JPH01216206A - 回転照射型水準測量装置 - Google Patents

回転照射型水準測量装置

Info

Publication number
JPH01216206A
JPH01216206A JP4073388A JP4073388A JPH01216206A JP H01216206 A JPH01216206 A JP H01216206A JP 4073388 A JP4073388 A JP 4073388A JP 4073388 A JP4073388 A JP 4073388A JP H01216206 A JPH01216206 A JP H01216206A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
light source
concave mirror
reflected
concave surface
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP4073388A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2591973B2 (ja
Inventor
Akira Nishimura
亮 西村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sokkisha Co Ltd
Original Assignee
Sokkisha Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sokkisha Co Ltd filed Critical Sokkisha Co Ltd
Priority to JP4073388A priority Critical patent/JP2591973B2/ja
Publication of JPH01216206A publication Critical patent/JPH01216206A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2591973B2 publication Critical patent/JP2591973B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
  • Non-Portable Lighting Devices Or Systems Thereof (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、回転反射体で光を水平方向に出射して水準測
量を行なう回転照射型水準測量装置に関する。
(従来の技術) 従来の回転照射型水準測量装置とtで、例えば第3図示
のものが知られている。
同図に示すように、レーザ・ダイオードaは、振子体す
に載置され、振子体すはコリメータレンズCの焦点距離
fに等しい長さの吊線dで吊っている。コリメータレン
ズCの真上には回転ペンタプリズムeが鉛直軸jの回り
に回転可能に支承され、駆動モータgによって回転され
るようになっている。hは、振子体すを制動するマグネ
ット式のダンパ機構である。
以上の構成によれば、レーザダイオードaからの光は、
コリメータレンズCにより平行光とされて回転ペンタプ
リズムeに入射し、駆動モータgによって回転する回転
ペンタプリズムeによって水平方向に出射される。この
出射された光がaFJ m機から離れた地点に設置した
受光部iに入射したときは、該受光部iは回転ペンタプ
リズムeと同一の高さであることが判り、水準測量が行
なえる。
この測量機は、その本体が傾斜しても振子の動きにより
レーザダイオードaは常にコリメータレンズCの真下に
位置するから、レーザダイオードaから出射する光は鉛
直光となって回転ペンタプリズムeに入射し、常に水平
光を得ることができる。  ゛ (発明が解決しようとする課WrJ) 上述の従来装置は、レーザダイオードaの故障あるいは
発光パターンの不良等の場合に、振子を分解しなければ
、その取り換えが困難である。また、振子の自動補正(
測量機が傾斜しても常に光が鉛直方向に向くようにする
補正)の精度は、コリメータレンズCの焦点距離f1吊
線dの長さ、吊線dの剛性及び振子体すの重さ等を調節
することにより決定されるが、該精度が所定の範囲内に
ないときは、振子を分解し、吊線dの長さ等を調節なけ
ればならないので、該精度の調整が難しい。
本発明は、従来のこのような問題を解決することをその
目的とするものである。
(課題を解決するための手段) 本発明は、上記の目的を達成するとめ、ビームスプリッ
タの近傍に配置した光源と、該ビームスプリッタで反射
されて下方に投光された前記光源からの光を上方に反射
する振子体である凹面鏡と、該凹面鏡により反射された
前記光がコリメータレンズを介して入射し、入射した光
が直角方向に出射して光学的平面を形成する回転反射体
とを具備し、前記凹面鏡は、その曲率中心及び反射光の
集光点と光源の発光点とが光学的に共範関係になるよう
に設置され、前記凹面鏡を吊す吊線は、前記コリメータ
レンズの焦点距離の半分の長さであることを特徴とする
としており、前記凹面鏡を吊す吊線は前記コリメータレ
ンズの焦点距離の半分の長さとしている。
(作 用) 凹面鏡はその曲率中心及びその反射光の集光点と光源と
が共範関係になるように設置され、該凹面鏡を吊す吊線
の長さがコリメータレンズの焦点距離の半分であるので
、測量機本体が傾斜した時、自動補正が働く。
第2図は、この自動補正の原理説明図である。
同図において、凹面鏡3を吊す吊線の長さをLとし、今
、測量装置が凹面鏡3の曲率中心及び反射光の集光点で
あると共にコリメータレンズ4の焦点でもある点0を中
心にして角度θだけ傾斜したとすると、光軸は11から
12となる。
傾斜した状態で、量産P1から凹面鏡3に垂直に下した
点P2から光軸12に平行に引いた線13は点P2にお
ける凹面鏡3の法線となる。
装置が傾斜した状態で点0から出た光が凹面鏡3で反射
してコリメータレンズ4の鉛直真下の位V!1P3(焦
点)に来るようにすればコリメータレンズ4から出る光
は鉛直な平行光となる。
このような条件が成立するためには、 t OP2 P4− i P4 P2 P3−αである
からOpa ” p3P、 fi Lθであればよい。
Qpss*(0wm 2 P3 Pa−2Lθ故に、L
−1/2f 即ち、吊線長さしはコリメータレンズ4の焦点距離の1
72とすることが自動補正が働く条件となる。
上記自動補正の精度が所定の範囲に入らないときは、光
源をコリメータレンズに対して遠近させ、反射光の集光
点をコリメータレンズの焦点位置に合わせて該精度を調
整する。
(実施例) 以下本発明の実施例を図面につき説明する。
第1図において、1は例えばレーザダイオードのような
光源、2は偏光ビームスプリッタ、3は凹面鏡である。
該光源1は偏光ビームスプリッタ2の近傍に配置されて
該スプリッタ2と共に例えば筒体から成る筐体5の内壁
に固着されている。凹面鏡3は、その曲率中心でもある
反射光の集光点0が光源1と光学的に共範関係が成立す
るような位置に配置され、長さがコリメータレンズ4の
焦点距離1/2である例えば3本の吊線6によって筐体
5を載置した架台7に取付台8を介して吊り下げられて
いる。コリメータレンズ4は前記集光点Oが焦点位置と
なるように偏光ビームスプリッタ2の真上に配置されて
おり、コリメータレンズ4から出射した垂直平行光線を
水平平行光線とするペンタプリズム9は、これを回転す
るモータlOを介して筐体5の上に配置されている。
前記偏光ビームスプリッタ2は、レーザダイオードから
出射する直線偏光の例えばS成分又はP成分のレーザ光
と合わせられており、その下面に接管された 1/4波
長板ifは、該スプリッタ2で反射された直線偏光S成
分又はP成分のレーザ光を透過により楕円偏光のレーザ
光とし、凹面鏡3で反射された楕円偏光のレーザ光をP
成分又はS成分のレーザ光として、少ない損失で前記ス
プリッタ2を通過させるためのものである。
尚、凹面鏡3の支持部材12に固若された導電板13を
マグネット14の磁界中に介在させることにより、従来
のものと同じように凹面鏡3の振動が抑制されるように
なっている。該マグネットI4及び前記架台7は直接及
び筒体15を介して定盤1Bに載置されている。該定盤
1Bは整準機構17を介して下盤18に取付けられてい
る。
(発明の効果) 本発明は、上述のように構成されているので、測量装置
が傾斜しても自動補正が働くと共に、光源を故障などの
ために交換又は調整するとき、あるいは自動補正の精度
を調整するときに振子を分解しなくてよいので、その作
業が容易である等の効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の断面図、第2図はその作動
説明図、第3図は従来の水準測量装置の構成を示す線図
である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ビームスプリッタの近傍に配置した光源と、該ビームス
    プリッタで反射されて下方に投光された前記光源からの
    光を上方に反射する振子体である凹面鏡と、該凹面鏡に
    より反射された前記光がコリメータレンズを介して入射
    し、入射した光が直角方向に出射して光学的平面を形成
    する回転反射体とを具備し、前記凹面鏡は、その曲率中
    心及び反射光の集光点と光源の発光点とが光学的に共範
    関係になるように設置され、前記凹面鏡を吊す吊線は、
    前記コリメータレンズの焦点距離の半分の長さであるこ
    とを特徴とする回転照射型水準測量装置。
JP4073388A 1988-02-25 1988-02-25 回転照射型水準測量装置 Expired - Fee Related JP2591973B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4073388A JP2591973B2 (ja) 1988-02-25 1988-02-25 回転照射型水準測量装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4073388A JP2591973B2 (ja) 1988-02-25 1988-02-25 回転照射型水準測量装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH01216206A true JPH01216206A (ja) 1989-08-30
JP2591973B2 JP2591973B2 (ja) 1997-03-19

Family

ID=12588834

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4073388A Expired - Fee Related JP2591973B2 (ja) 1988-02-25 1988-02-25 回転照射型水準測量装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2591973B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04216407A (ja) * 1990-12-14 1992-08-06 Asahi Seimitsu Kk 工事用測量機械
CN110243355A (zh) * 2019-06-11 2019-09-17 中国一冶集团有限公司 一种短距离校准激光铅垂仪的方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04216407A (ja) * 1990-12-14 1992-08-06 Asahi Seimitsu Kk 工事用測量機械
CN110243355A (zh) * 2019-06-11 2019-09-17 中国一冶集团有限公司 一种短距离校准激光铅垂仪的方法
CN110243355B (zh) * 2019-06-11 2021-10-01 中国一冶集团有限公司 一种短距离校准激光铅垂仪的方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2591973B2 (ja) 1997-03-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4854704A (en) Optical automatic levelling apparatus
US3936197A (en) Self-leveling laser assembly
US5033848A (en) Pendulous compensator for light beam projector
JP3519777B2 (ja) 角度自動補償装置
JPH0415403B2 (ja)
JPH01216206A (ja) 回転照射型水準測量装置
US6384913B1 (en) Active compensator damping in laser transmitters
US5032014A (en) Datum beam projecting apparatus for use with surveying equipment
US5026157A (en) Magnetic motion damping system for pendulous compensator
JP3435788B2 (ja) レーザ投光装置
JPH0949734A (ja) 墨出し用レーザ装置
JPH0430492Y2 (ja)
JPH0734336Y2 (ja) 照射光学装置を搭載した測量機
JP2808089B2 (ja) 墨出し用レーザー装置
JP4135842B2 (ja) レーザ投光器
JPH046083Y2 (ja)
JP2509509Y2 (ja) 平面設定器
JPS60203807A (ja) レ−ザ−測量機械
JPH0755766Y2 (ja) 車両用灯具の光軸調整装置
JPH047165B2 (ja)
JPH049537Y2 (ja)
JPH0346401Y2 (ja)
JPH0323617Y2 (ja)
JP3122517B2 (ja) 基準面形成用測量器械
JP3741478B2 (ja) ガイド光方向設定装置

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees