JPH01202866A - 分子素子 - Google Patents

分子素子

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JPH01202866A
JPH01202866A JP63027925A JP2792588A JPH01202866A JP H01202866 A JPH01202866 A JP H01202866A JP 63027925 A JP63027925 A JP 63027925A JP 2792588 A JP2792588 A JP 2792588A JP H01202866 A JPH01202866 A JP H01202866A
Authority
JP
Japan
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film
polymer
substrate
polyimide
glass substrate
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Pending
Application number
JP63027925A
Other languages
English (en)
Inventor
Seiichi Iwamatsu
誠一 岩松
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は分子素子基板の材料構成に関する。
〔従来の技術〕
従来、分子素子は、ガラス基板上やシリコン上に、酸化
シリコン膜を形成した基板上等に形成されるのが通例で
あった。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかし、上記従来技術によると、例えば通常のソーダ・
ガラス上にステアリン酸カドミウムの高分子膜をテング
ミエア・プロジェット法で20分子層形成したダイオー
ドを作成すると、ステアリン酸カドミニウム膜にクラッ
クが発生し、素子が破壊に至ると云う問題点があった。
本発明は、かかる従来技術の問題点をなくし、クラック
のない分子素子を作るための基板材料構成を提供する事
を目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
上記問題点を解決するために1本発明は、分子素子に関
し、ポリイミドあるいはエポキシ上に高分子から成る電
子素子を形成する手段をとる。
〔実施例〕
以下、実施例により本発明を詳述する。
第1図は本発明の一実施例を示す分子素子の断面図であ
る。すなわち、ガラス基板1の表面にはポリイミド膜あ
るいはエポキシ樹脂膜からなる高分子膜基板2を塗布し
、該高分子膜基板2上に、ポリアニリン3.ゲート絶縁
膜4.ゲー)[極5から成る電界効果型トランジスタを
形成したものである。尚、該電界効果型トランジスタの
素子分離あるいは表面保護膜にポリイミド膜を用いても
良いことは云うまでもない。又、本発明はトラン。
ジスタに限らずダイオードや抵抗体あるいは容量体等の
他の高分子による電子素子であってもよい事は云うまで
もなく、高分子膜基板2はポリイミド膜単体あるいはエ
ポキシ樹脂単体であってガラス基板1は無くても良く、
更にガラス基板1は、金属板等であっても良い。
〔発明の効果〕
本発明により、ポリイミド膜やエポキシ樹脂はガラス基
板1と高分子素子との熱膨張率差を緩和する働きをし、
高分子素子がクラックして破壊するのを防止することが
できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す分子素子の断面図であ
る。 1・・・・・・・・・ガラス基板 2・・・・・・・・・高分子膜基板 3・・・・・・・・・ポリアニリン 4・・・・・・・・・ゲート絶縁膜 5・・・・・・・・・ゲー ト電極 以上 出願人 セイコーエプソン株式会社 代理人 弁理士最上筋(他1名)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  ポリイミドあるいはエポキシ上には高分子から成る電
    子素子が形成されて成る事を特徴とする分子素子。
JP63027925A 1988-02-09 1988-02-09 分子素子 Pending JPH01202866A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004072049A (ja) * 2002-08-09 2004-03-04 Ricoh Co Ltd 有機tft素子及びその製造方法
JP2010177678A (ja) * 2001-03-07 2010-08-12 Acreo Ab 電気化学装置
JP2017063155A (ja) * 2015-09-25 2017-03-30 富士フイルム株式会社 有機薄膜トランジスタ、有機薄膜トランジスタ用材料、有機薄膜トランジスタ用材料セット、有機薄膜トランジスタの製造方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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