JPH01212752A - 超電導薄膜作製装置 - Google Patents
超電導薄膜作製装置Info
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- JPH01212752A JPH01212752A JP63034721A JP3472188A JPH01212752A JP H01212752 A JPH01212752 A JP H01212752A JP 63034721 A JP63034721 A JP 63034721A JP 3472188 A JP3472188 A JP 3472188A JP H01212752 A JPH01212752 A JP H01212752A
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 30
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims abstract description 30
- 239000007769 metal material Substances 0.000 claims abstract description 13
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims abstract description 12
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 13
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 13
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 12
- 239000010408 film Substances 0.000 abstract description 34
- 239000002887 superconductor Substances 0.000 description 19
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 16
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 13
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 11
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 description 10
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 10
- 229910001882 dioxygen Inorganic materials 0.000 description 9
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N Dioxygen Chemical compound O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 4
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 4
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 3
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 2
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 2
- 238000011282 treatment Methods 0.000 description 2
- 229910052692 Dysprosium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052693 Europium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052688 Gadolinium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052689 Holmium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052779 Neodymium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052777 Praseodymium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052772 Samarium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052771 Terbium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052775 Thulium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000498 cooling water Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 229910001026 inconel Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010849 ion bombardment Methods 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- -1 oxygen gas ion Chemical class 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 1
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000013077 target material Substances 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E40/00—Technologies for an efficient electrical power generation, transmission or distribution
- Y02E40/60—Superconducting electric elements or equipment; Power systems integrating superconducting elements or equipment
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- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、スパッタリング現象を利用して高温超電導薄
膜作製用のターゲットを備えた超電導薄膜作製装置に関
する。
膜作製用のターゲットを備えた超電導薄膜作製装置に関
する。
(従来の技術と発明が解決しようとする問題点)近年、
臨界温度(以下Tcという)30にで超電導状態をあら
れすLa−Ba−Cu−0系の酸化物超電導体が発見さ
れて以来、世界中で超電導体の研究が急速に進められ、
その結果、液体窒素(77K)を越えるTc90にのB
a−Y−Cu−0系の酸化物超電導体が発見された。こ
のように超電導状態を示すTcが上昇することでその応
用分野は急速に広がり、当該超電導体物質の薄膜化や線
材1ヒへの研究が活発に行われている。
臨界温度(以下Tcという)30にで超電導状態をあら
れすLa−Ba−Cu−0系の酸化物超電導体が発見さ
れて以来、世界中で超電導体の研究が急速に進められ、
その結果、液体窒素(77K)を越えるTc90にのB
a−Y−Cu−0系の酸化物超電導体が発見された。こ
のように超電導状態を示すTcが上昇することでその応
用分野は急速に広がり、当該超電導体物質の薄膜化や線
材1ヒへの研究が活発に行われている。
当該超電導体の薄膜1ヒの手段として、蒸着法やスパッ
タ法等が行われている。しかし、従来のスパッタ現象を
利用した超電導薄膜作製装置では、ターゲットとじて焼
結体ターゲット(例えば、Ba−Y−Cu−0膜)を使
用していたため、次のような問題があった。すなわち、 (1)ターゲットに組成の経時変化が起こり、基板上に
作製する膜の組成制御が困難であった。
タ法等が行われている。しかし、従来のスパッタ現象を
利用した超電導薄膜作製装置では、ターゲットとじて焼
結体ターゲット(例えば、Ba−Y−Cu−0膜)を使
用していたため、次のような問題があった。すなわち、 (1)ターゲットに組成の経時変化が起こり、基板上に
作製する膜の組成制御が困難であった。
(2)作製される膜の組成が最適な1ヒ学里論比からず
れていた場合、その化学量論比の補正が困難であった。
れていた場合、その化学量論比の補正が困難であった。
ちなみに現在、B a −Y −CLl ” O系の酸
化物超電導体の最適な化学量論比とされているのは、1
: 2:3: 6.9の割合である。
化物超電導体の最適な化学量論比とされているのは、1
: 2:3: 6.9の割合である。
(3)ターゲット中の酸素含有量がわからず、基板上に
作製する膜中の酸素量を制御するのが困難であった。
作製する膜中の酸素量を制御するのが困難であった。
(4)焼結体ターゲットは、もろくて割れ易い。
(5)焼結体ターゲットを使用しているため、膜のデボ
ジッションレートが遅い。
ジッションレートが遅い。
t 十 ン炙 叩 ど)p 酔 1
\ l十〜 7T+ 11 リノ p −U ノ本発明
の目的は、膜の組成制御を簡単に行ない、膜中の酸素量
を制御し、高温超電導薄膜のデボジッションレートを向
上させることができる超電導薄膜製造装置を提供するこ
とにある。
の目的は、膜の組成制御を簡単に行ない、膜中の酸素量
を制御し、高温超電導薄膜のデボジッションレートを向
上させることができる超電導薄膜製造装置を提供するこ
とにある。
(問題点を解決するための手段)
本発明は、上記目的を達成するために次のように構成さ
れている。すなわち、加熱可能な基板保持手段に固着し
た基板と超電導薄膜作製用ターゲットとを真空に排気さ
れたチャンバー内に、互いに対向するように配置し、ス
パッタ法により基板上に超電導薄膜を作製する超電導薄
膜作製装置において、上記ターゲットが少なくとも3種
類の金属材料を組み合わせて構成した金属ターゲットで
あることを特徴とする。
れている。すなわち、加熱可能な基板保持手段に固着し
た基板と超電導薄膜作製用ターゲットとを真空に排気さ
れたチャンバー内に、互いに対向するように配置し、ス
パッタ法により基板上に超電導薄膜を作製する超電導薄
膜作製装置において、上記ターゲットが少なくとも3種
類の金属材料を組み合わせて構成した金属ターゲットで
あることを特徴とする。
(作用)
上記のようにターゲットを複数の金属材料によって構成
しているので、これら金属材料の組成比を変えると、プ
ラズマに晒されるターゲットの表面の面積比を変えるこ
とができる。これによって、基板上に作製される超電導
薄膜が最適な化学量論比になるように制御することがで
きる。
しているので、これら金属材料の組成比を変えると、プ
ラズマに晒されるターゲットの表面の面積比を変えるこ
とができる。これによって、基板上に作製される超電導
薄膜が最適な化学量論比になるように制御することがで
きる。
(実施例)
第1図は本発明の実施例を示している。なお、実際の高
温超電導体薄膜の製造に際しては、高周波スパッタ方式
、DCスパッタ方式、高周波マグネトロシスバッタ方式
等のスパッタ方式を実施したが、以下には、高周波スパ
ッタ方式を用いた場合について詳細に説明する。
温超電導体薄膜の製造に際しては、高周波スパッタ方式
、DCスパッタ方式、高周波マグネトロシスバッタ方式
等のスパッタ方式を実施したが、以下には、高周波スパ
ッタ方式を用いた場合について詳細に説明する。
図中符号1はターゲット、2はMgO1S、T。
02、ysz、z、o、サファイアなどからなる基板、
3は基板ステージで、上記基板2を保持している。当該
基板ステージ3は、温調計13及び電力調整器14によ
って制御され、±0.5℃の制御が可能なヒータ5を内
蔵している。そして、当該ヒータ5によって基板ステー
ジ3を加熱し、その抵抗加熱によって基板2を加熱する
ようにしている。
3は基板ステージで、上記基板2を保持している。当該
基板ステージ3は、温調計13及び電力調整器14によ
って制御され、±0.5℃の制御が可能なヒータ5を内
蔵している。そして、当該ヒータ5によって基板ステー
ジ3を加熱し、その抵抗加熱によって基板2を加熱する
ようにしている。
また、該基板ステージ3は、耐酸化性の強い材料、例え
ば、インコネルで構成されているため、10”Torr
の酸素雰囲気中でも800℃まで加熱が可能である。図
中符号4は、上記基板ステージ3の加熱効率を上げる反
射板である。当該反射板4は、断面コの字型に形成され
、基板ステージ3の基板保持側を除く外側を覆うように
設けられている。
ば、インコネルで構成されているため、10”Torr
の酸素雰囲気中でも800℃まで加熱が可能である。図
中符号4は、上記基板ステージ3の加熱効率を上げる反
射板である。当該反射板4は、断面コの字型に形成され
、基板ステージ3の基板保持側を除く外側を覆うように
設けられている。
また、矢印6及び6′は、イオン衝撃によって起こるカ
ソード18に設置したターゲットの温度上昇を防ぐため
に、ターゲット電極1内に供給する冷却水の流入流出方
向を示している。7及び8はガス導入のためのバリアプ
ルリークバルブであり、これにより、各々アルゴンガス
及び酸素カスが導入される。
ソード18に設置したターゲットの温度上昇を防ぐため
に、ターゲット電極1内に供給する冷却水の流入流出方
向を示している。7及び8はガス導入のためのバリアプ
ルリークバルブであり、これにより、各々アルゴンガス
及び酸素カスが導入される。
ここで導入するガスの種類は、プロセスによって異なる
。本実施例ではアルゴンガス、単体カス又はアルゴンガ
スと酸素ガスの混合ガスを用いている。9はチャンバー
12を真空にする排気システムで、これにより、バック
グランドの真空を1O−5Pa台に保っている。10は
マツチングボックス、11はRF電源であり、上記バリ
アプルリークバルブ7.8を介して上記アルゴンガス及
び酸素ガスをチャンバー12内に導入し、1o−1〜1
0Pa台の圧力でRF電力をRF電源11、マツチング
ボックス10を通してターゲット1に供給し、チャンバ
ー12内にプラズマを発生させる。
。本実施例ではアルゴンガス、単体カス又はアルゴンガ
スと酸素ガスの混合ガスを用いている。9はチャンバー
12を真空にする排気システムで、これにより、バック
グランドの真空を1O−5Pa台に保っている。10は
マツチングボックス、11はRF電源であり、上記バリ
アプルリークバルブ7.8を介して上記アルゴンガス及
び酸素ガスをチャンバー12内に導入し、1o−1〜1
0Pa台の圧力でRF電力をRF電源11、マツチング
ボックス10を通してターゲット1に供給し、チャンバ
ー12内にプラズマを発生させる。
さらに、プラズマ中のイオンが加速され、ターゲットに
衝突してターゲットからターゲツト材粒子をたたきたし
、基板上に所望の膜を作製することができる。
衝突してターゲットからターゲツト材粒子をたたきたし
、基板上に所望の膜を作製することができる。
本発明者は、上記した構造の超電導薄膜作製装置によっ
て種々の実験を行ったが、特に、M g O基板上に約
1μmのYB、2Cu30□膜を成膜することができた
ので、以下、これについて説明する。
て種々の実験を行ったが、特に、M g O基板上に約
1μmのYB、2Cu30□膜を成膜することができた
ので、以下、これについて説明する。
なお、使用したターゲットとしては、金属材料を組み合
わせて構成した金属ターゲットを用い、導入ガスとして
、アルゴンガスを用いた。
わせて構成した金属ターゲットを用い、導入ガスとして
、アルゴンガスを用いた。
第2図及び第3図は、このときの金属ターゲットの形状
及び構成を示しており、当該各図の(a)は、金属ター
ゲット1の平面図、 (b)は、金属ターゲット1の側
面図である。この図から明らかなように、当該ターゲッ
ト1は、Ba15、¥16、Cu17の3種類の金属材
料を組合わせるように構成している。この点、従来のタ
ーゲットが焼結体で構成されていたのと相違している。
及び構成を示しており、当該各図の(a)は、金属ター
ゲット1の平面図、 (b)は、金属ターゲット1の側
面図である。この図から明らかなように、当該ターゲッ
ト1は、Ba15、¥16、Cu17の3種類の金属材
料を組合わせるように構成している。この点、従来のタ
ーゲットが焼結体で構成されていたのと相違している。
第2図(A)に示した金属ターゲット1はBa、Y、C
uの各金属材料を均等に組み合わせたものである。また
、第3図(a)はYを下地として、BaとCuを放射状
に絹み込むようにしたものである。もっとも、このよう
な金属材料の組合わせは、各金属材料が生成されるプラ
ズマに晒される表面積を変えることができるようにする
限り、様々な組合わせが可能である。
uの各金属材料を均等に組み合わせたものである。また
、第3図(a)はYを下地として、BaとCuを放射状
に絹み込むようにしたものである。もっとも、このよう
な金属材料の組合わせは、各金属材料が生成されるプラ
ズマに晒される表面積を変えることができるようにする
限り、様々な組合わせが可能である。
ところで、圧力、電力、基板温度等の各種条件により、
ターゲットのスパッタ率が変わり、膜組成に影響を与え
ることは既知の事実である。従って、当該ターゲット1
を構成するBa、Y、Cuのスパッタ車を考寸し・て、
基板上くこ形成されろ高Tc膜の膜組成が前記した最適
な化学量論比となるように、Ba、Y、Cuのプラズマ
ζこ■西されるBa、Y、Cuの表面の面積比を選定す
るようにしている。
ターゲットのスパッタ率が変わり、膜組成に影響を与え
ることは既知の事実である。従って、当該ターゲット1
を構成するBa、Y、Cuのスパッタ車を考寸し・て、
基板上くこ形成されろ高Tc膜の膜組成が前記した最適
な化学量論比となるように、Ba、Y、Cuのプラズマ
ζこ■西されるBa、Y、Cuの表面の面積比を選定す
るようにしている。
そして、上記のような1ヒ学量論比となるよう調整され
た膜に、種々の方法を用いて酸素をドーピングする。酸
素ドーピングの方法として種々行ったが、その中で代表
的なものは次の三つの方法である。
た膜に、種々の方法を用いて酸素をドーピングする。酸
素ドーピングの方法として種々行ったが、その中で代表
的なものは次の三つの方法である。
第1は、酸素ガスイオン銃による方法、第2は、プラズ
マ酸化による方法、第3は、酸素雰囲気中・ の熱処理
による方法である。これらの処理を施すことによりT
cが86 Kの高温超電導体薄膜を再現性よく作製でき
た。
マ酸化による方法、第3は、酸素雰囲気中・ の熱処理
による方法である。これらの処理を施すことによりT
cが86 Kの高温超電導体薄膜を再現性よく作製でき
た。
また、as−deposi teの状態(膜作製後でア
ニールなどの処理を未だやっていない状態)で高温超電
導体薄膜を作製するために、バリアプルリークバルブ8
.9を介して、アルゴンガスに酸素ガスを混合して導入
することにより、膜の組成及び膜中の酸素量を制御する
。
ニールなどの処理を未だやっていない状態)で高温超電
導体薄膜を作製するために、バリアプルリークバルブ8
.9を介して、アルゴンガスに酸素ガスを混合して導入
することにより、膜の組成及び膜中の酸素量を制御する
。
当該膜中の酸素量は、酸素ガス圧比が上昇すれば、その
分圧比に比例して上昇するため、酸素ガス圧比を調整す
ることにより膜中の酸素を制御することができ、as−
depos i teて高温超電導体薄膜が得られ、T
cが86 Kの高温超電導体薄膜が再現性よく作製でき
た。
分圧比に比例して上昇するため、酸素ガス圧比を調整す
ることにより膜中の酸素を制御することができ、as−
depos i teて高温超電導体薄膜が得られ、T
cが86 Kの高温超電導体薄膜が再現性よく作製でき
た。
現状でのアルゴンガスのみのプロセスでは、高温超電導
体薄膜を作製するために成膜後、900℃近傍の0゜雰
囲気中でのアニール処理が必要であるが、成膜速度を速
くすることができる特徴がある。他方、アルゴンガス+
酸素ガスの混合カスのプロセスでは、成膜速度は低下す
るが、化学量論比が最適な高温超電導に適合してくるた
め、as−depos i teの状態で高温超電導体
薄膜を作成できる特徴がある。
体薄膜を作製するために成膜後、900℃近傍の0゜雰
囲気中でのアニール処理が必要であるが、成膜速度を速
くすることができる特徴がある。他方、アルゴンガス+
酸素ガスの混合カスのプロセスでは、成膜速度は低下す
るが、化学量論比が最適な高温超電導に適合してくるた
め、as−depos i teの状態で高温超電導体
薄膜を作成できる特徴がある。
第4図及び第5図は本発明の他の実施例を示している。
なお、前記実施例と同じ構成要素については同一符号を
使用する。
使用する。
当該ターゲットの特徴は、その形状にあり、前記実施例
の場合のターゲットの形状が平板型であるのに対し、矩
形の立体形状をしている。このような形状のターゲット
は、第6図に示すように、カソード18内に収納されて
おり、上記平板型のカソードに比べ、膜をデボジッショ
ンさせる方向に指向性がある。特に、プラズマ密度が高
くなることから、high−rateで膜を作成できる
特徴がある。当該立体型ターゲットを用いた超電導体薄
膜の製造方法としても前記平板型ターゲットと同様な効
果が得られた。
の場合のターゲットの形状が平板型であるのに対し、矩
形の立体形状をしている。このような形状のターゲット
は、第6図に示すように、カソード18内に収納されて
おり、上記平板型のカソードに比べ、膜をデボジッショ
ンさせる方向に指向性がある。特に、プラズマ密度が高
くなることから、high−rateで膜を作成できる
特徴がある。当該立体型ターゲットを用いた超電導体薄
膜の製造方法としても前記平板型ターゲットと同様な効
果が得られた。
以上のように、本発明の超電導体薄膜作製装置によると
、従来の焼結体ターゲットを用いた同様の装置と比べて
、超電導体薄膜の作成方法に選択の幅があり、かつ精密
に再現性良く作成できる特徴がある。
、従来の焼結体ターゲットを用いた同様の装置と比べて
、超電導体薄膜の作成方法に選択の幅があり、かつ精密
に再現性良く作成できる特徴がある。
なお、上記実施例において、Y1Ba2Cu3O7−y
膜について述べたが、LnBa2Cu307−y膜(L
n=La、CeS Pr、Nd、Pm、Sm。
膜について述べたが、LnBa2Cu307−y膜(L
n=La、CeS Pr、Nd、Pm、Sm。
Eu、 Gd、 Tb、 Dy、 Ho、
Er、 Tm、 Y1〕、Lu)でも同様な結果を得
ることができ、更にこれらの膜にNb、Sr、 Ca
、Sc等を加えた膜でも超電導体薄膜を得られた。特に
、5rBaYcu30y膜は、室温で超電導体薄膜が得
られた。
Er、 Tm、 Y1〕、Lu)でも同様な結果を得
ることができ、更にこれらの膜にNb、Sr、 Ca
、Sc等を加えた膜でも超電導体薄膜を得られた。特に
、5rBaYcu30y膜は、室温で超電導体薄膜が得
られた。
また、カソード形状については、他に多角形などが考え
られ、円形、矩形に限定されるものではない。
られ、円形、矩形に限定されるものではない。
(発明の効果)
本発明の請求項(1)によれば、ターゲットの面積比を
変えて、酸素ガスを成膜中又は成膜後にドープすること
により、膜の組成及び膜中の酸素を容易に制御できると
ともに、成膜速度の向上した精密な超電導体薄膜を再現
性良く作製できる。
変えて、酸素ガスを成膜中又は成膜後にドープすること
により、膜の組成及び膜中の酸素を容易に制御できると
ともに、成膜速度の向上した精密な超電導体薄膜を再現
性良く作製できる。
請求項(2)によれば、所望の超電導体薄膜を精密に再
現性良く作成できる。
現性良く作成できる。
第1図は本発明に係る装置の概略図、第2図(a)は他
の実施例に係る金属ターゲットの平面図、同図(b)は
実施例に係る金属ターゲットのm1面図、第3図(a)
は第2実施例に係る金属ターゲットの平面図、同図(b
)は第2実施例に係る金属ターゲットの側面図、第4図
(a)は第3実施例に係る金属ターゲットの平面図、同
図(b)は第3実施例に係る金属ターゲットの側面図、
第5図は第4図に示した金属ターゲットをカソード内に
収容した状態を示したものである。 1・・・金属ターゲット、2・・・基板、3・・・基板
ステージ、5・・・ヒータ、12・・・チャンバー、1
5・・・Ba材、16・−−1才、17・ ・ ・CL
l材。 特許出願人 工業技術院長 (はか1名)指定代理人
工業技術院電子技術総合研究所長杉油 賢
の実施例に係る金属ターゲットの平面図、同図(b)は
実施例に係る金属ターゲットのm1面図、第3図(a)
は第2実施例に係る金属ターゲットの平面図、同図(b
)は第2実施例に係る金属ターゲットの側面図、第4図
(a)は第3実施例に係る金属ターゲットの平面図、同
図(b)は第3実施例に係る金属ターゲットの側面図、
第5図は第4図に示した金属ターゲットをカソード内に
収容した状態を示したものである。 1・・・金属ターゲット、2・・・基板、3・・・基板
ステージ、5・・・ヒータ、12・・・チャンバー、1
5・・・Ba材、16・−−1才、17・ ・ ・CL
l材。 特許出願人 工業技術院長 (はか1名)指定代理人
工業技術院電子技術総合研究所長杉油 賢
Claims (2)
- (1)加熱可能な基板保持手段に固着した基板と超電導
薄膜作製用ターゲットとを真空に排気されたチャンバー
内に、互いに対向するように配置し、スパッタ法により
基板上に超電導薄膜を作製する超電導薄膜作製装置にお
いて、上記ターゲットが少なくとも3種類の金属材料を
組み合わせて構成した金属ターゲットであることを特徴
とする超電導薄膜作製装置。 - (2)金属材料が、Ba及び/又はY及び/又はCu及
び/又はNb及び/又はSr及び/又はLn及び/又は
Ca及び/又はScであることを特徴とする請求項(1
)記載の超電導薄膜作製装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63034721A JPH0621344B2 (ja) | 1988-02-17 | 1988-02-17 | 超電導薄膜作製装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63034721A JPH0621344B2 (ja) | 1988-02-17 | 1988-02-17 | 超電導薄膜作製装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01212752A true JPH01212752A (ja) | 1989-08-25 |
JPH0621344B2 JPH0621344B2 (ja) | 1994-03-23 |
Family
ID=12422191
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63034721A Expired - Lifetime JPH0621344B2 (ja) | 1988-02-17 | 1988-02-17 | 超電導薄膜作製装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0621344B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1997036020A1 (en) * | 1996-03-26 | 1997-10-02 | Technion Research & Development Foundation Limited | Ceramic target for thin film deposition |
KR100466307B1 (ko) * | 1997-10-25 | 2005-05-19 | 삼성전자주식회사 | 반도체소자제조장치및이를이용한디가스공정,식각공정및열처리공정 |
KR102591747B1 (ko) * | 2023-07-07 | 2023-10-23 | 주식회사 마루엘앤씨 | 선재 증착 장치 |
-
1988
- 1988-02-17 JP JP63034721A patent/JPH0621344B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1997036020A1 (en) * | 1996-03-26 | 1997-10-02 | Technion Research & Development Foundation Limited | Ceramic target for thin film deposition |
KR100466307B1 (ko) * | 1997-10-25 | 2005-05-19 | 삼성전자주식회사 | 반도체소자제조장치및이를이용한디가스공정,식각공정및열처리공정 |
KR102591747B1 (ko) * | 2023-07-07 | 2023-10-23 | 주식회사 마루엘앤씨 | 선재 증착 장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0621344B2 (ja) | 1994-03-23 |
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