JPH01191090A - センサ出力測定方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光センサなどの被測定量を受けその大きさの関
数である時間幅をもつ測定信号を発するセンサからの出
力の測定方式であって、とくに自動焦点カメラなどにセ
ンサアレイの形で組み込まれるセンサが受ける光の測定
に適する方式に関する。

〔従来の技術〕

上述の光センサの場合はもちろん、被測定量である光、
音などはよく知られているように非常に広い例えば１：
１０ｈ程度のダイナミックレンジを持っており、それ用
のセンサにはできるだけその全部をカバーして被測定量
の大小ないしは強弱を弁別できる測定範囲を持たせるこ
とが望ましい。

しかし、センサからの電気信号の大きさに単に被測定量
の大きさを代表させる意味を持たせるだけでは、よくて
も１：１０”の範囲内の被測定量の大きさしか弁別でき
ないから、上述のようにこの電気信号を被測定量の大き
さの関数である時間幅に変換した上で測定信号としてセ
ンサから出力させることが行なわれる。光センサの場合
、この時間への変換にはセンサをいわゆる電荷蓄積形に
するのが有利で、その回路例を第５図にその動作波形を
第６図に示す。

第５図は１個の光センサ１を示すもので、被測定量りと
しての光をフォトダイオード１ａに受ける。

このフォトダイオード１ａは例えば光導電形で、光の測
定開始に当たってはそれに直列接続されたトランジスタ
１ｂを第６図（４）に示すリセットパルスＲＰによりオ
ンさせて電圧Ｖをフォトダイオードｌａに逆方向に掛け
、その接合容量Ｃをこの電圧Ｖに充電する。この際、フ
ォトダイオード１ａとトランジスタ１ｂとの相互接続点
の電圧Ｖは第６図中）に示すように接地電位已になる。

ついで、フォトダイオード１ａは被測定量りの大きさに
比例した光電流を発生するので、静電容量Ｃはこの光電
流により放電され、これに応じて上の電位Ｖが第６図−
）に示すように時間ｔの経過とともに直線的に立ち上が
る。インバータ１ｃはこの電位Ｖを受けており、その出
力Ｓは第６図（ｅｌに示すようにリセットパルスＲＰと
同時に「１」の状態になっているが、電位Ｖがその動作
しきい値ｖｔｈに達したときその出力Ｓを「０」にする
、この出力Ｓがセンサ１の測定信号であって、その時間
幅をτとし、被測定量りの大きさないしは強度をλとす
ると容易にわかるようにτ−１／λである。

センサ１をこのように例えば電荷蓄積形にしてそれが受
ける被測定量りの大きさを時間τに変換することにより
、被測定量が非常に広いダイナミックレンジをもつ場合
でも被測定量りの大きさを忠実に時間τΦ形て表わす測
定信号Ｓを得ることができるが、この時間τをそのまま
数値で表現すると被測定量りが上述のようにｌ；１０−
のダイナミックレンジをもつとき数値が１０”　　：　
１の広範囲で変化することになるので、この数値をその
対数値に変換した方が数値の以後の取り扱いに便利であ
り、被測定量が光の場合その強度を表わすためにふつう
用いられているいわゆるＥＶ値に合わせることができる
。このため本件出願人は測定信号Ｓが表わす時間τを対
数的に表わすディジタル値に変換する方式を提案した（
特開昭６２−２０４１８４号参照）、第７図および第８
図はその概要を示すものである。

第７図のクロックパルス発生回路２は第８図（ｂｌに示
すように周期がほぼ等比的に順次増大するクロックパル
スＩＩＣＶを発生するもので、センサｌからの第８図１
ｍｌに示す時間幅τの測定信号Ｓとともにアンドゲート
３に与えられ、アンドゲート３の出力がカウンタ４に第
８図（ｅｌに示す計数パルスＣＴとして与えられる。こ
のカウンタ４の計数値として出力されるディジタル値ｆ
ｌＴは、容易にわかるようにセンサ１が受ける光等の被
測定量りの大きさを対数的に表わすもので、それから例
えば前述のＥＶ値を簡単に知ることができ、また光セン
サを多数個配列したセンサアレイからの多数のディジタ
ル値を取り扱う場合にも、少ない桁数で光センサアレイ
が受ける映像のパターンやコントラストを正確に表現す
ることができる。

〔発明が解決しようとする課題〕

ところが、上述の方式で用いられる可変周期のクロック
パルスに対しては、被測定量の大きさを正確にディジタ
ル値で表現できるようにするため隣り合うパルスの周期
の比を整数でないかなり１に近い値に選んでやる要があ
り、このためにはクロックパルス発生回路を分周器とそ
の入出力の切換手段とを組み合わせて構成しなければな
らないので、その回路構成が必ずしも簡単でない問題が
ある。また、このクロックパルスを用いて得られる測定
結果としてのディジタル値は被測定量の大きさと対数的
な関係にあって多くの用途で有用なものの、用途によっ
てはこの対数とはやや異なる関数関係にあるディジタル
値で測定結果を出したい場合があり、このためには周期
が等比的でない関数に従って変化するクロックパルスを
作ってやらねばならないのでクロックパルス発生回路の
構成がますます複雑になってしまう。

本発明はかかる問題点を解決して、全体構成が簡単です
み、出力測定値と被測定量の大きさとの間の関数関係の
選択に自由度が高いセンサ出力測定方式を得ることを目
的とする。

〔課題を解決するための手段〕

この目的は本発明によれば、前述のように被測定量を受
けその大きさの関数である時間幅をもつ測定信号を発す
るセンサを用いてそれが受ける被測定量の大きさを測定
するに当たって、アドレスごとに設定値を記憶する記憶
手段と、記憶手段から出力させるべき設定値を指定する
アドレスを発するアドレス指定手段と、所定の周期をも
つクロックパルスを計数する計数手段と、アドレス指定
手段により指定されるアドレスに応じて記憶手段から出
力される設定値と計数手段の計数値とを比−較し比較結
果に応じてアドレス指定手段にアドレスの指定を切り換
えさせる比較手段とを用い、測定すべき被測定量の所望
の大きさをその関数である時間値の形で記憶手段内に複
数個あらかじめ設定値として記憶させておき、センサか
らの測定信号に基づいてその時間幅の終了時にアドレス
指定手段から発しられているアドレスの値から測定値を
得ることによって達成される。

本発明によるこの方式をセンサが複数個アレイ状に配列
されたセンサアレイに適用するに当たっては、さらにこ
のセンサアレイ内のセンサから発しられる測定信号中の
最短時間幅を検出する手段と、この最、短時間を複数個
に分割した周期をもつクロックパルスを発生する手段と
を設け、このクロックパルスを計数手段に与えてセンサ
アレイ内の複数個のセンサがそれぞれ受ける被測定量を
同時並行的に測定するようにするのが育利である。

〔作用〕

次に上述の本発明の基本構成の動作と作用を第１図から
第３図を参照しながら説明する。第１図にはその回路例
、第２図には動作波形がそれぞれ示されており、第３図
にはセンサが発する測定信号の時間幅τが被測定量の大
きさλの関数とじて示されている。

第１図のセンサ１は例えば前に第５図に示したように被
測定量りを受けてその大きさの関数である時間τの幅を
もつ測定信号Ｓを発するものである。記憶手段２０は例
えばＲＯＭであってアドレスＡを指定すればそれに対応
するデータＤを出力できるものであればよ（、この中に
上記構成にいう設定値があらかじめ記憶される。第３図
にこの設定値の選び方の要領例が示されているので、ま
ずこれについて説明する。センサｌが発する測定信号Ｓ
の時間幅τは被測定量の大きさλの関数であって、例え
ば前述のように逆比例関係にあるとすれば第３図に示す
ように双曲線になる０図示のように被測定量λの大きさ
を測定したい範囲Ｒを決めて、この測定範囲中の時間τ
の最短のものをτ０とし最長のものをτ−とし、これら
に対応する被測定量の大きさをそれぞれλ０．λ−とす
る０次にこのλ−からλＯまでの測定範囲Ｒを複数個例
えばｍ個に分割して測定すべき被測定量の大きさλ１（
１−０〜ｍ）をそれぞれ所望の値に決める。

この測定範囲Ｒの分割は図示のように被測定量の大きさ
λについて均等に分割することであってよい、このよう
にして選ばれた被測定量の大きさλｉのそれぞれの関数
値としての時間値τｌが記憶手段への設定値とされる。

つまり本発明方式では、上記構成にいうように測定すべ
き被測定量の所望の大きさλｌがその関数である時間値
τ１（ｌ−０〜ｍ）の形で記憶手段２０内にｍ＋１個設
定値としてあらかじめ記憶される。

第１図のアドレス指定手段３０は最も簡単には１個のカ
ウンタであってよく、その計数値をアドレスＡとして発
生してバス３１を介して記憶手段２０に与える。計数手
段４０もカウンタであって、その左側に示されたクロッ
クパルス発生回路６０から発生される第２図中）に示す
ような所定の充分短い一定の周期をもつクロックパルス
ＣＰを計数する。比較手段５０はこの針数手段４０の計
数値を記憶手段２０から出力されているデータＤとして
の時間設定値と比較した上で、比較に応じて例えば両値
が一致したときに第２図（Ｃ１に示す切換指令Ｓ賛をア
ドレス指定手段３０に発してその発生アドレスを切り換
えさせる。アドレス指定手段３０がカウンタであるとき
、容易にわかるようにこの切換指令Ｓ−は計数パルスと
しての役目を果たす。

前述のように記憶手段２０内に第３図に示すようなｍ＋
１個の時間値τ０〜τ■が設定値としてあらかじめ記憶
されている状態で、センサｌによる被測定量りの大きさ
λの測定が開始されたとする。

もちろん、この測定開始とともにセンサ１の測定信号Ｓ
は第２図（ａｌのように「１」に立ち上がり、これと同
時にアドレス指定手段３０のアドレスＡは第２図（ｄ）
に示すようにその初期値ＡＯ例えば０にリセットされて
、記憶手段２０からはこのアドレスＡＯに対応する時間
設定値τ０が出力され、計数手段４０内の計数値は０に
クリアされる。

計数手段４０がクロックパルスＣＰを計数してその計数
値が記憶手段２０から出力されている時間設定値τ０に
達したとき、比較手段５０は切換指令Ｓ−をアドレス指
定手段３０に発してそのアドレスをＡＩ例えば１に切り
換えさせる。以後も同様であって、第２図Ｔｄ）に示す
ように時間τｌ−１が経通してアドレスＡがＡｔに切り
換えられた後、同図（ＩＩ）に示すようにセンサの測定
信号Ｓがその時間幅τの経過時にｒＯＪに立ち下がった
ときのアドレス人の値ＡＩを本発明方式では被測定量り
の大きさλを表わす測定値とする。この測定値の記憶に
は、例えば第１図に示すようにアドレス指定手段３０に
バス３１を介してレジスタ７０を接続しておき、測定信
号Ｓの立ち下がりに同期してこのレジスタ７０内にバス
３１上のアドレスへの値を読み込ませればよい、これか
られかるように、本発明方式ではセンサ１からある時間
幅τをもつ測定信号Ｓが発しられたとき、この時間τに
近い時間設定値τｌが記憶されている記憶手段２０のア
ドレスＡｔによりセンサｌが受けている被測定量の大き
さλを代表させる。もちろん、このアドレス＾ｉから時
間設定値τｌに対応する被測定量の大きさλｌがセンサ
１が受けている被測定量りの大きさであることがわかる
。

以上かられかるように、本発明方式を構成する記憶手段
２０．アドレス指定手段３０．計数手段４０および比較
手段５０のいずれも簡単なものでよく、計数手段４０に
与えるクロックパルスも一定の周期をもつものでよいか
ら全体構成を従来よりも簡素化でき、かつセンサの受け
る被測定量の大きさλとそれが発する測定信号の時間幅
τの関数がどのようなものであっても、それに応じて記
憶手段２０に記憶させておく時間設定値τｌの値をその
関数に適合させながら被測定量の大きさと測定値との関
数関係を自由に選択することができる。なお、本発明に
よる測定の精度については、測定範囲内に設定する時間
設定値の数を増すことにより測定精度を必要に応じて上
げることができる。

〔実施例〕

以下、第４図を参照しながら本発明の詳細な説明する。

この実施例はカメラの自動焦点装置用の光センサアレイ
に適するもので、図の左上側に示された光センサアレイ
１０にはｎ個の例えば３２〜６４個の光センサ１が並べ
られており、図示しないレンズ等の手段で被写体の映像
がこの光センサアレイ上に結像され、この映像のもつ光
強度分布に応じて被測定量りとしての光がそれぞれ異な
る大きさないしは強度で各光センサ１に入射される。

これらの光センサ１に対応してその下に示されたように
レジスタ７０がそれぞれ設けられており、光センサ１か
らの測定信号Ｓをそれぞれ受ける０本発明方式を構成す
る記憶手段２Ｇ、アドレス指定手段３０．計数手段４０
および比較手段５０はセンサアレイ１０に含まれるｎ個
のセンサｌに対して共通に設けられ、自動焦点用の場合
にはふつうセンサアレイ１０が１対設けられるが、これ
ら諸手段は両センサアレイに対して共通に設けることで
よい、この実施例におけるアドレス指定手段３０は例え
ば７ビツト構成の１個のカウンタであって、同じく７ビ
ー／　）構成のバス３１を介して記憶手段２０としての
ＲＯＭおよび前述のセンサごとに設けられたｎ個のレジ
スタ７０にそれが発生するアドレスＡを与える。

各レジスタ７０はバス３１に対応して７ビツト構成とさ
れ、同ビット構成の別のバス７１を介してその記憶値が
読み出せるようになっている。

前の第３図に示した測定範囲Ｒは、７ビツト構成のアド
レスＡに対応してｍ＝１２８個に分割され、従って１２
９個の被測定量としての光の強さλ０〜λ閤に対してそ
れぞれその関数値としての時間τ０〜τ−を記憶手段２
０のＲＯＭ内のアドレスＡ−０〜ｍに事前設定値として
書き込めばよいのであるが、この実施例では記憶手段２
０の記憶容量等ができるだけ少なくてすむように、第３
図に示すように隣り合わせの時間値τｉ−１とτｉの差
Δτを記憶手段２０に設定値として記憶させる。第３図
の測定範囲Ｒとしては被測定量りとしての光の強さの比
λ０／λ■が例えば１６になるように選ばれ、従って光
の強さλと時間τとが反比例するときには時間の比τＯ
／τ■は１／１６になる。この測定範囲Ｒの分割は最も
簡単には光の強さλについて均等分割とされる。

しかし、光センサアレイ１０に与えられる映像がもつ光
の平均強度が視野の明るさに応じてかなり大幅に変動し
ろるので、この実施例ではセンサアレイ１０内で最も強
い光を受けるセンサからの測定信号Ｓのもつ時間幅、つ
まり最短時間τ０を検出して、それに応じて計数手段４
０に与えるクロックパルスＣＰの周期が決められる。こ
れを測定範囲Ｒについていえば、この最短時間τ０をも
つ測定信号Ｓを発したセンサが受けている最大の光の強
さλ０を上限としてこの測定範囲Ｒが測定のつどに設定
されるわけである０図の左側に示されたように例えばナ
ントゲートて構成された最短時間検出手段８０がこのた
めに設けられており、このナントゲートはセンサアレイ
１０内のすべてのセンサからの測定信号Ｓを受けている
ので、測定開始直後のすべての測定信号Ｓが「１」であ
るときその出力は「０」であるが、どれかのセンサから
の測定信号Ｓが「０」に変わるとその出力が「０」にな
り、この最短時間検出手段８０からの信号が「０」から
「１」に変わるまでの時間がセンサアレイ内のセンサか
らの測定信号Ｓがもつ最短時間幅になる。

図の下側に示されたクロックパルス発生手段６０は、こ
の最短時間検出手段８０からの信号により決められる分
周比で基本タロツクパルスＣＰＯを分周した上で、クロ
ックパルスＣＰとして計数手段４０に与えるためのもの
で、基本タロツクパルスＣＰＯをアントゲ−）　６１ａ
および分周器６１を介して受けるカウンタ６２と、同様
に基本クロックパルスＣＰＯをアンドゲート６３ａを介
して受けるブリセントカウンタ６３を含む、最短時間検
出手段８０からの信号が「０」の間は、１対のアンドゲ
ート６１ａ、６３ａの内の前者がインバータ６１ｂを介
してイネーブルされており、基本タロツクパルスＣＰＯ
が分周器６１で分周されてカウンタ６２に与えられる０
分周器６１は例えば７ビツトのカウンタであって、その
分周比は１／１２Ｂとなる。カウンタ６２の計数値は図
示のようにその補数がプ″リセットカウンタ６３のプリ
セット値として与えられており、最短時間検出手段８０
の信号が「０」の間そのセット指令人力Ｓにインバータ
６３ｃとオアゲート６３ｂを介して「１」が与えられて
いるので、カウンタ６２の計数値の補数がブリセントカ
ウンタ６３にプリセット値として読み込まれている。

最短時間検出手段８０からの信号がｒｌＪになると、１
対のアンドゲート６１ａ、６３ａの内の後者がイネーブ
ルされて基本タロツクパルスＣＰＯがプリセットカウン
タ６３の方に与えられ、同時にアンドゲート６１ａが閉
じるのでカウンタ６２はその時の計数値を以後保持する
ことになる。プリセントカウンタ６３はこの計数値の補
数でプリセットされているので、その最終段からの桁上
がり信号は基本タロツクパルスＣＰＯをカウンタ６２の
計数値分の１に分周したクロックパルスＣＰとなり、計
数手段４０に与えられる。なお、この桁上がり信号が出
るつどプリセントカウンタ６３はオアゲート６３ｂを介
してカウンタ６２の計数記憶値の補数にプリセットされ
て、以後同じ動作を繰り返えす、いま仮りに分周器６１
の分周比を１／Ｍｌ、カウンタ６２の計数記憶値をＮ２
゜基本タロツクパルスの周期をΔＴとすると、カウンタ
６２の計数値がＮ２になるまでの最短時間はτ０−Ｎｌ
・Ｎ２・６丁で、クロックパルスＣＰの周期はＮ２・Δ
Ｔであるから、結局クロックパルスＣＰの周期は最短時
間の１／Ｎ１．この例では１／１２Ｂとなる。

以上かられかるように、この実施例ではセンサアレイｌ
Ｏに与えられる映像のもつ平均光強度が変わっでも、セ
ンサアレイ中のセンサに与えられる最大の光の強さλ０
を上限として所定のダイナミックレンジをカバーしうる
測定範囲Ｒがいわば自動的に選定され、かつその範囲内
の測定に通したクロックパルスの周期が設定される。し
かも、記憶手段２０に設定すべき時間値ないしは前述の
隣り合う時間値の差はこの測定範囲の選定がどのように
なされても変更の要は全くない、これらの設定値である
時間値を測る尺度としてのクロックパルスの周期が最短
時間τ０の長さに応じて変わるだけで、設定値をそのま
ま使うことができるからである。もちろん、各センサか
ら出力される測定信号Ｓのもつ時間幅ｒはできるだけ高
い時間精度で測ることが望ましく、この精度はクロック
パルスの周期を短くすればする程高（なるが、実用上は
最短時間τ０をクロックパルスＣＰで刻む数を設定値に
より測定範囲Ｒが分割される数と同程度以上に設定して
おくことで充分である。この実施例の場合、最短時間τ
０をクロックパルスＣＰの周期で刻む数は前述のように
クロックパルス発生手段６０内の分周器６１がもつ分周
比で決まり、この実施例では分周比を１／１２８として
、最短時間τ０が測定範囲Ｒの分割数１２８と同数にク
ロックパルスＣＰの周期により刻まれるようになってい
る。

センサアレイ１０を用いてそれに与えられている映像の
光強度分布の測定を開始するに当たっては、この実施例
ではカウンタであるアドレス指定手段３０を含めてすべ
てのカウンタ内の計数値は通例のように０にクリアされ
る。これから最短時間τθ後に、最大の強さの光りを受
けているあるセンサ１からの測定信号Ｓのもつ時間幅が
終了した旨が最短時間検出手段８０により検出され、こ
の最短時間τＯに応じて前述のようにクロックパルスＣ
Ｐの周期が確立されてクロックパルス発生手段６０から
計数手段４０に与えられる。比較手段５０は前述のよう
に計数手段４０の計数値が記憶手段２０から与えられて
いる設定値に達したとき、切換指令Ｓ−によりアドレス
指定手段３０にアドレスＡをこの実施例では歩進させる
わけであるが、前述のようにこの実施例では記憶手段２
０には測定範囲Ｒ内の隣り合う時間値の差Δτ−τｌ−
τｉ−１が設定されているので、アドレス指定手段３０
にアドレスを歩進させる際の切換指令５ＴＩ４によって
計数手段４０の計数値がそのつどクリア゛される０図の
フリップフロツブ５１は切換指令Ｓ１４の波形の整形用
で、クロックパルスＣＰにより計数手段４０の計数値が
記憶手段からの設定値に達したとき、その旨を表わす比
較手段５０からの信号によりセットされてそのＱ出力と
して記憶手段Ｓ−を発し、次のクロックパルスＣＰの到
来時にリセットされる。従って、切換指令Ｓ−はほぼク
ロックパルスＣＰの１周期の幅をもつパルス信号であっ
て、アドレス指定手段３０としてのカウンタに対しては
計数パルスの役目を、計数手段４０に対してはクリア指
令の役目を果たす。

以後はセンサアレイ１０内の各センサｌからの測定信号
Ｓのもつ時間幅が終結したとき、そのセンサに対応する
レジスタ７０内にその時のアドレスＡがもつ値が読み込
まれて保持されろ、センサアレイ内のすべてのセンサか
らの測定信号Ｓの時間幅が終結したときに測定が終了し
、以後はバス７１を介して各レジスタ７０内に保護され
ている値を読み取ればよい、センサからの測定信号ＳＯ
に非常に長い時間幅のものがあって、測定範囲Ｒの限界
である時間τ■の経過後にも測定が終了しない場合は、
この時間τ■で測定を打ち切るために例えば全センサを
リセットして、測定がまだ済んでいないセンサに対応す
るレジスタに最終アドレス値を入れるようにすればよい
、なお、最短時間τ０の測定信号Ｓを発したセンサに対
応するレジスタには、この実施例の場合は最初のアドレ
ス値である０が保持される。また、この実施例の場合ア
ドレス指定手段３０が７ビツトのカウンタで測定範囲Ｒ
が１２８分割されているから、各レジスタ７０内には対
応するセンサ１が受けている光の強さλを０〜１２７の
値で区分して示す７ビントの測定データが保持される。

センサアレイが自動焦点カメラ用であってかなり精密な
焦点合わせが必要な場合でも、センサアレイが受けてい
る映像の光強度分布をふつうはこの程度に区分して測定
できれば充分である。

なお、本発明方式は以上説明した実施例に限定されず、
その要旨内で種々の態様で実施をすることができる。

〔発明の効果〕

以上述べたとおり本発明方式では、被露定量を受けその
大きさの関数である時間幅をもつ測定信号を発するセン
サを用いてそれが受ける被測定量の大きさを測定するに
当たって、アドレスごとに。

設定値を記憶する記憶手段と、記憶手段から出力させる
べき設定値を指定するアドレスを発するアドレス指定手
段と、所定の周期をもつクロックパルスを計数する計数
°手段と、アドレス指定手段により指定されるアドレス
に応じて記憶手段から出力される設定値と計数手段の計
数値とを比較し比較結果に応じてアドレス指定手段にア
ドレスの指定を切り換えさせる比較手段とを用い、測定
すべき被測定量の所望の大きさをその関数である時間値
の形で記憶手段内に複数個あらかじめ設定値として記憶
させておき、センサからの測定信号に基づいてその時間
幅の終了時にアドレス指定手段から発しられているアド
レスの値から測定値を得るようにしたので、センサがも
つ被測定量の大きさとその測定信号の時間幅との間の関
数形や測定値に持たせたい被測定量の大きさとの関係に
合わせて、記憶手段に時間値ないしはその変化分として
の差を設定値として記憶させればすむので、センサのも
つ特性や測定値に対する要求に対して非常に高い自由度
をセンサ出力測定方式に持たせることができる。また、
本発明方式を構成する要素にはいずれも簡単なありきた
りのものを用いることでよく、かつ構成要素の数もあま
り多（ないので、むしろ従来方式よりも全体構成をすっ
きりした簡素な形にまとめることができる。

さらに、本発明方式は測定の精度についても自由度が高
く、精度に対する要求が変わっても基本構成を変えるこ
となくこれに応じうる利点を有する。複数個のセンサか
らなるセンサアレイに対して本発明を適用するに当たっ
ても、実施例かられかるように若干の簡単な手段を基本
構成に足すだけで、本発明のもつかかる長所をそのまま
生かすことができる。

本発明がもつかかる効果はとくに自動焦点カメラにおけ
る被写体の映像がもつ光強度分布の測定に有用であって
、本発明が自動焦点合わせ方式の性能向上と合理化に顕
著な貢献を果たすことが期待される。

【図面の簡単な説明】

第１図から第６図までが本発明に関し、第１図は本発明
によるセンサ出力測定方式の基本構成例を示すブロック
回路図、第２図はその動作を示す主な信号の波形図、第
３図は記憶手段に記憶させるべき設定値の設定要領を示
す線図、第４図は本発明をセンサアレイに適用した実施
例を示す回路図、第５図は本発明方式による測定に用い
られるセンサを例示する回路図、第６図はその動作を示
す主な信号の波形図である。第７図以降は従来技術に関
し、第７図は従来のセンサ出力測定方式の構成の概要を
示すブロック回路図、第８図はその動作を示す主な信号
の波形図である０図において、１：センサ、１ａ；フォ
トダイオード、１ｂｊ）ランジスタ、ＩＣ＝インバータ
、２：クロックパルス発生回路、３：アンドゲート、４
：カウンタ、１０Ｘセンサアレイ、２０：記憶手段、３
０ニアドレス指定手段、３１ニアドレス用バス、４０：
計数手段、５０：比較手段、５１：フリップフロツプ、
６０８クロックパルス発生手段、６１：分周器、６１ａ
：アンドゲ−）　、６１ｂ＋インバータ、６２：カウン
タ、６３ニブリセツトカウンタ、６３ａニアドレス、６
３ｂニオアゲート、６３ｃ：インバータ、７０：測定デ
ータ用レジスタ、７１：測定データ用バス、Ａ、＾ｉ（
ｌ　＝　Ｏ−ｍ）ニアドレス、Ｃ：フォトダイオードの
接合容量、ＣＰ：クロックパルス、ＣＰＯ：基本クロッ
クパルス、Ｃ丁二計数パルス、Ｄ、Ｄｌデータ、ＢＶＣ
：クロックパルス、Ｌ：被測定量ないしは光、λ、λｉ
（１＝　Ｏ−ｍ）：被測定量の大きさないしは光の強さ
、Ｒ：測定範囲、ＲＰｊリセットパルス、Ｓ：センサか
らの測定信号、ＳＷ：切換指令、τ：測定信号の時間幅
、τ１（１−０〜ｍｂ設定値として□の時間値、Δτ：
設定値としての時間値の差ないしは変化分、Ｖ：第５図
　　　　　　　第６図 第８図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １）被測定量を受けその大きさの関数である時間幅をも
   つ測定信号を発するセンサを用いて被測定量の大きさを
   測定する方式であって、アドレスごとに設定値を記憶す
   る記憶手段と、記憶手段から出力させるべき設定値を指
   定するアドレスを発するアドレス指定手段と、所定の周
   期をもつクロックパルスを計数する計数手段と、アドレ
   ス指定手段により指定されるアドレスに応じて記憶手段
   から出力される設定値と計数手段の計数値とを比較し比
   較結果に応じてアドレス指定手段にアドレスの指定を切
   り換えさせる比較手段とを備え、測定すべき被測定量の
   所望の大きさをその関数である時間値の形で記憶手段内
   に複数個あらかじめ設定値として記憶させておき、セン
   サからの測定信号に基づいてその時間幅の終了時にアド
   レス指定手段から発しられているアドレスの値から測定
   値を得るようにしたことを特徴とするセンサ出力測定方
   式。 ２）特許請求の範囲第１項記載の測定方式において、隣
   り合う２個の所望の被測定量の大きさの関数値の差を時
   間設定値として記憶手段内に記憶させ、比較手段により
   アドレス指定手段にアドレス指定を切り換えるつど計数
   手段の計数値をクリアするようにしたことを特徴とする
   センサ出力測定方式。 ３）特許請求の範囲第１項記載の測定方式において、セ
   ンサが複数個アレイ状に配列され、このセンサアレイ内
   のセンサから発しられる測定信号中の最短時間幅を検出
   する手段と、この最短時間を複数個に分割した周期をも
   つクロックパルスを発生する手段とを設け、このクロッ
   クパルスを計数手段に与えてセンサアレイ内の複数個の
   センサがそれぞれ受ける被測定量を同時並行的に測定す
   るようにしたことを特徴とするセンサ出力測定方式。 ４）特許請求の範囲第３項記載の測定方式において、最
   短時間に対応する被測定量の大きさを一方の限界として
   センサアレイ内のセンサが受ける被測定量の大きさを測
   定すべき範囲を設定してこの測定範囲内に測定すべき被
   測定量の大きさを複数個設定し、クロックパルスの周期
   を決める最短時間の分割数をこの測定範囲内の被測定量
   の大きさの設定数以上に選定したことを特徴とするセン
   サ出力測定方式。