JPH01184879A - 発光ダイオードアレイチップ - Google Patents

発光ダイオードアレイチップ

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JPH01184879A
JPH01184879A JP63005408A JP540888A JPH01184879A JP H01184879 A JPH01184879 A JP H01184879A JP 63005408 A JP63005408 A JP 63005408A JP 540888 A JP540888 A JP 540888A JP H01184879 A JPH01184879 A JP H01184879A
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JP
Japan
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light
light emitting
emitting element
substrate
layer
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JP63005408A
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English (en)
Inventor
Nobuyuki Shiose
伸行 塩瀬
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Panasonic Industrial Devices SUNX Co Ltd
Original Assignee
Sunx Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、化合物半導体基板上に複数の発光素子を列状
に設けて成る発光ダイオードアレイチップ、特には電子
写真方式のプリンタ等に用いられる光学記録ヘッドに好
適する発光ダイオードアレイチップに関する。
(従来の技術) 近年、例えば電子写真方式のプリンタ或はファクシミリ
等に用いられる光学記録ヘッドの光源として、発光ダイ
オードアレイチップを使用することが行なわれており、
この場合には、光学記録ヘッド部分ひいては装置全体の
コンパクト化及び長寿命化等を実現できる利点あるた汐
、広く普及し′ろつあAo 第4図には上記のような目的で使用される発光ダイオー
ドアレイチップの縦断面構造例が模式的に示されている
。この第4図において、1はm−V族化合物半導体であ
る砒化ガリウム(G a A s )の結晶より成る基
板、2はこの基板1上にエピタキシャル成長により形成
されたN型りん化砒化ガリウム(以下、GaAs1−x
Pxと表示する)より成るエピタキシャル層、3はエピ
タキシャル層2上に形成された窒化珪素(Si3N、)
膜で、この窒化珪素膜3の拡散窓を通じて前記エピタキ
シャル層2にP型不純物である亜鉛(Z n)をアレイ
状に選択拡散してP型拡散層4を設けることにより複数
のPN接合を形成し、以て各PN接合領域部分が発光素
子5となるように構成されている。このようにして複数
個の発光素子5が同一ピッチにて一列状配置となるよう
に形成される。尚、6はP側(上面側)に設けられた個
別電極としてのA 、を電極膜(アノード)、7は保護
膜としての5i02膜、8はN側(下面側)に設けられ
た共通電極としてのAuGe−Ni−Au合金電極膜(
カソード)である。
この場合、基板1を構成するGaAs1−xPxは、禁
制帯幅が小さい直接遷移形の半導体である砒化ガリウム
(G a A s )と、禁制帯幅が大きい間接遷移形
の半導体であるりん化ガリウム(GaP)との混晶であ
り、その混晶比Xにより前記発光素子5の中心発光波長
が変化する性質を有する。
そこで、現状では、x−0,4(中心発光波長λpは6
50nm)からx−0,,2(中心発光波長λpは74
0nm)程度の範囲で実用化が進んでいる。
ところで、−数的に、GaAs1−xP’xの混晶比X
と発光素子の中心発光波長λpとの関係は第5図のよう
な曲線で示され、上記混晶比Xと発光素子の量子効率η
(つまり発光効率)との関係は第6図のような曲線で示
される。これら第5図及び第6図から明らかなように、
発光素子5の発光波長を長波長化することにより発光効
率が改善されるものであり、従って、斯様な発光効率の
改善が進めば発光ダイオードアレイチップとしての光出
力を向上させることができて、特に光学記録ヘッドに適
用した場合には記録速度(プリンタの場合には印字速度
)の向上並びに消費電力の低減を図り得る等の大きなメ
リットが生ずる。このため、現在では、発光素子5の発
光波長の長波長化が検討されており、その中心発光波長
λpが740〜780nm程度のものまで実現されつつ
ある。
(発明が解決しようとする課題) ところが、上述のように発光ダイオードアレイチップに
おける発光素子5を長波長化した場合には、発光素子5
からの光の透過率が上昇して、その光が周囲の素材結晶
等を透過し易くなるため、発光素子5の周囲に光が漏れ
出る現象を生ずるものである。従って、このような発光
滲み(所謂ライトブリード)を伴う発光ダイオードアレ
イチップを光学記録ヘッドに適用した場合には、その記
録品質(印字品質)の劣化を来たすという問題点が惹起
されるものであり、結果的に前述したような発光効率の
改善のためには、発光素子5を単純に長波長化するだけ
で済まないという事情がある。
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、その目
的は、発光素子からの光を長波長化することによって発
光効率の改善を図ったものでありながら、発光素子周囲
での発光滲みを抑制することができる発光ダイオードア
レイチップを提供するにある。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) 本発明の第1の特徴点は、化合物半導体より成る基板上
に複数の発光素子を列状に形成して構成される発光ダイ
オードアレイチップを対象としたものであり、前記発光
素子の発光波長を赤外光領域が含まれるように長波長化
した上で、前記基板上に少なくとも前記発光素子の周縁
部を覆うように赤外光遮断特性を有する遮光膜を形成す
る構成としたものである。また、本発明の第2の特徴点
は、前記基板を■−V族化合物半導体である砒化ガリウ
ムにより形成し、且つ前記発光素子を上記のような基板
上に形成された砒化がリウムエピタキシャル層を利用し
て形成した点にある。さらに、本発明の第3の特徴点は
、前記基板を■−■族化合物半導体である砒化ガリウム
により形成し、この基板をそのまま利用することにより
前記発光素子を形成した点にある。
(作用) 発光素子からの光が赤外光領域を含む状態に長波長化さ
れる結果、その発光効率が改善されて光出力が向上する
ようになる。このように発光素子からの光が長波長化さ
れた場合、その発光素子からの光の透過率が高くなって
これが周囲に漏れ出るようになるが、発光素子の周囲に
は赤外光遮断特性を存する遮光膜が設けられているから
、上記のように漏れ出た光が発光滲みの原因となる虞が
なくなる。従って、例えば光学記録ヘッドの光源に適用
した場合には、記録品質の劣化を伴うことなく記録速度
の向上並びに消費電力の低減を図り得るものである。
(実施例) まず、本発明の第1の実施例について第1図及び第2図
を参照しながら説明する。
即ち、11は■−v族化合物半導体である砒化ガリウム
としての例えばSiドープN型GaAs結晶(キャリア
濃度5 X 10 ” am−3)より成る基板で、よ
この基板11上には、テルル(Te) ドープG a 
A s O,9P O,1(キャリア濃度lX10IT
 c@−3)をエピタキシャル成長させて成る砒化ガリ
ウムエピタキシャル層12が形成されている。
13は基板11上に所定のプロセスを経ることにより形
成された拡散窓用の5L3N4膜で、このSi3N4膜
13の拡散窓を通じて前記エピタキシャル層12にP型
不純物であるZnをアレイ状に選択拡散してP型拡散層
14を設けることによりPN接合を形成し、以てそのP
N接合領域部分が発光素子15となるように構成してい
る。このとき、上記発光素子15は複数個形成されるも
のであり、同一ピッチにて一列状配置となるように設け
られる。そして、基板11.エピタキシャル層12等よ
り成るウェーハにおけるP側(上面側)に、P型拡散層
14に連続する個別電極としてのA’/電極膜16を形
成し、さらに保護膜としての5i02膜17を形成して
いる。
この後、ウェーハ上の全体に、例えば赤外光遮断顔料入
りのポリイミド系樹脂を例えば回転塗布機にて均一に塗
布し、且つ斯様に塗布された膜のうち発光素子15対応
部分並びにAZ電極膜16のワイヤボンディングバット
16a部分をフォトレジスト法により除去1することに
よって、発光素子15の周縁部を覆った状態の遮光膜1
8を形成している。従って、この遮光膜18は赤外光遮
断特性を有する。そして、最終的に、基板11に対し、
ウェーハ厚さが300μmとなるような裏面研磨を施し
た上で、この研磨面(N側面)に共通電極としてのAu
Ge−Ni−Au合金電極膜・19を形成し、以て発光
ダイオードアレイチップを完成させている。
上記した本実施例によれば、発光索子15を、GaAs
とGaPとの混晶比が0.1のテルル(Te)  ドー
プG a A s O,9P O,1より成るエピタキ
シャル層12を利用して形成する構成としたので、その
発光索子15の発光波長が赤外光領域を含んだ状態まで
長波長化される。この結果、発光索子15の発光効率が
改善されて発光ダイオードアレイチップとしての光出力
が向上するようになる。しかるに、このように発光素子
15からの光が長波長化された場合、その発光素子15
からの光に透過率の高い赤外光成分が多く含まれるよう
になってこれが周囲に漏れ出ることがあるが、本実施例
では、発光素子15の周囲に赤外光遮断特性を有する遮
光膜18が設けられているから、上記のように漏れ出た
光が発光滲みの原因となる虞がなくなる。従って、本実
施例による発光ダイオードアレイチップを例えば光学記
録ヘッドの光源に適用した場合には、記録品質の劣化を
伴うことなく記録速度の向上並びに消費電力の低減を図
り得るものである。
第3図には本発明の第2の実施例が示されており、以下
これについて前記第1の実施例と異なる部分のみ説明す
る。即ち、この実施例では、StドープN型GaAs 
 (キャリア濃[5X 10” cm−3)より成る基
板20上に、P型拡散層21を直接的に設けることによ
ってPN接合を形成して、この部分を発光素子22とし
たものであり、他のAt電極膜16.遮光膜18等は前
述同様の工程を経て形成されている。このような構成と
した本実施例によれば、発光ダイオードアレイチップと
しての光出力をさらに大きくすることができる。
[発明の効果ゴ 本発明によれば以上の説明によって明らかなように、化
合物半導体より成る基板上に複数の発光素子を列状に形
成して構成される発光ダイオードアレイチップにおいて
、発光素子からの光の長波長化による発光効率の改善及
びこれに伴う光出力の向上を実現できると共に、発光素
子周囲での発光滲みを抑制することができ、以て光学記
録ヘッド等のような高光出力及び滲みのない発光出力を
必要とする用途に好適するという優れた効果を奏するも
のである。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図は本発明の第1の実施例を示すもので
、第1図は要部の模式的縦断面図、第2図は同要部の平
面図である。第3図は本発明の第2の実施例を示す第1
図相当図である。また、第4図は従来例を説明するため
の第1図相当図、第5図はりん化砒化ガリウムの混晶比
Xと発光素子の中心発光波長λpとの関係を示す特性図
、第6図は上記混晶比Xと量子効率λとの関係を示す特
性図である。 図中、11及び20は基板、12はエピタキシャル層、
14及び21はP型拡散層、15及び22は発光素子、
18は遮光膜を示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、化合物半導体より成る基板上に複数の発光素子を列
    状に形成して構成される発光ダイオードアレイチップに
    おいて、前記発光素子の発光波長を赤外光領域が含まれ
    るように長波長化すると共に、前記基板上に少なくとも
    前記発光素子の周縁部を覆うように赤外光遮断特性を有
    する遮光膜を形成したことを特徴とする発光ダイオード
    アレイチップ。 2、基板はIII−V族化合物半導体である砒化ガリウム
    により形成され、発光素子は前記基板上に形成された砒
    化ガリウムエピタキシャル層を利用して形成されている
    ことを特徴とする請求項1記載の発光ダイオードアレイ
    チップ。 3、基板はIII−V族化合物半導体である砒化ガリウム
    により形成され、発光素子は前記基板をそのまま利用す
    ることにより形成されていることを特徴とする請求項1
    記載の発光ダイオードアレイチップ。
JP63005408A 1988-01-13 1988-01-13 発光ダイオードアレイチップ Pending JPH01184879A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7081991B2 (en) * 2003-03-14 2006-07-25 Rockwell Collins, Inc. Dye-based filter
JP2018191293A (ja) * 2016-03-01 2018-11-29 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. 適応光源

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