JPH01216221A - 半導体レーザの特性測定装置 - Google Patents
半導体レーザの特性測定装置Info
- Publication number
- JPH01216221A JPH01216221A JP4275688A JP4275688A JPH01216221A JP H01216221 A JPH01216221 A JP H01216221A JP 4275688 A JP4275688 A JP 4275688A JP 4275688 A JP4275688 A JP 4275688A JP H01216221 A JPH01216221 A JP H01216221A
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- JP
- Japan
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- polarizer
- light
- semiconductor laser
- wave
- spectroscope
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- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 17
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 11
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 2
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- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
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- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、半導体レーザの特性のうち、波長を測定する
装置に関する。
装置に関する。
半導体レーザからの出力光は通常ＴＥ波とＴＭ波より合
成されており、一般ではＴＥ波に偏波し、ＴＭ波成分は
少ない、ところでファイバで伝搬させる場合、両偏波成
分間で伝搬定数や群速度にわずかに差があり、光ファイ
バが通信において、問題となることがある。
成されており、一般ではＴＥ波に偏波し、ＴＭ波成分は
少ない、ところでファイバで伝搬させる場合、両偏波成
分間で伝搬定数や群速度にわずかに差があり、光ファイ
バが通信において、問題となることがある。
とくにコヒーレント性が優れている単一縦モード型半導
体レーザでは、特に重要なものとなるのでその偏波光を
分析する必要がある。偏波光を分析する方法の一つとし
て、波長測定がある。従来の偏波光を測るための測定装
置では、被測定用半導体レーザと分光器の間にポラライ
ザをおき、ポラライザの角度を手で調整しながら、波長
を測定していた。
体レーザでは、特に重要なものとなるのでその偏波光を
分析する必要がある。偏波光を分析する方法の一つとし
て、波長測定がある。従来の偏波光を測るための測定装
置では、被測定用半導体レーザと分光器の間にポラライ
ザをおき、ポラライザの角度を手で調整しながら、波長
を測定していた。
上述した従来の特性測定装置は、ポラライザの角度を調
整してから両偏波光の波長を測定する必要がある。
整してから両偏波光の波長を測定する必要がある。
このなめ、測定作業としては、ポラライザをそれぞれの
偏波になるように調整しなければならないため、測定時
間が長くなる欠点がある。
偏波になるように調整しなければならないため、測定時
間が長くなる欠点がある。
本発明の目的は波長測定作業を簡便にし、測定時間を短
縮できる測定装置を提供することにある。
縮できる測定装置を提供することにある。
本発明の特性測定装置は、分光器と、連続回転するポラ
ライザを有してＴＥ波成分とＴＭ波成分の波長を自動的
に測定する構成となっている。具体的には被測定用半導
体レーザ駆動用電源と、分光器と１分光器からの光を検
出して電気信号に変換する検出系と、分光器と被測定用
半導体レーザの間に設置した連続回転するポラライザと
を備えた構成となっている。本発明による装置の動作原
理を、実施例で詳細に説明する。
ライザを有してＴＥ波成分とＴＭ波成分の波長を自動的
に測定する構成となっている。具体的には被測定用半導
体レーザ駆動用電源と、分光器と１分光器からの光を検
出して電気信号に変換する検出系と、分光器と被測定用
半導体レーザの間に設置した連続回転するポラライザと
を備えた構成となっている。本発明による装置の動作原
理を、実施例で詳細に説明する。
第１図は本発明の実施例を示す、１は被測定用半導体レ
ーザで、２はその駆動用直流電源である。検出系は受光
器６、直流電源７、抵抗８、ロックインアンプ９、電圧
計１０で構成した。半導体レーザ１の出力光は、ポララ
イザ４、分光器５を通り受光器６に入る。ポラライザ４
は光の進行方向に対し垂直な面で、一定な回転数ｆで回
転している。７は受光器６のバイアス電源である。抵抗
８は光電流検出用抵抗で、この検出電圧は、ロックイン
アンプ９を通し、電圧計１０により測定される。ポララ
イザ４が回転しているため、これを通った光は偏波成分
比が時間とともに変わるため、分光器へ入射光する偏波
成分が変わる。すなわち、受光器６への入射量も、ポラ
ライザ４の回転角により変化することになる。ここでＴ
Ｅ波とＴＭ波はポラライザ４の回転に対しては９０℃と
ずれる。したがってこの位相分に対して分光された後の
受光器６の出力を検出すれば、それぞれ偏波した光の波
長を測定できる。これはロックインアンプ９により位相
差分を見ることができ、ロックインアンプへの参照信号
として、ポラライザ４の回転角に対応する電気信号を使
用する。
ーザで、２はその駆動用直流電源である。検出系は受光
器６、直流電源７、抵抗８、ロックインアンプ９、電圧
計１０で構成した。半導体レーザ１の出力光は、ポララ
イザ４、分光器５を通り受光器６に入る。ポラライザ４
は光の進行方向に対し垂直な面で、一定な回転数ｆで回
転している。７は受光器６のバイアス電源である。抵抗
８は光電流検出用抵抗で、この検出電圧は、ロックイン
アンプ９を通し、電圧計１０により測定される。ポララ
イザ４が回転しているため、これを通った光は偏波成分
比が時間とともに変わるため、分光器へ入射光する偏波
成分が変わる。すなわち、受光器６への入射量も、ポラ
ライザ４の回転角により変化することになる。ここでＴ
Ｅ波とＴＭ波はポラライザ４の回転に対しては９０℃と
ずれる。したがってこの位相分に対して分光された後の
受光器６の出力を検出すれば、それぞれ偏波した光の波
長を測定できる。これはロックインアンプ９により位相
差分を見ることができ、ロックインアンプへの参照信号
として、ポラライザ４の回転角に対応する電気信号を使
用する。
ポラライザはモータ（図示省略）により回転し、その回
転角はポテンシオメータにより電圧に変換してロックイ
ンアンプの参照信号としたが、他の方法、例えばパルス
モータを用い、パルス数を適宜処理してロックインアン
プの参照信号とする等どのような方法を用いてもよい。
転角はポテンシオメータにより電圧に変換してロックイ
ンアンプの参照信号としたが、他の方法、例えばパルス
モータを用い、パルス数を適宜処理してロックインアン
プの参照信号とする等どのような方法を用いてもよい。
第２図は本発明の実施例２を示す、この実施例は検出系
の測定器にＸ−Ｙレコーダを用いた点が実施例１と異な
り、この他の構成は実施例１と同じである。１１は被測
定用半導体レーザで、１２はその駆動用電源である。半
導体レーザ１１の出力光はポラライザ１４を通り分光器
１５により分光された後受光器１６に入る。ポラライザ
１４は光の進行方向に対し、垂直な面で一定な回転数ｆ
で回転している。１７は受光器１６のバイアス電源であ
る。抵抗８は光電流検出用抵抗でこの検出電圧はロック
インアンプ１９を通し、Ｘ−Ｙレコーダ２０により測定
される。ＴＥ波、ＴＭ波それぞれの成分により分離され
波長が測定される原理は実施例１と同じであるが、さら
に分光器１５が示す波長の大きさに対応した電気信号を
Ｘ−Ｙレコーダのもう１軸へ入力させることにより、各
偏波毎で波長対光強度の分光特性が自動的に測定される
。この実施例２はＸ−Ｙレコーダを使用しているため自
動記録が可能であり、実施例１よりも短時間で測定でき
る。
の測定器にＸ−Ｙレコーダを用いた点が実施例１と異な
り、この他の構成は実施例１と同じである。１１は被測
定用半導体レーザで、１２はその駆動用電源である。半
導体レーザ１１の出力光はポラライザ１４を通り分光器
１５により分光された後受光器１６に入る。ポラライザ
１４は光の進行方向に対し、垂直な面で一定な回転数ｆ
で回転している。１７は受光器１６のバイアス電源であ
る。抵抗８は光電流検出用抵抗でこの検出電圧はロック
インアンプ１９を通し、Ｘ−Ｙレコーダ２０により測定
される。ＴＥ波、ＴＭ波それぞれの成分により分離され
波長が測定される原理は実施例１と同じであるが、さら
に分光器１５が示す波長の大きさに対応した電気信号を
Ｘ−Ｙレコーダのもう１軸へ入力させることにより、各
偏波毎で波長対光強度の分光特性が自動的に測定される
。この実施例２はＸ−Ｙレコーダを使用しているため自
動記録が可能であり、実施例１よりも短時間で測定でき
る。
以上説明したように、本発明は、ポラライザが回転して
いるためポラライザの調整が必要なく、測定操作の簡略
化が実現できる。
いるためポラライザの調整が必要なく、測定操作の簡略
化が実現できる。
第１図は本発明の実施例１を示す図、第２図は本発明の
実施例２を示す図である。 １．１１・・・被測定用半導体レーザ、２，７゜１２．
１７・・・直流電源、８．１８・・・抵抗、４゜１４・
・・ポラライザ、５，１５・・・分光器、６．１６・・
・受光器、９．１９・・・ロックインアンプ、１０・・
・電圧計、２０・・・Ｘ−Ｙレコーダ。
実施例２を示す図である。 １．１１・・・被測定用半導体レーザ、２，７゜１２．
１７・・・直流電源、８．１８・・・抵抗、４゜１４・
・・ポラライザ、５，１５・・・分光器、６．１６・・
・受光器、９．１９・・・ロックインアンプ、１０・・
・電圧計、２０・・・Ｘ−Ｙレコーダ。
Claims (1)
- 被測定用半導体レーザ駆動用電源と、分光器と、分光器
からの光を検出して電気信号として取り出す検出系とを
備え、被測定用半導体レーザと前記分光器との間に回転
するポラライザを配置したことを特徴とする半導体レー
ザの特性測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4275688A JPH01216221A (ja) | 1988-02-24 | 1988-02-24 | 半導体レーザの特性測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4275688A JPH01216221A (ja) | 1988-02-24 | 1988-02-24 | 半導体レーザの特性測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01216221A true JPH01216221A (ja) | 1989-08-30 |
Family
ID=12644839
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4275688A Pending JPH01216221A (ja) | 1988-02-24 | 1988-02-24 | 半導体レーザの特性測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01216221A (ja) |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60189981A (ja) * | 1984-03-12 | 1985-09-27 | Nec Corp | 単一軸モ−ド半導体レ−ザ |
| JPS6125030A (ja) * | 1984-07-13 | 1986-02-03 | Hitachi Ltd | 螢光偏光測定装置 |
| JPS6156482A (ja) * | 1984-08-28 | 1986-03-22 | Nec Corp | 半導体レ−ザ素子の測定装置 |
| JPS62280626A (ja) * | 1986-05-30 | 1987-12-05 | Hitachi Ltd | 偏光変調赤外分光光度計 |
-
1988
- 1988-02-24 JP JP4275688A patent/JPH01216221A/ja active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60189981A (ja) * | 1984-03-12 | 1985-09-27 | Nec Corp | 単一軸モ−ド半導体レ−ザ |
| JPS6125030A (ja) * | 1984-07-13 | 1986-02-03 | Hitachi Ltd | 螢光偏光測定装置 |
| JPS6156482A (ja) * | 1984-08-28 | 1986-03-22 | Nec Corp | 半導体レ−ザ素子の測定装置 |
| JPS62280626A (ja) * | 1986-05-30 | 1987-12-05 | Hitachi Ltd | 偏光変調赤外分光光度計 |
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