JPH01201129A - 変位検出装置 - Google Patents
変位検出装置Info
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- JPH01201129A JPH01201129A JP63024036A JP2403688A JPH01201129A JP H01201129 A JPH01201129 A JP H01201129A JP 63024036 A JP63024036 A JP 63024036A JP 2403688 A JP2403688 A JP 2403688A JP H01201129 A JPH01201129 A JP H01201129A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 38
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野〕
この発明は力センサ等の変位検出装置に関する。
[従来の技術]
力センサ等の変位検出装置は、機械的な動きを扱う各種
9分野で多用されている。
9分野で多用されている。
従来の変位検出装置を第13図乃至第15図に示す。
第13図は、1軸方向の曲げ変位を検出する変位検出装
置を示すものである。この変位検出装置は、作動軸11
をポテンショメータ12の回転軸13に取り付け、力F
による作動軸11の変位をポテンショメータ12の回転
量によって検出するものである。なお、14は力Fが除
かれたときに作動軸11を元の位置に戻す復元ばねであ
る。
置を示すものである。この変位検出装置は、作動軸11
をポテンショメータ12の回転軸13に取り付け、力F
による作動軸11の変位をポテンショメータ12の回転
量によって検出するものである。なお、14は力Fが除
かれたときに作動軸11を元の位置に戻す復元ばねであ
る。
第14図は、1軸の直動変位を検出する変位検出装置を
示すものである。
示すものである。
この変位検出装置は、力Fによるリニアポテンショメー
タ15の摺動軸16の摺動量を直動変位として検出する
ものである。
タ15の摺動軸16の摺動量を直動変位として検出する
ものである。
第15図は3軸の変位を検出する変位検出装置を示すも
のである。
のである。
この変位検出装置は、各軸(X+ y、Z軸)ごとに
リニアポテンショメータ17,18.19を設け、これ
らを連結することにより、力Fによる作動軸20の変位
を各軸の直動変位に分解して検出するものである。
リニアポテンショメータ17,18.19を設け、これ
らを連結することにより、力Fによる作動軸20の変位
を各軸の直動変位に分解して検出するものである。
以上、従来の変位検出装置の構成を説明したが、第13
図に示す変位検出装置は、変位を直接検出する構成では
ないものの、ポテンショメータ12そのものが大型であ
るため、検出する変位に関係なく構成が大型になるとい
う問題があった。
図に示す変位検出装置は、変位を直接検出する構成では
ないものの、ポテンショメータ12そのものが大型であ
るため、検出する変位に関係なく構成が大型になるとい
う問題があった。
第14図および第15図に示す変位検出装置は、変位を
直接検出する構成であるため、検出する変位か大きくな
れば、それだけ構成が大型になるという問題があった。
直接検出する構成であるため、検出する変位か大きくな
れば、それだけ構成が大型になるという問題があった。
また、これは、リニアポテンショショメータが構成上ど
うしてもその検出可能変位しく第14図参照)以上の長
さし+αを必要とすることにも起因していた。
うしてもその検出可能変位しく第14図参照)以上の長
さし+αを必要とすることにも起因していた。
また、以上の説明では、1軸および3輔の変位検出装置
を説明したが、従来の技術では、2軸の変位検出装置は
、変位が大きくなると、実現そのものが難しいという問
題があった。
を説明したが、従来の技術では、2軸の変位検出装置は
、変位が大きくなると、実現そのものが難しいという問
題があった。
[発明が解決しようとする課題]
以上述べたように従来の変位検出装置においては、大き
な変位を小さな構成で検出することができないという問
題があった。また、検出する変位が大きくなると、2軸
以上の変位を検出する装置は、実現そのものが難しいと
いう問題があった。
な変位を小さな構成で検出することができないという問
題があった。また、検出する変位が大きくなると、2軸
以上の変位を検出する装置は、実現そのものが難しいと
いう問題があった。
そこで、この発明は、小さな構成で大きな変位を検出す
ることができ、かつ、2軸のものも容易に構成すること
ができる変位検出装置を提供することを目的とする。
ることができ、かつ、2軸のものも容易に構成すること
ができる変位検出装置を提供することを目的とする。
[課題を解決・するための手段]
上記目的を達成するために、この発明の変位検出装置に
おいては、第1の弾性体にこれよりも剛性の低い第2の
弾性体を連結し、光センサによって第1の弾性体の変位
を検出することにより、第2の弾性体の変位を検出する
ようにしたものである。
おいては、第1の弾性体にこれよりも剛性の低い第2の
弾性体を連結し、光センサによって第1の弾性体の変位
を検出することにより、第2の弾性体の変位を検出する
ようにしたものである。
[作用コ
上記のように構成されたこの発明の変位検出装置の第2
の弾性体に力を加えると、この第2の弾性体が変位する
。また、この力は第2の弾性体を介して第1の弾性体に
加えられるので、この第1の弾性体も変位する。この場
合、第1の弾性体の剛性が第2の弾性体の剛性よりも高
いので、第1の弾性体の変位は第2の弾性体の変位より
も小さくなる。この変位縮小機能により大きな変位を直
接検出する場合よりも装置を小型化することができる。
の弾性体に力を加えると、この第2の弾性体が変位する
。また、この力は第2の弾性体を介して第1の弾性体に
加えられるので、この第1の弾性体も変位する。この場
合、第1の弾性体の剛性が第2の弾性体の剛性よりも高
いので、第1の弾性体の変位は第2の弾性体の変位より
も小さくなる。この変位縮小機能により大きな変位を直
接検出する場合よりも装置を小型化することができる。
また、光センサは入力の変化に対する出力の変化率が高
く、また、著しく再現性が良い。そのため、第1の弾性
体の変位が僅かであるとしても大きな検出出力を得るこ
とができる。したがって、光センサの検出出力を増幅す
るアンプとして1段のtl純なアンプを使用することが
でき、装置の小型化を図る二とができる。
く、また、著しく再現性が良い。そのため、第1の弾性
体の変位が僅かであるとしても大きな検出出力を得るこ
とができる。したがって、光センサの検出出力を増幅す
るアンプとして1段のtl純なアンプを使用することが
でき、装置の小型化を図る二とができる。
また、剛性の異なる2つの弾性体を連結して変位を検出
する構成であるため、2軸以上の変位を検出する装置を
構成することも容易である。
する構成であるため、2軸以上の変位を検出する装置を
構成することも容易である。
[実施例コ
以下、図面を参照しながら、この発明の実施例を詳細に
説明する。
説明する。
第1図はこの発明の第1の実施例の構成を示す斜視図で
ある。この実施例は2輔の変位を検出する変位検出装置
を示すものである。
ある。この実施例は2輔の変位を検出する変位検出装置
を示すものである。
第1図において、25は剛性の高い第1の弾性体である
。この第1の弾性体25は筒状かつ蛇腹状に形成され、
その一端部は、アンプ26に固定されている。27は剛
性の低い第2の弾性体である。この第2の弾性体27は
棒状に形成され、その一端部が第1の弾性体25の他端
部に固定されている。この第2の弾性体27の他端部に
は力Fが加えられる。
。この第1の弾性体25は筒状かつ蛇腹状に形成され、
その一端部は、アンプ26に固定されている。27は剛
性の低い第2の弾性体である。この第2の弾性体27は
棒状に形成され、その一端部が第1の弾性体25の他端
部に固定されている。この第2の弾性体27の他端部に
は力Fが加えられる。
上記第1の弾性体25の内部には、受光器28および発
光ダイオード29からなる光センサが配ゴされている。
光ダイオード29からなる光センサが配ゴされている。
受光器28はアンプ26に固定され、発光ダイオード2
つは第1の弾性体25の他端部に固定されている。なお
、図では、第1の弾性体25の内部を便宜上透視して示
すが、この第1の弾性体25は不透視で外部光が入らな
いようにすべきである。
つは第1の弾性体25の他端部に固定されている。なお
、図では、第1の弾性体25の内部を便宜上透視して示
すが、この第1の弾性体25は不透視で外部光が入らな
いようにすべきである。
上記受光器28は、第2図に示すように、受光部Aが4
つの受光部A1〜A4に分割されている。
つの受光部A1〜A4に分割されている。
各分割受光部A[〜A4はそれぞれx、y軸で規定され
るx+ y平面の第1〜第4象限に位置する。
るx+ y平面の第1〜第4象限に位置する。
各分割受光部A1〜A4の受光出力81〜S4は独立に
取り出され、アンプ26により増幅される。
取り出され、アンプ26により増幅される。
発光ダイオード29および第2の弾性体27は力Fが加
えらない状態では、上記xly軸に2軸を加えた3軸直
交座標系の2軸上に位置する。
えらない状態では、上記xly軸に2軸を加えた3軸直
交座標系の2軸上に位置する。
なお、用途によっては、第2の弾性体27に例えば超弾
性合金を使用することがある。
性合金を使用することがある。
上記構成において動作を説明する。
第2の弾性体27に力Fが加えられない状態では、第2
の弾性体27および発光ダイオード28は、上記の如く
、Z軸上に位置する。したがって、この場合、発光ダイ
オード29から出力されるビーム光の中心は受光器28
の受光部Aの原点O(第2図参照)に当たる。これによ
り、各受光部A1〜A4の受光出力81〜S4は等しい
値を示す。
の弾性体27および発光ダイオード28は、上記の如く
、Z軸上に位置する。したがって、この場合、発光ダイ
オード29から出力されるビーム光の中心は受光器28
の受光部Aの原点O(第2図参照)に当たる。これによ
り、各受光部A1〜A4の受光出力81〜S4は等しい
値を示す。
次に、第2の弾性体27に力Fが加わると、この第2の
弾性体27に曲げ変位が生じる。また、第2の弾性体2
7に力Fが加わると、この第2の弾性体27を介して第
1の弾性体25に曲げモーメントが生じる。これにより
、第1の弾性体25にも曲げ変位が生じる。この場合、
第1の弾性体25の剛性が第2の弾性体27の剛性より
高いので、第1の弾性体25の変位は第2の弾性体27
の変位よりも小さくなる。。
弾性体27に曲げ変位が生じる。また、第2の弾性体2
7に力Fが加わると、この第2の弾性体27を介して第
1の弾性体25に曲げモーメントが生じる。これにより
、第1の弾性体25にも曲げ変位が生じる。この場合、
第1の弾性体25の剛性が第2の弾性体27の剛性より
高いので、第1の弾性体25の変位は第2の弾性体27
の変位よりも小さくなる。。
第1の弾性体25に曲げ変位が生じると、これに固定さ
れた発光ダイオード2つが2軸からずれる。これにより
、発光ダイオード2つから出力されるビーム光の中心が
受光部Aの原点○からすれる。その結果、各分割受光部
A1〜A4の受光出力81〜S4が変化する。したがっ
て、各受光出力S1〜S4をみることにより、第1の弾
性体25の変位を知ることができる。第1の弾性体25
の変位がわかれば、第2の弾性体の剛性や長さは予めわ
かっているから、この第2の弾性体27の変位を知るこ
とができる。
れた発光ダイオード2つが2軸からずれる。これにより
、発光ダイオード2つから出力されるビーム光の中心が
受光部Aの原点○からすれる。その結果、各分割受光部
A1〜A4の受光出力81〜S4が変化する。したがっ
て、各受光出力S1〜S4をみることにより、第1の弾
性体25の変位を知ることができる。第1の弾性体25
の変位がわかれば、第2の弾性体の剛性や長さは予めわ
かっているから、この第2の弾性体27の変位を知るこ
とができる。
この場合、第2の弾性体27の変位は、xl −5座標
に分けて検出される。これは、各分割受光部A1〜A4
の受光出力S1〜S4をx、X方向の受光出力Sx、S
yに変換することによりなされる。この変換式を次式(
1)、(2)に示す。
に分けて検出される。これは、各分割受光部A1〜A4
の受光出力S1〜S4をx、X方向の受光出力Sx、S
yに変換することによりなされる。この変換式を次式(
1)、(2)に示す。
これらの式(1)、(2)で一部の受光出力に負の符号
を付したのは、受光出力Sx、Syを原点Oを境に正、
負で表わすためである。なお、原理的には、各式(1)
、(2)の分子のみでも受光出力Sx、Syを得ること
ができるが、これを各受光出力81〜S4の総和で割っ
て正規化することにより、受光器28や発光ダイオード
29の特性が経年変化したとしても、常に同じ精度で受
光出力Sx、Syを検出することができる。
を付したのは、受光出力Sx、Syを原点Oを境に正、
負で表わすためである。なお、原理的には、各式(1)
、(2)の分子のみでも受光出力Sx、Syを得ること
ができるが、これを各受光出力81〜S4の総和で割っ
て正規化することにより、受光器28や発光ダイオード
29の特性が経年変化したとしても、常に同じ精度で受
光出力Sx、Syを検出することができる。
第3図は発光ダイオード29から出力されるビーム光が
X方向あるいはX方向にのみ変位した場合の受光出力S
xあるいはsyの変化を示すものである。図示の如く、
受光出力Sxあるいはsyは、ビーム光のX方向あるい
はX方向の変位に従って直線的に変化する。したがって
、受光出力Sx、Syを求めることにより、ビーム光の
X。
X方向あるいはX方向にのみ変位した場合の受光出力S
xあるいはsyの変化を示すものである。図示の如く、
受光出力Sxあるいはsyは、ビーム光のX方向あるい
はX方向の変位に従って直線的に変化する。したがって
、受光出力Sx、Syを求めることにより、ビーム光の
X。
X方向の変位を求めることができる。
以上詳述したこの実施例によれば次のような効果を得る
ことができる。
ことができる。
(1)変位検出装置を小型化することかできる。
これは、剛性の異なる2つの弾性体25゜27を連結し
、第2の弾性体27に生じる変位を減衰して検出するよ
うにしたためである。
、第2の弾性体27に生じる変位を減衰して検出するよ
うにしたためである。
また、第1の弾性体25の変位を検出するのに、光セン
サを用いるようにしたためである。すなわち、光センサ
は入力の変化に対する出力の変化率が大きい。例えば、
OAmmオーダの変位−であっても、光ビームを絞るこ
とにより、出力はほとんど100%フルレンジで変化す
る。これにより、アンプ26として1段の単純なアンプ
を用いることでき、装置の小型化を図ることができるわ
けである。
サを用いるようにしたためである。すなわち、光センサ
は入力の変化に対する出力の変化率が大きい。例えば、
OAmmオーダの変位−であっても、光ビームを絞るこ
とにより、出力はほとんど100%フルレンジで変化す
る。これにより、アンプ26として1段の単純なアンプ
を用いることでき、装置の小型化を図ることができるわ
けである。
(2)第1の弾性体25の変位が僅かであるにもかかわ
らず、高い変位検出精度を得ることかできる。
らず、高い変位検出精度を得ることかできる。
これは、第1の弾性体25の変位の検出に、上記の如く
、入力の変化に対する出力の変化率の大きい光センサを
用いたためである。
、入力の変化に対する出力の変化率の大きい光センサを
用いたためである。
(3)変位の検出出力としてヒステリシスがなく、再現
性、応答性か良い検出出力を得ることができる。
性、応答性か良い検出出力を得ることができる。
これは、変位の検出に光センサを用いるようにしたため
である。すなわち、この光センサによれば、先の第3図
に示すように、ヒステリシスがなく、再現性、応答性の
よい検出出力が得られることは明らかである。
である。すなわち、この光センサによれば、先の第3図
に示すように、ヒステリシスがなく、再現性、応答性の
よい検出出力が得られることは明らかである。
(4)堅牢で安価な変位検出装置を実現することができ
る。
る。
これは、構造が剛性の異なる2つの弾性体25.27を
連結する単純構造であるためである。
連結する単純構造であるためである。
また、アンプ26として1段の単純なアンプを使用する
ことができるからである。
ことができるからである。
(5)x、y方向の変位を容易かつ正確に検出すること
ができる。
ができる。
これは、光センサとして受光部Aがx、y軸に沿って4
つに分割された光センサを用いるため、x+ y方向
の変換処理を容易かつ正確に行なうことができるためで
ある。
つに分割された光センサを用いるため、x+ y方向
の変換処理を容易かつ正確に行なうことができるためで
ある。
(6)第1の弾性体25としてかなり剛性の高い弾性体
を使用することができる。
を使用することができる。
これは光センサとして変位検出精度の高い4分割型の光
センサを用いたため、第1の弾性体25の剛性が高く、
その変位がかなり微少であっても、これを正確に検出す
ることができるからである。
センサを用いたため、第1の弾性体25の剛性が高く、
その変位がかなり微少であっても、これを正確に検出す
ることができるからである。
第4図はこの発明の第2の実施例の構成を示す斜視図で
ある。この実施例は、3軸の変位を検出する変位検出装
置を示すものである。
ある。この実施例は、3軸の変位を検出する変位検出装
置を示すものである。
第4図において、31は第2の弾性体である。
第4図においては、この第2の弾性体31の構成のみが
先の第1図と異なる。したがって、第4図において、先
の第1図と同一部には、同一符号を付し詳細な説明を省
略する。
先の第1図と異なる。したがって、第4図において、先
の第1図と同一部には、同一符号を付し詳細な説明を省
略する。
上記第2の弾性体31は、例えば、通常のコイルばねで
ある。そして、この第1の弾性体31の一端部は、第1
の弾性体25の他端部に連結され、他端部には力Fが加
えられるようになっている。
ある。そして、この第1の弾性体31の一端部は、第1
の弾性体25の他端部に連結され、他端部には力Fが加
えられるようになっている。
上記構成によれば、第2の弾性体31の他端部に力Fを
加えると、第2の弾性体31は力Fの方向に伸びる。そ
の伸びの長さは力Fの大きさに比例する。また、力Fは
、第2の弾性体31を介して第1の弾性体25の他端部
に加わる。これにより第1の弾性体25にも力Fによる
変位が生じる。
加えると、第2の弾性体31は力Fの方向に伸びる。そ
の伸びの長さは力Fの大きさに比例する。また、力Fは
、第2の弾性体31を介して第1の弾性体25の他端部
に加わる。これにより第1の弾性体25にも力Fによる
変位が生じる。
力Fはx、y、z方向の成分Fx、Fy、Fzを有する
。したがって、第2の弾性体31はX。
。したがって、第2の弾性体31はX。
Y+z方向に伸びる。また、第1の弾性体25もX・
y、z方向に変位する。
y、z方向に変位する。
第1の弾性体25の2方向の変位は、2方向の受光出力
Szを求めることにより、求めることができる。この受
光出力Szは、次式(3)に示すように、各分割受光部
A1〜A4をの受光出力S1〜S4を加算することによ
り求めることができる。
Szを求めることにより、求めることができる。この受
光出力Szは、次式(3)に示すように、各分割受光部
A1〜A4をの受光出力S1〜S4を加算することによ
り求めることができる。
Sz −3l +S2 +S3 +S4 −1
3)第1の弾性体25のx、y方向の変位は、先の実施
例と同様に、x、y方向の受光出力Sx。
3)第1の弾性体25のx、y方向の変位は、先の実施
例と同様に、x、y方向の受光出力Sx。
Syを求めることにより求めることができる。但し、こ
の実施例では、先の式(1)、(2)の分母に当たるS
l +S2 +S3 S4なる項が、受光出力Szを求
めるのに使われるため、x、y方向の受光出力Sx、S
yを求めるのに、次式(4)。
の実施例では、先の式(1)、(2)の分母に当たるS
l +S2 +S3 S4なる項が、受光出力Szを求
めるのに使われるため、x、y方向の受光出力Sx、S
yを求めるのに、次式(4)。
(5)に示すように正規化は行なわない。
SX −8L −82−S3 +S4 ・(
4)sy −si +S2−33−34 ・・
・(5)受光出力Sx、Sy、Szがわかれば、第1の
弾性体25の変位がわかる。この第1の弾性体25の変
位がわかれば、これに加わる力Fがわかる。この力Fが
わかれば、第2の弾性体31の変位を求めることができ
る。
4)sy −si +S2−33−34 ・・
・(5)受光出力Sx、Sy、Szがわかれば、第1の
弾性体25の変位がわかる。この第1の弾性体25の変
位がわかれば、これに加わる力Fがわかる。この力Fが
わかれば、第2の弾性体31の変位を求めることができ
る。
この実施例においても先の実施例と同様の効果を得るこ
とができることは勿論である。
とができることは勿論である。
また、第2の弾性体31に加わる力Fの方向を2方向に
制限することにより、1軸の直動変位を検出する変位検
出装置とすることができる。
制限することにより、1軸の直動変位を検出する変位検
出装置とすることができる。
第5図はこの発明の第3の実施例の構成を示す側面図で
ある。
ある。
この実施例は、先の第4図において、第2の弾性体31
の変位方向をZ方向に限定するだけでなく、光センサも
1軸の直動変位のみを検出可能な構成にしたものである
。すなわち、第5図において、35は光センサの発光ダ
イオードであり、36は同じ(受光器である。これらは
支持台37を介シてアンプ26に固定されている。この
光センサのビーム光BLの光路は例えばX方向に設定さ
れている。そして、この光路には、光遮蔽板38が挿入
されている。この光遮蔽板38は第1の弾性体25の他
端部に固定されている。
の変位方向をZ方向に限定するだけでなく、光センサも
1軸の直動変位のみを検出可能な構成にしたものである
。すなわち、第5図において、35は光センサの発光ダ
イオードであり、36は同じ(受光器である。これらは
支持台37を介シてアンプ26に固定されている。この
光センサのビーム光BLの光路は例えばX方向に設定さ
れている。そして、この光路には、光遮蔽板38が挿入
されている。この光遮蔽板38は第1の弾性体25の他
端部に固定されている。
上記構成によれば、第2の弾性体31の2方向の変位に
応じて第1の弾性体25も2方向に変位する。これによ
り、光遮蔽板38も2方向に変位する。その結果、この
光遮蔽板38によるビーム光BLの遮蔽量が変化し、受
光器の受光出力Sが変化する。したがって、この受光出
力Sをみれば、第2の弾性体31の変位を検出すること
ができる。
応じて第1の弾性体25も2方向に変位する。これによ
り、光遮蔽板38も2方向に変位する。その結果、この
光遮蔽板38によるビーム光BLの遮蔽量が変化し、受
光器の受光出力Sが変化する。したがって、この受光出
力Sをみれば、第2の弾性体31の変位を検出すること
ができる。
第6図はこの発明の第4の実施例の構成を示す示す斜視
図であり、第7図は同じく正面図である。
図であり、第7図は同じく正面図である。
先の3つの実施例では、第1.第2の弾性体を別体とし
て構成する場合を説明した。これに対し、この実施例は
、第1.第2の弾性体を同一体として構成するようにし
たものである。なお、図には、1軸の曲げ変位を検出す
る場合を代表として示す。
て構成する場合を説明した。これに対し、この実施例は
、第1.第2の弾性体を同一体として構成するようにし
たものである。なお、図には、1軸の曲げ変位を検出す
る場合を代表として示す。
第6図および第7図において、41は弾性体である。こ
の弾性体41の一端部はアンプ26に固定され、他端部
には力Fが加えられる。42は光センサの発光ダイオー
ドで、43は同じく受光器である。これら発光ダイオー
ド42および受光器43は支持体44を介してアンプ2
6に固定されている。弾性体41の変位方向を例えばX
方向とすると、光センサのビーム光BLの光路はX方向
に設定されている。そして、弾性体41はこの光路を横
切るように設定されている。
の弾性体41の一端部はアンプ26に固定され、他端部
には力Fが加えられる。42は光センサの発光ダイオー
ドで、43は同じく受光器である。これら発光ダイオー
ド42および受光器43は支持体44を介してアンプ2
6に固定されている。弾性体41の変位方向を例えばX
方向とすると、光センサのビーム光BLの光路はX方向
に設定されている。そして、弾性体41はこの光路を横
切るように設定されている。
上記弾性体41の一端部はアンプ26に固定されている
から、この部分の剛性は高い。これに対し、弾性体41
の他端部は開放されているので、この部分の剛性は低い
。したがって、この実施例では、弾性体41の一端部を
第1の弾性体、他端部を第2の弾性体とみることができ
る。
から、この部分の剛性は高い。これに対し、弾性体41
の他端部は開放されているので、この部分の剛性は低い
。したがって、この実施例では、弾性体41の一端部を
第1の弾性体、他端部を第2の弾性体とみることができ
る。
上記構成においては、弾性体41の他端部にX方向の力
Fを加わえると、この弾性体41の一端部にX方向の曲
げ変位が生じる。これにより、弾性体41によるビーム
光BLの遮蔽量が変り、この弾性体41の変位を検出す
ることができる。
Fを加わえると、この弾性体41の一端部にX方向の曲
げ変位が生じる。これにより、弾性体41によるビーム
光BLの遮蔽量が変り、この弾性体41の変位を検出す
ることができる。
この実施例によれば、第1.第2の弾性体が1つの弾性
体41によって一体物として構成されるので、構成をよ
り単純化することができる。
体41によって一体物として構成されるので、構成をよ
り単純化することができる。
第8図はこの発明の第5の実施例の構成を示す側面図で
あり、第9図は同じく斜視図である。この実施例も第1
.第2の弾性体を1つの弾性体で構成した実施例を示す
もので、例えば0、−軸の直動変位を検出する例である
。
あり、第9図は同じく斜視図である。この実施例も第1
.第2の弾性体を1つの弾性体で構成した実施例を示す
もので、例えば0、−軸の直動変位を検出する例である
。
図において、45は円弧上に形成された弾性体である。
この弾性体45の一端部はアンプ26に固定され、他端
部はZ方向に摺動自在な摺動部材に固定されている。4
7は光センサの発光ダイオードであり、第9図の示すよ
うに受光器48とともに支持台49を介してアンプ26
に固定されている。弾性体45の一端部は、第9図に示
すように、光センサのビーム光を横切るように設けられ
、発光ダイオード47から出力されるビーム光を遮蔽す
るようになっている。
部はZ方向に摺動自在な摺動部材に固定されている。4
7は光センサの発光ダイオードであり、第9図の示すよ
うに受光器48とともに支持台49を介してアンプ26
に固定されている。弾性体45の一端部は、第9図に示
すように、光センサのビーム光を横切るように設けられ
、発光ダイオード47から出力されるビーム光を遮蔽す
るようになっている。
このような構成においては、摺動部材47がZ方向に摺
動することにより、弾性体45がたわみ変形し、この弾
性体45の一端部が第8図の矢印M方向に変位する。こ
れにより、弾性体45によるビーム光の遮蔽量が変化す
るので、弾性体45の他端部の変位を検出することがで
きる。
動することにより、弾性体45がたわみ変形し、この弾
性体45の一端部が第8図の矢印M方向に変位する。こ
れにより、弾性体45によるビーム光の遮蔽量が変化す
るので、弾性体45の他端部の変位を検出することがで
きる。
以上この発明の実施例をいくつか説明したが、この発明
はこのような実施例に限定されるものではない。
はこのような実施例に限定されるものではない。
例えば、以上の説明では、第1の弾性体の剛性が高く、
第2の弾性体の剛性が低いと説明したが、少なくとも第
1の弾性体の剛性が第2の弾性体の剛性より高ければ、
減衰機能が得られるので、この発明の第1.第2の弾性
体はこのような条件を満足するするものであればよい。
第2の弾性体の剛性が低いと説明したが、少なくとも第
1の弾性体の剛性が第2の弾性体の剛性より高ければ、
減衰機能が得られるので、この発明の第1.第2の弾性
体はこのような条件を満足するするものであればよい。
この他にも発明の要旨を逸脱しない範囲で種々様々変形
実施可能なことは勿論である。
実施可能なことは勿論である。
次にこの発明の適用例について説明する。
この発明の変位検出装置は、ロボットの触角型近接セン
サとして有効である。ここで、触角型近接センサとは、
触子が作業者や障害物に触れて変形することを検出する
ことにより、ロボットと作業者や障害物との衝突を防止
するものである。
サとして有効である。ここで、触角型近接センサとは、
触子が作業者や障害物に触れて変形することを検出する
ことにより、ロボットと作業者や障害物との衝突を防止
するものである。
ロボットに触角型近接センサを取り付け、ロボットと作
業者や障害物との衝突を防ぐ場合、その効果はほぼ触角
型近接センサの数に比例する。したがって、この場合、
第10図あるいは第11図に示すように、ロボット51
.52に多くの触角型近接センサ53を付ける必要があ
る。また、障害物が多くあるような環境下にあっては、
触角型近接センサとして耐久性の高いものが要求される
。
業者や障害物との衝突を防ぐ場合、その効果はほぼ触角
型近接センサの数に比例する。したがって、この場合、
第10図あるいは第11図に示すように、ロボット51
.52に多くの触角型近接センサ53を付ける必要があ
る。また、障害物が多くあるような環境下にあっては、
触角型近接センサとして耐久性の高いものが要求される
。
以上の点を考慮した場合、例えば第1図に示すような2
軸の変位検出装置は、小型、堅牢、安価に製造すること
ができるので、触角型近接センサとして好適である。ま
た、この発明の変位検出装置は、小型で、かつ単純構造
であるため、完全密閉型の構造にすることができるので
、水中ロボットの触角型近接センサとしても有効である
。
軸の変位検出装置は、小型、堅牢、安価に製造すること
ができるので、触角型近接センサとして好適である。ま
た、この発明の変位検出装置は、小型で、かつ単純構造
であるため、完全密閉型の構造にすることができるので
、水中ロボットの触角型近接センサとしても有効である
。
また、他の適用例としては、第4図の変位検出装置の第
2の弾性体31の他端部に、第12図に示すようにロボ
ットの腕54を吊るすことにより、この腕54の位置を
検出するといった適用も可能である。
2の弾性体31の他端部に、第12図に示すようにロボ
ットの腕54を吊るすことにより、この腕54の位置を
検出するといった適用も可能である。
この他にも、この発明の変位検出装置は、種々様々なも
のに適用可能である。
のに適用可能である。
[発明の効果]
以上述べたようにこの発明によれば、大きな変位を検出
する場合であっても装置の小型化を図ることができ、か
つ、2軸の変位を検出する装置も容易に実現することが
できる。
する場合であっても装置の小型化を図ることができ、か
つ、2軸の変位を検出する装置も容易に実現することが
できる。
第1図はこの発明の第1の実施例の構成を示す斜視図、
第2図は第1図に示す受光部の構成を示す正面図、第3
図は第1図の動作を説明するための特性図、第4図はこ
の発明の第2の実施例の構成を示す斜視図、第5図はこ
の発明の第3の実施例の構成を示す側面図、第6図はこ
の発明の第4の実施例の構成を示す斜視図、第7図は同
じく正面図、第8図は第この発明の第5の実施例の構成
を示す側面図、第9図は同じく斜視図、第10図乃至第
12図はこの発明の適用例を示す図、第13図は従来の
変位検出装置の一例の構成を示す斜視図、第14図は同
じく他の例の構成を示す側面図、第15図はさらに他の
例の構成を示す側面図である。 25・・・第1の弾性体、26・・・アンプ、27゜3
1・・・第2の弾性体、28,36,43.48・・・
受光器、29,35,42.47・・・発光ダイオード
、37,44.49・・・支持体、38・・・遮蔽板、
41.45・・・弾性体、46・・・摺動部材、51゜
52・・・ロボット、53・・・触角型近接センサ、5
4・・・腕、A・・・受光部、A1−A4・・・分割受
光部。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第2図 第3図 第4図 7/−31
第2図は第1図に示す受光部の構成を示す正面図、第3
図は第1図の動作を説明するための特性図、第4図はこ
の発明の第2の実施例の構成を示す斜視図、第5図はこ
の発明の第3の実施例の構成を示す側面図、第6図はこ
の発明の第4の実施例の構成を示す斜視図、第7図は同
じく正面図、第8図は第この発明の第5の実施例の構成
を示す側面図、第9図は同じく斜視図、第10図乃至第
12図はこの発明の適用例を示す図、第13図は従来の
変位検出装置の一例の構成を示す斜視図、第14図は同
じく他の例の構成を示す側面図、第15図はさらに他の
例の構成を示す側面図である。 25・・・第1の弾性体、26・・・アンプ、27゜3
1・・・第2の弾性体、28,36,43.48・・・
受光器、29,35,42.47・・・発光ダイオード
、37,44.49・・・支持体、38・・・遮蔽板、
41.45・・・弾性体、46・・・摺動部材、51゜
52・・・ロボット、53・・・触角型近接センサ、5
4・・・腕、A・・・受光部、A1−A4・・・分割受
光部。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第2図 第3図 第4図 7/−31
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 第1の弾性体と、 この第1の弾性体に連結され、この第1の弾性体よりは
剛性の低い第2の弾性体と、 上記第1の弾性体の変位を検出する光センサとを具備し
、 上記光センサにより上記第1の弾性体の変位を検出する
ことにより、上記第2の弾性体の変位を検出するように
したことを特徴とする変位検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63024036A JPH01201129A (ja) | 1988-02-05 | 1988-02-05 | 変位検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63024036A JPH01201129A (ja) | 1988-02-05 | 1988-02-05 | 変位検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01201129A true JPH01201129A (ja) | 1989-08-14 |
Family
ID=12127281
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63024036A Pending JPH01201129A (ja) | 1988-02-05 | 1988-02-05 | 変位検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01201129A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CZ298400B6 (cs) * | 2005-05-23 | 2007-09-19 | Fakulta strojní CVUT v Praze | Teleso silového snímace |
JP2020067277A (ja) * | 2018-10-22 | 2020-04-30 | 国立大学法人 香川大学 | 触覚センサ |
KR20220106020A (ko) * | 2021-01-21 | 2022-07-28 | 한양대학교 에리카산학협력단 | 복합 강성 센서 및 그 제조 방법 |
-
1988
- 1988-02-05 JP JP63024036A patent/JPH01201129A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CZ298400B6 (cs) * | 2005-05-23 | 2007-09-19 | Fakulta strojní CVUT v Praze | Teleso silového snímace |
JP2020067277A (ja) * | 2018-10-22 | 2020-04-30 | 国立大学法人 香川大学 | 触覚センサ |
WO2020085277A1 (ja) * | 2018-10-22 | 2020-04-30 | 国立大学法人香川大学 | 触覚センサ |
US11815411B2 (en) | 2018-10-22 | 2023-11-14 | National University Corporation Kagawa University | Tactile sensor to quantify hairy skin sensation |
KR20220106020A (ko) * | 2021-01-21 | 2022-07-28 | 한양대학교 에리카산학협력단 | 복합 강성 센서 및 그 제조 방법 |
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