JPH01179015A - Light valve device - Google Patents

Light valve device

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JPH01179015A
JPH01179015A JP33571187A JP33571187A JPH01179015A JP H01179015 A JPH01179015 A JP H01179015A JP 33571187 A JP33571187 A JP 33571187A JP 33571187 A JP33571187 A JP 33571187A JP H01179015 A JPH01179015 A JP H01179015A
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JP
Japan
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semiconductor layer
electrode
layer
light
valve device
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JP33571187A
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Japanese (ja)
Inventor
Yoshitaka Fukute
福手 芳孝
Shigehiro Yoshida
成浩 吉田
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Hamamatsu Photonics KK
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Hamamatsu Photonics KK
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Abstract

PURPOSE:To facilitate a manufacture process and to improve the yield by fitting an electrode to a semiconductor layer. CONSTITUTION:A transparent substrate 11, a transparent conductive layer 12, a semiconductor layer 13, the electrode 19, a light shield layer 14, a mirror 15, a dielectric layer 16, a transparent conductive layer 17, and a transparent substrate 18 are laminated in order. The electrode 19 is a high-barrier electrode which forms a Schottky junction with the semiconductor layer 13 and made of a material with good adhesive strength to the semiconductor layer 13, e.g. Pt, Au, etc., and arranged on the semiconductor layer 13 in a grating shape. When a specific electrode is applied to the electrode 19, charges are removed from the part of the semiconductor layer 13 right below the electrode. Consequently, even when the resistivity of the semiconductor layer is small, the diffusion of charges are precluded, so the resolution is prevented from decreasing, the manufacture process is easy, and the structure which is suitable for good- yield, large-area formation is obtained.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光演算回路などに利用され、電気光学効果を
有する誘電体層と半導体層とに所定の駆動電圧を分圧し
て加え、書込光による半導体層の電圧変化によって誘電
体層の状態を変化させ、読出光を変調して出力する形式
のライトバルブ装置に関する。
Detailed Description of the Invention [Industrial Application Field] The present invention is used in optical arithmetic circuits, etc., and applies a predetermined driving voltage dividedly to a dielectric layer and a semiconductor layer that have an electro-optic effect, and The present invention relates to a light valve device that modulates and outputs read light by changing the state of a dielectric layer by changing the voltage of a semiconductor layer due to incoming light.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、ライトバルブ装置として第4図に示すような構造
のものが知られている。
Conventionally, a structure as shown in FIG. 4 is known as a light valve device.

第4図においてライトバルブ装置50は、透明基板51
.透明型[152,半導体層53.ミラー55、電気光
学効果を有する誘電体層56.透明電極57.透明基板
58が順次に積層されて形成されている。半導体層53
には、不純物濃度の低いp型(またはn型)の半導体材
料1例えばシリコンが用いられている。半導体層53の
透明電極52側には不純物濃度の高いp型の領域61が
平面状に形成され、誘電体層56側には半導体層53と
は異なる導電型すなわちn型(またはp型)の領域59
が所定間隔の島状(または格子状)のパターンで形成さ
れ、この領域59と半導体層53とによりpn接合マイ
クロダイオードを形成し、領域61と半導体層53とに
より平面状pn接合を形成するようになっている。
In FIG. 4, the light valve device 50 includes a transparent substrate 51
.. Transparent type [152, semiconductor layer 53. A mirror 55, a dielectric layer 56 having an electro-optic effect. Transparent electrode 57. Transparent substrates 58 are sequentially laminated. semiconductor layer 53
A p-type (or n-type) semiconductor material 1, such as silicon, having a low impurity concentration is used for the. A p-type region 61 with a high impurity concentration is formed in a planar shape on the transparent electrode 52 side of the semiconductor layer 53, and an n-type (or p-type) region 61 of a conductivity type different from that of the semiconductor layer 53 is formed on the dielectric layer 56 side. area 59
are formed in an island-like (or lattice-like) pattern with predetermined intervals, and the region 59 and the semiconductor layer 53 form a pn junction microdiode, and the region 61 and the semiconductor layer 53 form a planar pn junction. It has become.

このようなライトバルブ装置f50では、交流駆動の場
合、交流電源60により透明電極52゜57間に駆動電
圧を印加しておく、書込光WLが入射していない状態で
は、駆動電圧は半導体層53、遮光層54.ミラー55
.誘電体層56のそれぞれにこれらのインピーダンスに
応じて分圧される。このときに誘電体層56に加わる電
圧は所定閾値以下であり、誘電体層56はオフ状態とな
っている。半導体層53に書込光WLが入射すると、半
導体層53中の照射部分に電荷が発生し電荷はこの照射
部分に加わっている電圧を減少させるように分布するの
で、半導体層53の照射部分に対応した誘電体156の
部分の電圧が増え所定閾値以上となって誘電体層56は
オン状態となる。
In such a light valve device f50, in the case of AC drive, a driving voltage is applied between the transparent electrodes 52 and 57 by the AC power supply 60. When the writing light WL is not incident, the driving voltage is applied to the semiconductor layer. 53, light shielding layer 54. mirror 55
.. A voltage is applied to each of the dielectric layers 56 according to these impedances. At this time, the voltage applied to the dielectric layer 56 is below a predetermined threshold value, and the dielectric layer 56 is in an off state. When the writing light WL is incident on the semiconductor layer 53, charges are generated in the irradiated portion of the semiconductor layer 53, and the charges are distributed so as to reduce the voltage applied to the irradiated portion. The voltage at the corresponding portion of the dielectric 156 increases to a predetermined threshold value or higher, and the dielectric layer 56 is turned on.

ところで、半導体層53中に形成されているpn接合マ
イクロダイオードに逆方向バイアスを加えると、半導体
層53中の領域59直下の部分から透明電極52に向か
って領域61まで空乏層が延びる。または平面状pn接
合を形成している領域59の直下から誘電体層56に向
かって領域59のpn接合マイクロダイオードに達する
まで空乏層が延びる。この空乏層は、pn接合マイクロ
ダイオードの格子状のp型の部分から電荷を排除するよ
うに機能するので、半導体層53中の照射部分に発生し
た電荷が横方向に拡散するのを防止し、半導体層53中
の所定部分の電圧変化が隣接する部分の電圧変化とクロ
ストークしないようにして高分解能を維持することがで
きる。この高分解能すなわち高解像度特性は、誘電体層
56にも反映される。
By the way, when a reverse bias is applied to the pn junction microdiode formed in the semiconductor layer 53, a depletion layer extends from a portion directly below the region 59 in the semiconductor layer 53 toward the transparent electrode 52 to the region 61. Alternatively, the depletion layer extends from directly below the region 59 forming the planar pn junction toward the dielectric layer 56 until it reaches the pn junction microdiode in the region 59. This depletion layer functions to exclude charges from the lattice-shaped p-type portion of the p-n junction microdiode, so it prevents the charges generated in the irradiated portion of the semiconductor layer 53 from diffusing in the lateral direction. High resolution can be maintained by preventing voltage changes in a predetermined portion of the semiconductor layer 53 from crosstalking with voltage changes in adjacent portions. This high resolution, that is, high resolution characteristics is also reflected in the dielectric layer 56.

従って、読出光RLが透明基板58.透明電極57を介
して誘電体層56に入射し、誘電体層56の状態変化に
より変調されて出力されるとき、変調された読出光を高
解像度のものにすることができる。
Therefore, the readout light RL is transmitted to the transparent substrate 58. When the light enters the dielectric layer 56 through the transparent electrode 57, is modulated by the change in state of the dielectric layer 56, and is output, the modulated read light can have high resolution.

書込光WLが例えば2次元情報を有している場合には、
読出光RLにより高解像度の2次元画像を得ることがで
きる。
For example, when the writing light WL has two-dimensional information,
A high-resolution two-dimensional image can be obtained using the readout light RL.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

しかしながら、上述のライトバルブ装置50では、半導
体層53中に領域59を形成しpn接合マイクロダイオ
ードを作成するので、歩留り良く、大面積のものを作る
のは難かしいという問題があった。
However, in the light valve device 50 described above, since the region 59 is formed in the semiconductor layer 53 to create a pn junction microdiode, there is a problem in that it is difficult to manufacture a device with a high yield and a large area.

本発明は、製造工程が容易であり歩留り良く大面積のも
のを作るのに適した構造のライトバルブ装置を提供する
ことを目的としている。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a light valve device having an easy manufacturing process and a structure suitable for manufacturing a large-area device with high yield.

本発明はさらに、駆動電圧、書込光とは独立して、リセ
ット、画像制御等の制御を行なうことの可能な構造のラ
イトバルブ装置を提供することを目的としている。
A further object of the present invention is to provide a light valve device having a structure that allows controls such as reset and image control to be performed independently of drive voltage and writing light.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明は、半導体層と電気光学効果を有する誘電体層と
に所定の駆動電圧を分圧して加え、書込光による半導体
層の電圧変化によって誘電体層の状態を変化させて読出
光を変調する形式のライトバルブ装置において、前記半
導体層には所定のパターン配置の電極が取付けられてい
ることを特徴とするライトバルブ装置によって、上記従
来技術の問題点を改善するものである。
In the present invention, a predetermined driving voltage is dividedly applied to a semiconductor layer and a dielectric layer having an electro-optical effect, and the state of the dielectric layer is changed by the voltage change in the semiconductor layer caused by the write light, thereby modulating the read light. The above-mentioned problems of the prior art are improved by a light valve device of this type, characterized in that electrodes arranged in a predetermined pattern are attached to the semiconductor layer.

〔作用〕[Effect]

本発明では、半導体層に所定のパターン配置の電極を取
付けている。この電極に所定の電圧を印加すると、半導
体層の電極直下の部分からは電荷が排除される。これに
より半導体層の抵抗率が小さくても電荷の拡散を防止で
きるので、解像度の低下を防止することができる。
In the present invention, electrodes with a predetermined pattern arrangement are attached to the semiconductor layer. When a predetermined voltage is applied to this electrode, charges are removed from the portion of the semiconductor layer directly below the electrode. This makes it possible to prevent charge diffusion even if the resistivity of the semiconductor layer is small, thereby preventing a decrease in resolution.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。 Embodiments of the present invention will be described below based on the drawings.

第1図は本発明に係るライトバルブ装置の第1の実施例
の構成図である。
FIG. 1 is a block diagram of a first embodiment of a light valve device according to the present invention.

第1の実施例のライトバルブ装置1は、透明基板11.
透明導電層12.半導体層13.電極19、遮光層14
.ミラー15.誘電体層16゜透明導電層17.透明基
板18が順次に積層されて形成されている。
The light valve device 1 of the first embodiment includes a transparent substrate 11.
Transparent conductive layer 12. Semiconductor layer 13. Electrode 19, light shielding layer 14
.. Mirror 15. Dielectric layer 16° transparent conductive layer 17. Transparent substrates 18 are sequentially laminated.

半導体層13は単一の半導体材料で形成されていても良
いし、あるいは、p型層とn型層とからなるフォトダイ
オードのような構成のものであっても良い、なお、半導
体層13が非晶質(アモルファス)のものでなく単結晶
の半導体材料1例えば単結晶シリコンで形成されている
場合には、その抵抗率は一般に低いものとなっている。
The semiconductor layer 13 may be formed of a single semiconductor material, or may have a photodiode-like structure consisting of a p-type layer and an n-type layer. When the semiconductor material 1 is not amorphous but is made of single crystal semiconductor material 1, for example, single crystal silicon, its resistivity is generally low.

電極19は、半導体層13とショットキー接合を形成す
る高バリアのものであって半導体層13との密着性の良
好な材料1例えばPt、A、などで作られており、半導
体層13上に格子状に配置されている。電極19には、
交流電源60の駆動電圧に応じた所定の周波数、電圧値
の交流電圧が交流電源27から加わるようになっている
The electrode 19 is a high-barrier material that forms a Schottky junction with the semiconductor layer 13 and is made of a material 1 having good adhesion to the semiconductor layer 13, such as Pt or A. They are arranged in a grid pattern. The electrode 19 has
An AC voltage having a predetermined frequency and voltage value corresponding to the driving voltage of the AC power source 60 is applied from the AC power source 27 .

また誘電体層16は、電気光学効果を有する材料1例え
ば液晶で形成されている。
Further, the dielectric layer 16 is made of a material having an electro-optic effect, such as liquid crystal.

このような構成のライトバルブ装置1では、交流電源6
0からの駆動電圧を半導体層13.遮光層14.ミラー
15.誘電体層16のそれぞれに分圧して加えた状態で
、半導体層13に書込光WLを入射させると、半導体層
13中の照射部分。
In the light valve device 1 having such a configuration, the AC power source 6
The driving voltage from 0 to the semiconductor layer 13. Light shielding layer 14. Mirror 15. When the writing light WL is made incident on the semiconductor layer 13 with a partial voltage applied to each of the dielectric layers 16, the irradiated portions of the semiconductor layer 13.

例えば13aに電荷が発生する。この電荷は照射部分1
3aに加わっている電圧を減少させるように分布するの
で、この照射部分13aに対応した誘電体層16の部分
16aの電圧が増加して所定閾値以上となり誘電体層1
6すなわち液晶がオン状態となって読出光RLを変調さ
せることができる。
For example, charges are generated at 13a. This charge is the irradiated part 1
Since the voltage applied to the dielectric layer 16 is distributed so as to decrease the voltage applied to the dielectric layer 13a, the voltage of the portion 16a of the dielectric layer 16 corresponding to the irradiated portion 13a increases and exceeds a predetermined threshold value, and the voltage applied to the dielectric layer 1
6, that is, the liquid crystal is turned on and the readout light RL can be modulated.

ところで、交流電源27からの交流電圧を電極19に印
加し、半導体層13と電極19とのショットキー接合に
逆バイアスを加えると、電極19に囲まれた半導体層1
3の部分13a、13b等に誘電体層16ffl!Iが
最も深い井戸となるような等電位面が半導体層13中に
形成されるので、半導体層13の部分22a、22b、
22c等の電極19直下からは電荷が排除され、部分1
3a113b等の電荷が横方向に拡散してクロストーク
を生ずるのを防止することができる。特に半導体層13
の抵抗率が低い場合には、電荷は横方向に拡散し易いの
で、これを有効に防止できる。
By the way, when an AC voltage from the AC power supply 27 is applied to the electrode 19 and a reverse bias is applied to the Schottky junction between the semiconductor layer 13 and the electrode 19, the semiconductor layer 1 surrounded by the electrode 19
Dielectric layer 16ffl on portions 13a, 13b, etc. of 3! Since an equipotential surface such that I is the deepest well is formed in the semiconductor layer 13, the portions 22a, 22b,
Charges are removed from directly under the electrode 19 such as 22c, and the portion 1
It is possible to prevent charges such as 3a113b from spreading in the lateral direction and causing crosstalk. Especially the semiconductor layer 13
When the resistivity is low, charges tend to diffuse laterally, so this can be effectively prevented.

従って、書込光WLの入射による半導体層13の部分1
3aの電圧変化が隣接する部分13bの電圧変化に与え
る影響は少なく、解像度の低下を防止し高解像度特性を
維持させることができる。
Therefore, the portion 1 of the semiconductor layer 13 caused by the incidence of the writing light WL
The voltage change of the portion 3a has little influence on the voltage change of the adjacent portion 13b, and it is possible to prevent a decrease in resolution and maintain high resolution characteristics.

この高解像度特性は、誘電体層16にも反映され、誘電
体層16の状態変化によって変調される読出光RLに高
解像度特性をもたせることが可能となる。
This high-resolution characteristic is also reflected in the dielectric layer 16, and it becomes possible to give the readout light RL modulated by the state change of the dielectric layer 16 a high-resolution characteristic.

上述したような構造のライトバルブ装置1は、以下の製
造工程により作成される。
The light valve device 1 having the structure as described above is produced by the following manufacturing process.

先づ透明基板11上に透明導電層12を蒸着し、その上
に平面状の半導体層13を積層する。半導体層13を形
成した後、電極19をリフトオフ法もしくはエツチング
を用いて所定のパターン配置に1例えば格子状に形成し
、次いで遮光層14゜ミラー15を順次に形成する。第
2図はこのようにして形成された格子状の電w119と
遮光層14とを示したものである0次いで、透明基板1
8上の透明導電層17と上記ミラー15とにより誘電体
NJ16.例えば液晶を挟むように接着する。
First, a transparent conductive layer 12 is deposited on a transparent substrate 11, and a planar semiconductor layer 13 is laminated thereon. After forming the semiconductor layer 13, electrodes 19 are formed in a predetermined pattern arrangement, for example, in a lattice shape, using a lift-off method or etching, and then a light shielding layer 14 and a mirror 15 are sequentially formed. FIG. 2 shows the grid-like electrodes w119 and the light-shielding layer 14 formed in this way.
The transparent conductive layer 17 on NJ16.8 and the mirror 15 form a dielectric NJ16.8. For example, glue the liquid crystal in between.

このように第1の実施例によれば半導体層13を形成し
た後、電極19を形成するようにしているので、第4図
のように半導体層53中に領域59を形成する場合に比
べて、製造工程が容易になり歩留りを良くすることがで
きる。また大面積のものをも容易に作ることができる。
In this way, according to the first embodiment, the electrode 19 is formed after the semiconductor layer 13 is formed, so compared to the case where the region 59 is formed in the semiconductor layer 53 as shown in FIG. , the manufacturing process becomes easier and the yield can be improved. In addition, large-area products can be easily manufactured.

第3図は本発明に係るライトバルブ装置の第2の実施例
の部分構成図である。
FIG. 3 is a partial configuration diagram of a second embodiment of the light valve device according to the present invention.

第2の実施例のライトバルブ装置30では、半導Vk層
13に絶縁体層2oを介して電極21を形成し、MIS
I造となるようにしている。電極21は、絶縁体層20
との密着性の良好な金属で作られ、リフトオフ法もしく
はエツチングを用いて所望のパターン配置で形成される
In the light valve device 30 of the second embodiment, the electrode 21 is formed on the semiconductor Vk layer 13 via the insulator layer 2o, and the MIS
I try to make it I-built. The electrode 21 is an insulator layer 20
It is made of a metal that has good adhesion to the substrate, and is formed in a desired pattern arrangement using the lift-off method or etching.

このようなMIS梢遺にしても、前述のショットキー接
合と同様に電荷の拡散を有効に防止し、高解像度特性を
維持させることができる。また第1の実施例と同様に製
造工程が容易で歩留りを良くするなどの利点がある。
Even with such MIS remains, it is possible to effectively prevent charge diffusion and maintain high resolution characteristics, similar to the Schottky junction described above. Also, similar to the first embodiment, there are advantages such as easy manufacturing process and good yield.

さらに上記第1.第2の実施例においてショットキー接
合を形成する電41i19.あるいはM■S構造の![
721に加える電圧の大きさ、極性等を適当に制御する
ことにより、交流電源60の駆動電圧、書込光WLとは
独立してライトバルブ装置1.30の状態を変化させる
ことができる1例えば、書込光WLの情報を消去しライ
トバルブ装置1.30をリセットしたい場合には、tl
i19゜21に加える電圧の大きさ、または極性を変え
、電荷の拡散を助長するよう加えれば良い、また電極1
9.21に加える電圧を制御することによって、任意の
適当な時間だけ画像を出力することができる6例えば書
込光WLが動画である場合、任意の時刻の画像だけを容
易に出力することができる。このときに誘電体層16と
してメモリ効果を有するもの(例えば強誘電体結晶)を
用いれば、画像を記憶することが可能となり、この繰返
しにより、任意の画像の重ね合せ、蓄積が実現できる。
Furthermore, the above 1. The electrodes 41i19. forming a Schottky junction in the second embodiment. Or M■S structure! [
By appropriately controlling the magnitude, polarity, etc. of the voltage applied to 721, the state of the light valve device 1.30 can be changed independently of the drive voltage of the AC power supply 60 and the writing light WL. , if you want to erase the information of the write light WL and reset the light valve device 1.30, use tl
You can change the magnitude or polarity of the voltage applied to i19゜21 and apply it to promote charge diffusion.
9. By controlling the voltage applied to 21, it is possible to output an image for any suitable time.6For example, if the writing light WL is a moving image, it is possible to easily output only the image at any given time. can. At this time, if a material having a memory effect (for example, a ferroelectric crystal) is used as the dielectric layer 16, images can be stored, and by repeating this process, arbitrary images can be superimposed and stored.

なお、上述の実施例において、遮光層14はミラー15
を透過した読出光RLが半導体層13に入射しないよう
にするために設けられており、ミラー15により読出光
RLを完全に反射できる場合には設ける必要がない、こ
の場合には、電極19.21を形成した後、ミラー15
を形成するようにする。
In addition, in the above-mentioned embodiment, the light shielding layer 14 is a mirror 15.
It is provided to prevent the reading light RL transmitted through the electrodes 19. from entering the semiconductor layer 13, and is not necessary if the reading light RL can be completely reflected by the mirror 15. After forming 21, mirror 15
so that it forms.

〔発明の効果〕 以上に説明したように、本発明によれば、半導体層に電
極を取付けた構造にしているので、従来のライトバルブ
装置に比べて製造工程が容易となり歩留りを良くするこ
とができる。さらにショットキー接合、MIS梢造にな
るので、駆動電圧。
[Effects of the Invention] As explained above, according to the present invention, since the structure is such that the electrode is attached to the semiconductor layer, the manufacturing process is easier and the yield can be improved compared to the conventional light valve device. can. Furthermore, since it is a Schottky junction and MIS top structure, the driving voltage.

書込光とは独立したライトバルブ装置の制御を行なうこ
とができる。
The light valve device can be controlled independently of the writing light.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明に係るライトバルブ装置の第1の実施例
の構成図、第2図は格子状の電極と遮光層とを示す図、
第3図は本発明に係るライトバルブ装置の第2の実施例
の部分構成図、第4図は従来のライトバルブ装置の構成
図である。 1.30・・・ライトバルブ装置、13・・・半導体層
、16・・・誘電体層、19.21・・・電極、20・
・・絶縁体層 特許出願人   浜松ホトニクス株式会社代理人  弁
理士  植 本 雅 治 第4図 ’RL
FIG. 1 is a block diagram of a first embodiment of a light valve device according to the present invention, FIG. 2 is a diagram showing a grid-shaped electrode and a light shielding layer,
FIG. 3 is a partial block diagram of a second embodiment of the light valve device according to the present invention, and FIG. 4 is a block diagram of a conventional light valve device. 1.30... Light valve device, 13... Semiconductor layer, 16... Dielectric layer, 19.21... Electrode, 20...
...Insulator layer patent applicant Hamamatsu Photonics Co., Ltd. Agent Patent attorney Masaharu Uemoto Figure 4'RL

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1)半導体層と電気光学効果を有する誘電体層とに所定
の駆動電圧を分圧して加え、書込光による半導体層の電
圧変化によって誘電体層の状態を変化させて読出光を変
調する形式のライトバルブ装置において、前記半導体層
には所定のパターン配置の電極が取付けられていること
を特徴とするライトバルブ装置。 2)前記電極は、前記半導体層に直接取付けられ、前記
半導体層とショットキー接合を形成するようになってい
ることを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載のライ
トバルブ装置。 3)前記電極は、前記半導体層に絶縁体層を介して取付
けられ、前記半導体層、絶縁体層とによりMIS構造と
なっていることを特徴とする特許請求の範囲第1項に記
載のライトバルブ装置。
[Claims] 1) A predetermined driving voltage is applied as a divided voltage to a semiconductor layer and a dielectric layer having an electro-optic effect, and the state of the dielectric layer is changed by the voltage change of the semiconductor layer caused by writing light. 1. A light valve device of a type that modulates readout light, characterized in that electrodes arranged in a predetermined pattern are attached to the semiconductor layer. 2) The light valve device according to claim 1, wherein the electrode is attached directly to the semiconductor layer to form a Schottky junction with the semiconductor layer. 3) The light according to claim 1, wherein the electrode is attached to the semiconductor layer via an insulator layer, and the semiconductor layer and the insulator layer form an MIS structure. Valve device.
JP33571187A 1987-12-31 1987-12-31 Light valve device Pending JPH01179015A (en)

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