JPH01156725A - 表示装置 - Google Patents
表示装置Info
- Publication number
- JPH01156725A JPH01156725A JP62316708A JP31670887A JPH01156725A JP H01156725 A JPH01156725 A JP H01156725A JP 62316708 A JP62316708 A JP 62316708A JP 31670887 A JP31670887 A JP 31670887A JP H01156725 A JPH01156725 A JP H01156725A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- display device
- electrode
- wiring
- insulating film
- pixel electrode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000010408 film Substances 0.000 claims abstract description 24
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 12
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims abstract description 3
- 239000000382 optic material Substances 0.000 claims description 8
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 5
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 abstract description 7
- 230000005684 electric field Effects 0.000 abstract description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 5
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
- G02F1/133357—Planarisation layers
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136227—Through-hole connection of the pixel electrode to the active element through an insulation layer
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、表示装置の構造に関する。
従来の電気光学材料を用いた表示装置の例としては、「
日経エレクトロニクス 1984年9月10日号 No
、351 P、211−240Jに示されるようなも
のがある。第2図は表示装置の平面図の例であり、デー
タ線12と走査線13の交点に薄膜トランジスタすなわ
ちTFT14が配置され、各TPTには画素電極11が
接続されている。第3図は断面図の例であり、20及び
30は絶縁基板、21.22.23はそれぞれTFTの
ソース部、ドレイン部、チャネル部、24はゲート絶縁
膜、25はゲート電極である。26は層間絶縁膜、27
はデータ線、28は画素電極、31は対向電極で、2つ
の基板間に封入された液晶等の電気光学材料29ば、画
素電極28と対向型fl!31との間の電界で駆動され
る。
日経エレクトロニクス 1984年9月10日号 No
、351 P、211−240Jに示されるようなも
のがある。第2図は表示装置の平面図の例であり、デー
タ線12と走査線13の交点に薄膜トランジスタすなわ
ちTFT14が配置され、各TPTには画素電極11が
接続されている。第3図は断面図の例であり、20及び
30は絶縁基板、21.22.23はそれぞれTFTの
ソース部、ドレイン部、チャネル部、24はゲート絶縁
膜、25はゲート電極である。26は層間絶縁膜、27
はデータ線、28は画素電極、31は対向電極で、2つ
の基板間に封入された液晶等の電気光学材料29ば、画
素電極28と対向型fl!31との間の電界で駆動され
る。
しかし、前述の従来技術は以下に述べるような問題点を
有する。すなわち、表示装置の画面の高精細化を実現し
ようとする場合、画素面積を小さくする必要があるが、
一般に能動素子や配線部の面積を小さくするのは囲器で
あり、画素電極の占める面積の割合が減少する0画像を
表示することができるのは画素電極領域のみであるから
、その割合が減少するとコントラスト比が小さくなり画
質が著しく損われる。コントラスト比を大きくするなめ
には、画素電極以外の部分を遮光すればよいが、画面が
暗くなってしまう。
有する。すなわち、表示装置の画面の高精細化を実現し
ようとする場合、画素面積を小さくする必要があるが、
一般に能動素子や配線部の面積を小さくするのは囲器で
あり、画素電極の占める面積の割合が減少する0画像を
表示することができるのは画素電極領域のみであるから
、その割合が減少するとコントラスト比が小さくなり画
質が著しく損われる。コントラスト比を大きくするなめ
には、画素電極以外の部分を遮光すればよいが、画面が
暗くなってしまう。
本発明はこのような問題点を解決するものであり、その
目的とするところは、画素を高密度化してもコントラス
ト比が小さくなったり画面が暗くなったりしないような
表示装置を実現するところにある。
目的とするところは、画素を高密度化してもコントラス
ト比が小さくなったり画面が暗くなったりしないような
表示装置を実現するところにある。
本発明の表示装置は、能動素子及び配線上の少なくとも
一部を覆う絶縁膜を備え、前記絶縁膜上に画素電極を配
置したことを特徴とする。
一部を覆う絶縁膜を備え、前記絶縁膜上に画素電極を配
置したことを特徴とする。
本発明の上記の構成によれば、画素を高密度化しても画
素電極の占める面積の割合はほとんど変わらない、従っ
てコントラスト比が小さくなったり画面が暗くなったり
しない。
素電極の占める面積の割合はほとんど変わらない、従っ
てコントラスト比が小さくなったり画面が暗くなったり
しない。
〔実施例1〕
本発明の表示装置の1実施例における平面図を第1図に
、断面図を第4図に示す。本実施例では能動素子として
TPTを用い、電気光学材料として液晶を用いる。この
表示装置は第1図のように、データ線2と走査線3、及
びそれらの交点に設けられたTPT4と画素電極1とか
ら成る。TPTのソース電極はデータ線2に、ゲート電
極は走査線3に、ドレイン電極は画素電極1に接続され
、TPTは走査線のタイミングに応じてデータ線の信号
を画素電極に与えるスイッチング素子として用いられる
。第4図において、40は絶縁基板、41.42.43
.45はそれぞれTPTのソース部、チャネル部、トレ
イン部、ゲート電極であり、44はゲート絶縁膜である
。46は層間絶縁膜で、47はデータ線である9本実施
例においては、これらの素子の上にもう一層の絶縁膜5
2があり、その上に画素電極48を形成するため、TP
Tの上部やデータ線の上部も画素電極で覆うことができ
る。50はもう一つの絶縁基板で51は透明導電膜から
成る対向電極、49は液晶である。
、断面図を第4図に示す。本実施例では能動素子として
TPTを用い、電気光学材料として液晶を用いる。この
表示装置は第1図のように、データ線2と走査線3、及
びそれらの交点に設けられたTPT4と画素電極1とか
ら成る。TPTのソース電極はデータ線2に、ゲート電
極は走査線3に、ドレイン電極は画素電極1に接続され
、TPTは走査線のタイミングに応じてデータ線の信号
を画素電極に与えるスイッチング素子として用いられる
。第4図において、40は絶縁基板、41.42.43
.45はそれぞれTPTのソース部、チャネル部、トレ
イン部、ゲート電極であり、44はゲート絶縁膜である
。46は層間絶縁膜で、47はデータ線である9本実施
例においては、これらの素子の上にもう一層の絶縁膜5
2があり、その上に画素電極48を形成するため、TP
Tの上部やデータ線の上部も画素電極で覆うことができ
る。50はもう一つの絶縁基板で51は透明導電膜から
成る対向電極、49は液晶である。
液晶49は対向電極51と画素電極48の間の電界で駆
動される0画素電極48を透明導電膜を用いて形成し、
2つの絶縁基板の上下に偏光板を配置すると、透過型の
表示装置となるが、第1回の様に画素電極どうしの間隙
がちょうどデータ線と走査線上にくるようにすれば、こ
れらの配線が遮光層として働き、それ以外の部分を透過
する光は有効に使えるなめ、高コントラスト比で明るい
画面を得ることができる。一方、絶縁膜52の材料とし
てポリイミドやガラス等を用い、液状で塗布し表面を平
坦化した上で、画素電極48にアルミニウムや金、プラ
チナ等の金属を用いると反射型の表示装置となる0反射
型の場合には各TPT間の間隔を大きくする必要がない
ため極めて高精細な画像を得ることができる。反射型の
表示装置であればシリコン基板を用いることもできるが
、大面積の画像を表示する場合、配線の寄生容量が大き
いため適していない、大画面で高精細の画像を得るには
絶縁基板を用いる必要がある。また、反射型では表示品
質を向上させるために各画素に保持容量を作り込んでも
画面の明るさは変わらない。
動される0画素電極48を透明導電膜を用いて形成し、
2つの絶縁基板の上下に偏光板を配置すると、透過型の
表示装置となるが、第1回の様に画素電極どうしの間隙
がちょうどデータ線と走査線上にくるようにすれば、こ
れらの配線が遮光層として働き、それ以外の部分を透過
する光は有効に使えるなめ、高コントラスト比で明るい
画面を得ることができる。一方、絶縁膜52の材料とし
てポリイミドやガラス等を用い、液状で塗布し表面を平
坦化した上で、画素電極48にアルミニウムや金、プラ
チナ等の金属を用いると反射型の表示装置となる0反射
型の場合には各TPT間の間隔を大きくする必要がない
ため極めて高精細な画像を得ることができる。反射型の
表示装置であればシリコン基板を用いることもできるが
、大面積の画像を表示する場合、配線の寄生容量が大き
いため適していない、大画面で高精細の画像を得るには
絶縁基板を用いる必要がある。また、反射型では表示品
質を向上させるために各画素に保持容量を作り込んでも
画面の明るさは変わらない。
例えばMO3容量等を用いて液晶の数〜数十倍の容量を
付加することができる。これによって、非常に広い温度
範囲で高コントラスト比で面内均一性の良い画像を再現
性良く得ることができる。この様な表示装置の応用例と
しては投射型表示装置等がある6本発明の表示装置は薄
型で高精細かっ高品質の画像を表示できるためこれを透
過型または反射型のライトバルブとして用いると小型の
装置で高品質かつ大画面の画像を表示できる投射型表示
装置が実現できる。
付加することができる。これによって、非常に広い温度
範囲で高コントラスト比で面内均一性の良い画像を再現
性良く得ることができる。この様な表示装置の応用例と
しては投射型表示装置等がある6本発明の表示装置は薄
型で高精細かっ高品質の画像を表示できるためこれを透
過型または反射型のライトバルブとして用いると小型の
装置で高品質かつ大画面の画像を表示できる投射型表示
装置が実現できる。
〔実施例2〕
第5図は、第1の実施例と異なる構造のTPTを用いた
表示装置の断面図の例である0本実施例においてはゲー
ト電極45がチャネル部の下側にあるため、ゲート絶縁
膜44が眉間絶縁膜の代わりとなる。第4図と比較する
と絶縁膜が一層少なくなっている。この様な構造のTP
Tでも第1の実施例と同様に絶縁膜52を形成した後画
素電極48を形成することにより同様の画像を得ること
ができる。
表示装置の断面図の例である0本実施例においてはゲー
ト電極45がチャネル部の下側にあるため、ゲート絶縁
膜44が眉間絶縁膜の代わりとなる。第4図と比較する
と絶縁膜が一層少なくなっている。この様な構造のTP
Tでも第1の実施例と同様に絶縁膜52を形成した後画
素電極48を形成することにより同様の画像を得ること
ができる。
〔実施例3〕
第6図は本発明の第3の実施例を示す表示装置の断面図
の例である。この例では能動素子としてTPTの代わり
に2端子型非線形抵抗素子を用いる。2端子素子を用い
る場合、第1の絶縁基板60上には配線は走査線65の
みで、第2の絶縁基板70上の対向量[!71がストラ
イプ状になっておりデータ線の代わりとなる。2端子素
子はTPTに比べると構造が単純で、たとえばM I
Mダイオードの場合、金属電極62と金属から成る走査
線65の間に絶縁膜64をはさみその非線型抵抗を利用
する。その他の2端子素子の例としてはダイオードリン
グ、ninダイオードMSIダイオード等がある。いず
れにしてもこれらの素子上に絶縁膜72を設け、その上
に画素電極68を設け、画素電極間の間隙が走査線の上
にくるようにすれば、高精細化しても高コントラスト比
で明るい画像が得られる。また、金属の画素電極を形成
すれば反射型の表示装置も実現できる。
の例である。この例では能動素子としてTPTの代わり
に2端子型非線形抵抗素子を用いる。2端子素子を用い
る場合、第1の絶縁基板60上には配線は走査線65の
みで、第2の絶縁基板70上の対向量[!71がストラ
イプ状になっておりデータ線の代わりとなる。2端子素
子はTPTに比べると構造が単純で、たとえばM I
Mダイオードの場合、金属電極62と金属から成る走査
線65の間に絶縁膜64をはさみその非線型抵抗を利用
する。その他の2端子素子の例としてはダイオードリン
グ、ninダイオードMSIダイオード等がある。いず
れにしてもこれらの素子上に絶縁膜72を設け、その上
に画素電極68を設け、画素電極間の間隙が走査線の上
にくるようにすれば、高精細化しても高コントラスト比
で明るい画像が得られる。また、金属の画素電極を形成
すれば反射型の表示装置も実現できる。
以上述べたように本発明の表示装置は、画素電極の占有
面積を最大にすることができるため、画素を高密度化し
ても画面が暗くならない、しかも、配線が遮光層として
働くためコントラスト比も大きくとれる。さらに、液晶
等の電気光学材料に接する表面には画素電極と対向電極
のみが配置され、他の配線は絶縁膜の下にあるため、電
気光学材料には必要な信号電圧のみが印加される。した
がって画素のすみずみまで透過率または反射率が一様と
なり高品質の画像が得られ、電気光学材料の信頼性も向
上する。
面積を最大にすることができるため、画素を高密度化し
ても画面が暗くならない、しかも、配線が遮光層として
働くためコントラスト比も大きくとれる。さらに、液晶
等の電気光学材料に接する表面には画素電極と対向電極
のみが配置され、他の配線は絶縁膜の下にあるため、電
気光学材料には必要な信号電圧のみが印加される。した
がって画素のすみずみまで透過率または反射率が一様と
なり高品質の画像が得られ、電気光学材料の信頼性も向
上する。
一方、反射型の表示装置として用いる場合には、保持容
量を付加することにより高精細かつ高コントラスト比で
面内均一性の極めて良い画像を、広い温度範囲で再現性
良く得ることができる。また、能動素子の寄生容量によ
ってスイッチング時に生じるオフセット電圧もほとんど
なくなるため、フリッカ−がなくなり電気光学材料の信
頼性も一段と向上する。
量を付加することにより高精細かつ高コントラスト比で
面内均一性の極めて良い画像を、広い温度範囲で再現性
良く得ることができる。また、能動素子の寄生容量によ
ってスイッチング時に生じるオフセット電圧もほとんど
なくなるため、フリッカ−がなくなり電気光学材料の信
頼性も一段と向上する。
第1図は表示装置の平面図。
第2図は従来の表示装置の平面図。
第3図は従来の表示装置の断面図。
第4.5.6図は表示装置の断面図。
1.11.28.48.68・・・画素電極52.72
・・・・・・・・・・・絶縁膜2.12・・・・・・・
・・・・・データ線3.13・・・・・・・・・・・・
走査線以上 出願人 セイコーエプソン株式会社 扇 21刀 JT−JLFl力 某し]図
・・・・・・・・・・・絶縁膜2.12・・・・・・・
・・・・・データ線3.13・・・・・・・・・・・・
走査線以上 出願人 セイコーエプソン株式会社 扇 21刀 JT−JLFl力 某し]図
Claims (4)
- (1)第1の絶縁基板上に2次元の能動素子アレイと、
前記能動素子に信号を供給する配線と、前記各能動素子
に接続された画素電極とを備え、第2の絶縁基板上には
対向電極を備え、第1及び第2の絶縁基板を対向させて
成る間隙に電気光学材料を封入して成る表示装置におい
て、前記能動素子及び配線上の少なくとも一部を覆う絶
縁膜を備え、前記絶縁膜上に画素電極を配置したことを
特徴とする表示装置。 - (2)前記画素電極は、各画素電極間の間隙の少なくと
も一部が前記配線上に位置するように配置されたことを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載の表示装置。 - (3)前記能動素子及び配線上を覆う絶縁膜の厚みは、
前記能動素子及び配線上では薄く、その他の部分では厚
く形成されていることを特徴とする特許請求の範囲第1
項記載の表示装置。 - (4)前記画素電極が金属薄膜で形成されていることを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載の表示装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62316708A JPH01156725A (ja) | 1987-12-15 | 1987-12-15 | 表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62316708A JPH01156725A (ja) | 1987-12-15 | 1987-12-15 | 表示装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9115851A Division JPH10105081A (ja) | 1997-05-06 | 1997-05-06 | 反射型液晶表示装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01156725A true JPH01156725A (ja) | 1989-06-20 |
Family
ID=18080015
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62316708A Pending JPH01156725A (ja) | 1987-12-15 | 1987-12-15 | 表示装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01156725A (ja) |
Cited By (64)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0341420A (ja) * | 1989-07-07 | 1991-02-21 | Seiko Epson Corp | Mim液晶電気光学装置およびその製造方法 |
JPH0431827A (ja) * | 1990-05-29 | 1992-02-04 | Alps Electric Co Ltd | 液晶表示素子 |
JPH04177325A (ja) * | 1990-11-13 | 1992-06-24 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 液晶表示装置 |
JPH04177326A (ja) * | 1990-11-13 | 1992-06-24 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 液晶表示装置およびその駆動方法 |
EP0603866A1 (en) * | 1992-12-25 | 1994-06-29 | Sony Corporation | Active matrix substrate |
US5446562A (en) * | 1991-12-25 | 1995-08-29 | Kabushiki Kasiha Toshiba | Liquid crystal display device with transparent conductive film between pixel electrodes and signal or scanning lines |
JPH07318973A (ja) * | 1991-03-26 | 1995-12-08 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置および電気光学装置の作製方法 |
JPH0850286A (ja) * | 1994-08-05 | 1996-02-20 | Casio Comput Co Ltd | 液晶表示素子およびその製造方法 |
US5579142A (en) * | 1994-10-14 | 1996-11-26 | Sharp Kabushiki Kaisha | Liquid crystal display device having pleochroic dye and particular relationship of ratio d/po and twist angle |
EP0708356A3 (en) * | 1994-10-19 | 1997-02-26 | Sony Corp | Color display device |
US5612799A (en) * | 1990-11-26 | 1997-03-18 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Inc. | Active matrix type electro-optical device |
US5644370A (en) * | 1992-01-31 | 1997-07-01 | Canon Kabushiki Kaisha | Liquid crystal display apparatus with a plural layer connection between the TFT drains and the pixel electrodes |
US5721601A (en) * | 1994-09-29 | 1998-02-24 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Display units having two insolating films and a planarizing film and process for producing the same |
JPH10502462A (ja) * | 1994-06-30 | 1998-03-03 | ハネウエル・インコーポレーテッド | 大開口amlcdアーキテクチャ |
US5757444A (en) * | 1992-04-28 | 1998-05-26 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device and method of driving the same |
US5952708A (en) * | 1995-11-17 | 1999-09-14 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device |
US5956105A (en) * | 1991-06-14 | 1999-09-21 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device and method of driving the same |
US5990542A (en) * | 1995-12-14 | 1999-11-23 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device |
US5990491A (en) * | 1994-04-29 | 1999-11-23 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Active matrix device utilizing light shielding means for thin film transistors |
US6013928A (en) * | 1991-08-23 | 2000-01-11 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device having interlayer insulating film and method for forming the same |
EP0984317A2 (en) * | 1993-12-02 | 2000-03-08 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Active matrix display device and semiconductor device |
KR100262403B1 (ko) * | 1997-06-25 | 2000-08-01 | 김영환 | 액정표시소자의 주사라인 구동회로 |
JP2000214490A (ja) * | 1990-12-29 | 2000-08-04 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | テレビ受像機 |
EP1055960A2 (en) * | 1999-05-25 | 2000-11-29 | Sharp Kabushiki Kaisha | Liquid crystal display device |
US6157428A (en) * | 1997-05-07 | 2000-12-05 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Liquid crystal display |
US6195139B1 (en) | 1992-03-04 | 2001-02-27 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device |
US6204905B1 (en) | 1997-11-18 | 2001-03-20 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Vertical alignment liquid crystal display device having planarized substrate surface |
US6225218B1 (en) | 1995-12-20 | 2001-05-01 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and its manufacturing method |
US6242758B1 (en) | 1994-12-27 | 2001-06-05 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device employing resinous material, method of fabricating the same and electrooptical device |
US6246458B1 (en) | 1997-11-18 | 2001-06-12 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Method for manufacturing liquid crystal display |
US6358784B1 (en) | 1992-03-26 | 2002-03-19 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Process for laser processing and apparatus for use in the same |
US6369788B1 (en) | 1990-11-26 | 2002-04-09 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device and driving method for the same |
US6436827B1 (en) | 1996-11-07 | 2002-08-20 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Fabrication method of a semiconductor device |
US6563558B2 (en) | 1997-11-18 | 2003-05-13 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Liquid crystal display with light shielding film |
US6693301B2 (en) | 1991-10-16 | 2004-02-17 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device and method of driving and manufacturing the same |
US6714266B1 (en) | 1999-08-04 | 2004-03-30 | Sharp Kabushiki Kaisha | Transmission type liquid crystal display device |
US6762813B1 (en) | 1996-11-22 | 2004-07-13 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device and method of manufacturing the same |
US6778231B1 (en) | 1991-06-14 | 2004-08-17 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical display device |
US6800875B1 (en) | 1995-11-17 | 2004-10-05 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Active matrix electro-luminescent display device with an organic leveling layer |
US6893906B2 (en) | 1990-11-26 | 2005-05-17 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device and driving method for the same |
US6911688B2 (en) | 2002-04-15 | 2005-06-28 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor display device and manufacturing method thereof |
US6933996B2 (en) | 1996-10-22 | 2005-08-23 | Seiko Epson Corporation | Liquid crystal panel substrate, liquid crystal panel, and electronic device and projection display device using the same |
US6960786B2 (en) | 2002-05-13 | 2005-11-01 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device |
US6969643B2 (en) | 1995-12-29 | 2005-11-29 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Thin film transistor array panel used for a liquid crystal display and a manufacturing method thereof |
US6975296B1 (en) * | 1991-06-14 | 2005-12-13 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device and method of driving the same |
US6992332B2 (en) | 2002-05-15 | 2006-01-31 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device and method for manufacturing the same |
US7038239B2 (en) | 2002-04-09 | 2006-05-02 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor element and display device using the same |
US7071910B1 (en) | 1991-10-16 | 2006-07-04 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electrooptical device and method of driving and manufacturing the same |
US7116302B2 (en) | 1991-10-16 | 2006-10-03 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Process of operating active matrix display device having thin film transistors |
US7154147B1 (en) | 1990-11-26 | 2006-12-26 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device and driving method for the same |
US7242021B2 (en) | 2002-04-23 | 2007-07-10 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and display element using semiconductor device |
US7253440B1 (en) | 1991-10-16 | 2007-08-07 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device having at least first and second thin film transistors |
JP2009122144A (ja) * | 2007-11-09 | 2009-06-04 | Seiko Epson Corp | アクティブマトリクス装置、電気光学表示装置、および電子機器 |
JP2009122143A (ja) * | 2007-11-09 | 2009-06-04 | Seiko Epson Corp | アクティブマトリクス装置、電気光学表示装置、および電子機器 |
US7545449B2 (en) | 2003-03-07 | 2009-06-09 | Casio Computer Co., Ltd. | Liquid crystal display device having auxiliary capacitive electrode |
JP2009134256A (ja) * | 2007-11-09 | 2009-06-18 | Seiko Epson Corp | アクティブマトリクス装置、スイッチング素子の製造方法、電気光学表示装置、および電子機器 |
JP2010217926A (ja) * | 2000-01-26 | 2010-09-30 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 液晶表示装置 |
US7872728B1 (en) | 1996-10-22 | 2011-01-18 | Seiko Epson Corporation | Liquid crystal panel substrate, liquid crystal panel, and electronic device and projection display device using the same |
US8208101B2 (en) | 1996-10-22 | 2012-06-26 | Seiko Epson Corporation | Liquid crystal panel substrate with light-shielding film in a periphery region, liquid crystal panel, and electronic equipment and projection type display device both using the same |
US8223285B2 (en) | 2007-11-09 | 2012-07-17 | Seiko Epson Corporation | Active matrix device, method for manufacturing switching element, electro-optical display device, and electronic apparatus |
JP2012177936A (ja) * | 2012-05-21 | 2012-09-13 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 電気光学装置 |
US8835271B2 (en) | 2002-04-09 | 2014-09-16 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor display device |
US10133139B2 (en) | 2002-05-17 | 2018-11-20 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device |
US11426554B2 (en) | 2006-11-06 | 2022-08-30 | Fisher & Paykel Healthcare Limited | Humidifier system |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62223727A (ja) * | 1986-03-25 | 1987-10-01 | Seiko Epson Corp | 液晶パネル |
JPS62240936A (ja) * | 1986-04-14 | 1987-10-21 | Seiko Epson Corp | 投射型表示装置 |
-
1987
- 1987-12-15 JP JP62316708A patent/JPH01156725A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62223727A (ja) * | 1986-03-25 | 1987-10-01 | Seiko Epson Corp | 液晶パネル |
JPS62240936A (ja) * | 1986-04-14 | 1987-10-21 | Seiko Epson Corp | 投射型表示装置 |
Cited By (137)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0341420A (ja) * | 1989-07-07 | 1991-02-21 | Seiko Epson Corp | Mim液晶電気光学装置およびその製造方法 |
JPH0431827A (ja) * | 1990-05-29 | 1992-02-04 | Alps Electric Co Ltd | 液晶表示素子 |
JPH04177326A (ja) * | 1990-11-13 | 1992-06-24 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 液晶表示装置およびその駆動方法 |
US7462515B2 (en) | 1990-11-13 | 2008-12-09 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device and driving method for the same |
JPH04177325A (ja) * | 1990-11-13 | 1992-06-24 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 液晶表示装置 |
US6369788B1 (en) | 1990-11-26 | 2002-04-09 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device and driving method for the same |
US6893906B2 (en) | 1990-11-26 | 2005-05-17 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device and driving method for the same |
US5946059A (en) * | 1990-11-26 | 1999-08-31 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device and driving method for the same |
US5905555A (en) * | 1990-11-26 | 1999-05-18 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Active matrix type electro-optical device having leveling film |
US5612799A (en) * | 1990-11-26 | 1997-03-18 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Inc. | Active matrix type electro-optical device |
US5899547A (en) * | 1990-11-26 | 1999-05-04 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device and driving method for the same |
US7154147B1 (en) | 1990-11-26 | 2006-12-26 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device and driving method for the same |
JP2000214490A (ja) * | 1990-12-29 | 2000-08-04 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | テレビ受像機 |
JPH07318973A (ja) * | 1991-03-26 | 1995-12-08 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置および電気光学装置の作製方法 |
US5933205A (en) * | 1991-03-26 | 1999-08-03 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device and method for driving the same |
US5963278A (en) * | 1991-03-26 | 1999-10-05 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device and method for driving the same |
US6975296B1 (en) * | 1991-06-14 | 2005-12-13 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device and method of driving the same |
US5956105A (en) * | 1991-06-14 | 1999-09-21 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device and method of driving the same |
US6778231B1 (en) | 1991-06-14 | 2004-08-17 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical display device |
US6013928A (en) * | 1991-08-23 | 2000-01-11 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device having interlayer insulating film and method for forming the same |
US7116302B2 (en) | 1991-10-16 | 2006-10-03 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Process of operating active matrix display device having thin film transistors |
US7071910B1 (en) | 1991-10-16 | 2006-07-04 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electrooptical device and method of driving and manufacturing the same |
US7253440B1 (en) | 1991-10-16 | 2007-08-07 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device having at least first and second thin film transistors |
US6693301B2 (en) | 1991-10-16 | 2004-02-17 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device and method of driving and manufacturing the same |
US6759680B1 (en) | 1991-10-16 | 2004-07-06 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device having thin film transistors |
US6124904A (en) * | 1991-12-25 | 2000-09-26 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Liquid crystal display device |
US5446562A (en) * | 1991-12-25 | 1995-08-29 | Kabushiki Kasiha Toshiba | Liquid crystal display device with transparent conductive film between pixel electrodes and signal or scanning lines |
US5644370A (en) * | 1992-01-31 | 1997-07-01 | Canon Kabushiki Kaisha | Liquid crystal display apparatus with a plural layer connection between the TFT drains and the pixel electrodes |
US6618105B2 (en) | 1992-03-04 | 2003-09-09 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device |
US7123320B2 (en) | 1992-03-04 | 2006-10-17 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device |
US8035773B2 (en) | 1992-03-04 | 2011-10-11 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device |
US6195139B1 (en) | 1992-03-04 | 2001-02-27 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device |
US7169657B2 (en) | 1992-03-26 | 2007-01-30 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Process for laser processing and apparatus for use in the same |
US7781271B2 (en) | 1992-03-26 | 2010-08-24 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Process for laser processing and apparatus for use in the same |
US6358784B1 (en) | 1992-03-26 | 2002-03-19 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Process for laser processing and apparatus for use in the same |
US6655767B2 (en) * | 1992-03-26 | 2003-12-02 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Active matrix display device |
US5757444A (en) * | 1992-04-28 | 1998-05-26 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device and method of driving the same |
US5852488A (en) * | 1992-04-28 | 1998-12-22 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device and method of driving the same |
EP0603866A1 (en) * | 1992-12-25 | 1994-06-29 | Sony Corporation | Active matrix substrate |
EP0984317A2 (en) * | 1993-12-02 | 2000-03-08 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Active matrix display device and semiconductor device |
EP0984317A3 (en) * | 1993-12-02 | 2001-03-21 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Active matrix display device and semiconductor device |
US5990491A (en) * | 1994-04-29 | 1999-11-23 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Active matrix device utilizing light shielding means for thin film transistors |
US6800873B2 (en) | 1994-04-29 | 2004-10-05 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and electronic device |
US8319715B2 (en) | 1994-04-29 | 2012-11-27 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Active matrix type liquid crystal display device |
US7423291B2 (en) | 1994-04-29 | 2008-09-09 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and electronic device |
US7102164B2 (en) | 1994-04-29 | 2006-09-05 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device having a conductive layer with a light shielding part |
US6501097B1 (en) | 1994-04-29 | 2002-12-31 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device |
JPH10502462A (ja) * | 1994-06-30 | 1998-03-03 | ハネウエル・インコーポレーテッド | 大開口amlcdアーキテクチャ |
JPH0850286A (ja) * | 1994-08-05 | 1996-02-20 | Casio Comput Co Ltd | 液晶表示素子およびその製造方法 |
US5721601A (en) * | 1994-09-29 | 1998-02-24 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Display units having two insolating films and a planarizing film and process for producing the same |
US5579142A (en) * | 1994-10-14 | 1996-11-26 | Sharp Kabushiki Kaisha | Liquid crystal display device having pleochroic dye and particular relationship of ratio d/po and twist angle |
EP0708356A3 (en) * | 1994-10-19 | 1997-02-26 | Sony Corp | Color display device |
US5818550A (en) * | 1994-10-19 | 1998-10-06 | Sony Corporation | Color display device |
US6429053B1 (en) | 1994-12-27 | 2002-08-06 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device method of fabricating same, and, electrooptical device |
US6242758B1 (en) | 1994-12-27 | 2001-06-05 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device employing resinous material, method of fabricating the same and electrooptical device |
US6169293B1 (en) | 1995-11-17 | 2001-01-02 | Semiconductor Energy Labs | Display device |
US6239470B1 (en) | 1995-11-17 | 2001-05-29 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Active matrix electro-luminescent display thin film transistor |
US5952708A (en) * | 1995-11-17 | 1999-09-14 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device |
US6800875B1 (en) | 1995-11-17 | 2004-10-05 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Active matrix electro-luminescent display device with an organic leveling layer |
US6867434B2 (en) | 1995-11-17 | 2005-03-15 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Active matrix electro-luminescent display with an organic leveling layer |
US7034381B2 (en) | 1995-12-14 | 2006-04-25 | Semiconductor Energey Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device |
US6787887B2 (en) | 1995-12-14 | 2004-09-07 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device |
US5990542A (en) * | 1995-12-14 | 1999-11-23 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device |
US7202551B2 (en) | 1995-12-14 | 2007-04-10 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device having underlying insulating film and insulating films |
US6225218B1 (en) | 1995-12-20 | 2001-05-01 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and its manufacturing method |
US7750476B2 (en) | 1995-12-20 | 2010-07-06 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device having a reliable contact |
US8023057B2 (en) | 1995-12-29 | 2011-09-20 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Thin film transistor array panel used for liquid crystal display and a manufacturing method thereof |
US6969643B2 (en) | 1995-12-29 | 2005-11-29 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Thin film transistor array panel used for a liquid crystal display and a manufacturing method thereof |
US7623193B2 (en) | 1995-12-29 | 2009-11-24 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Thin film transistor array panel used for a liquid crystal display and a manufacturing method thereof |
US8749748B2 (en) | 1996-10-22 | 2014-06-10 | Seiko Epson Corporation | Liquid crystal panel substrate, liquid crystal panel, and electronic device and projection display device using the same |
US8208101B2 (en) | 1996-10-22 | 2012-06-26 | Seiko Epson Corporation | Liquid crystal panel substrate with light-shielding film in a periphery region, liquid crystal panel, and electronic equipment and projection type display device both using the same |
US6933996B2 (en) | 1996-10-22 | 2005-08-23 | Seiko Epson Corporation | Liquid crystal panel substrate, liquid crystal panel, and electronic device and projection display device using the same |
US7868961B2 (en) | 1996-10-22 | 2011-01-11 | Seiko Epson Corporation | Liquid crystal panel substrate, liquid crystal panel, and electronic device and projection display device using the same |
US7872728B1 (en) | 1996-10-22 | 2011-01-18 | Seiko Epson Corporation | Liquid crystal panel substrate, liquid crystal panel, and electronic device and projection display device using the same |
US7532292B2 (en) | 1996-10-22 | 2009-05-12 | Seiko Epson Corporation | Liquid crystal panel substrate, liquid crystal panel, and electronic device and projection display device using the same |
US8525968B2 (en) | 1996-10-22 | 2013-09-03 | Seiko Epson Corporation | Liquid crystal panel substrate, liquid crystal panel, and electronic device and projection display device using the same |
US7324171B2 (en) | 1996-10-22 | 2008-01-29 | Seiko Epson Corporation | Liquid crystal panel substrate, liquid crystal panel, and electronic device and projection display device using the same |
US7158205B2 (en) | 1996-10-22 | 2007-01-02 | Seiko Epson Corporation | Liquid crystal panel substrate, liquid crystal panel, and electronic device and projection display device using the same |
US8107049B2 (en) | 1996-10-22 | 2012-01-31 | Seiko Epson Corporation | Liquid crystal panel substrate, liquid crystal panel, and electronic device and projection display device using the same |
US8358396B2 (en) | 1996-10-22 | 2013-01-22 | Seiko Epson Corporation | Liquid crystal panel substrate, liquid crystal panel, and electronic device and projection display device using the same |
US7184105B2 (en) | 1996-10-22 | 2007-02-27 | Seiko Epson Corporation | Liquid crystal panel substrate, liquid crystal panel, and electronic device and projection display device having the same |
US7470580B2 (en) | 1996-11-07 | 2008-12-30 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Fabrication method of a semiconductor device |
US7163854B2 (en) | 1996-11-07 | 2007-01-16 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Fabrication method of a semiconductor device |
US6436827B1 (en) | 1996-11-07 | 2002-08-20 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Fabrication method of a semiconductor device |
US7333169B2 (en) | 1996-11-22 | 2008-02-19 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device and method of manufacturing the same |
US6762813B1 (en) | 1996-11-22 | 2004-07-13 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device and method of manufacturing the same |
US7868984B2 (en) | 1996-11-22 | 2011-01-11 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device and method of manufacturing the same |
US6157428A (en) * | 1997-05-07 | 2000-12-05 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Liquid crystal display |
KR100262403B1 (ko) * | 1997-06-25 | 2000-08-01 | 김영환 | 액정표시소자의 주사라인 구동회로 |
US6292163B1 (en) | 1997-06-25 | 2001-09-18 | Hyundai Electronics Industries Co., Ltd. | Scanning line driving circuit of a liquid crystal display |
US6204905B1 (en) | 1997-11-18 | 2001-03-20 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Vertical alignment liquid crystal display device having planarized substrate surface |
US6246458B1 (en) | 1997-11-18 | 2001-06-12 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Method for manufacturing liquid crystal display |
US6362864B2 (en) | 1997-11-18 | 2002-03-26 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Vertical alignment liquid crystal display device having planarized substrate surface |
US6563558B2 (en) | 1997-11-18 | 2003-05-13 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Liquid crystal display with light shielding film |
US6803976B1 (en) | 1999-05-25 | 2004-10-12 | Sharp Kabushiki Kaisha | LCD having electrode(s) outside display area which adsorb ionic impurities |
EP1055960A3 (en) * | 1999-05-25 | 2000-12-13 | Sharp Kabushiki Kaisha | Liquid crystal display device |
EP1055960A2 (en) * | 1999-05-25 | 2000-11-29 | Sharp Kabushiki Kaisha | Liquid crystal display device |
US6714266B1 (en) | 1999-08-04 | 2004-03-30 | Sharp Kabushiki Kaisha | Transmission type liquid crystal display device |
JP2010217926A (ja) * | 2000-01-26 | 2010-09-30 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 液晶表示装置 |
US9406806B2 (en) | 2002-04-09 | 2016-08-02 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor element and display device using the same |
US10050065B2 (en) | 2002-04-09 | 2018-08-14 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor element and display device using the same |
US9666614B2 (en) | 2002-04-09 | 2017-05-30 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor display device |
US9105727B2 (en) | 2002-04-09 | 2015-08-11 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor element and display device using the same |
US8835271B2 (en) | 2002-04-09 | 2014-09-16 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor display device |
US7038239B2 (en) | 2002-04-09 | 2006-05-02 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor element and display device using the same |
US10083995B2 (en) | 2002-04-09 | 2018-09-25 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor display device |
US10700106B2 (en) | 2002-04-09 | 2020-06-30 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor element and display device using the same |
US10854642B2 (en) | 2002-04-09 | 2020-12-01 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor element and display device using the same |
US11101299B2 (en) | 2002-04-09 | 2021-08-24 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor display device |
US6911688B2 (en) | 2002-04-15 | 2005-06-28 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor display device and manufacturing method thereof |
US7148510B2 (en) | 2002-04-15 | 2006-12-12 | Semiconductor Energy Laboratory Co. Ltd. | Electronic apparatus having a protective circuit |
US7242021B2 (en) | 2002-04-23 | 2007-07-10 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and display element using semiconductor device |
US9966390B2 (en) | 2002-05-13 | 2018-05-08 | Semicondutcor Energy Laboratory Co., LTD. | Display device |
US9165991B2 (en) | 2002-05-13 | 2015-10-20 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device |
US6960786B2 (en) | 2002-05-13 | 2005-11-01 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device |
US7554116B2 (en) | 2002-05-13 | 2009-06-30 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device |
US9508756B2 (en) | 2002-05-13 | 2016-11-29 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device |
US7723179B2 (en) | 2002-05-15 | 2010-05-25 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device and method for manufacturing the same |
US6992332B2 (en) | 2002-05-15 | 2006-01-31 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device and method for manufacturing the same |
US10133139B2 (en) | 2002-05-17 | 2018-11-20 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device |
US11422423B2 (en) | 2002-05-17 | 2022-08-23 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device |
US10527903B2 (en) | 2002-05-17 | 2020-01-07 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device |
US7545449B2 (en) | 2003-03-07 | 2009-06-09 | Casio Computer Co., Ltd. | Liquid crystal display device having auxiliary capacitive electrode |
US11857729B2 (en) | 2006-11-06 | 2024-01-02 | Fisher & Paykel Healthcare Limited | Integrated humidifier chamber and lid |
US11497881B2 (en) | 2006-11-06 | 2022-11-15 | Fisher & Paykel Healthcare Limited | Humidified respiratory gas supply system |
US11426554B2 (en) | 2006-11-06 | 2022-08-30 | Fisher & Paykel Healthcare Limited | Humidifier system |
JP4518200B2 (ja) * | 2007-11-09 | 2010-08-04 | セイコーエプソン株式会社 | アクティブマトリクス装置、スイッチング素子の製造方法、電気光学表示装置、および電子機器 |
JP2009122144A (ja) * | 2007-11-09 | 2009-06-04 | Seiko Epson Corp | アクティブマトリクス装置、電気光学表示装置、および電子機器 |
JP4561813B2 (ja) * | 2007-11-09 | 2010-10-13 | セイコーエプソン株式会社 | アクティブマトリクス装置、電気光学表示装置、および電子機器 |
JP4492677B2 (ja) * | 2007-11-09 | 2010-06-30 | セイコーエプソン株式会社 | アクティブマトリクス装置、電気光学表示装置、および電子機器 |
US8223285B2 (en) | 2007-11-09 | 2012-07-17 | Seiko Epson Corporation | Active matrix device, method for manufacturing switching element, electro-optical display device, and electronic apparatus |
US7692195B2 (en) | 2007-11-09 | 2010-04-06 | Seiko Epson Corporation | Active-matrix device, electro-optical display device, and electronic apparatus |
US8013849B2 (en) | 2007-11-09 | 2011-09-06 | Seiko Epson Corporation | Active-matrix device, electro-optical display device, and electronic apparatus |
JP2009134256A (ja) * | 2007-11-09 | 2009-06-18 | Seiko Epson Corp | アクティブマトリクス装置、スイッチング素子の製造方法、電気光学表示装置、および電子機器 |
US7952041B2 (en) | 2007-11-09 | 2011-05-31 | Seiko Epson Corporation | Active-matrix device, electro-optical display device, and electronic apparatus |
JP2009122143A (ja) * | 2007-11-09 | 2009-06-04 | Seiko Epson Corp | アクティブマトリクス装置、電気光学表示装置、および電子機器 |
JP2012177936A (ja) * | 2012-05-21 | 2012-09-13 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 電気光学装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH01156725A (ja) | 表示装置 | |
EP0661581B1 (en) | Active matrix type liquid crystal display apparatus | |
US4904056A (en) | Light blocking and cell spacing for liquid crystal matrix displays | |
JP4180690B2 (ja) | 液晶表示装置 | |
US6683671B1 (en) | Liquid crystal display device with spacers on color filters outside display area and method of manufacturing the same | |
JP4023217B2 (ja) | 半透過反射型液晶装置、およびそれを用いた電子機器 | |
JPS6265017A (ja) | 冗長な導体構造を持つ薄膜fet駆動形液晶表示装置 | |
WO2000020918A1 (fr) | Dispositif a cristaux liquides et appareil electronique | |
WO2021184506A1 (zh) | 液晶显示面板 | |
JPH0263020A (ja) | アクティブマトリクス型液晶表示素子 | |
JP3586674B2 (ja) | 液晶表示装置 | |
JPH06130418A (ja) | アクティブマトリクス基板 | |
US5748268A (en) | Quasi-tiled active matrix display | |
JPH0567210B2 (ja) | ||
JPS6242127A (ja) | 光阻止及びセル・スペ−サ構造を持つ液晶表示装置 | |
JP4534411B2 (ja) | 半透過反射型液晶装置、およびそれを用いた電子機器 | |
JPH03196020A (ja) | 液晶表示装置 | |
JPH0225A (ja) | 駆動装置 | |
JPH0567209B2 (ja) | ||
JP2004258365A (ja) | 電気光学装置、およびそれを用いた電子機器 | |
JPH03198030A (ja) | 薄膜トランジスタパネル及び液晶表示装置 | |
JPS6328308B2 (ja) | ||
JPH04349430A (ja) | アクティブマトリクス型液晶表示装置 | |
KR940004237B1 (ko) | 액정표시 장치 및 그 제조방법 | |
JP2004109857A (ja) | 液晶表示装置、及び電子機器 |