JPH01172274A - ホウ化チタンセラミックス焼結体の製造方法 - Google Patents
ホウ化チタンセラミックス焼結体の製造方法Info
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Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
に関し、特にクロムのホウ化物と炭化チタンとの混合固
溶した結合層すなわちマトリックス層をホウ化チタン粒
子間に配設せしめてなるホウ化チタンセラミックス焼結
体の製造方法に関するものである。
法としては、ホウ化チタン粉末とアルミナ粉末とを混合
して作成したセラミックス混合物からセラミックス成形
体を作成してホットプレス焼結することにより、ホウ化
チタン粒子間にα型のアルミナを配設せしめてなるもの
が提案されていた。
製造方法では、ホウ化チタンTiBzの粒界近傍に粒界
相が形成されておらず、ホウ化チタンTiflz粒子の
成長を抑制することか殆とてきないので、ホウ化チタン
粒子間に空孔が発生し易い欠点があり、ひいては高密度
および高強度とてき難い欠点かあった。
チタン粒子間に空孔の発生が十分に抑制された結合層す
なわちマトリックス層を配設せしめることにより高密度
で高強度とされたホウ化チタンセラミックス焼結体の製
造方法を提供せんとするものである。
75〜99重量%のホウ化チタン粉末に対しクロム粉
末および炭素粉末を合計で 1〜25重量%たけ配合せしめることによりセラミック
ス配合物を作成する第 1の工程と、 (b)前記セラミックス配合物を均質に混合してセラミ
ックス混合物を作成する第 2の工程と、 (C)前記セラミックス混合物をバインダとともに金型
に収容して加圧しセラミッ クス圧粉体を作成する第3の工程と、 (d)前記セラミックス圧粉体を加圧しセラミックス成
形体を作成する第4の工程 と、 (e)前記セラミックス成形体を非酸化性雰囲気中で焼
結しセラミックス焼結体を 作成する第5の工程と を備えてなることを特徴とするホウ化チタンセラミック
ス焼結体の製造方法」 である。
方法は、75〜99正星%のホウ化チタン粉末に対しク
ロム粉末および炭素粉末を合計で1〜25重呈%だけ配
合せしめたセラミックス配合物を混合し加圧成形したの
ち焼結してなるので、ホウ化チタン粒子間に対しクロム
のホウ化物と炭化チタンとの混合固溶した結合層すなわ
ちマトワックス層を配設せしめる作用をなし、結果的に
ホウ化チタン粒子間のマトリックス層に空孔が発生する
ことを十分に抑制する作用をなし、ひいては高密度およ
び高強度とする作用をなす。
明する。
結体の製造方法の一実施例によって製造されたホウ化チ
タンセラミックス焼結体を示す拡大断面図である。
研磨処理した外表面の組織を示す光学顕微鏡写真であっ
て、実施例4の場合を示している。
破断面の組織を示す走査型電子顕微鏡写真であって、実
施例4の場合を示している。
エツチング処理した外表面の組織を示す光学顕微鏡写真
であって、実施例4の場合を示している。
エツチング処理した外表面の組織を示す走査型電子顕微
鏡写真であって、実施例4の場合を示している。
研磨処理した外表面の組織を示す走査型電子顕微鏡写真
であって、実施例4の場合を示しており、研磨処理時の
粒子の脱落部分が黒色て示されている。
の脱落部分が黒色で示されている。
研磨処理した外表面の組織のEPMA分析すなわち電子
プローブ微小分析の結果を示すX線強度分布図であって
、第7図の直151A−A’にそって実行された場合を
示している。
結体の研磨処理した外表面の組織のEP鮎分析すなわち
電子プローブ微小分析の結果を示すX線強度分布写真で
あって、第6図および第7図のほぼ全体について実行さ
れた場合を示しており、クロムに対応する部分が黒色で
示されている。
結体の研磨処理した外表面の組織のEPMA分析すなわ
ち電子プローブ微小分析の結果を示すX線強度分布写真
であって、第6図3よび第7図のほぼ全体について実行
された場合を示しており。
作成した模写図であって、クロムが破線で示され。
のX線回折分析の結果を示すグラフ図であって、実施例
4の場合を示してSす、横軸にX線の回折角度がとられ
かつ縦軸にX線の回折強度かとられている。
ックス焼結体の製造方法によって製造されたホウ化チタ
ンセラミックス焼結体の破断面の組織を示す走査型電子
顕微鏡写真である。
製造方法の一実施例によって製造されたホウ化チタンセ
ラミックス焼結体について、その組織を詳細に説明する
。
体の製造方法によって製造されたのホウ化チタンセラミ
ックス焼結体(以下、′セラミックス焼結体”と称する
こともある)で、ホウ化チタンTiBz粒子20と、ホ
ウ化チタンTiBz粒子20を結合するための網目状の
結合層30とを包有している。
8p−mでかつ最大粒径が12#Lmであり、特に平均
粒径が0.5〜3 uLmでかつ最大粒径が6ルmであ
れば好ましい。ここでホウ化チタンTiRz粒子2゜の
平均粒径を0,5〜8gmとする根拠は、(i)平均粒
径が0.57重m未満となれば、ホウ化チタンTiB2
粒子20の表面酸化が顕著化し、かっホウ化チタンTi
B2粒子20間の凝集が顕著となって、ホウ化チタンセ
ラミックス焼結体刊の焼結を著しく阻害することとなり
、また(ii) ’l’均粒径が8μmを超えれば、焼
結の駆動力が小さくなって、ホウ化チタンセラミックス
焼結体■を緻密化せしめることが困難化し、ホウ化チタ
ンTiB2粒子20に既存の亀裂が拡大されホウ化チタ
ンセラミックス焼結体Wの強度を低下せしめることにあ
る。加えてホウ化チタンTiB2粒子20の最大粒径が
12gmとされている根拠は、最大粒径か12終mを超
えれば、ホウ化チタンセラミックス焼結体F中に粗大粒
子として存在することとなり、ホウ化チタンセラミック
ス焼結体廷の高密度化ないし高強度化を阻害することに
ある。
チタンTiB2とクロムC「との混合固溶相からなる粒
界相21か形成されている。これによりホウ化チタンT
iB2粒子20と結合層30との間の結合力が、十分の
大きさとされており、結果的にホウ化チタンセラミック
ス焼結体刊の強度を確保している。
素Cとの間の Tie、+2Cr +C−+ 2CrB +TiCある
いは TiB2−1c:r +C4CrB2+TiCあるい
は TiB2+6Cr +C42Cr=B+TiCなどの反
応によって生成されたホウ化クロムCrB +CrR,
あるいはCr5Bなどと炭化チタンTiCとが混合固溶
したマトリックス層であって、空孔が十分に除去されて
いる。これによりホウ化チタンTie、粒子20間の結
合力が、十分の大きさとされており、またセラミックス
焼結体すの相対密度(すなわち全体積がら空孔体積を差
し引いた体積を全体積で除した値)か95%以上となフ
ているので、結果的にホウ化チタンセラミックス焼結体
■の密度および強度か確保されている。ここで結合層す
なわちマトリックス層30がら空孔が実質的に除去され
ている根拠は、ホウ化クロムCrB、CrB2あるいは
Cr、Bなどの粒径と炭化チタンTiCの粒径とかほぼ
一致しており、互いに均質に混合固溶していることにあ
る。
製造方法の一実施例について、その構成を説明する。
Cr粉末と炭素C粉末とを適宜の配合比で互いに配合す
ることにより、セラミックス配合物を作成する。
0.5〜3gm)で最大粒径が12ルm(好ましくは6
μm)であり純度が99重−驕%以上のホウ化チタンT
iB2と、(ii)平均粒径か1〜5JLm(好ましく
は1〜3μm)で最大粒径が12μm(好ましくは6μ
m)のクロムC「と、(iii)比表面積か50〜15
0■2/g(好ましくは80〜150■2/g)で純度
が99.9重量%以上であり平均粒径か10〜1010
0n好ましくはl口〜50nm)で最大粒径が150n
m(好ましくは+00nm)の7¥素(たとえばカーボ
ンブラックなど)Cとを、互いに配合し、セラミックス
配合物を作成する。セラミックス配合物においては、ク
ロムC「および炭素Cの混合物1〜25重量%に対しホ
ウ化チタンTiB2か75〜991r!、量%たけ配合
されている。またクロムCrと炭素Cとの配合比は、重
量比で7二〇、1〜10である。
されている根拠は、焼結時に不純物が悪影響を及ぼすこ
とを回避することにある。
、(i)平均粒径かlルm未満となれば、クロムCr粒
子′の表面酸化か顕著化し、かつクロムC「粒子間の凝
集もしくはクロムCr粒子とホウ化チタンTi8.粒子
あるいは炭素C粒子との間の凝集が顕著となって、ホウ
化チタンセラミックス焼結体刊の焼結を著しく阻害する
こととなり、また(iυ平均粒径が5μmを超えれば、
ホウ化チタンセラミックス焼結体10のマトリックス層
30あるいはホウ化チタンTi82粒子20の粒界近傍
に形成された粒界相21中に粗大粒子となって存在し、
ホウ化チタンセラミックス焼結体艮の強度を低下せしめ
ることとなることにある。クロムC「の最大粒径か12
μmとされている根拠は、最大粒径が12μmを超えれ
ば、クロムC「粒子に既存の亀裂が拡大され、ホウ化チ
タンセラミックス焼結体刊の強度が低下されることにあ
る。
根拠は、(i)平均粒径が10mm未満となれば、炭素
C粒子の表面酸化が顕著化し、かつ炭素C粒子間の凝集
が顕著となって、ホウ化チタンセラミックス焼結体刊の
焼結を著しく阻害することとなり、また(ii)平均粒
径が1100nを超えれば、マトリックス層30中に粗
大粒子として存在することとなって、ホウ化チタンセラ
ミックス焼結体艮の強度を低下せしめることにある。炭
素Cの最大粒径が150部mとされている根拠は、最大
粒径が150部mを超えれば、炭素C粒子に既存の亀裂
あるいはホウ化チタンTi82との間の反応によって生
じた炭化チタンTiC粒子に既存の亀裂が拡大され、ホ
ウ化チタンセラミックス焼結体刊の強度を低下せしめる
ことにある。
いる根拠は、(i)比表面積が50m”/g未満となれ
ば、炭素C粒子が大き過ぎることとなってホウ化チタン
Tie、との間の反応が短時間で進行できないこととな
り、また(ii)比表面積が150■27 gを超えれ
ば、炭素C粒子が互いに凝集することとなってホウ化チ
タンTiB2$よびクロムCrとの混合ができなくなる
ことにある。
機によって均質に混合し、セラミックス混合物を作成す
る。
たとえばポリビニルアルコール)とともに適宜の金型に
収容したのち、適宜の圧力(たとえば100〜800k
g/c■2の圧力)を印加して一輌加圧し、セラミック
ス圧粉体を作成する。
(たとえば800〜3500kg/cs+”の圧力)を
印加してCIP処理すなわち常温静水圧圧m成形処理を
施し、セラミックス成形体とする。
気(10−”Torr以下の気圧であることが好ましい
)、アルゴン雰囲気あるいは水素ガス雰囲気などの非酸
化性雰囲気(すなわち中性ないし還元性の雰囲気)中に
おいて無加圧状態もしくは加圧状7!t(100〜50
0kg/cm”の圧力な印加)で1500〜2000℃
(好ましくは1700〜1900℃)の温度により適宜
の時間をかけて焼結し、セラミックス焼結体10とする
。ここで非酸化性雰囲気とされる根拠は、チタンTi、
ホウ素B、クロムC「もしくは炭素Cが酸化されないよ
うにすることにある。
される。
の製造方法の一実施例について、−層の理解を図るため
に、具体的な数値などを挙げて説明する。
15m2/gで純度が99重量%であるカーボンブラッ
クCとの混合比を変えて作成した混合物2.5重量%に
対し、平均粒径が3μmてかつ最大粒径が6gmであり
純度か99重量%であるホウ化チタンTiBzを97.
5重量%だけ配合して作成したセラミックス配合物10
0部を、プラスチック容器中にウレタンボールおよび3
00部のエチレンアルコールとともに収容せしめ、24
時間かけて湿式混合し、これによりセラミックス混合物
を作成した。
て十分に乾燥した。そののちセラミックス混合物100
部は、バインダとしてのポリビニルアルコール2F!$
とともに適宜の金型に収容し、300kg/c+s”の
圧力を印加して一輌加圧することにより、セラミックス
圧粉体とした。
印加してCIP処理すなわち常温静水圧圧縮成形処理を
施すことにより、セラミックス成形体とした。
において15℃/分の昇温速度で1900℃の温度まで
加熱し、かつ1900℃の温度に1時間にわたり維持す
ることにより、セラミックス焼結体すとした。
たとえば実施例4の場合(以下同様)について光学m微
鏡で写真観察したところ、第2図に示すとおりであった
。すなわちホウ化チタン粒子20の脱落により生じた陥
凹部か散点状に配置されており、また結合層30が空孔
を有さず稠密であることが判明した。
し、その破断面を走査型電子顕微鏡で写真観察したとこ
ろ、第3図に示すとおりてあった。すなわちホウ化チタ
ンTiB、粒子20において粒内破壊が生しており、ホ
ウ化チタンTiB2粒子20か結合層30によって強固
に結合されていることが判明した。結合層30は、X線
回折分析およびEPMA分析により、ホウ化チタンTi
B2とクロムCrとカーボンブラックCとの間の反応 TiBz+2C:r +c −+ 2CrB + Ti
eによって生じたホウ化クロムCrBおよび炭化チタン
TiCの混合固溶したマトリックス層(第4図〜第10
図参照)であることが判明した。
分間浸漬することによってその外表面をエツチング処理
したのち、光学顕微鏡によって写真観察したところ、第
4図に示すとおりであった。すなわちエツチング処理に
よりホウ化チタンTiB2粒子20か脱落して生じた陥
凹部を測定することにより、ホウ化チタンTiBz粒子
20の平均粒径が2〜4μmに止まっていることが判明
した。換言すればホウ化チタンTiB、粒子20は、当
初に比しほとんど成長していないことが判明した。これ
はクロムCrおよびカーボンブラックCが、焼結に際し
TiB、+2Cr +C−+ 2CrF3 + Tic
の反応を生じており、ホウ化チタンTiB2粒子20の
成長が抑制されているためである。またホウ化チタンT
iB2粒子20の粒界近傍には、X線回折分析およびE
PIIIA分析により、ホウ化チタンTie2とクロム
C「との混合固溶相かうなる粒界相か形成されているこ
とも判明した(第6図〜第1O図参照)、。
度を測定したところ、それぞれ第1表に示すとおりであ
った。
%に対し、ホウ化チタンTie2を95屯量%たけ配合
したことを除き、実施例1〜7を反復した。
したところ、それぞれ第1表に示すとおりであった。
%に対し、ホウ化チタンTiB2を92.5重量%たけ
配合したことを除き、実施例1〜7を反復した。
したところ、それぞれ第1表に示すとおりであつた。
量%に対し、ホウ化チタンTie、を90.0重量%だ
け配合したことを除き、実施例1〜7を反復した。
したところ、それぞれ第1表に示すとおりであった。
量%に対し、ホウ化チタンTiB2を87.541%だ
け配合したことを除き、実施例1〜7を反復した。
したところ、それぞれ第1表に示すとおりであった。
量%に対し、ホウ化チタンTiB、を85.Oi’l1
%たけ配合したことを除き、実施例1〜7を反復した。
したところ、それぞれ第1表に示すとおりであった。
量%に対し、ホウ化チタンTiR,を82.5ii%だ
け配合したことを除き、実施例1〜フを反復した。
したところ、それぞれ第1表に示すとおりであった。
fiffi%に対し、ホウ化チタンTiB2を80.0
重量%゛だけ配合したことを除き、実施例1〜7を反復
した。
したところ、それぞれ第1表に示すとおりてあった。
l量%に対し、ホウ化チタンTiB、を77、Sli%
だけ配合したことを除き、実施例1〜7を反復した。
したところ、それぞれ第1表に示すとおりでありだ。
量%に対し、ホウ化チタンTtB□を75.0重量%だ
け配合したことを除き、実施例1〜7を反復した。
したところ、それぞれ第1表に示すとおりであった。
it%に対してホウ化チタンTintを92.!43%
だけ配合し、かつ焼結温度を1500℃としたことを除
き、実施例1〜7を反復した。
したところ、それでれ第2表に示すとおりであった。
〜77を反復した。
したところ、それぞれ第2表に示すとおりであフた。
77を反復した。
したところ、それぞれ第2表に示すとおりであった。
77を反復した。
したところ、それぞれ第2表に示すとおりてあった。
したところ、それぞれfJSz表に示すとおりであった
。
ックCを除去したことを除き、実施例1〜70を反復し
た。
あり純度が99重量%のホウ化チタンTiB2100部
を、バインダζ6してのポリビニルアルコール2部とと
もに適宜の金型に収容し、 300kg/c膳2の圧力
を印加して一輪加圧することにより、セラミックス圧粉
体を作成した。
印加してCIP処理すなわち常温静水圧圧縮成形処理を
施すことにより、セラミックス成形体とした。
において15℃/分の昇温速度で1900°Cの温度ま
で加熱し、かつ1900℃の温度に1時間にわたり維持
することにより、セラミックス焼結体とした。
、その破断面を走査型電子顕微鏡で写真観察したところ
第11図に示すとおりであつた。すなわちホウ化チタン
Ti82粒子の粒界破壊が支配的に生じており、ホウ化
チタンTiB2粒子間の結合があまり強固でないことが
判明した。
測定したところ、それぞれ第1表に示すとおりであった
。
ことを除き、実施例1〜7を反復した。
たところ、それぞれ第1表に示すとおりてあった。
ことを除き、実施例8〜14を反復した。
たところ、それぞれ第1表に示すとおりであった。
ことを除き、実施例15〜21を反復した。
たところ、それぞれ第1表に示すとおりであった。
ことを除き、実施例22〜28を反復した。
たところ、それぞれtjSi表に示すとおりてあった。
ことを除き、実施例29〜35を反復した。
たところ、それでれ第1表に示すとおりであった。
ことを除き、実施例36〜42を反復した。
たところ、それぞれ第1表に示すとおりであった。
ことを除き、実施例43〜49を反復した。
たところ、それぞれ第1表に示すとおりであった。
ことを除き、実施例50〜56を反復した。
たところ、それぞれ第1表に示すとおりであった。
ことを除き、実施例57〜63を反復した。
たところ、それぞれ第1表に示すとおりであった。
ことを除き、実施例64〜70を反復した。
たところ、それぞれ第1表に示すとおりであった。
ックCを除去したことを除き、実施例71〜77を反復
した。
たところ、それぞれ第2表に示すとおりであった。
ックCを除去したことを除き、実施例78〜84を反復
した。
たところ、それぞれ第2表に示すとおりであった。
ックCを除去したことを除き、実施例85〜91を反復
した。
たところ、それぞれ第2表に示すとおりであった。
ックCを除去したことを除き、実施例92〜98を反復
した。
たところ、それぞれ第2表に示すとおりであった。
ックCを除去したことを除き、実施例99〜105を反
復した。
たところ、それぞれ第2表に示すとおりであった。
たことを除き、実施例71〜77を反復した。
たところ、それぞれ第2表に示すとおりであった。
ことを除き、実施例78〜84を反復した。
たところ、それぞれ第2表に示すとおりであった。
ことを除き、実施例85〜91を反復した。
たところ、それぞれ第2表に示すとおりであった。
ことを除き、実施例92〜98を反復した。
たところ、それぞれ第2表に示すとおりてあった。
ことを除き、実施例99〜105を反復した。
たところ、それぞれ第2表に示すとおりてあった。
ボンブラックCの混合物2.5〜25重量%に対しホウ
化チタンTtB2を75〜97.5fi量%だけ配合し
、かつクロムCrEよびカーボンブラックCとの配合比
を7:0.2〜5として作成されたセラミックス配合物
に関してのみ実行されたが、クロムCrおよびカーボン
ブラックCの混合物1〜25重量%に対しホウ化チタン
を75〜99重量%たけ配合し、かつクロムCrgよび
カーボンブラックCとの配合比を7:0.1〜IOとし
て作成されたセラミックス配合物についても良好な結果
が得られている。
ラミックス焼結体の製造方法は、(a) 75〜99重
量%のホウ化チタン粉末に対しクロム粉末およびRZ粒
粉末合計で 1〜25重量%だけ配合せしめることによりセラミック
ス配合物を作成する第 1の工程と。
ックス混合物を作成する第 2の工程と。
に収容して加圧しセラミッ クス圧粉体を作成する第3の工程と、 (d)前記セラミックス圧粉体を加圧しセラミックス成
形体を作成する第4の工程 (e)前記セラミックス成形体を非酸化性雰囲気中で焼
結しセラミックス焼結体を 作成する第5の工程と を備えてなるので。
化チタンとの混合固溶 した結合層すなわちマトリックス層 を配設できる効果 を有し、結果的に (ii)ホウ化チタンTiB、粒子間のマトリックス層
に空孔が発生することを十分 に抑制できる効果 を有し、ひいては (iii)高密度および高強度とできる効果を有する。
体の製造方法の一実施例によって製造されたホウ化チタ
ンセラミックス焼結体を示す拡大断面図、第2図は第1
図のホウ化チタンセラミックス焼結体の研磨処理後した
外表面の組織を示す光学顕微鏡写真、第3図は第1図の
ホウ化チタンセラミックス焼結体の破断面の組織を示す
走査型電子顕微鏡写真、第4図は第1図のホウ化チタン
セラミックス焼結体のエツチング処理した外表面の組織
を示す光学顕微鏡写真、第5図は第1図のホウ化チタン
セラミックス焼結体のエツチング処理した外表面の組織
を示す走査型電子顕微鏡写真、第6図は第1図のホウ化
チタンセラミックス焼結体の研磨処理した外表面の組織
を示す走査型電子顕微鏡写真、第7図は第6図の模写図
、第8図は第1図のホウ化チタンセラミックス焼結体の
研磨処理した外表面の組織のEPliA分析すなわち電
子プローブ微小分析の結果を示すX線強度分布図、第9
図(a)は第1図のホウ化チタンセラミックス焼結体の
研磨処理した外表面の組織のEPIIA分析すなわち電
子プローブ微小分析の結果を示すX線強度分布写真、第
9図(b)は第1図のホウ化チタンセラミックス焼結体
の研磨処理した外表面の組織のEPIIA分析すなわち
電子プローブ微小分析の結果を示すX線強度分布写真、
第9図(c)は第9図(a)(b)を重ね合わせて作成
した模写図、第1O図は第1図のホウ化チタンセラミッ
クス焼結体のX線回折分析の結果を示すグラフ図、第1
1図は比較例1として示したホウ化チタンセラミックス
焼結体の製造方法によって製造されたホウ化チタンセラ
ミックス焼結体の破断面の組織を示す走査型電子顕微鏡
写真である。 10・・・・・・・・ホウ化チタンセラミックス焼結体
20・・・・・・・・ホウ化チタン粒子21・・・・・
・粒界相 30・・・・・・・・マトリックス層 特許出願人 株式会社 ニス・ティー・ケー・セラミッ
クス研究所(外2名) 代理人 弁理士 工 藤 隆 夫第1図 第2図 第3図 第4図 102m 第5図 第6図 、第11図 第7図 A′ 第8図 □チタン 一一一一一クロム 第9図 (C) チタン IQ/″m −一一一クロム ■ 0 憾 区 ■D 特許庁長官 小 川 邦 夫 殿 1.事件の表示 昭和62年 特許願 第328628号2、発明の名称 ホウ化チタンセラミックス焼結体の製造方法゛3.補正
をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 愛知県名古屋市港区築三町1丁目11番地名
称 株式会社 ニス・ティー・ケー・セラ
ミックス石升究所代表者 日 吉 淳 −(外2名) 4、代理人 〒160 電話 03−3
56−30165、補正の対象 6、補正の内容 (1)明細書第12頁第1行の「クロムCrJを「金属
Mのホウ化物MB、MB2あるいはMJなと」と補正す
る。 (2)明細書第20頁第6行の「稠密」を「緻密」と補
正する。 (3)明細書第20頁第15行の[クロムCrJを[ホ
ウ化クロムCrB Jと補正する。 (4)明細書第47頁第13行の「配合比を」を「配合
比を重量比で」と補正する。 (5)明細書第48頁第1行のr7:0.1〜10」を
「重量比で7:O,1〜10」と補正する。
Claims (5)
- (1)(a)75〜99重量%のホウ化チタン粉末に対
しクロム粉末および炭素粉末を合計で1〜25重量%だ
け配合せしめることによりセラミックス配合物を作成す
る第1の工程と、 (b)前記セラミックス配合物を均質に混合してセラミ
ックス混合物を作成する第2の工程と、 (c)前記セラミックス混合物をバインダとともに金型
に収容して加圧しセラミックス圧粉体を作成する第3の
工程と、 (d)前記セラミックス圧粉体を加圧しセラミックス成
形体を作成する第4の工程と、 (e)前記セラミックス成形体を非酸化性雰囲気中で焼
結しセラミックス焼結体を作成する第5の工程と を備えてなることを特徴とするホウ化チタンセラミック
ス焼結体の製造方法。 - (2)クロム粉末および炭素粉末の配合割合が、重量比
で7:0.1〜10でなることを特徴とする特許請求の
範囲第(1)項記載のホウ化チタンセラミックス焼結体
の製造方法。 - (3)ホウ化チタン粉末の平均粒径および最大粒径がそ
れぞれ0.5〜8μmおよび12μmでなり、かつクロ
ム粉末の平均粒径および最大粒径がそれぞれ1〜5μm
および12μmでなり、かつ炭素粉末の平均粒径および
最大粒径がそれぞれ10〜100nmおよび150nm
でなることを特徴とする特許請求の範囲第(1)項もし
くは第(2)項記載のホウ化チタンセラミックス焼結体
の製造方法。 - (4)炭素粉末の比表面積が、50〜150m^2/g
でなることを特徴とする特許請求の範囲第(3)項記載
のホウ化チタンセラミックス焼結体の製造方法。 - (5)セラミックス成形体が、無加圧状態で1500〜
2000℃の温度により焼結されてなることを特徴とす
る特許請求の範囲第(1)項ないし第(4)項のいずれ
か一項記載のホウ化チタンセラミックス焼結体の製造方
法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62328628A JPH0679979B2 (ja) | 1987-12-25 | 1987-12-25 | ホウ化チタンセラミックス焼結体の製造方法 |
US07/285,571 US5185112A (en) | 1987-12-25 | 1988-12-16 | Titanium boride ceramic material |
DE3843712A DE3843712C2 (de) | 1987-12-25 | 1988-12-23 | Titanborid-Keramikmaterial und Verfahren zu seiner Herstellung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62328628A JPH0679979B2 (ja) | 1987-12-25 | 1987-12-25 | ホウ化チタンセラミックス焼結体の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01172274A true JPH01172274A (ja) | 1989-07-07 |
JPH0679979B2 JPH0679979B2 (ja) | 1994-10-12 |
Family
ID=18212390
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62328628A Expired - Lifetime JPH0679979B2 (ja) | 1987-12-25 | 1987-12-25 | ホウ化チタンセラミックス焼結体の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0679979B2 (ja) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63206362A (ja) * | 1987-02-20 | 1988-08-25 | 株式会社エス・テイ−・ケ−・セラミツクス研究所 | 二硼化金属基セラミツクスの製造方法 |
-
1987
- 1987-12-25 JP JP62328628A patent/JPH0679979B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63206362A (ja) * | 1987-02-20 | 1988-08-25 | 株式会社エス・テイ−・ケ−・セラミツクス研究所 | 二硼化金属基セラミツクスの製造方法 |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0679979B2 (ja) | 1994-10-12 |
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