素子制御装置、磁気素子制御方法及び磁気検出装置

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