JPH01172796A - 微動ステージ - Google Patents

微動ステージ

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Publication number
JPH01172796A
JPH01172796A JP62332827A JP33282787A JPH01172796A JP H01172796 A JPH01172796 A JP H01172796A JP 62332827 A JP62332827 A JP 62332827A JP 33282787 A JP33282787 A JP 33282787A JP H01172796 A JPH01172796 A JP H01172796A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
clamp
optical axis
chuck plate
actuator
voltage
Prior art date
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Pending
Application number
JP62332827A
Other languages
English (en)
Inventor
Setsuo Setoguchi
瀬戸口 節男
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Heavy Industries Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Heavy Industries Ltd filed Critical Sumitomo Heavy Industries Ltd
Priority to JP62332827A priority Critical patent/JPH01172796A/ja
Publication of JPH01172796A publication Critical patent/JPH01172796A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Details Of Measuring And Other Instruments (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Machine Tool Units (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、半導体生産用露光装置に係り、特に、半導体
ウェハー等が載置されるテーブルの姿勢を高精度に調節
するための微動ステージに関する。
〈従来の技術〉 近年、半導体集積回路の微細化に伴い、高精度の露光装
置が要求されている。この装置に不可欠のものが高精度
のテーブル姿勢倣調機横である。
ところで、通常の露光装置の場合、光入射方向が垂直下
向きであるため、ウェハーが載置されるテーブルはその
表面が水平に構成される。従って、位置決め、移動の際
、テーブル自重が作用し、いわゆるガタが抑圧されるか
ら、安定した姿勢で位置調節ができる。また、光軸廻り
の回転調節機構、及びテーブル傾斜の調節機構もそれぞ
れ簡単な構成のものが用いられている。例えば、第3図
に一般的なテーブル傾斜調節装置を掲げる。第3図に示
したテーブル傾斜調節装置は立体的に均等に分布して配
置された三明の板バネ31を介してフレーム32に支持
されたウェハーチャック30を有し、フレーム32上に
は、更に、ウェハーチャック30を局部的に昇降させる
ための偏心カム34とDCモータ33とが三組配設され
ている。
〈発明が解決しようとする問題点〉 しかしながら、近年注目を集めているS、’−ORit
光装置においては、SOR光が水平方向に放射されるか
ら、テーブルは鉛直に、即ち重力方向に平行に配置しな
ければならない、このように鉛直に配置されたテーブル
には、位置決め移動の際に位ff :JJffi方向に
テーブル自重が作用しないから、従来のテーブル姿勢微
調機構を用いると、ガタ、振動の影響をうける。これを
防止するためには、高精度のガタ防止amとガイド機構
を付加する必要がある。更に微動ステージは全体がXY
ステージに取付けられて、XY面内で高速に移動し、高
精度に位置決めされるので、微動ステージは極力軽量・
小型にする必要がある。
そこで、本発明の目的は、上記問題点に掌み、SOR露
光装置にも適用できる小型軽量、かつ高精度のテーブル
姿勢微調機構を備えた微動ステージを提供することであ
る。
く問題点を解決するための手段〉 本発明によれば、1端面を′ウェハ等を装着するための
平坦面とするチャック板部材と、該チャック板部材の周
囲に等角度間隔で配置し、協働してチャック板部材を周
囲よりクランプする複数のクランプ部材と、水平方向へ
の光軸に平行な摺動面に沿って前記クランプ部材を個別
的に摺動支持するフレーム部材とによりなり、該フレー
ム部材と前記クランプ部材との間にはクランプ部材を個
別に光軸方向に移動させる移gjJ調整手段が設けられ
ていることを特徴とする微動ステージが得られるる。
即ち、より具体的には、互いに対向する両端面を有し当
該一端面をウェハ(1)等を搭載するための平坦面とす
るチャック板部材(2)と、該チャック板部材(2)の
a端面に対向する底面部10(a)と該底面部10(a
)の周縁より延在して前記他端面側にun口面を形成す
る周壁g10(b)とを有するフレーム部材10と、該
フレーム部材10の周壁部10(b)と対向する周面を
有し前記底面部10(a)及び周壁部10(b)とw1
間して前記他端面に接続してなる支持部材3と、該支持
部材3の周面(4)に枢着する枢着部12(b)と前記
周面部10 (b)に沿って前記平坦面と垂直方向にス
ライドするスライダ部12(、d )とを各々有する複
数のクランプ部材12と、該複数のクランプ部材12の
各々の枢着部12(b)とスライダ部12(d)との間
に位置し当該各々の枢着部12(b)を介して前記支持
部材12を前記平坦面と平行方向に互いに共面して押圧
する任意に設けられる複数の第1の移動調整手段8と、
前記複数のクランプ部材12各々と前記フレーム部材1
0の底面部10(a)との間に位置し、当該各々のクラ
ンプ部材12を介して前記支持部材12を前記平坦面と
直交方向に互いに共働して押圧する複数の第2の移動F
J整手段6とを有することを特徴とする微動ステージが
得られる。
また、前記フレーム部材10は、前記複数のクランプ部
材12の各々に対応して互いに離間して配置され、前記
底面部10(a)を突出部とする複数のブラケット状の
フレーム部材10゛でも良い。
〈実施例〉 以下、本発明に係る微動ステージの一実施例を図面を参
照して説明する。
第1図及び第2図を参照すると、本実施例に係る微動ス
テージはウェハー1を載置する高平面度の平坦面を皓え
たチャック板2を有している。ここで、チャック板2は
5OF(光の光軸と実質上直交するように配置され、ウ
ェハーlはチャック板2に真空吸着により吸着されてい
る。チャック板2の裏面には、チャック板支持体3が固
定されている。チャック板支持体3の形状は、例えば円
筒状であり、側面部には、その外周を角度的に三等分し
た位置に四部が形成され、四部4には1&述する鋼球が
収容される。チャック板支持体3とチャック板2とは一
体化したものでも、あるいは個々に製作後、7体化した
ものとしても良い。
本実施例に係る微動ステージは、前記チャック板支持体
3を支持し、且つ、光軸方向に移動可能に構成された三
個のクランプ装置5を有している。
詳しく云えば、クランプ装置5は、ρ1えば一端を開放
された円筒状フレーム10を有し、第2図に示すように
、その内周を角度的に三等分した位置に各々リニアガイ
ドのレール11とスライダ12(d)が光軸と平行にな
るように配置されている。光軸方向に滑動できるように
、クランプ台12がリニアガイド11及び12(d)に
よって案内されている。クランプ台12は、例えば第1
図及び第2図に示すように、互いに平行な部材12 (
a )及び12(b)(ここでは、上底板と下底板と呼
ぶ)と、両部材の一端を結合するブリッジ部12(C)
とを有し、その上底部外面12(a)は、前記リニアガ
イドのスライダ12(d)に取付られる。また、下底部
外面12(e)には、M球15を把持するためのくぼみ
部13が形成され、下底部内面12 (f)には下底部
12(b)の微動の際の支点となる切欠き部14が形成
されている。
更に、クランプ台の平行部材12(a)及び12(b)
の開放端側には、クランプ台下底部12(b)に光軸と
直交する方向の押圧力を付与する第1のアクチュエータ
8と、押圧力を検出するロードセル16と、第1のアク
チュエータ8に与圧を付与するバネ9が配設され、また
、ブリッジ部12(c)の外側面12(g)とフレーム
内底面10(a)との間隙には、クランプ台12に光軸
方向の位置決めを行う第2のアクチュエータ6と、第2
のアクチュエータ6に与圧を1f与するバネ7が配設さ
れている。第1及び第2のアクチュエータとしては所定
の電圧を印加することにより、その形状(長さ)が変位
する圧電素子が用いられる。
第1図及び第2図に示すように3個のクランプ装置5は
、各々の第1のアクチュエータ8の押圧力の方向が、チ
ャック板支持体3の光軸方向の中心線上に向かうように
配置されている。
次に、上記構成に基づいて、本実施例に係る微動ステー
ジの作用を説明する。
まず、各々のクランプ装置のクランプ力が各ロードセル
16により検出され、この値が所定の値になるように第
1のアクチュエータ8に加えられる電圧が制御される。
発生した押圧力は、鋼球15を介してチャック板支持体
3に伝達される。
この構成では、チャック板支持体3に対し、角度的に等
間隔に配置された鋼球15によって3方向から挟持され
かつ、押圧力が最適値に常に制御されるので剛性が高く
かつ安定しており、カタが押圧される。
更に、第2のアクチュエータ6に電圧を印加すれば、同
様に、圧電効果によって、クランプ台外側面t2(g)
とフレーム内底面10(a)との間隔が変位する。この
変位量が光軸方向の変位量となるから、鋼球15を介し
てチャック板支持体3の位置を光軸方向に変位させるこ
とが可能である。各々の第2のアクチュエータに印加す
る電圧を異なった値にすれは変位量を個々に変化させる
ことかできるから、チャック板支持体3に傾斜をもたせ
ることができる。従って、ウェハ1の傾斜修正も第2の
アクチュエータに印加する電圧値を制御することによっ
て容易に行なうことができる。
尚、本実施例に係る微動ステージはチャック板体の表面
傾斜角度を任意に選択することができる。
なお、本実施ρ1では、アクチュエータ8により加える
押圧力が一定になる様に制御したが、最低の押圧力を確
保した状態で3ケ所のアクチュエータ8の変位を共同し
て制御することにより光軸と直交する平面上において任
意の方向にチャック板支持体3の微少位置の調整が可能
となる。従って、振動等によってウェハ1の位置が基に
す二位置からずれた場合の修正が第1のアクチュエータ
8に印加する電圧の制御により行うことも可能である。
また、前記実施例では、有底部状のフレーム部材10と
したが、第4図の如く1分雛されたブラケット状のフレ
ーム部材10−を用いてもよい。
更に、レール11によりブラケット11Aを大股し、第
2のアクチュエータ6をこのブラケット11Aとクラン
プ部材12との間に設りても良い。
く効果〉 以上の説明のとおり1本発明によれば、SOR露光装置
に適した縦型ステージにして使用することができ、高精
度、かつ小型軽量のテーブル姿勢を微調整できる微動ス
テージ得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例に係る微動ステージの側面図、
第2図は同正面図、第3図は従来のテーブル姿勢調節装
置の構成図の一例をそれぞれ示している図、第4図は本
発明のなの実施例に係わる微動ステージの側面図である
。 図中、 1:ウェハ、2:チャック板、3:チャック板支持体、
4,13:<ぼみ体、5:クランプ装置、6.8=アク
チユエータ、7.9=バネ、10:フレーム。 第1図 XYステージ 第2図 第3図 第4図 xYステージ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、1端面をウェハ等を装着するための平坦面とするチ
    ャック板部材と、該チャック板部材の周囲に等角度間隔
    で配置し、協働してチャック板部材を周囲よりクランプ
    する複数のクランプ部材と、水平方向への光軸に平行な
    摺動面に沿って前記クランプ部材を個別的に摺動支持す
    るフレーム部材とによりなり、該フレーム部材と前記ク
    ランプ部材との間にはクランプ部材を個別に光軸方向に
    移動させる移動調整手段が設けられていることを特徴と
    する微動ステージ。
JP62332827A 1987-12-28 1987-12-28 微動ステージ Pending JPH01172796A (ja)

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JP62332827A JPH01172796A (ja) 1987-12-28 1987-12-28 微動ステージ

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JP62332827A JPH01172796A (ja) 1987-12-28 1987-12-28 微動ステージ

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015521369A (ja) * 2012-04-27 2015-07-27 エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. リソグラフィ装置

Cited By (6)

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US9946168B2 (en) 2012-04-27 2018-04-17 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus
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