JPH0117114B2 - - Google Patents
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- JPH0117114B2 JPH0117114B2 JP10637679A JP10637679A JPH0117114B2 JP H0117114 B2 JPH0117114 B2 JP H0117114B2 JP 10637679 A JP10637679 A JP 10637679A JP 10637679 A JP10637679 A JP 10637679A JP H0117114 B2 JPH0117114 B2 JP H0117114B2
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Landscapes
- Testing Relating To Insulation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は成型電気プラグの本体内芯線が外部に
露出しているかどうかを検査する絶縁耐力試験装
置に関する。
露出しているかどうかを検査する絶縁耐力試験装
置に関する。
電気器具用のコード付差込電気プラグは第1図
に示すようにプラグ端子1の後端部2とコード3
の先端の露出裸芯線群4とを圧着した状態で型内
に入れ、合成樹脂絶縁材料を前記型内に圧入して
成型しプラグ本体5を形成することによつて大量
に生産しているのが現状である。しかし、合成樹
脂絶縁材料は高圧で型内に圧入されるため、ある
いは他の何等かの理由により裸芯線群の一部がほ
つれて分散し6,7で示すように本体5の外周に
直接露出したりあるいは本体5の外面から内方に
延びたピンホール内に露出したり、更には8で示
すように線間短絡を生じたりする。線間の短絡8
は容易に検出することができるが、6,7で示す
ように外部またはピンホール内に露出したものの
検出は容易ではなく、従来は金属箔をプラグ本体
5の手に持つ部分に隙間なく押当てまたは巻付け
てプラグ内導体と金属箔との間に交流1000〜
1500Vを所定時間印加して絶縁耐圧試験すること
により行なつていた。この方法は金属箔の押当て
または巻付けを手作業で行なわなければならず、
従つて時間がかかりまたかかる手作業には個人差
があるため検査の結果に信頼性がない欠点があ
る。
に示すようにプラグ端子1の後端部2とコード3
の先端の露出裸芯線群4とを圧着した状態で型内
に入れ、合成樹脂絶縁材料を前記型内に圧入して
成型しプラグ本体5を形成することによつて大量
に生産しているのが現状である。しかし、合成樹
脂絶縁材料は高圧で型内に圧入されるため、ある
いは他の何等かの理由により裸芯線群の一部がほ
つれて分散し6,7で示すように本体5の外周に
直接露出したりあるいは本体5の外面から内方に
延びたピンホール内に露出したり、更には8で示
すように線間短絡を生じたりする。線間の短絡8
は容易に検出することができるが、6,7で示す
ように外部またはピンホール内に露出したものの
検出は容易ではなく、従来は金属箔をプラグ本体
5の手に持つ部分に隙間なく押当てまたは巻付け
てプラグ内導体と金属箔との間に交流1000〜
1500Vを所定時間印加して絶縁耐圧試験すること
により行なつていた。この方法は金属箔の押当て
または巻付けを手作業で行なわなければならず、
従つて時間がかかりまたかかる手作業には個人差
があるため検査の結果に信頼性がない欠点があ
る。
本発明の従来技術のこのような欠点に鑑み、非
常に簡単にかつ信頼性をもつてプラグ本体内の導
体とプラグ本体外周との間の絶縁耐力を試験する
ことのできる装置を提供することを目的とし、以
下図面を参照して本発明を詳細に説明する。
常に簡単にかつ信頼性をもつてプラグ本体内の導
体とプラグ本体外周との間の絶縁耐力を試験する
ことのできる装置を提供することを目的とし、以
下図面を参照して本発明を詳細に説明する。
図中第2図は本発明装置の主要部の上面図であ
り、本発明の装置は被検査電気プラグ用のコンセ
ント9と、このコンセントに差し込まれた被検査
電気プラグの本体5を把持するホルダー10とか
らなる。これらコンセント9とホルダー10は図
示の実施例では保持案内装置によつて一体的に保
持されて所定の経路に沿つて移動せしめられる。
り、本発明の装置は被検査電気プラグ用のコンセ
ント9と、このコンセントに差し込まれた被検査
電気プラグの本体5を把持するホルダー10とか
らなる。これらコンセント9とホルダー10は図
示の実施例では保持案内装置によつて一体的に保
持されて所定の経路に沿つて移動せしめられる。
本実施例においてはこの保持案内装置11は軸
12を中心として矢印13の方向に回転する回転
盤の形であり、コンセント9およびホルダー10
は4対が円周方向に等間隔を置いて設けられてい
る。ホルダー10はそれぞれコンセント9に隣接
して設けられていて後から詳細に説明するように
コンセント9に差し込まれた被検査電気プラグの
本体5を把持する閉鎖位置と本体5から離れた開
放位置との間に動きうるようになつている。
12を中心として矢印13の方向に回転する回転
盤の形であり、コンセント9およびホルダー10
は4対が円周方向に等間隔を置いて設けられてい
る。ホルダー10はそれぞれコンセント9に隣接
して設けられていて後から詳細に説明するように
コンセント9に差し込まれた被検査電気プラグの
本体5を把持する閉鎖位置と本体5から離れた開
放位置との間に動きうるようになつている。
回転盤の形をした保持案内装置11の下方には
これを同心状に更に別の円盤14がフレーム(図
示せず)に固定して設けられており、この円盤1
4上にはホルダー10の開閉を制御するカム1
5、コンセント9に差し込まれて検査の終了した
プラグをコンセント9から押し出すための可動カ
ム16および固定カム17が設けられている。可
動カム16は円盤14に形成された切欠き18内
に収容されてピン20により一端が円盤14に枢
止されている。
これを同心状に更に別の円盤14がフレーム(図
示せず)に固定して設けられており、この円盤1
4上にはホルダー10の開閉を制御するカム1
5、コンセント9に差し込まれて検査の終了した
プラグをコンセント9から押し出すための可動カ
ム16および固定カム17が設けられている。可
動カム16は円盤14に形成された切欠き18内
に収容されてピン20により一端が円盤14に枢
止されている。
円盤14には更にブラケツト22により給電ス
ライドレール23が固定されており、この給電ス
ライドレール23には本実施例においては第4図
に示すようにレール区分24,25,26,27
からなり、本発明の意図するプラグ本体内の導体
とプラグ本体の外周との間の絶縁耐力試験を含め
て4種の試験を行なうようになつている。
ライドレール23が固定されており、この給電ス
ライドレール23には本実施例においては第4図
に示すようにレール区分24,25,26,27
からなり、本発明の意図するプラグ本体内の導体
とプラグ本体の外周との間の絶縁耐力試験を含め
て4種の試験を行なうようになつている。
コンセント9は第5図乃至第7図に示すように
電気絶縁材料からなるケース部分28、このケー
ス部分に適当な手段で固定支持された導電材料か
らなる差し込み部分29および電気絶縁材料から
なるプラグ押し出し棒30からなる。ケース部分
28は頂板31およびこの頂板31の一面側に対
向状に固定された一対の側板32からなり、頂板
31には両側板32の間に位置してプラグが差し
込まれる開口33が形成されている。差し込み部
分29は両側板32の間に適当な手段で固定され
て前記開口33から差し込まれたプラグ端子1が
挿入される導電材料からなる一対の端子部材34
からなり、各端子部材34の上端には円形の開口
35が形成されている。そして各開口35内には
鋼球36が収容されており、各鋼球36の内側に
は板バネ37が、また外側には板バネ38が設け
られており、これらの板バネ37,38の下端部
はビス39等の適当な手段により端子部材34に
固定されている。プラグ押し出し棒30は両端子
部材34の間に挿入され、その頂部に形成された
下向きの肩40が前記開口33内において側板3
2によつて提供される上向きの肩41と係合して
下向きの運動が制限されている。プラグ押し出し
棒30には更にその一側に溝42が形成されてお
り、この溝42内には圧縮バネ43が収容されて
いる。一方の端子部材34の下面にはプラグ押し
出し棒30の溝42中に突入してバネ43の上端
と係合する対線部材44が固定されている。従つ
て、プラグ押し出し棒30は通常バネ43の作用
により第5図の位置に保持される。プラグを開口
33に差し込れると、プラグ端子1は鋼球36と
板バネ37との間に押し込まれる。この構成のコ
ンセント9は鋼球36を使用して摩擦を低くして
いるので耐久力がすぐれている。
電気絶縁材料からなるケース部分28、このケー
ス部分に適当な手段で固定支持された導電材料か
らなる差し込み部分29および電気絶縁材料から
なるプラグ押し出し棒30からなる。ケース部分
28は頂板31およびこの頂板31の一面側に対
向状に固定された一対の側板32からなり、頂板
31には両側板32の間に位置してプラグが差し
込まれる開口33が形成されている。差し込み部
分29は両側板32の間に適当な手段で固定され
て前記開口33から差し込まれたプラグ端子1が
挿入される導電材料からなる一対の端子部材34
からなり、各端子部材34の上端には円形の開口
35が形成されている。そして各開口35内には
鋼球36が収容されており、各鋼球36の内側に
は板バネ37が、また外側には板バネ38が設け
られており、これらの板バネ37,38の下端部
はビス39等の適当な手段により端子部材34に
固定されている。プラグ押し出し棒30は両端子
部材34の間に挿入され、その頂部に形成された
下向きの肩40が前記開口33内において側板3
2によつて提供される上向きの肩41と係合して
下向きの運動が制限されている。プラグ押し出し
棒30には更にその一側に溝42が形成されてお
り、この溝42内には圧縮バネ43が収容されて
いる。一方の端子部材34の下面にはプラグ押し
出し棒30の溝42中に突入してバネ43の上端
と係合する対線部材44が固定されている。従つ
て、プラグ押し出し棒30は通常バネ43の作用
により第5図の位置に保持される。プラグを開口
33に差し込れると、プラグ端子1は鋼球36と
板バネ37との間に押し込まれる。この構成のコ
ンセント9は鋼球36を使用して摩擦を低くして
いるので耐久力がすぐれている。
次に第8図乃至第12図を参照してホルダー1
0について説明すると、これは回転盤11に固定
されたブロツク45、このブロツクに固定された
軸46、この軸46上に回動可能に装着された一
対のアーム47、これらのアームの一端にそれぞ
れ取付けられた一対のホルダー素子48、前記ブ
ロツク45内に回転可能に横方向に装着された回
動軸49、この回動軸の一端に固定されて回動軸
を回動させる回動アーム50、および前記回動軸
49にやはり固定されて前記アーム47を動かす
作動アーム51を含む。前記固定軸46にはアー
ム47を第8図の開いた位置、即ちホルダー10
の開放位置に保持するバネ52(第10図乃至第
12図参照5が設けられている。
0について説明すると、これは回転盤11に固定
されたブロツク45、このブロツクに固定された
軸46、この軸46上に回動可能に装着された一
対のアーム47、これらのアームの一端にそれぞ
れ取付けられた一対のホルダー素子48、前記ブ
ロツク45内に回転可能に横方向に装着された回
動軸49、この回動軸の一端に固定されて回動軸
を回動させる回動アーム50、および前記回動軸
49にやはり固定されて前記アーム47を動かす
作動アーム51を含む。前記固定軸46にはアー
ム47を第8図の開いた位置、即ちホルダー10
の開放位置に保持するバネ52(第10図乃至第
12図参照5が設けられている。
第8図および第9図において、一方のホルダー
素子48を断面図で示してその内部構造を示して
いるが他方のホルダー素子48も同じ構造であ
る。本実施例では、各ホルダー素子48はハウジ
ング53、このハウジング53内に設けられた端
子構造体54、この端子構造体54によつて担持
された可動の導電性パツド保持具55、この保持
具に適当な手段によつて取付けられた金網56、
この金網56に取付けられた導電性パツド57、
および前記ハウジング53の両側に各蝶番58に
よつて取付けられた左右一対の屈曲状側方部材5
9を含む。端子構造体54内にはリードを兼ねた
圧縮バネ60が内蔵されており、保持具55はこ
のバネ60により前方に押圧される。かくして第
8図の開放位置においては側方部材59は相互に
完全に開いているが第9図の閉鎖位置においては
導電性パツド57がプラグ本体5に強く押し当て
られその結果保持具55がバネ60の力に抗して
後方に押圧されて側方部材59を相互に閉じる方
向に移動させて導電性パツド57をプラグ本体5
の全周にわたつて緊密に押し当てるようになつて
いる。なお端子構造体54には端子19が固定さ
れており、この端子は前記圧縮バネ60の一端を
支持すると共に適当なリード(図示せず)によ
り、絶縁耐力試験回路に接続される。導電性パツ
ド57としては例えば2〜3μのステンレス鋼繊
維を重ねてニードルパンチングしたものを使用す
ることができるが、他の導電性の綿状材料、柔軟
な金属箔材料等プラグ本体5の外形に良好に適合
しうる適当なものを使用することができる。
素子48を断面図で示してその内部構造を示して
いるが他方のホルダー素子48も同じ構造であ
る。本実施例では、各ホルダー素子48はハウジ
ング53、このハウジング53内に設けられた端
子構造体54、この端子構造体54によつて担持
された可動の導電性パツド保持具55、この保持
具に適当な手段によつて取付けられた金網56、
この金網56に取付けられた導電性パツド57、
および前記ハウジング53の両側に各蝶番58に
よつて取付けられた左右一対の屈曲状側方部材5
9を含む。端子構造体54内にはリードを兼ねた
圧縮バネ60が内蔵されており、保持具55はこ
のバネ60により前方に押圧される。かくして第
8図の開放位置においては側方部材59は相互に
完全に開いているが第9図の閉鎖位置においては
導電性パツド57がプラグ本体5に強く押し当て
られその結果保持具55がバネ60の力に抗して
後方に押圧されて側方部材59を相互に閉じる方
向に移動させて導電性パツド57をプラグ本体5
の全周にわたつて緊密に押し当てるようになつて
いる。なお端子構造体54には端子19が固定さ
れており、この端子は前記圧縮バネ60の一端を
支持すると共に適当なリード(図示せず)によ
り、絶縁耐力試験回路に接続される。導電性パツ
ド57としては例えば2〜3μのステンレス鋼繊
維を重ねてニードルパンチングしたものを使用す
ることができるが、他の導電性の綿状材料、柔軟
な金属箔材料等プラグ本体5の外形に良好に適合
しうる適当なものを使用することができる。
回動アーム50は保持案内装置(本実施例では
回転盤)11に形成されたスロツト61を貫通し
て延び、その下端にはローラー62が設けられて
いて円盤14上を転動する。先に述べたように、
円盤14上にはホルダー10の開閉を制御するカ
ム15が設けられており、ローラー62がカム1
5の上に乗るとアーム50は前記スロツト61内
で第10図の位置から第11図の位置に傾いて回
動軸49を反時計方向に回動させる。従つて作動
アーム51も反時計方向に傾斜しアーム47に作
用し、バネ52の力に抗してアーム47を第9図
および第11図に示すようにコンセント9に差し
込まれたプラグ本体5を保持する閉鎖位置へ移動
させる。この時、導電性パツド57は上述したよ
うにプラグ本体5の外周に緊密に押し当てられ
る。この状態はローラー62がカム15に乗つて
いる間接続する。ローラー62がカム15から降
りるとアーム47はバネ52の作用により、第8
図、第10図、第12図に示す開放位置に戻さ
れ、回動軸49もアーム51がアーム47によつ
て押し戻されるため、第8図、第10図、第12
図に示す位置に戻される。
回転盤)11に形成されたスロツト61を貫通し
て延び、その下端にはローラー62が設けられて
いて円盤14上を転動する。先に述べたように、
円盤14上にはホルダー10の開閉を制御するカ
ム15が設けられており、ローラー62がカム1
5の上に乗るとアーム50は前記スロツト61内
で第10図の位置から第11図の位置に傾いて回
動軸49を反時計方向に回動させる。従つて作動
アーム51も反時計方向に傾斜しアーム47に作
用し、バネ52の力に抗してアーム47を第9図
および第11図に示すようにコンセント9に差し
込まれたプラグ本体5を保持する閉鎖位置へ移動
させる。この時、導電性パツド57は上述したよ
うにプラグ本体5の外周に緊密に押し当てられ
る。この状態はローラー62がカム15に乗つて
いる間接続する。ローラー62がカム15から降
りるとアーム47はバネ52の作用により、第8
図、第10図、第12図に示す開放位置に戻さ
れ、回動軸49もアーム51がアーム47によつ
て押し戻されるため、第8図、第10図、第12
図に示す位置に戻される。
検査をした結果、良品と不良品とを区別するた
めに本実施例では上述した如き独特なコンセント
9を使用し、良品と不良品をそれぞれ所定の位置
でコンセント9から押し出すようにしている。そ
のために可動カム16が円盤14に形成された切
欠き18内でピン20によつて枢止されていると
共に回転盤11の回転方向に見て可動カム16の
前方にカム17が固定されている。第12図には
可動カム16が示されており、これは不良品をコ
ンセント9から押し出すためのもので、試験回路
からの不良品検出信号によつて付勢されるソレノ
イド63によつて作動される。一方、回転盤11
の下面には蝶番64により押し出し棒作動アーム
65が枢着されており、このアーム65の下端に
はローラー66が設けられている。また押し出し
棒30は回転盤11に形成された開口69を貫通
して下方に延びている。不良品検出信号が発生さ
れるとソレノイド63が付勢されてカム16が一
点鎖線で示す非作動位置から実線で示す作動位置
へ移動せしめられる。次いで、回転盤11の回転
によりローラー66が矢印の方向に動いてカム1
6に乗るとアーム65は第12図に示すように持
ち上げられ、コンセント9の押し出し棒30をバ
ネ43の力に抗して持ち上げこれによりプラグを
コンセント9から押し出す。
めに本実施例では上述した如き独特なコンセント
9を使用し、良品と不良品をそれぞれ所定の位置
でコンセント9から押し出すようにしている。そ
のために可動カム16が円盤14に形成された切
欠き18内でピン20によつて枢止されていると
共に回転盤11の回転方向に見て可動カム16の
前方にカム17が固定されている。第12図には
可動カム16が示されており、これは不良品をコ
ンセント9から押し出すためのもので、試験回路
からの不良品検出信号によつて付勢されるソレノ
イド63によつて作動される。一方、回転盤11
の下面には蝶番64により押し出し棒作動アーム
65が枢着されており、このアーム65の下端に
はローラー66が設けられている。また押し出し
棒30は回転盤11に形成された開口69を貫通
して下方に延びている。不良品検出信号が発生さ
れるとソレノイド63が付勢されてカム16が一
点鎖線で示す非作動位置から実線で示す作動位置
へ移動せしめられる。次いで、回転盤11の回転
によりローラー66が矢印の方向に動いてカム1
6に乗るとアーム65は第12図に示すように持
ち上げられ、コンセント9の押し出し棒30をバ
ネ43の力に抗して持ち上げこれによりプラグを
コンセント9から押し出す。
固定カム17はコンセント9に差し込まれたま
まの良品プラグをコンセント9から押し出す。
まの良品プラグをコンセント9から押し出す。
不良品プラグをコンセント9から押し出すとき
にはホルダー10は開放されていなければなら
ず、カム15の長さはこのような時間関係でホル
ダー10を開放する長さに選択される。
にはホルダー10は開放されていなければなら
ず、カム15の長さはこのような時間関係でホル
ダー10を開放する長さに選択される。
次に本発明において使用される絶縁耐力試験回
路の一例が第13図に示されているが、かかる回
路をコンセント9に接続するために回転盤11に
一対のシユー67が固定されており、このシユー
はリード68によりコンセント9のプラグ端子1
と電気的に接触する部分(例えば板バネ37また
は38)に接続されている。
路の一例が第13図に示されているが、かかる回
路をコンセント9に接続するために回転盤11に
一対のシユー67が固定されており、このシユー
はリード68によりコンセント9のプラグ端子1
と電気的に接触する部分(例えば板バネ37また
は38)に接続されている。
さて、第13図において、70は可変電圧調整
器、71は逓昇変圧器、72は変流器である。端
子73は第4図のレール区分26に接続され、端
子74はホルダー10の各ホルダー素子48の素
子19に接続されている。従つて、シユー67が
レール区分26に接触すると被検査電気プラグの
本体5内の導体はコンセント9、リード68、シ
ユー67、レール区分26を介して端子73に接
続され、プラグ本体5の外周に緊密に接触した導
電性パツド57はバネ60、端子19および適当
なリード(図示せず)を介して端子74に接続さ
れる。かくして、プラグ本体5内の導体と外周全
周との間に所定の交流電圧(プラグの定格によつ
て異なるが通常1000〜2000Vの範囲内)に印加さ
れる。プラグ本体5内の芯線が第1図に6,7で
示すように本体外周に露出していると、当然この
露出している芯線を通して漏れ電流が流れる。こ
の電流は変流器72で検出され、その出力は増幅
器75で増幅された後、整流器76で整流され
る。77は基準電圧設定器であり、これにより設
定された基準電圧と検出電圧は比較器78で比較
される。検出電圧が基準電圧より大きいと比較器
78から出力が発生されて増幅器79により増幅
され、リレー80を付勢する。リレー80が付勢
されるとソレノイド63が付勢され、カム16が
第12図の実線位置に上昇せしめられる。従つ
て、この不良プラグはカム16および押し出し棒
30の作用によりコンセント9から押し出され
る。
器、71は逓昇変圧器、72は変流器である。端
子73は第4図のレール区分26に接続され、端
子74はホルダー10の各ホルダー素子48の素
子19に接続されている。従つて、シユー67が
レール区分26に接触すると被検査電気プラグの
本体5内の導体はコンセント9、リード68、シ
ユー67、レール区分26を介して端子73に接
続され、プラグ本体5の外周に緊密に接触した導
電性パツド57はバネ60、端子19および適当
なリード(図示せず)を介して端子74に接続さ
れる。かくして、プラグ本体5内の導体と外周全
周との間に所定の交流電圧(プラグの定格によつ
て異なるが通常1000〜2000Vの範囲内)に印加さ
れる。プラグ本体5内の芯線が第1図に6,7で
示すように本体外周に露出していると、当然この
露出している芯線を通して漏れ電流が流れる。こ
の電流は変流器72で検出され、その出力は増幅
器75で増幅された後、整流器76で整流され
る。77は基準電圧設定器であり、これにより設
定された基準電圧と検出電圧は比較器78で比較
される。検出電圧が基準電圧より大きいと比較器
78から出力が発生されて増幅器79により増幅
され、リレー80を付勢する。リレー80が付勢
されるとソレノイド63が付勢され、カム16が
第12図の実線位置に上昇せしめられる。従つ
て、この不良プラグはカム16および押し出し棒
30の作用によりコンセント9から押し出され
る。
第13図に示した絶縁耐力試験回路は第4図の
レール区分27のレール271に端子73をレー
ル272に端子74をそれぞれ接続することによ
つて、プラグの導体間の絶縁耐力を検査するのに
も使用することができる。
レール区分27のレール271に端子73をレー
ル272に端子74をそれぞれ接続することによ
つて、プラグの導体間の絶縁耐力を検査するのに
も使用することができる。
本発明の装置の動作は次のとおりである。ロー
ラー62がカム15から降りるとホルダー10は
バネ52の作用によつて開かれる。そして不良品
はカム16により、また良品はカム17により押
し出し棒30を上昇させることによりコンセント
9から押し出される。このようにプラグがコンセ
ント9から押し出された後作業員は検査すべきプ
ラグを新たにコンセント9に差しむ。回転盤11
が回転して今プラグを差し込んだコンセント9が
カム15に近づくとそのホルダー10のアーム5
0に取付けたローラー62がカム15に乗つてホ
ルダー10が閉じ、導電性パツド57がプラグ本
体5の外周に緊密に押し当てられ、これによりプ
ラグ本体内の導体とプラグ本体外周との間の絶縁
耐力試験の準備がととのう。本実施例では目的と
する絶縁耐力試験の他のコードの長さ、従つて断
線の有無を検出する導通試験、線間絶縁が十分か
否かを検査する絶縁抵抗試験およびプラグの導体
間の絶縁耐力試験をも行なうようになつており、
給電レール23のレール区分24は導通試験回路
に、レール区分25は絶縁抵抗試験回路に、レー
ル区分26は上述したようにプラグ本体内の導体
とプラグ本体外周との間の絶縁耐力試験回路に、
そしてレール区分27はプラグの導体間絶縁耐力
試験回路にそれぞれ接続されている。これらの試
験回路は各レール区分およびシユー67を介して
プラグに順次接続される。なお、導通試験回路お
よび絶縁抵抗試験回路は本発明とは直接に関係は
ないし、周知のものでもあるのでその説明は省略
する。
ラー62がカム15から降りるとホルダー10は
バネ52の作用によつて開かれる。そして不良品
はカム16により、また良品はカム17により押
し出し棒30を上昇させることによりコンセント
9から押し出される。このようにプラグがコンセ
ント9から押し出された後作業員は検査すべきプ
ラグを新たにコンセント9に差しむ。回転盤11
が回転して今プラグを差し込んだコンセント9が
カム15に近づくとそのホルダー10のアーム5
0に取付けたローラー62がカム15に乗つてホ
ルダー10が閉じ、導電性パツド57がプラグ本
体5の外周に緊密に押し当てられ、これによりプ
ラグ本体内の導体とプラグ本体外周との間の絶縁
耐力試験の準備がととのう。本実施例では目的と
する絶縁耐力試験の他のコードの長さ、従つて断
線の有無を検出する導通試験、線間絶縁が十分か
否かを検査する絶縁抵抗試験およびプラグの導体
間の絶縁耐力試験をも行なうようになつており、
給電レール23のレール区分24は導通試験回路
に、レール区分25は絶縁抵抗試験回路に、レー
ル区分26は上述したようにプラグ本体内の導体
とプラグ本体外周との間の絶縁耐力試験回路に、
そしてレール区分27はプラグの導体間絶縁耐力
試験回路にそれぞれ接続されている。これらの試
験回路は各レール区分およびシユー67を介して
プラグに順次接続される。なお、導通試験回路お
よび絶縁抵抗試験回路は本発明とは直接に関係は
ないし、周知のものでもあるのでその説明は省略
する。
ホルダー10が閉じてから更に回転盤11が回
転するとシユー67がまずレール区分24に摺動
して導通試験が行なわれ、その後順次レール区分
25,26,27と摺動して絶縁抵抗試験および
二つの絶縁耐力試験が行なわれ、その後ローラー
62がカム15から降りてホルダー10が開く。
プラグが不良品であると不良であることを検出し
て試験回路から不良品検出信号が発生されてロー
ラー66が通過するに先立つてソレノイド63を
付勢(所定時間にわたり)し、カム16を第12
図の実線位置に上昇させ、不良品プラグをコンセ
ント9から押し出す。良品の場合には、いずれの
試験回路からも不良品検出信号は発生されず、従
つてその良品プラグはコンセント9に差し込まれ
たまま固定カム17に到りここでコンセント9か
ら押し出される。
転するとシユー67がまずレール区分24に摺動
して導通試験が行なわれ、その後順次レール区分
25,26,27と摺動して絶縁抵抗試験および
二つの絶縁耐力試験が行なわれ、その後ローラー
62がカム15から降りてホルダー10が開く。
プラグが不良品であると不良であることを検出し
て試験回路から不良品検出信号が発生されてロー
ラー66が通過するに先立つてソレノイド63を
付勢(所定時間にわたり)し、カム16を第12
図の実線位置に上昇させ、不良品プラグをコンセ
ント9から押し出す。良品の場合には、いずれの
試験回路からも不良品検出信号は発生されず、従
つてその良品プラグはコンセント9に差し込まれ
たまま固定カム17に到りここでコンセント9か
ら押し出される。
以上のように、本発明によれば導電性パツドを
有するホルダーを設けて、これによつてプラグ本
体の外周を緊密に保持するようにしたので、プラ
グ本体内の導体とプラグ本体外周との間で絶縁耐
力試験を非常に簡単に、短時間でかつ大きな信頼
度をもつて行なうことができるのである。
有するホルダーを設けて、これによつてプラグ本
体の外周を緊密に保持するようにしたので、プラ
グ本体内の導体とプラグ本体外周との間で絶縁耐
力試験を非常に簡単に、短時間でかつ大きな信頼
度をもつて行なうことができるのである。
第1図はプラグの一部破断斜視図、第2図は本
発明の一実施例の上面図、第3図は第2図におい
て回転盤を除去して示す上面図、第4図は第3図
の線−に沿つて見た展開図、第5図は試験の
ためにプラグを差し込むコンセントの斜視図、第
6図は第5図の線−に沿つた断面図、第7図
は第5図の線−に沿つた断面図、第8図はプ
ラグを保持するホルダーの一部断面平面図、第9
図はホルダーの第8図とは異なる位置を示す一部
断面平面図、第10図乃至第12図はホルダー、
コンセントおよびこれらの制御装置の異なる動作
位置を示す側面図、第13図は本発明で使用する
絶縁耐力試験回路の一例を示す図である。 図中、5は被検査電気プラグの本体、9はコン
セント、10はホルダー、11は保持案内装置、
15はカム、23は給電スライドレール、48は
ホルダー素子、57は導電性パツドである。
発明の一実施例の上面図、第3図は第2図におい
て回転盤を除去して示す上面図、第4図は第3図
の線−に沿つて見た展開図、第5図は試験の
ためにプラグを差し込むコンセントの斜視図、第
6図は第5図の線−に沿つた断面図、第7図
は第5図の線−に沿つた断面図、第8図はプ
ラグを保持するホルダーの一部断面平面図、第9
図はホルダーの第8図とは異なる位置を示す一部
断面平面図、第10図乃至第12図はホルダー、
コンセントおよびこれらの制御装置の異なる動作
位置を示す側面図、第13図は本発明で使用する
絶縁耐力試験回路の一例を示す図である。 図中、5は被検査電気プラグの本体、9はコン
セント、10はホルダー、11は保持案内装置、
15はカム、23は給電スライドレール、48は
ホルダー素子、57は導電性パツドである。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 電気絶縁材料からなる頂板とこの頂板の一面
側に対向状に固定された電気絶縁材料からなる一
対の側板とで構成されるケース部分と、前記両側
板の間に位置するように前記頂板に形成されかつ
被検査成型電気プラグを差し込むための開口と、
前記側板間に固定されて前記開口から差し込まれ
たプラグ端子が挿入される導電材料からなる一対
の端子部材と、各端子部材の上端にそれぞれ形成
された円形開口と、各円形開口内にそれぞれ収容
された鋼球と、前記各端子部材にそれぞれ固定さ
れて前記鋼球の内側と外側とにそれぞれ当接する
板バネと、前記両端子部材の間に挿入された電気
絶縁材料からなるプラグ押し出し棒と、このプラ
グ押し出し棒の頂部に形成されかつ前記頂板の開
口内において前記頂板によつて提供される上向き
の肩と係合して前記プラグ押し出し棒の下向きの
運動を制限する下向きの肩と、前記プラグ押し出
し棒の一側に形成された溝と、この溝内に収容さ
れた圧縮バネと、前記端子部材の一方の下面に固
定されかつ前記溝中に突入して前記圧縮バネの上
端と係合する対接部材とを有するコンセント、 前記コンセントに隣接して設けられ、このコン
セントに差し込まれた被検査成型電気プラグの本
体の両側面を左右から挟着する閉鎖位置とプラグ
本体から離れた開放位置とを有する左右一対のホ
ルダー素子からなる開閉可能なホルダーを備え、
このホルダーの各ホルダー素子は、ハウジング
と、このハウジング内に前後移動可能に収容され
て作動時にプラグ本体の側面に対して押圧される
保持具と、この保持具の押圧時にプラグ本体の前
後面に向けて両側から閉じる左右一対の側方部材
と、この両側方部材と前記保持具の内面に沿うよ
うに保持具に取付けられた導電性の繊維材料から
なるパツドとを有し、更に、 前記コンセントとホルダーを一体的に保持して
所定の経路に沿つて移動させる保持案内装置、 前記保持案内装置に隣接して固定配置された給
電スライドレール、 前記保持案内装置に固定されかつ前記コンセン
トに電気的に接続されて前記スライドレールに摺
動するシユー、および 前記シユーが前記給電レールと係合している間
前記ホルダーを閉じるホルダー制御装置を備え、 前記給電レールおよび前記ホルダーの導電性パ
ツドを前記プラグ本体内導体とプラグ本体外周と
の間の絶縁耐力を試験する絶縁耐力試験回路に接
続したことを特徴とする成型電気プラグの絶縁耐
力試験装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10637679A JPS5630659A (en) | 1979-08-21 | 1979-08-21 | Dielectric strength test apparatus for method electric plug |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10637679A JPS5630659A (en) | 1979-08-21 | 1979-08-21 | Dielectric strength test apparatus for method electric plug |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5630659A JPS5630659A (en) | 1981-03-27 |
JPH0117114B2 true JPH0117114B2 (ja) | 1989-03-29 |
Family
ID=14431988
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10637679A Granted JPS5630659A (en) | 1979-08-21 | 1979-08-21 | Dielectric strength test apparatus for method electric plug |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5630659A (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0537398Y2 (ja) * | 1984-12-05 | 1993-09-21 | ||
JPS61142647A (ja) * | 1984-12-14 | 1986-06-30 | Jeol Ltd | 電子線装置 |
JPH02141651A (ja) * | 1988-11-22 | 1990-05-31 | Mitsui Petrochem Ind Ltd | 管内面コート金属管のコート状態検査方法及び装置 |
CN104330654B (zh) * | 2014-10-11 | 2017-09-01 | 邓文强 | 接插件测试的自动化推动结构 |
-
1979
- 1979-08-21 JP JP10637679A patent/JPS5630659A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5630659A (en) | 1981-03-27 |
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