JPH01216246A - 抵抗溶接品の良否判別方法 - Google Patents
抵抗溶接品の良否判別方法Info
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- JPH01216246A JPH01216246A JP4149788A JP4149788A JPH01216246A JP H01216246 A JPH01216246 A JP H01216246A JP 4149788 A JP4149788 A JP 4149788A JP 4149788 A JP4149788 A JP 4149788A JP H01216246 A JPH01216246 A JP H01216246A
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- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、主として電子機器、電気機器等に用いられる
小型抵抗溶接品の製造に於いて、抵抗溶接が良好である
か、不良であるかを即座に判別する方法に関する。
小型抵抗溶接品の製造に於いて、抵抗溶接が良好である
か、不良であるかを即座に判別する方法に関する。
（従来の技術）
従来、電子機器、電気機器等に用いられる小型抵抗溶接
品を製造する際の抵抗溶接は、最良のモデル品の溶接条
件をそのまま採用して抵抗溶接していた。そしてその品
質検査は抜き取り検査により行うか、場合によっては、
抵抗溶接時に流した電流値や電流波形などを計測して良
否の判定を行っていた。
品を製造する際の抵抗溶接は、最良のモデル品の溶接条
件をそのまま採用して抵抗溶接していた。そしてその品
質検査は抜き取り検査により行うか、場合によっては、
抵抗溶接時に流した電流値や電流波形などを計測して良
否の判定を行っていた。
（発明が解決しようとする問題点）
ところで、上記の抵抗溶接品の抵抗溶接では、母材や被
溶接物の寸法誤差、溶接面の状態、雰囲気、電極の加圧
通電時の状態、母材や被溶接物の溶接時の位置、姿勢等
により抵抗溶接部分の発熱が一様ではなく、１個１個異
なるものである。従って、溶接強度のばらつきが大きく
て不安定であった。また被溶接物が母材に偏位して溶接
され、不良品が生じたり、溶は過ぎにより溶接面よりは
み出してパリが生じたり、ちりが飛散したり、片側のみ
溶融し溶接しないことや、相方とも溶融がなく溶接され
ないか、溶接されても弱い強度しか得られない等の問題
点があった。そしてこのような問題点のある抵抗溶接品
は抜き取り検査では発見できないし、抵抗溶接時の電流
値や電流波形等を全数計測しても、あらかじめ設定した
通り電流は流れても、その電流が、抵抗溶接に必要な熱
エネルギーとして、接合極部の溶融に役立つかどうかが
全く判別出来ないため、電流値は設定通りであるが、発
熱が起こらない場合でも、良好という判断をしてしまう
等、抵抗溶接品の信頼性が低かった。
溶接物の寸法誤差、溶接面の状態、雰囲気、電極の加圧
通電時の状態、母材や被溶接物の溶接時の位置、姿勢等
により抵抗溶接部分の発熱が一様ではなく、１個１個異
なるものである。従って、溶接強度のばらつきが大きく
て不安定であった。また被溶接物が母材に偏位して溶接
され、不良品が生じたり、溶は過ぎにより溶接面よりは
み出してパリが生じたり、ちりが飛散したり、片側のみ
溶融し溶接しないことや、相方とも溶融がなく溶接され
ないか、溶接されても弱い強度しか得られない等の問題
点があった。そしてこのような問題点のある抵抗溶接品
は抜き取り検査では発見できないし、抵抗溶接時の電流
値や電流波形等を全数計測しても、あらかじめ設定した
通り電流は流れても、その電流が、抵抗溶接に必要な熱
エネルギーとして、接合極部の溶融に役立つかどうかが
全く判別出来ないため、電流値は設定通りであるが、発
熱が起こらない場合でも、良好という判断をしてしまう
等、抵抗溶接品の信頼性が低かった。
（発明の目的）
本発明は上記問題点を解決すべくなされたもので、母材
に被溶接物を抵抗溶接する度毎にその抵抗溶接が良好で
あるか、不良であるかを即座に判別することのできる方
法を提供することを目的とするものである。
に被溶接物を抵抗溶接する度毎にその抵抗溶接が良好で
あるか、不良であるかを即座に判別することのできる方
法を提供することを目的とするものである。
（問題点を解決するための手段）
上記問題点を解決するための本発明の抵抗溶接品の良否
判別方法は、母材に被溶接物を抵抗溶接した際、通電し
始めてからある時間経過後に、例えばイメージセンサを
内蔵した固体カメラにより抵抗溶接部分の熱放射エネル
ギーから温度分布を計測し、この温度分布の形状、面積
等を、予め設定した標準となる温度分布の形状、面積等
と比較して、抵抗溶接の良否を判別することを特徴とす
るものである。
判別方法は、母材に被溶接物を抵抗溶接した際、通電し
始めてからある時間経過後に、例えばイメージセンサを
内蔵した固体カメラにより抵抗溶接部分の熱放射エネル
ギーから温度分布を計測し、この温度分布の形状、面積
等を、予め設定した標準となる温度分布の形状、面積等
と比較して、抵抗溶接の良否を判別することを特徴とす
るものである。
（作用）
上述の如く本発明の抵抗溶接品の良否判別方法は、抵抗
溶接時に流した電流値や電流波形等を計測して良否を判
別したり抵抗溶接部分を外観により良巴を判別するので
はなく、固体カメラにより表面の熱放射エネルギーから
温度を計測し、これを予め設定した標準となる温度分布
と比較して良否を判別するのであるから、その判別は正
確で、抵抗溶接品の信頼性が向上するものである。
溶接時に流した電流値や電流波形等を計測して良否を判
別したり抵抗溶接部分を外観により良巴を判別するので
はなく、固体カメラにより表面の熱放射エネルギーから
温度を計測し、これを予め設定した標準となる温度分布
と比較して良否を判別するのであるから、その判別は正
確で、抵抗溶接品の信頼性が向上するものである。
（実施例）
本発明による抵抗溶接品の良否判別方法の一実施例をＸ
−Ｂａｒ型接点の良否方法について説明する。第１図に
示す如く下部電極１上にセットした幅６閣、厚さ２閣、
長さ６ＩＴＩＩ１１の銅−ニッケル３０％より成る母材
２上に、幅４ｍｍ、厚さ】ｌｌｌ１１、長さ４帥で下面
中央長手方向に０，１ｎｙｍＲの断面半円形の線条のプ
ロジェクション３を有するＡｇ−Ｐｄ／Ｃｕ−Ｎｉより
成る接点材４を載せ、２ｋｇ、４０００ Ａで上部電極
５にて加圧通電してプロジェクション３にて抵抗溶接し
、第２図に示す如＜Ｘ−Ｂａｒ接点６を作った際、その
抵抗溶接部分６ａに通電し始めてからある時間経過後、
本例では１６．７ｍ５ｅｃ後に、抵抗溶接部分６ａの手
前にセットしたＣＣＤカメラ７により表面からの熱放射
エネルギー分布を計測する。ＣＣＤカメラフの光学系は
、第３図に示す如＜ ＣＣＤカメラモジュール７ａ、７
５ＪＩＩｌ望遠レンズ７ｂ及びバンドパスフィルター７
ｃから成り、ＣＣＤカメラモジュール、１ ａからの出
力は複合ビデオ信号で、これをクランプ回路８及び増幅
回路９を通してＡ／Ｄ変換器１０に送られる。Ａ／Ｄ変
換器１０では、８ビツトフラツシユタイプのＡ／Ｄコン
バータを用いて高速でＡ／Ｄ変換を行い、このデータが
７ＭＨｚのクロックに周期して外部メモリ１１に一度蓄
えられる。この外部メモリ１１はホストコンピュータ１
２のメモリマツプ上に位置するが、画像を取り込んでい
る間はＡ／Ｄの出力データを直接書き込むことができる
。
−Ｂａｒ型接点の良否方法について説明する。第１図に
示す如く下部電極１上にセットした幅６閣、厚さ２閣、
長さ６ＩＴＩＩ１１の銅−ニッケル３０％より成る母材
２上に、幅４ｍｍ、厚さ】ｌｌｌ１１、長さ４帥で下面
中央長手方向に０，１ｎｙｍＲの断面半円形の線条のプ
ロジェクション３を有するＡｇ−Ｐｄ／Ｃｕ−Ｎｉより
成る接点材４を載せ、２ｋｇ、４０００ Ａで上部電極
５にて加圧通電してプロジェクション３にて抵抗溶接し
、第２図に示す如＜Ｘ−Ｂａｒ接点６を作った際、その
抵抗溶接部分６ａに通電し始めてからある時間経過後、
本例では１６．７ｍ５ｅｃ後に、抵抗溶接部分６ａの手
前にセットしたＣＣＤカメラ７により表面からの熱放射
エネルギー分布を計測する。ＣＣＤカメラフの光学系は
、第３図に示す如＜ ＣＣＤカメラモジュール７ａ、７
５ＪＩＩｌ望遠レンズ７ｂ及びバンドパスフィルター７
ｃから成り、ＣＣＤカメラモジュール、１ ａからの出
力は複合ビデオ信号で、これをクランプ回路８及び増幅
回路９を通してＡ／Ｄ変換器１０に送られる。Ａ／Ｄ変
換器１０では、８ビツトフラツシユタイプのＡ／Ｄコン
バータを用いて高速でＡ／Ｄ変換を行い、このデータが
７ＭＨｚのクロックに周期して外部メモリ１１に一度蓄
えられる。この外部メモリ１１はホストコンピュータ１
２のメモリマツプ上に位置するが、画像を取り込んでい
る間はＡ／Ｄの出力データを直接書き込むことができる
。
ホストコンピュータ１２は画像の取込みが終了してから
処理を行うもので、取り込んだ画像から各ビクセルごと
の温度を計算し、母材２と接点材４との抵抗溶接部分６
の温度分布を第４図に示す如く求める。そしてこの温度
分布の形状、面積等は、予め設定させた標準となる温度
分布の形状、面積等と比較演算され、許容誤差の範囲内
に有るか否かによって自動的に抵抗溶接の良否が判別さ
れ、Ｘ−Ｂａｒ接点６の検査が行われる。１３は判別に
利用されるモニタテレビである。
処理を行うもので、取り込んだ画像から各ビクセルごと
の温度を計算し、母材２と接点材４との抵抗溶接部分６
の温度分布を第４図に示す如く求める。そしてこの温度
分布の形状、面積等は、予め設定させた標準となる温度
分布の形状、面積等と比較演算され、許容誤差の範囲内
に有るか否かによって自動的に抵抗溶接の良否が判別さ
れ、Ｘ−Ｂａｒ接点６の検査が行われる。１３は判別に
利用されるモニタテレビである。
尚、上記実施例は抵抗溶接部分を正面からのみＣＣＤカ
メラにより熱放射エネルギー分布を計測しているが側面
からもＣＣＤカメラにより計測して奥行部分のデータ、
も補正要素として取り入れるようにしても良い。
メラにより熱放射エネルギー分布を計測しているが側面
からもＣＣＤカメラにより計測して奥行部分のデータ、
も補正要素として取り入れるようにしても良い。
またＣＣＤカメラによる熱放射エネルギー分布の計測に
ついては、物体の表面状態や温度による放射率の影響を
取り除くために、同時に同一部分における二つの波長の
放射発散度を測定できる２色放射温度測定が−好ましい
。この場合二つの波長を近い値にとると放射率は近似で
きるため温度の関数である放射率を除くことが出来るか
ら特に好ましい。さらに２色放射温度測定は、光路吸収
や視野欠けの影響をおさえるという利点がある。
ついては、物体の表面状態や温度による放射率の影響を
取り除くために、同時に同一部分における二つの波長の
放射発散度を測定できる２色放射温度測定が−好ましい
。この場合二つの波長を近い値にとると放射率は近似で
きるため温度の関数である放射率を除くことが出来るか
ら特に好ましい。さらに２色放射温度測定は、光路吸収
や視野欠けの影響をおさえるという利点がある。
上記実施例は、ＣＣＤカメラによる本方式の動作を述べ
たが、ホトアレー等を用いた固体カメラを用いても動作
は全く同様である。
たが、ホトアレー等を用いた固体カメラを用いても動作
は全く同様である。
（発明の効果）
以上の説明で判るように本発明の抵抗溶接品の良否判別
方法によれば、母材に被溶接物を抵抗溶接する度毎に、
通電開始より、ある時間経過の後抵抗溶接部分の表面の
熱放射エネルギーから温度分布を求め、これの形状、面
積等を予め設定した温度分布の形状、面積等に基づいて
良否を即座に判別できるのであるから、その判別は迅速
、正確で、抵抗溶接品の信転性の向上に寄与できるもの
である。また製造ラインで判別直後に仕分けすることが
できるので、次工程処理が容易で、生産性の向上に寄与
できる。
方法によれば、母材に被溶接物を抵抗溶接する度毎に、
通電開始より、ある時間経過の後抵抗溶接部分の表面の
熱放射エネルギーから温度分布を求め、これの形状、面
積等を予め設定した温度分布の形状、面積等に基づいて
良否を即座に判別できるのであるから、その判別は迅速
、正確で、抵抗溶接品の信転性の向上に寄与できるもの
である。また製造ラインで判別直後に仕分けすることが
できるので、次工程処理が容易で、生産性の向上に寄与
できる。
第１図は抵抗溶接品の一例であるＸ−Ｂａｒ接点の抵抗
溶接前の状態を示す図、第２図は抵抗溶接後の状態の示
す図、第３図はＣＣＤカメラのシステムを示すブロック
ダイヤフラム、第４図はＣＣＤカメラシステムにより求
められたＸ−Ｂａｒ接点の抵抗溶接部分の通電開始後１
６．７ｍ５ｅｃにおける温度分布を示す図である。 ｌ・・・下部電極、２・・・ベース材、３・・・プロジ
ェクション、４・・・接点材、５・・・上部電極、６・
・・クラッド接点、６ａ・・・抵抗溶接部分、７・・・
ＣＣＤカメラ、８・・・クランプ、９・・・増幅回路、
１０・・・Ａ／Ｄ変換器、１１・・・外部メモリ、１２
・・・ホストコンピュータ、１３・・・モニタテレビ。 出願人 田中貴金属工業株式会社 黒川−夫
溶接前の状態を示す図、第２図は抵抗溶接後の状態の示
す図、第３図はＣＣＤカメラのシステムを示すブロック
ダイヤフラム、第４図はＣＣＤカメラシステムにより求
められたＸ−Ｂａｒ接点の抵抗溶接部分の通電開始後１
６．７ｍ５ｅｃにおける温度分布を示す図である。 ｌ・・・下部電極、２・・・ベース材、３・・・プロジ
ェクション、４・・・接点材、５・・・上部電極、６・
・・クラッド接点、６ａ・・・抵抗溶接部分、７・・・
ＣＣＤカメラ、８・・・クランプ、９・・・増幅回路、
１０・・・Ａ／Ｄ変換器、１１・・・外部メモリ、１２
・・・ホストコンピュータ、１３・・・モニタテレビ。 出願人 田中貴金属工業株式会社 黒川−夫
Claims (1)
- 母材に被溶接物を抵抗溶接した際、通電し始めてからあ
る時間経過後に、固体カメラにより抵抗溶接部分の熱放
射エネルギーから温度分布を計測し、この温度分布の形
状、面積等を、予め設定した標準となる温度分布の形状
、面積等と比較して、抵抗溶接の良否を判別することを
特徴とする抵抗溶接品の良否判別方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4149788A JPH01216246A (ja) | 1988-02-24 | 1988-02-24 | 抵抗溶接品の良否判別方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4149788A JPH01216246A (ja) | 1988-02-24 | 1988-02-24 | 抵抗溶接品の良否判別方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01216246A true JPH01216246A (ja) | 1989-08-30 |
Family
ID=12609990
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4149788A Pending JPH01216246A (ja) | 1988-02-24 | 1988-02-24 | 抵抗溶接品の良否判別方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01216246A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0483152A (ja) * | 1990-07-25 | 1992-03-17 | Shuji Nakada | 電子部品の接合部検査方法および検査装置 |
| EP0512972A2 (fr) * | 1991-05-06 | 1992-11-11 | CENTRE DE RECHERCHES METALLURGIQUES CENTRUM VOOR RESEARCH IN DE METALLURGIE Association sans but lucratif | Procédé de contrôle d'une soudure bout à bout de bandes métalliques |
| JPH0634564A (ja) * | 1992-07-14 | 1994-02-08 | Nkk Corp | 鋼板の溶接部検査方法 |
| EP0830914A1 (en) * | 1996-09-24 | 1998-03-25 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method of controlling welding conditions of a resistance welder |
| US6140825A (en) * | 1997-05-14 | 2000-10-31 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method and apparatus for evaluating quality of resistance welds |
| US6518536B2 (en) | 2000-03-30 | 2003-02-11 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Joining equipment |
| JP2011106839A (ja) * | 2009-11-13 | 2011-06-02 | Joyo Machine Co Ltd | 金属接合部の検査方法及び装置 |
| JP2011242248A (ja) * | 2010-05-18 | 2011-12-01 | Joyo Machine Co Ltd | 物品の内部構造観察方法及び観察装置 |
| JP2014032160A (ja) * | 2012-08-06 | 2014-02-20 | Japan Aerospace Exploration Agency | 探傷方法及び探傷装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5078380A (ja) * | 1973-09-20 | 1975-06-26 | ||
| JPS5699082A (en) * | 1980-01-14 | 1981-08-10 | Hitachi Ltd | Resistance welding infrared-ray temperature monitor |
| JPS62237346A (ja) * | 1986-04-08 | 1987-10-17 | Olympus Optical Co Ltd | 表面実装部品の半田付検査装置 |
-
1988
- 1988-02-24 JP JP4149788A patent/JPH01216246A/ja active Pending
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