JPH01179781A - 半導体単結晶の製造方法 - Google Patents
半導体単結晶の製造方法Info
- Publication number
- JPH01179781A JPH01179781A JP432588A JP432588A JPH01179781A JP H01179781 A JPH01179781 A JP H01179781A JP 432588 A JP432588 A JP 432588A JP 432588 A JP432588 A JP 432588A JP H01179781 A JPH01179781 A JP H01179781A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- boat
- single crystal
- quartz
- cloth
- raw material
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000013078 crystal Substances 0.000 title claims abstract description 43
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 12
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 8
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 45
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims abstract description 15
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims abstract description 13
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims abstract description 11
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims abstract description 11
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims abstract description 5
- 239000002759 woven fabric Substances 0.000 claims abstract description 5
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 claims abstract description 3
- 239000003779 heat-resistant material Substances 0.000 claims abstract description 3
- 239000004745 nonwoven fabric Substances 0.000 claims description 3
- 239000002241 glass-ceramic Substances 0.000 claims 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 abstract description 33
- 238000009736 wetting Methods 0.000 abstract description 12
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 abstract description 3
- 239000000155 melt Substances 0.000 abstract 2
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 32
- 238000000034 method Methods 0.000 description 18
- 239000010408 film Substances 0.000 description 13
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 6
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 6
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 5
- PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N Boron nitride Chemical compound N#B PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000003708 ampul Substances 0.000 description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 3
- 229910052582 BN Inorganic materials 0.000 description 2
- 206010010904 Convulsion Diseases 0.000 description 2
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 2
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 2
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 2
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 description 2
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 1
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 229910052593 corundum Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 238000010348 incorporation Methods 0.000 description 1
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000035484 reaction time Effects 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 229910001845 yogo sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021493 α-cristobalite Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、ボート法により■−V族化合物半導体等の単
結晶を製造する方法に関する。
結晶を製造する方法に関する。
[従来の技術]
従来より、GaAS等の半導体単結晶はボート法或いは
引上げ法等により半導体レーザや発光ダイオード用の基
板に必要な低転位単結晶の殆どはボート法により製造さ
れている。
引上げ法等により半導体レーザや発光ダイオード用の基
板に必要な低転位単結晶の殆どはボート法により製造さ
れている。
例えば、ボート法によりGaAs単結晶を製造する場合
、GaAs原料融液を収容するための単結晶成長容器即
ちボートとしては、純度、熱伝導度等の点から石英ガラ
スが用いられている。しかし、単なる石英ガラス製のボ
ートを使用すると、ボートと成長させたGaAs結晶と
が完全に密着して熱膨張率の差により結晶或いはボート
が割れてしまうため、ボート表面をサンドブラストした
後、Ga等で加熱処理して内壁にα−クリストバライト
層を精製させてから使用すると云う方法をとっている。
、GaAs原料融液を収容するための単結晶成長容器即
ちボートとしては、純度、熱伝導度等の点から石英ガラ
スが用いられている。しかし、単なる石英ガラス製のボ
ートを使用すると、ボートと成長させたGaAs結晶と
が完全に密着して熱膨張率の差により結晶或いはボート
が割れてしまうため、ボート表面をサンドブラストした
後、Ga等で加熱処理して内壁にα−クリストバライト
層を精製させてから使用すると云う方法をとっている。
しかし、このボートの表面処理作業は面倒であり、処理
が不十分な場合や石英アンプル製作時の微量酸素の混入
等により、やはり「ぬれ」 (密着)してしまうことが
知られており、微妙な表面処理のテクニックが必要であ
る。又、石英ボートからSiが結晶に導入されてしまう
ため高純度単結晶を得ることはできなかった。
が不十分な場合や石英アンプル製作時の微量酸素の混入
等により、やはり「ぬれ」 (密着)してしまうことが
知られており、微妙な表面処理のテクニックが必要であ
る。又、石英ボートからSiが結晶に導入されてしまう
ため高純度単結晶を得ることはできなかった。
この3iの導入を防止するため、最近では石英ボートの
内面に窒化ホウ素(BN)、窒化アルミニウム(AfJ
N)、酸化アルミニウム(A、11203)等の薄膜を
コーティングし、これを結晶成長に使用することも検討
されている。しかしこのようなコーティング膜を有する
石英ボートを使用した場合、Siの導入は防止されるも
のの、コーティング膜を施さない石英ボートを使用した
場合と同様にコーティング膜と単結晶が「ぬれjてしま
う現象は回避できなかった。この「ぬれ」の現象はコー
ティング膜が薄い程顕著であるが、そうかといって膜を
厚くすると、今度は石英ボートとの熱膨張率の差により
、石英ボートが割れてしまうという現象が生じた。この
にうなりN等のコーティング膜を施した石英ボートでは
、上述したように良好な結晶成長が困難なばかりではな
く、ボート自体が非常に高価なものになり、更に、結晶
成長と冷却の熱履歴を受けるとコーティング膜と石英ボ
ートとの熱膨張率の差にJ:り歪が生じ、コーティング
膜が剥がれ、再コーティングが必要になるなど工業的に
多くの問題があった(尚、pBN製のものは、熱伝導性
が石英よりも良いために単結晶が育成し難く歩留りが悪
い上に高価であり、あまり実用的ではない)。
内面に窒化ホウ素(BN)、窒化アルミニウム(AfJ
N)、酸化アルミニウム(A、11203)等の薄膜を
コーティングし、これを結晶成長に使用することも検討
されている。しかしこのようなコーティング膜を有する
石英ボートを使用した場合、Siの導入は防止されるも
のの、コーティング膜を施さない石英ボートを使用した
場合と同様にコーティング膜と単結晶が「ぬれjてしま
う現象は回避できなかった。この「ぬれ」の現象はコー
ティング膜が薄い程顕著であるが、そうかといって膜を
厚くすると、今度は石英ボートとの熱膨張率の差により
、石英ボートが割れてしまうという現象が生じた。この
にうなりN等のコーティング膜を施した石英ボートでは
、上述したように良好な結晶成長が困難なばかりではな
く、ボート自体が非常に高価なものになり、更に、結晶
成長と冷却の熱履歴を受けるとコーティング膜と石英ボ
ートとの熱膨張率の差にJ:り歪が生じ、コーティング
膜が剥がれ、再コーティングが必要になるなど工業的に
多くの問題があった(尚、pBN製のものは、熱伝導性
が石英よりも良いために単結晶が育成し難く歩留りが悪
い上に高価であり、あまり実用的ではない)。
上述の2つの方法では、「ぬれ」の現象を完全には回避
することはできなかったが、本願出願人は石英ボートの
内面に石英ガラス繊維からなる布状部材を敷くことによ
り、「ぬれ」の現象を回避できる単結晶の製造方法を先
に提案している(特開昭61−136987号)。しか
し、この方法であると、「ぬれ」の発生は抑制できるも
のの、石英製布状部材からのSi汚染は避けることがで
きなかった。又、石英製の布状部材では、1回の成長終
了後でばらばらに砕けてしまい、再使用することができ
なかった。
することはできなかったが、本願出願人は石英ボートの
内面に石英ガラス繊維からなる布状部材を敷くことによ
り、「ぬれ」の現象を回避できる単結晶の製造方法を先
に提案している(特開昭61−136987号)。しか
し、この方法であると、「ぬれ」の発生は抑制できるも
のの、石英製布状部材からのSi汚染は避けることがで
きなかった。又、石英製の布状部材では、1回の成長終
了後でばらばらに砕けてしまい、再使用することができ
なかった。
[発明の目的]
本発明の目的は、ぬれの発生を防止し、かつSi混入を
抑制することができ、歩留り良くかつ安価に高純度で低
転位の高品質化合物半導体単結晶を製造することができ
る方法を提供することにある。
抑制することができ、歩留り良くかつ安価に高純度で低
転位の高品質化合物半導体単結晶を製造することができ
る方法を提供することにある。
[問題点を解消するための手段]
本発明の要旨は、成長用ボート内に原料融液を収容し該
原料融液を冷却固化させて半導体単結晶を製造する方法
において、上記成長用ボートの内面に該成長用ボート及
び上記原料融液と反応することがなくかつ該原料融液以
上の高温においても安定な耐熱材料のコーティング膜を
施した石英ガラスuA紺又はセラミック繊維の織布もし
くは不織布からなる布状部材を敷いたことにある。
原料融液を冷却固化させて半導体単結晶を製造する方法
において、上記成長用ボートの内面に該成長用ボート及
び上記原料融液と反応することがなくかつ該原料融液以
上の高温においても安定な耐熱材料のコーティング膜を
施した石英ガラスuA紺又はセラミック繊維の織布もし
くは不織布からなる布状部材を敷いたことにある。
[実 施 例]
以下、本発明の実施例について詳細に説明する。
図は横型ボート法における本発明の一実施例を示ず説明
図であり、1は石英アンプル、2はガリウム砒素等の化
合物半導体の原料融液3を収容するための石英ボート、
4は原料融液3とは反応しない耐熱性の布状部材である
。この布状部材4は、GaAS等とは反応せず、しかも
GaAS等の融点以上の温度でも安定なりNS/l N
、A、Il 203等のコーティングを施した石英ガラ
ス繊維、又はBN1AfJN1AfJ203等のセラミ
ックスm雑(単線又は撚線)を編んだ織布若しくは不織
布により構成されている。場合によっては、石英製の織
布又は不織布にコーティングを施したものでもよい。
図であり、1は石英アンプル、2はガリウム砒素等の化
合物半導体の原料融液3を収容するための石英ボート、
4は原料融液3とは反応しない耐熱性の布状部材である
。この布状部材4は、GaAS等とは反応せず、しかも
GaAS等の融点以上の温度でも安定なりNS/l N
、A、Il 203等のコーティングを施した石英ガラ
ス繊維、又はBN1AfJN1AfJ203等のセラミ
ックスm雑(単線又は撚線)を編んだ織布若しくは不織
布により構成されている。場合によっては、石英製の織
布又は不織布にコーティングを施したものでもよい。
尚、布状部材4は結晶成長に伴う昇温、冷却の熱サイク
ルを受けるため、布状部材4を構成する単繊維の太さは
、繊維自身の熱伸縮による歪を曲げ変形により吸収する
ようできるだけ細いことが望ましい。
ルを受けるため、布状部材4を構成する単繊維の太さは
、繊維自身の熱伸縮による歪を曲げ変形により吸収する
ようできるだけ細いことが望ましい。
又、各単繊維間、各繊維束間は原料融液3が石英ボーh
2に達しないよう単繊維若しくは繊維束の直径の約2
分の1以下にすることが望ましい。
2に達しないよう単繊維若しくは繊維束の直径の約2
分の1以下にすることが望ましい。
更に、単繊維、繊維束の断面形状は円形に限らず、矩形
、台形等でもよく、組合せも自由である。
、台形等でもよく、組合せも自由である。
このような構成の布状部材4を使用すれば、石英ボート
2の内面を処理しなくとも石英ボート2の内壁面に敷い
て、結晶成長を行うことにより、従来見られた石英ボー
トと成長させた単結晶の1ぬれ」の発生や、石英製の布
状部材では防ぐことのできなかったSlの混入を大幅に
抑制することができ、低転位でかつ高純度な単結晶を製
造できるようになる(尚、3iの汚染については、石英
アンプル1からの81混入もあるため、S1汚染を皆無
にすることはできない)。又、本発明における布状部材
4であれば少なくとも2〜3回繰り返して使用(ること
ができる。
2の内面を処理しなくとも石英ボート2の内壁面に敷い
て、結晶成長を行うことにより、従来見られた石英ボー
トと成長させた単結晶の1ぬれ」の発生や、石英製の布
状部材では防ぐことのできなかったSlの混入を大幅に
抑制することができ、低転位でかつ高純度な単結晶を製
造できるようになる(尚、3iの汚染については、石英
アンプル1からの81混入もあるため、S1汚染を皆無
にすることはできない)。又、本発明における布状部材
4であれば少なくとも2〜3回繰り返して使用(ること
ができる。
次に、本発明の具体的実施例について説明する。
実施例1
石英織布(S i O2製)上にイオンブレーティング
法でBN膜を作成した。そのBNNココ−石英織布をボ
ーミル内面に敷きGF法で4 KgのGaΔS結晶成長
を行った。
法でBN膜を作成した。そのBNNココ−石英織布をボ
ーミル内面に敷きGF法で4 KgのGaΔS結晶成長
を行った。
その結果、結晶とボートとの1ぬれ」は全く認められず
転位密度が5000cm−3以下、比抵抗が107Ω・
Cm以上の半絶縁性GaAs単結晶が得られた。同じ条
件で5本の結晶を成長させたところ、その中の1木と布
状部材との焼付きが認められたが、転位密度は7000
cm−3以下であり、その他の焼付りを起さなかったも
のは3500〜5000r、w−3以下であった。尚、
焼付けを起さなかった布状部材は再使用が可能(1〜2
回)であり、「ぬれ」の発生はなく、結晶の特性も良好
であった。
転位密度が5000cm−3以下、比抵抗が107Ω・
Cm以上の半絶縁性GaAs単結晶が得られた。同じ条
件で5本の結晶を成長させたところ、その中の1木と布
状部材との焼付きが認められたが、転位密度は7000
cm−3以下であり、その他の焼付りを起さなかったも
のは3500〜5000r、w−3以下であった。尚、
焼付けを起さなかった布状部材は再使用が可能(1〜2
回)であり、「ぬれ」の発生はなく、結晶の特性も良好
であった。
尚イオンプレーティグ条件は次の通りである。
■ B蒸発のための電子銃出力が50mA、■ 窒素ガ
ス圧10 X 10’torr、■ 高周波出力13.
6MHz、■ 蒸着時間3Qmin。
ス圧10 X 10’torr、■ 高周波出力13.
6MHz、■ 蒸着時間3Qmin。
実施例2
石英織布(SiO2製)上にプラズマCVDでBN膜を
作製した。そのBNNココ−石英織布をボート内面に敷
きGF法で4 KgのGaASの結晶成長を行ったとこ
ろ、「ぬれ」の発生はなく、得られた結晶は転位密度が
5000cm−”以下、比抵抗が107Ω・cm以上の
半絶縁性結晶であった。
作製した。そのBNNココ−石英織布をボート内面に敷
きGF法で4 KgのGaASの結晶成長を行ったとこ
ろ、「ぬれ」の発生はなく、得られた結晶は転位密度が
5000cm−”以下、比抵抗が107Ω・cm以上の
半絶縁性結晶であった。
又、本実施例の布状部材も1〜2回の再使用が可能であ
った。
った。
尚、プラズマCVDの条件は次の通りである。
(1) 13’、 6MHzの高周波出力、(2)反応
ガスとしてアンモニアガス、ジボランを使用、(3)反
応時間1 Qmin 0 実施例3 石英織布(S i 02 )上にイオンブレーティング
でAηN膜を作製した。
ガスとしてアンモニアガス、ジボランを使用、(3)反
応時間1 Qmin 0 実施例3 石英織布(S i 02 )上にイオンブレーティング
でAηN膜を作製した。
そのへ9N膜コート石英繊をボート内面に敷き −GF
法で4KgのGaAS単結晶の成長を行った。
法で4KgのGaAS単結晶の成長を行った。
又Al2O3膜についても同様に膜を形成させて結晶成
長を行った。
長を行った。
その結果、両者とも「ぬれ」の発生はなく、結晶全長に
わたって転位密度3500〜5000cm 以下でか
つ比抵抗が107Ωcmの半絶縁GaAs結晶が得られ
た。
わたって転位密度3500〜5000cm 以下でか
つ比抵抗が107Ωcmの半絶縁GaAs結晶が得られ
た。
又、本実施例の布状部材も1〜2回の再使用が可能であ
った。
った。
[発明の効果1
以上に説明したように、本発明の半導体単結晶の製造方
法であれば、成長用ボートの内面にこの成長用ボート及
び原料融液と反応することがなく、かつ耐熱性に優れた
コーティング膜を施した石英製又はセラミックス製の繊
維からなる布状部材を敷いたことにより、「ぬれ」の発
生を防止し、かつ3i混入を大幅に抑制することができ
、歩留り良くかつ安価に高品質の半導体単結晶を得るこ
とができるという顕著な効果を奏する。
法であれば、成長用ボートの内面にこの成長用ボート及
び原料融液と反応することがなく、かつ耐熱性に優れた
コーティング膜を施した石英製又はセラミックス製の繊
維からなる布状部材を敷いたことにより、「ぬれ」の発
生を防止し、かつ3i混入を大幅に抑制することができ
、歩留り良くかつ安価に高品質の半導体単結晶を得るこ
とができるという顕著な効果を奏する。
図は本発明の一実施例を示す説明図である。
1:石英アンプル、
2:石英ボート、
3:原料融液、
4:布状部材。
Claims (1)
- 1、成長用ボート内に原料融液を収容し該原料融液を冷
却固化させて半導体単結晶を製造する方法において、前
記成長用ボートの内面に該成長用ボート及び前記原料融
液と反応することがなくかつ該原料融液温度以上の高温
においても安定な耐熱材料のコーティング膜を施した石
英ガラス繊維又はセラミック繊維の織布もしくは不織布
からなる布状部材を敷いたことを特徴とする半導体単結
晶の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP432588A JPH01179781A (ja) | 1988-01-12 | 1988-01-12 | 半導体単結晶の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP432588A JPH01179781A (ja) | 1988-01-12 | 1988-01-12 | 半導体単結晶の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01179781A true JPH01179781A (ja) | 1989-07-17 |
Family
ID=11581298
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP432588A Pending JPH01179781A (ja) | 1988-01-12 | 1988-01-12 | 半導体単結晶の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01179781A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01183489A (ja) * | 1988-01-18 | 1989-07-21 | Hitachi Cable Ltd | 半導体単結晶の製造方法 |
DE102005024957A1 (de) * | 2005-05-31 | 2006-12-07 | Saint-Gobain Industriekeramik Rödental GmbH | Mehrteiliger, dünnwandiger Tiegel mit Einlage aus Quarzglasgewebe oder Quarzglasfilz zum Abkühlen von Si-Schmelzen |
-
1988
- 1988-01-12 JP JP432588A patent/JPH01179781A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01183489A (ja) * | 1988-01-18 | 1989-07-21 | Hitachi Cable Ltd | 半導体単結晶の製造方法 |
JPH0631191B2 (ja) * | 1988-01-18 | 1994-04-27 | 日立電線株式会社 | 半導体単結晶の製造方法 |
DE102005024957A1 (de) * | 2005-05-31 | 2006-12-07 | Saint-Gobain Industriekeramik Rödental GmbH | Mehrteiliger, dünnwandiger Tiegel mit Einlage aus Quarzglasgewebe oder Quarzglasfilz zum Abkühlen von Si-Schmelzen |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2628404B2 (ja) | 半導体結晶膜の成長方法 | |
US4773852A (en) | Pyrolytic boron nitride crucible and method for producing the same | |
US4717693A (en) | Process for producing beta silicon nitride fibers | |
KR20200125073A (ko) | GaN 웨이퍼 제조용 HVPE 장치 및 그에 의한 GaN 웨이퍼 제조 방법 | |
JPH01179781A (ja) | 半導体単結晶の製造方法 | |
JPH01183489A (ja) | 半導体単結晶の製造方法 | |
US4614672A (en) | Liquid phase epitaxy (LPE) of silicon carbide | |
JPS62153189A (ja) | 窒化ホウ素被覆ルツボおよびその製造方法 | |
JPS6272505A (ja) | 熱分解窒化ほう素製器物の製造法 | |
EP0151863B1 (en) | A growth method of an inorganic compound single crystal and a boat used therefor | |
JPS638296A (ja) | 3C−SiC結晶の形成方法 | |
JP3579344B2 (ja) | Iiiv族窒化物膜の製造方法および製造装置 | |
JPH0798708B2 (ja) | 熱分解窒化ホウ素被覆物品の製造方法 | |
JPH0784357B2 (ja) | 窒化ホウ素被覆ルツボ | |
JP2851374B2 (ja) | 熱分解窒化ほう素製耐熱容器 | |
JPS61136987A (ja) | 単結晶成長容器 | |
JP4680140B2 (ja) | AlN単結晶膜の形成方法 | |
JP2575360B2 (ja) | アンチモンド−プ単結晶の製造方法 | |
JP2001262346A (ja) | ピンホ−ルを低減したSiC被覆黒鉛部材の製法 | |
JP2588540B2 (ja) | 熱分解窒化ホウ素容器 | |
JPS6016899A (ja) | 2−5化合物結晶及びその引き上げ方法 | |
JPH02182882A (ja) | 熱分解窒化ほう素製耐熱容器およびその製造方法 | |
JP2706967B2 (ja) | 単結晶マグネシアスピネル膜の形成方法 | |
JPH0431309A (ja) | 熱分解窒化ほう素成形体の製造方法 | |
JPS6358916A (ja) | 分子線エピタキシ−装置 |