JP3183472B2 - 光波長切替特性測定方法および測定装置 - Google Patents
光波長切替特性測定方法および測定装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光周波数多重伝送系に
おける連続あるいは不連続に波長掃引が可能なレーザ光
源の波長切替時の波長変化量および波長切替速度を測定
する光波長切替特性測定方法および測定装置に利用す
る。
おける連続あるいは不連続に波長掃引が可能なレーザ光
源の波長切替時の波長変化量および波長切替速度を測定
する光波長切替特性測定方法および測定装置に利用す
る。
【０００２】
【従来の技術】レーザ発振波長の時間的変化を測定する
方法として、ストリークカメラと分光器の組み合わせに
より、波長切替状態の変化、すなわち、切替時間と波長
の変化量を測定する方法がある。
方法として、ストリークカメラと分光器の組み合わせに
より、波長切替状態の変化、すなわち、切替時間と波長
の変化量を測定する方法がある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、ストリークカ
メラと分光器を組み合わせた従来方法は装置規模が大が
かりであり、簡単にレーザ発振波長の切替時間と波長変
化量を測定できない欠点があった。
メラと分光器を組み合わせた従来方法は装置規模が大が
かりであり、簡単にレーザ発振波長の切替時間と波長変
化量を測定できない欠点があった。
【０００４】本発明の目的は、前記の欠点を除去するこ
とにより、これらレーザ発振波長の波長変化量と波長切
替速度を簡単に測定できる測定方法と測定装置を提供す
ることにある。
とにより、これらレーザ発振波長の波長変化量と波長切
替速度を簡単に測定できる測定方法と測定装置を提供す
ることにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の光波長切替特性
測定方法は、波長掃引が可能な光源からの被測定光の周
波数を光変調器によりシフトさせ光周波数が異なる２光
束を得、前記２光束により干渉計を構成し、前記干渉計
中の２光路間に光路長差が生ずるよう調整を行い、干渉
計出力面において前記２光束による干渉により生ずる前
記光変調器による周波数シフト量に等しいビート光信号
を光検出器にて検出しビート電気信号に変換し、中心周
波数が前記光変調器による周波数シフト量に一致する周
波数弁別器により周波数弁別を行い、前記周波数弁別の
出力をＤ（ｔ）、前記光路長差をｄ、切替元波長を
λ 1 、切替先波長をλ 2 、波長切替速度をΔλとしたと
き、 Δλ＝λ 1 2 Ｄ（ｔ）／（２πｄ） により前記周波数弁別の出力を波長切替時間にわたり積
分し前記光源の波長変化量（Δλｔ＝λ 2 −λ 1 )を求め
る ことを特徴とする。
測定方法は、波長掃引が可能な光源からの被測定光の周
波数を光変調器によりシフトさせ光周波数が異なる２光
束を得、前記２光束により干渉計を構成し、前記干渉計
中の２光路間に光路長差が生ずるよう調整を行い、干渉
計出力面において前記２光束による干渉により生ずる前
記光変調器による周波数シフト量に等しいビート光信号
を光検出器にて検出しビート電気信号に変換し、中心周
波数が前記光変調器による周波数シフト量に一致する周
波数弁別器により周波数弁別を行い、前記周波数弁別の
出力をＤ（ｔ）、前記光路長差をｄ、切替元波長を
λ 1 、切替先波長をλ 2 、波長切替速度をΔλとしたと
き、 Δλ＝λ 1 2 Ｄ（ｔ）／（２πｄ） により前記周波数弁別の出力を波長切替時間にわたり積
分し前記光源の波長変化量（Δλｔ＝λ 2 −λ 1 )を求め
る ことを特徴とする。
【０００６】本発明の光波長切替特性測定装置は、２光
束干渉計と、光源からの被測定光を前記２光束干渉計へ
導く手段と、導入された前記被測定光の光周波数を所定
量だけシフトさせる手段と、前記２光束干渉計の出力面
において前記光周波数シフト量に対応するビート光信号
を検出しビート電気信号に変換する手段と、変換された
ビート電気信号を中心周波数が前記ビート光信号の周波
数に一致する中心周波数にて周波数弁別を行う手段と、
前記周波数弁別の出力をＤ（ｔ）、前記光路長差をｄ、
切替元波長をλ 1 、切替先波長をλ 2 、波長切替速度をΔ
λとしたとき、 Δλ＝λ 1 2 Ｄ（ｔ）／（２πｄ） により前記周波数弁別の出力を波長切替時間にわたり積
分し前記光源の波長変化量（Δλｔ＝λ 2 −λ 1 )を求め
る 手段とを含むことを特徴とする。
束干渉計と、光源からの被測定光を前記２光束干渉計へ
導く手段と、導入された前記被測定光の光周波数を所定
量だけシフトさせる手段と、前記２光束干渉計の出力面
において前記光周波数シフト量に対応するビート光信号
を検出しビート電気信号に変換する手段と、変換された
ビート電気信号を中心周波数が前記ビート光信号の周波
数に一致する中心周波数にて周波数弁別を行う手段と、
前記周波数弁別の出力をＤ（ｔ）、前記光路長差をｄ、
切替元波長をλ 1 、切替先波長をλ 2 、波長切替速度をΔ
λとしたとき、 Δλ＝λ 1 2 Ｄ（ｔ）／（２πｄ） により前記周波数弁別の出力を波長切替時間にわたり積
分し前記光源の波長変化量（Δλｔ＝λ 2 −λ 1 )を求め
る 手段とを含むことを特徴とする。
【０００７】
【作用】本発明は、２光束干渉計の２光路間に光路長差
を設け、干渉計出力として、この光路長差に比例する光
の位相差が波長の切り替わりに生ずる位相変化量を光ヘ
テロダイン検出と周波数弁別を併用することにより検出
するものである。また、波長の切替えを光源個々に対
し、時間的な遅延を設けることにより、複数の光源に対
して同時測定が可能となる。２光束干渉計として、トワ
イマン−グリーン干渉計、マイケルソン干渉計およびマ
ッハツェンダー干渉計等の使用が可能となる。
を設け、干渉計出力として、この光路長差に比例する光
の位相差が波長の切り替わりに生ずる位相変化量を光ヘ
テロダイン検出と周波数弁別を併用することにより検出
するものである。また、波長の切替えを光源個々に対
し、時間的な遅延を設けることにより、複数の光源に対
して同時測定が可能となる。２光束干渉計として、トワ
イマン−グリーン干渉計、マイケルソン干渉計およびマ
ッハツェンダー干渉計等の使用が可能となる。
【０００８】従って、測定装置としては、２光束干渉計
と被測定光源から２光束干渉計に光を導く手段、光周波
数をシフトさせる手段、ならびに２光束干渉計の出力面
においてビート光信号を検出してビート電気信号に変換
して周波数弁別および位相差検出等の電気的計測を行う
手段で構成でき、簡単に光源の波長切替特性（波長変化
量、波長切替速度）を測定することが可能となる。
と被測定光源から２光束干渉計に光を導く手段、光周波
数をシフトさせる手段、ならびに２光束干渉計の出力面
においてビート光信号を検出してビート電気信号に変換
して周波数弁別および位相差検出等の電気的計測を行う
手段で構成でき、簡単に光源の波長切替特性（波長変化
量、波長切替速度）を測定することが可能となる。
【０００９】
【実施例】図１は本発明の第一実施例を示すブロック構
成図で、変形トワイマン−グリーン干渉計構成をもとに
した光波長変化量の測定装置の構成図を示し、複数のレ
ーザ光源を対象に同時測定できる構成例である。図１に
おいて、１−１、１−２、…、１−ｎはｎ個のレーザ光
源、２はこれら複数のレーザ光源の波長を波長切替えが
時間的に重複しないよう変化させるための発振器、３−
１、３−２、…、３−ｎは光ファイバ、４は光カプラ、
５は偏光子、６は音響光学素子等の光周波数シフタ、７
は光周波数シフタ６の変調駆動装置、８および９は固定
鏡、１０は干渉計の両腕の光路長差を調整するための可
動鏡、１１は半透鏡、１２は光検出器、１３は周波数弁
別器、１４は周波数弁別器１３からの出力をモニタする
ためのオシロスコープ、１５は波形解析装置、ならびに
１６は演算処理装置である。
成図で、変形トワイマン−グリーン干渉計構成をもとに
した光波長変化量の測定装置の構成図を示し、複数のレ
ーザ光源を対象に同時測定できる構成例である。図１に
おいて、１−１、１−２、…、１−ｎはｎ個のレーザ光
源、２はこれら複数のレーザ光源の波長を波長切替えが
時間的に重複しないよう変化させるための発振器、３−
１、３−２、…、３−ｎは光ファイバ、４は光カプラ、
５は偏光子、６は音響光学素子等の光周波数シフタ、７
は光周波数シフタ６の変調駆動装置、８および９は固定
鏡、１０は干渉計の両腕の光路長差を調整するための可
動鏡、１１は半透鏡、１２は光検出器、１３は周波数弁
別器、１４は周波数弁別器１３からの出力をモニタする
ためのオシロスコープ、１５は波形解析装置、ならびに
１６は演算処理装置である。
【００１０】本発明の特徴は、光波長切替特性装置とし
て図１に示す構成をとったことにある。
て図１に示す構成をとったことにある。
【００１１】次に、本第一実施例による光波長切替特性
測定方法について説明する。
測定方法について説明する。
【００１２】レーザ光源１−１、１−２、…、１−ｎへ
の注入電流を変化させることによりレーザ波長が変化す
ることが知られている。発振器２によりこれらレーザ光
源１−１、１−２、…、１−ｎへの注入電流を時間的に
重複しないよう変化させ、波長を変化させる。
の注入電流を変化させることによりレーザ波長が変化す
ることが知られている。発振器２によりこれらレーザ光
源１−１、１−２、…、１−ｎへの注入電流を時間的に
重複しないよう変化させ、波長を変化させる。
【００１３】図２にレーザ光源１−１、１−２、…、１
−ｎの波長変化の様子を示す。各レーザ光源１−１〜１
−ｎからの光を光ファイバ３−１、３−２、…、３−ｎ
で光カプラ４へ導き、合波する。光カプラ４の出力ポー
トからの光を偏光子５の主軸と光周波数シフタ６の主軸
が一致するよう調整し、光周波数シフタ６により光周波
数が入射光とΔｆ異なる光を回折させ、固定鏡８および
９ならびに半透鏡１１を経て、光検出器１２へ導く。一
方、光周波数シフタ６で回折を受けなかった光は可動鏡
１０および半透鏡１１を経て光検出器１２へ導く。一つ
のレーザ光源に対し、光検出器１２における各々の光波
の複素振幅は、 Ｅ1 （ｔ）＝ｅｘｐｉ｛２πｆｔ＋φ1 ｝ Ｅ2 （ｔ）＝ｅｘｐｉ｛２π（ｆ＋Δｆ）ｔ＋φ2 ｝ と表される。ここで、ｆは光周波数、φ1 およびφ２は
個々の光路を透過した光波に対する初期位相である。こ
れら光波の干渉により、光強度Ｉ（ｔ）は、 Ｉ（ｔ）＝２［１＋ｃｏｓ｛２πΔｆｔ＋｛φ2 −φ1 ｝］ となる。波長切替えによりこの初期位相差φ2 −φ1 が
変化する。可動鏡１０により干渉計の光路長差が設定値
ｄとなるように調整した場合、初期位相差φ2 −φ1
は、 φ2 −φ1 ＝２πｄ／λ1 で与えられる。ただし、λ１は切替前の波長である。波
長切替えにより波長がλ1 からλ2 へ変化したものとす
ると、初期位相差に対する位相変化δφ（ｔ）は、単位
時間あたりの波長切替速度をΔλとし、切替時間をｔと
すれば、 δφ（ｔ）＝２πｄ［（１／λ1 ）−｛１／（λ1 ＋Δλｔ）｝］ ≒（２πｄ／λ1 2 ）（Δλｔ） と近似される（Δλ＜＜λ1 ）。光検出器出力として交
流成分Ｉ（ｔ）のみに着目すると、 Ｉ（ｔ）＝ｃｏｓ｛２πΔｆｔ＋δφ（ｔ）｝ となる。この信号を中心周波数がΔｆに等しい周波数弁
別器１３により周波数弁別した出力Ｄ（ｔ）は、 Ｄ（ｔ）＝ｄ｛δφ（ｔ）｝／ｄｔ ＝２πｄΔλ／λ1 2 となる。
−ｎの波長変化の様子を示す。各レーザ光源１−１〜１
−ｎからの光を光ファイバ３−１、３−２、…、３−ｎ
で光カプラ４へ導き、合波する。光カプラ４の出力ポー
トからの光を偏光子５の主軸と光周波数シフタ６の主軸
が一致するよう調整し、光周波数シフタ６により光周波
数が入射光とΔｆ異なる光を回折させ、固定鏡８および
９ならびに半透鏡１１を経て、光検出器１２へ導く。一
方、光周波数シフタ６で回折を受けなかった光は可動鏡
１０および半透鏡１１を経て光検出器１２へ導く。一つ
のレーザ光源に対し、光検出器１２における各々の光波
の複素振幅は、 Ｅ1 （ｔ）＝ｅｘｐｉ｛２πｆｔ＋φ1 ｝ Ｅ2 （ｔ）＝ｅｘｐｉ｛２π（ｆ＋Δｆ）ｔ＋φ2 ｝ と表される。ここで、ｆは光周波数、φ1 およびφ２は
個々の光路を透過した光波に対する初期位相である。こ
れら光波の干渉により、光強度Ｉ（ｔ）は、 Ｉ（ｔ）＝２［１＋ｃｏｓ｛２πΔｆｔ＋｛φ2 −φ1 ｝］ となる。波長切替えによりこの初期位相差φ2 −φ1 が
変化する。可動鏡１０により干渉計の光路長差が設定値
ｄとなるように調整した場合、初期位相差φ2 −φ1
は、 φ2 −φ1 ＝２πｄ／λ1 で与えられる。ただし、λ１は切替前の波長である。波
長切替えにより波長がλ1 からλ2 へ変化したものとす
ると、初期位相差に対する位相変化δφ（ｔ）は、単位
時間あたりの波長切替速度をΔλとし、切替時間をｔと
すれば、 δφ（ｔ）＝２πｄ［（１／λ1 ）−｛１／（λ1 ＋Δλｔ）｝］ ≒（２πｄ／λ1 2 ）（Δλｔ） と近似される（Δλ＜＜λ1 ）。光検出器出力として交
流成分Ｉ（ｔ）のみに着目すると、 Ｉ（ｔ）＝ｃｏｓ｛２πΔｆｔ＋δφ（ｔ）｝ となる。この信号を中心周波数がΔｆに等しい周波数弁
別器１３により周波数弁別した出力Ｄ（ｔ）は、 Ｄ（ｔ）＝ｄ｛δφ（ｔ）｝／ｄｔ ＝２πｄΔλ／λ1 2 となる。
【００１４】図２の波長切り替わり状態に対する周波数
弁別器１３の出力Ｄ（ｔ）波形の模式図を図３に示す。
上記Ｄ（ｔ）＝２πｄΔλ／λ 1 2 の式に示されるように
設定値ｄおよびλ1 を一定とすれば、出力Ｄ（ｔ）はΔ
λに比例する。ここで、Δλは単位時間当たりの波長切
替速度であるので、図２の波形の傾きに比例した値であ
り、図３のＤ（ｔ）のピーク値は、波長切替速度Δλに
比例した出力である。また上記式は Δλ＝λ 1 2 Ｄ（ｔ）／（2πｄ） と表すことができるから、設定値ｄ、λ 1 が既知である
とΔλは出力Ｄ（ｔ）に比例し、出力Ｄ（ｔ）からΔλ
を求めることができる。したがって、レーザ１−１〜１
−ｎの個々の切替時間ｔを簡単のため単位切替時間と
し、切り替わり先の波長をλ 2 とした場合、波長変化量
Δλｔはλ 2 −λ 1 であるから、切替時間ｔにわたる出力
Ｄ（ｔ）を波形解析装置１５を用いて積分し、出力Ｄ
（ｔ）波形の面積を演算処理装置１６で計算すれば、既
知の切替前の波長λ 1 から切り替わり先の波長λ 2 を求め
ることができる。
弁別器１３の出力Ｄ（ｔ）波形の模式図を図３に示す。
上記Ｄ（ｔ）＝２πｄΔλ／λ 1 2 の式に示されるように
設定値ｄおよびλ1 を一定とすれば、出力Ｄ（ｔ）はΔ
λに比例する。ここで、Δλは単位時間当たりの波長切
替速度であるので、図２の波形の傾きに比例した値であ
り、図３のＤ（ｔ）のピーク値は、波長切替速度Δλに
比例した出力である。また上記式は Δλ＝λ 1 2 Ｄ（ｔ）／（2πｄ） と表すことができるから、設定値ｄ、λ 1 が既知である
とΔλは出力Ｄ（ｔ）に比例し、出力Ｄ（ｔ）からΔλ
を求めることができる。したがって、レーザ１−１〜１
−ｎの個々の切替時間ｔを簡単のため単位切替時間と
し、切り替わり先の波長をλ 2 とした場合、波長変化量
Δλｔはλ 2 −λ 1 であるから、切替時間ｔにわたる出力
Ｄ（ｔ）を波形解析装置１５を用いて積分し、出力Ｄ
（ｔ）波形の面積を演算処理装置１６で計算すれば、既
知の切替前の波長λ 1 から切り替わり先の波長λ 2 を求め
ることができる。
【００１５】また、本第一実施例における光周波数シフ
タ６の挿入場所としては固定鏡９と半透鏡１１の間に配
置し、用いることもできる。その際、固定鏡８は不用と
なる。
タ６の挿入場所としては固定鏡９と半透鏡１１の間に配
置し、用いることもできる。その際、固定鏡８は不用と
なる。
【００１６】図４は本発明の第二実施例を示すブロック
構成図で、マッハツェンダー干渉計構成をもとにした光
波長変化量の測定装置の構成図を示し、第一実施例同
様、複数の光源を対象にした構成例である。
構成図で、マッハツェンダー干渉計構成をもとにした光
波長変化量の測定装置の構成図を示し、第一実施例同
様、複数の光源を対象にした構成例である。
【００１７】図４において、１−１、１−２、…、１−
ｎはｎ個のレーザ光源、２はこれら複数のレーザ光源１
−１〜１−ｎの波長を波長切替が時間的に重複しないよ
う変化させるための発振器、３−１、３−２、…、３−
ｎは光ファイバ、４は光カプラ、５は偏光子、６は音響
光学素子等の光周波数シフタ、７は光周波数シフタの変
調駆動装置、１７は光路差を調整するためのガラス板、
１８、１９および２０は固定鏡、２１は半透鏡、１２は
光検出器、１３は周波数弁別器、１４は周波数弁別器か
らの出力をモニタするためのオシロスコープ、１５は波
形解析装置、ならびに１６は演算処理装置である。
ｎはｎ個のレーザ光源、２はこれら複数のレーザ光源１
−１〜１−ｎの波長を波長切替が時間的に重複しないよ
う変化させるための発振器、３−１、３−２、…、３−
ｎは光ファイバ、４は光カプラ、５は偏光子、６は音響
光学素子等の光周波数シフタ、７は光周波数シフタの変
調駆動装置、１７は光路差を調整するためのガラス板、
１８、１９および２０は固定鏡、２１は半透鏡、１２は
光検出器、１３は周波数弁別器、１４は周波数弁別器か
らの出力をモニタするためのオシロスコープ、１５は波
形解析装置、ならびに１６は演算処理装置である。
【００１８】本発明の特徴は、光波長切替特性装置とし
て図４の構成をとったことにある。
て図４の構成をとったことにある。
【００１９】次に、本第二実施例による光波長切替特性
測定方法について説明する。
測定方法について説明する。
【００２０】本第二実施例に対する動作原理および測定
方法は第一実施例と同様である。第一実施例では可動鏡
を用いて干渉計の光路長差を調整したが、本干渉計構成
においては、一方の腕にくさび状のガラス板１７を挿入
し、光路長差の調整を行っている。光検出器１２以後の
電気段における信号処理方法は第一実施例と同様であ
る。
方法は第一実施例と同様である。第一実施例では可動鏡
を用いて干渉計の光路長差を調整したが、本干渉計構成
においては、一方の腕にくさび状のガラス板１７を挿入
し、光路長差の調整を行っている。光検出器１２以後の
電気段における信号処理方法は第一実施例と同様であ
る。
【００２１】また、本第二実施例における光周波数シフ
タ６の挿入場所としては、固定鏡１８の代りに半透鏡を
配置したマッハツェンダー干渉計において固定鏡１９と
半透鏡２１の間に配置し、用いることもできる。
タ６の挿入場所としては、固定鏡１８の代りに半透鏡を
配置したマッハツェンダー干渉計において固定鏡１９と
半透鏡２１の間に配置し、用いることもできる。
【００２２】前述の第一および第二実施例から分かるよ
うに、２光束干渉計を基本とした構成で光波長切替時間
も測定することができる。
うに、２光束干渉計を基本とした構成で光波長切替時間
も測定することができる。
【００２３】すなわち、周波数弁別器１３の出力の単位
時間当りの変化を、波形解析装置１５および演算処理装
置１６により求め、レーザ光源の光波長切替時間を得る
ことができる。
時間当りの変化を、波形解析装置１５および演算処理装
置１６により求め、レーザ光源の光波長切替時間を得る
ことができる。
【００２４】図５は本発明の第三実施例を示すブロック
構成図で、変形トワイマン−グリーン干渉計構成をもと
にした光波長変化量および光波長切替時間の測定装置の
構成図を示す。図５において、３１はレーザ光源、３２
は波長を切り替えるための発振器、３３は偏光子、３４
は音響光学素子等の光周波数シフタ、３５は光周波数シ
フタの変調駆動装置、３６および３７は固定鏡、３８は
干渉計の両腕の光路長差を調整するための可動鏡、３９
は半透鏡、４０は光検出器、４１は位相差検出装置、４
２は微分器、ならびに４３は微分器４２からの出力をモ
ニタするためのオシロスコープである。
構成図で、変形トワイマン−グリーン干渉計構成をもと
にした光波長変化量および光波長切替時間の測定装置の
構成図を示す。図５において、３１はレーザ光源、３２
は波長を切り替えるための発振器、３３は偏光子、３４
は音響光学素子等の光周波数シフタ、３５は光周波数シ
フタの変調駆動装置、３６および３７は固定鏡、３８は
干渉計の両腕の光路長差を調整するための可動鏡、３９
は半透鏡、４０は光検出器、４１は位相差検出装置、４
２は微分器、ならびに４３は微分器４２からの出力をモ
ニタするためのオシロスコープである。
【００２５】本発明の特徴は、光波長切替特性測定装置
として、図５の構成をとったことにある。
として、図５の構成をとったことにある。
【００２６】次に、本第三実施例による光波長切替特性
測定方法について説明する。
測定方法について説明する。
【００２７】本第三実施例に対する測定方法は光検出器
４０までは第一実施例のレーザ光源単体に対するものと
同様である。以下光検出器４０以降について説明する。
４０までは第一実施例のレーザ光源単体に対するものと
同様である。以下光検出器４０以降について説明する。
【００２８】光検出器４０の出力の交流成分Ｉ（ｔ）
は、 Ｉ（ｔ）＝ｃｏｓ｛２πΔｆｔ＋δφ（ｔ）｝ となる。この信号と光周波数シフタ３４の変調駆動信号
との位相差Φ（ｔ）は、 Φ（ｔ）＝δφ（ｔ） ＝（２πｄ／λ1 2 ）（Δλｔ） ＝（２πｄ／λ1 2 ）（λ2 −λ1 ） となる。従って、位相差検出装置４１により、既知のｄ
およびλ1 をもとに切り替わり先の波長λ2 を求めるこ
とができる。また、位相差検出装置４０の出力信号を微
分器４２により微分し、さらにその出力をオシロスコー
プ４３によりモニタすることで単位時間当りの切替波長
変化Δλを測定し光波長切替時間を求めることができ
る。
は、 Ｉ（ｔ）＝ｃｏｓ｛２πΔｆｔ＋δφ（ｔ）｝ となる。この信号と光周波数シフタ３４の変調駆動信号
との位相差Φ（ｔ）は、 Φ（ｔ）＝δφ（ｔ） ＝（２πｄ／λ1 2 ）（Δλｔ） ＝（２πｄ／λ1 2 ）（λ2 −λ1 ） となる。従って、位相差検出装置４１により、既知のｄ
およびλ1 をもとに切り替わり先の波長λ2 を求めるこ
とができる。また、位相差検出装置４０の出力信号を微
分器４２により微分し、さらにその出力をオシロスコー
プ４３によりモニタすることで単位時間当りの切替波長
変化Δλを測定し光波長切替時間を求めることができ
る。
【００２９】なお、以上の説明において、光源はレーザ
光源としたけれども、本発明は他の光源に対しても同様
に適用することができる。
光源としたけれども、本発明は他の光源に対しても同様
に適用することができる。
【００３０】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、簡単な
装置構成でもって、複数の光源を対象に同時に波長切替
特性（波長変化量、波長切替速度）を測定できる効果が
ある。
装置構成でもって、複数の光源を対象に同時に波長切替
特性（波長変化量、波長切替速度）を測定できる効果が
ある。
【００３１】従って、本発明によれば、光周波数多重伝
送系における複数光源の波長に関する動作監視、光周波
数切替えによりチャネル切替えを行う光スイッチの動作
状態監視、およびこれらシステムに使用される光源の波
長切替応答特性を高精度に同時評価でき、その効果は大
である。
送系における複数光源の波長に関する動作監視、光周波
数切替えによりチャネル切替えを行う光スイッチの動作
状態監視、およびこれらシステムに使用される光源の波
長切替応答特性を高精度に同時評価でき、その効果は大
である。
【図１】本発明の第一実施例を示すブロック構成図。
【図２】そのレーザ光源の波長変化を示す図。
【図３】図２の波長変化に対する周波数弁別器の出力波
形の模式図。
形の模式図。
【図４】本発明の第二実施例を示すブロック構成図。
【図５】本発明の第三実施例を示すブロック構成図。
１−１〜１−１−ｎ、３１ レーザ光源 ２、３２ 発振器 ３−１〜３−ｎ 光ファイバ ４ 光カプラ ５、３３ 偏光子 ６、３４ 光周波数シフタ ７、３５ 変調駆動装置 ８、９、１８、１９、２０、３６、３７ 固定鏡 １０、３８ 可動鏡 １１、２１、３９ 半透鏡 １２、４０ 光検出器 １３ 周波数弁別器 １４、４３ オシロスコープ １５ 波形解析装置 １６ 演算処理装置 １７ ガラス板 ４１ 位相差検出器 ４２ 微分器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 実開 平２−30030（ＪＰ，Ｕ) 特表 平１−503172（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01J 9/02 G01J 9/04 H04B 10/08
Claims (2)
- 【請求項１】 波長掃引が可能な光源からの被測定光の
周波数を光変調器によりシフトさせ光周波数が異なる２
光束を得、前記２光束により干渉計を構成し、前記干渉
計中の２光路間に光路長差が生ずるよう調整を行い、干
渉計出力面において前記２光束による干渉により生ずる
前記光変調器による周波数シフト量に等しいビート光信
号を光検出器にて検出しビート電気信号に変換し、中心
周波数が前記光変調器による周波数シフト量に一致する
周波数弁別器により周波数弁別を行い、前記周波数弁別
の出力をＤ（ｔ）、前記光路長差をｄ、切替元波長をλ
1 、切替先波長をλ 2 、波長切替速度をΔλとしたとき、 Δλ＝λ 1 2 Ｄ（ｔ）／（２πｄ） により前記周波数弁別の出力を波長切替時間にわたり積
分し前記光源の波長変化量（Δλｔ＝λ 2 −λ 1 )を求め
る ことを特徴とする光波長切替特性測定方法。 - 【請求項２】 ２光束干渉計と、光源からの被測定光を
前記２光束干渉計へ導く手段と、導入された前記被測定
光の光周波数を所定量だけシフトさせる手段と、前記２
光束干渉計の出力面において前記光周波数シフト量に対
応するビート光信号を検出しビート電気信号に変換する
手段と、変換されたビート電気信号を中心周波数が前記
ビート光信号の周波数に一致する中心周波数にて周波数
弁別を行う手段と、前記周波数弁別の出力をＤ（ｔ）、
前記光路長差をｄ、切替元波長をλ 1 、切替先波長を
λ 2 、波長切替速度をΔλとしたとき、 Δλ＝λ 1 2 Ｄ（ｔ）／（２πｄ） により前記周波数弁別の出力を波長切替時間にわたり積
分し前記光源の波長変化量（Δλｔ＝λ 2 −λ 1 )を求め
る 手段とを含むことを特徴とする光波長切替特性測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32478391A JP3183472B2 (ja) | 1991-12-09 | 1991-12-09 | 光波長切替特性測定方法および測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32478391A JP3183472B2 (ja) | 1991-12-09 | 1991-12-09 | 光波長切替特性測定方法および測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05157630A JPH05157630A (ja) | 1993-06-25 |
| JP3183472B2 true JP3183472B2 (ja) | 2001-07-09 |
Family
ID=18169629
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32478391A Expired - Fee Related JP3183472B2 (ja) | 1991-12-09 | 1991-12-09 | 光波長切替特性測定方法および測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3183472B2 (ja) |
-
1991
- 1991-12-09 JP JP32478391A patent/JP3183472B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05157630A (ja) | 1993-06-25 |
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|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |