JPH01175407A - 半導体集積回路 - Google Patents

半導体集積回路

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JPH01175407A
JPH01175407A JP62334382A JP33438287A JPH01175407A JP H01175407 A JPH01175407 A JP H01175407A JP 62334382 A JP62334382 A JP 62334382A JP 33438287 A JP33438287 A JP 33438287A JP H01175407 A JPH01175407 A JP H01175407A
Authority
JP
Japan
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gate voltage
constant current
current source
fet
source
Prior art date
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Pending
Application number
JP62334382A
Other languages
English (en)
Inventor
Akitoshi Tetsuka
手束 明稔
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP62334382A priority Critical patent/JPH01175407A/ja
Publication of JPH01175407A publication Critical patent/JPH01175407A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、電界効果型トランジスタを用いて構成され遅
延回路を内蔵する半導体集積回路に関し、特に、GaA
sなど化合物半導体の分野で使用されているS CF 
L (5ource−Coupled ・FET−Lo
gic)回路を用いた半導体集積回路の遅延回路に関す
る。
従来の技術 半導体集積回路では、電気信号を時間的に送られるため
遅延回路が広く用いられている。遅延回路は、主にイン
バータなどを直列に接続し、伝播遅延時間の総和の時間
だけ信号を遅らせるものである。
第3図に、インバータを用いた遅延回路の一例を示す。
この例は、6個のインバータをシリーズに接続したもの
である。1個のインバータの伝播遅延時間をtpdとす
ると遅延回路の遅延時間は6tpdとなる。
さらに、遅延回路を利用するものとしては、リング発振
器がある。リング発振器は、遅延回路の出力を入力へ逆
相接続したものであり、回路構成が簡単な為、広く使用
されている。第4図に、リング発振器の1例を示す。こ
の例は、5個のインバータをシリーズに接続したリング
発振器である。周知のように、n個のインバータをシリ
ーズに接続したリング発振器の発振周波数は、インバー
タ1個の遅延時間をt、dとすると、1/2ntpdと
なる。
次に、GaAsなとの化合物半導体で広(利用されてい
る回路形式であるS CF L回路について説明する。
第5図に、5CFL回路によるインバータを示す。イン
バータは差動スイッチと2個のソースフロアより構成さ
れる。差動スイッチは、定電流源として動作する電界効
果型トランジスタ(以下FETと略す)。Tl、スイッ
チングFET。
T2.T3および負荷抵抗、R1およびR2から構成さ
れている。ソースフロアは、定電流源FET。
T4およびT6.レベルシフトFET、T5およびT7
から構成されている。レベルシフトPET。
T5とT7のゲートには、差動スイッチの出力が接続さ
れている。スイッチングFET、T2とT3のゲートに
は、インバータの正相および負相入力が接続されている
。さらに、定電流源FET、Tl。
T4.T6のゲートには、共通の定電圧、V8が供給さ
れている。
さて、前記遅延回路において所望の遅延時間を得るには
、インバータの伝播遅延時間を所定の値に調製する必要
がある。従来、5CFL回路によるインバータを用いた
遅延回路では、前記定電流源FET、Tl、T4−、T
6のゲートに共通の定電VBを制御することにより、伝
播遅延時間を調製していた。
発明が解決しようとする問題点 従来の技術によるS CF L回路を用いた遅延回路に
は、遅延時間の調製範囲が狭いという問題があった。以
下、さらに詳しく説明する。
定電流源FETのゲート電圧、V+1を増加させると定
電源FET、Tl、T4.T6を流れる電流が増加し、
逆にVBを減少させると電流は減少する。差動スイッチ
において、定電流源FET。
T1の電流を増加させると論理振幅か大きくなり、遅延
時間が増加する。逆に電流を減少させると、遅延時間が
減少する。
ソースホロアにおいて、定電流源FET、”J”4゜T
6の電流を増加させると、負荷駆動能力が太き−3= くなり、遅延時間が減少する。逆に、電流を減少させる
遅延時間が増加する。
つまり、定電流源FETのゲート電圧、VBを変化させ
ても、差動スイッチとソースフロアでは全く逆の変化が
生じていた。第6図に、GaAsMESFETを用いた
従来の技術によるインバータのゲート電圧、■8と伝播
遅延時間の関係を示す。ゲート電圧、VBを変化させて
も伝播遅延時間の変化が少ないことが理解できる。
問題点を解決するための手段 本発明は、かかる従来の技術による5CFL回路を用い
た遅延回路の問題点を改善し、遅延時間の調製範囲の広
い遅延回路を提供することを目的さする。
本発明による半導体集積回路は、第1の定電流源FET
上にFETを接続してなるソースフロアと、第2の定電
流源FET上に1組のFETを接続してなる差動スイッ
チから構成されるインバータを少なくとも1個直列に接
続した遅延回路を含み、前記第1の定電流源FETのゲ
ート電圧が前記第2の定電流源FETのゲート電圧とは
独立して遅延回路の外部より制御されていることを特徴
とする。
作   用 第1の定電流源FETのゲート電圧と第2の定電流源F
ETのゲート電圧とは独立して制御されている。そのた
め、ソースホロアに流れる電流と差動スイッチに流れる
電流は、それぞれ独立して制御される。差動スイッチに
流れる所定の値に設定し、ソースホロアに流れる電流の
みを調製することにより、伝播遅延時間の調製範囲を広
(することができる。
実施例 第1図は、本発明の一実施例である5CFL回路による
遅延回路を構成するインバータの回路図である。図中に
おいて、基本的な回路は前述の従来の技術と同様である
。しかしソースフロアの定電流源FET、T4.T6の
ゲート電圧、VCと差動スイッチの定電流源FET、T
lのゲート電圧、VBはそれぞれ独立している。
差動スイッチの定電流源FET、TlOゲート電圧、V
Bは、負荷抵抗、R,1,、R2に発生する論理振幅が
、0.5〜1.OVになるように設定されている。ソー
スフロアの定電流源FET、T4゜T6のゲート電圧は
、所望の伝播遅延時間が得られるよう外部より制御され
ている。
さて、ソースホロアは、電流が流れている限り入力と出
力の間の論理振幅に差がなく回路として充分機能する。
しかし、差動スイッチ部は、電流を少なくすると論理振
幅が小さくなり次段の回路が動作しくなる。つまり、ソ
ースフロアに流れる電流の変化の許容範囲は、差動スイ
ッチに流れる電流の変化の許容範囲に比べて非常に太い
。その為に、本実施例では、差動スイッチに流れる電流
を固定し、ソースホロアに流れる電流のみを調製してい
る。
ところで、ソースフロアの遅延時間は、ソースホロアの
負荷容量に対する充放電能力で決める。
この充放電能力は、ソースホロアに流れる電流に比例す
ることは周知である。よって、ソースフロアの定電流源
FETのゲート電圧、vcを変化することにより、イン
バータの伝播遅延時間を大きく変化させることができる
訳である。
第2図に、GaAs  MESFETを使用した場合の
本実施例におけるソースフロアの定電流源PETのゲー
ト電圧、voとインバータの伝播遅延時間の測定結果で
ある。さらに図中において、従来の技術によるインバー
タの伝播遅延時間の測定結果も合せて示す。図より、本
発明を用いることにより、従来の技術に比べて、大きな
伝播遅延時間の調製範囲が得られることが解かる。
発明の効果 本発明によれば、従来の技術に比へてインバータの伝播
遅延時間の調製範囲を大きくすることができた。その結
果、従来の技術による5CFL回路を用いた遅延回路に
比べて、その遅延時間を拡大することができた。
この事により、遅延回路を含む半導体集積回路の特性を
大巾に改善することが可能となった。さらに、半導体集
積回路の製造歩留りを著しく向上さぜた。
また、リング発振器においては、従来の技術に比へて発
振局波数の可変幅を拡大させることができた。
なお、本実施例は、本発明の一実施例であり、種々の応
用が可能であることは自明である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例であるインバータの回路図、
第2図は本発明の効果を示すための、ソースフロアの定
電流源FETのゲート電圧とインバータの伝播遅延時間
の測定結果を示す図、第3図は遅延回路の回路図、第4
図はリング発振器の回路図、第5図は従来の技術による
インバータの回路図、第6図は従来の技術による定電流
源FETのゲート電圧とインバータの伝播遅延時間の測
定結果を示す図である。 T1・・・・・・差動スイッチの定電流源FET、T2
゜T3・・・・・・スイッチングFET、T4.T6・
・・・・・ソースホロアの定電流源FET、T5.T?
・・・・・・レベルシフ1−FET、R1,R2・・・
・・・負荷抵抗。 =  8 − ご1 C’3 鍵、             派 ギ會ll?17習普【ミ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 第1の定電流源電界効果型トランジスタ上に電界効果型
    トランジスタを接続してなるソースフロアと、第2の定
    電流源電界効果型トランジスタ上に1組の電界効果型ト
    ランジスタを接続してなる差動スイッチから構成される
    インバータを少なくとも1個直列に接続した遅延回路を
    含み、前記第1の定電流源電界効果型トランジスタのゲ
    ート電圧が前記第2の定電流源電界効果型トランジスタ
    のゲート電圧とは独立して遅延回路の外部より制御され
    てなる半導体集積回路。
JP62334382A 1987-12-29 1987-12-29 半導体集積回路 Pending JPH01175407A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04293313A (ja) * 1990-12-27 1992-10-16 Bull Sa 可変遅延装置
JPH04294631A (ja) * 1990-12-27 1992-10-19 Bull Sa 可変遅延装置
US6034570A (en) * 1997-06-27 2000-03-07 Vitesse Semiconductor Corporation Gallium arsenide voltage-controlled oscillator and oscillator delay cell

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