JPH01156682A - サンプルデータ平均化装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明はＩＣ等の計測機器において位相差サンプリン
グ方式により計測波形をサンプリングするシステムに適
用されるサンプルデータ平均化装置に関し、特に、計測
波形データをメモリに格納する際に高精度の平均化（以
下、アベレージングともいう）ができるようにした装置
に関する。

［従来の技術］ ＩＣテスタ等の計測機器において、計測波形をサンプリ
ングする場合、単純に計測波形１周期のみをサンプリン
グしたとしても、正確な波形データは得られない。そこ
で、複数周期の波形をサンプリングしてこれを平均化す
ることにより、精度のよい計測波形データを得ることが
望ましい。

［発明が解決しようとする問題点］ 単純に複数周期波形をサンプリングしてこれを平均化す
る方式では、サンプリングクロックの発生タイミングの
精度に限界があるため、高精度の平均化は困難であった
。これに対して、位相差サンプリング方式では、被サン
プリング波形とサンプリングクロックとの間の位相がロ
ックされているため、波形の各サンプルポイントとクロ
ックの発生タイミングとの間に乱れはほとんど発生せず
。

従って高精度のアベレージングが可能となることが期待
される。そこで、このような位相差サンプリング方式を
用いたサンプリングシステムにおいて高精度のアベレー
ジングを具体的に実現し得るようにすることが望ましい
。

この発明は上述の点に鑑みてなされたもので、位相差サ
ンプリング方式を適用したサンプリングシステムにおい
て、任意周期分の計測波形データのアベレージングを高
精度にて行うことができるようにしたサンプルデータ平
均化装置を提供しようとするものである。

［問題を解決するための手段］ この発明に係るサンプルデータ平均化装置は、サンプリ
ングの対象である波形データを位相差サンプリング方式
によりサンプリングするサンプリング手段と、サンプリ
ングした波形データを記憶するための記憶手段と、サン
プリングに同期してサンプル点アドレスを特定するサン
プル点アドレス特定手段と、サンプリングした波形デー
タを平均化する回数を指定する平均化回数指定手段と、
サンプリング波形１周期の最終アドレスを指定する最終
アドレス指定手段と、前記サンプル点アドレス特定手段
により特定するサンプル点アドレスが前記最終アドレス
指定手段で指定した最終アドレスに達したことを検出す
る最終アドレス検出手段と、前記最終アドレス検出手段
により最終アドレスに達したことが検出される度に平均
化回数を歩進する平均化回数歩進手段と、この平均化回
数歩進手段における平均化回数歩進値が前記平均化回数
指定手段で指定した平均化回数に到達したことを検出す
る平均化回数検出手段と、前記サンプリング手段によっ
てサンプリングされた波形データを前記サンプル点アド
レス特定手段によって特定されたアドレスに対応して前
記記憶手段に記憶させると共に、同じアドレス値に対応
する波形データ同士を前記平均化回数検出手段で検出が
なされるまで加算し、この加算結果と前記平均化回数指
定手段で指定された平均化回数とに基づき各サンプル点
にその平均値を求める平均化制御手段とを具えたもので
ある。

［作用］ 最終アドレス指定手段において、サンプリング波形１周
期の最終アドレスを予め指定する。また。

平均化回数指定手段において、サンプリングした波形デ
ータを平均化する回数を予め指定する。サンプリング手
段では、サンプリングの対象である波形データを位相差
サンプリング方式によりサンプリングを行う。サンプル
点アドレス特定手段では、サンプリングに同期してサン
プル点アドレスを特定する。最終アドレス検出手段では
、サンプル点アドレス特定手段により特定されるサンプ
ル点アドレスが最終アドレス指定手段で指定した最終ア
ドレスに達したか否かを調べる。やがて、すンプル点ア
ドレスが該最終アドレスに達したことを検出すると、最
終アドレス検出信号を出力する。

平均化回数歩進手段では、該最終アドレス検出信号が与
えられる度に平均化回数を歩進する。平均化回数検出手
段では、この平均化回数歩進手段における平均化回数歩
進値が平均化回数指定手段により指定した平均化回数に
到達したか否かを調べ、平均化回数歩進値が平均化回数
指定手段により指定した平均化回数に到達すると、平均
化回数検出信号を出力する。平均化制御手段では、サン
プリング手段によってサンプリングされた波形データを
サンプル点アドレス特定手段によって特定されたアドレ
スに対応して記憶手段に記憶させると共に、同じアドレ
ス値に対応する波形データ同士を平均化回数検出手段で
検出がなされるまで加算し、この加算結果と平均化回数
指定手段で指定された平均化回数とに基づき各サンプル
点にその平均値を求める。

こうして、平均化回数指定手段で任意の平均化回数を指
定すると共に、最終アドレス指定手段でサンプリング波
形１周期の最終アドレスを指定し。

サンプル点アドレスが最終アドレスに達する毎に平均化
回数の歩進を行うようにしたので、平均化回数指定手段
で指定した任意の平均化回数に対応する任意の周期数分
の計測波形データの平均化を確実に行うことができる。

また、本発明に係るサンプルデータ平均化装置によれば
、位相差サンプリング方式により被サンプリング波形を
サンプリングするので、−被サンプリング波形とサンプ
ルクロックとの間の位相がロックされ波形の各サンプル
ポイントとクロックの発生タイミングとがほぼ確定でき
るため、サンプリング波形１周期の最終アドレスを正確
に特定することができ、平均化演算制御にあたって加算
すべきサンプル点データの位相を完全に一致させること
ができるので、高精度なサンプルデータの平均化が期待
できる。

〔実施例〕

以下、添付図面を参照してこの発明の一実施例を詳細に
説明しよう。

第１図は本発明に係るサンプルデータ平均化装置を適用
したサンプリングシステムの全体構成を略示するもので
あり、このサンプリングシステムは１例えば、ＩＣテス
タにおける測定波形のサンプリングに用いられるもので
ある。基準信号発生部２１は、基準信号ｆ　ＳＴＤを発
生するものである。

この基準信号ｆ　ＳＴＤは、シンセサイザ２２．２３の
入力に与えら九る。この基準信号ｆ　ＳＴＤに基づき、
シンセサイザ２２．２３では図示しないフェーズロック
ループ（ＰＬＬ）回路により位相制御を行い、夫々のシ
ンセサイザ２２．２３において作成される波形の位相が
ロックされる。

シンセサイザ２２は、入力に与えられた基準信号ｆ　Ｓ
ＴＤを用いて、試験波形ｆｓを作成し、被測定素子ＩＣ
Ｉに印加する。また、シンセサイザ２２から出力される
試験波形ｆｓは、被測定素子ＩＣ１に印加された状態で
計測波形ｆ　ＡＮＡとしてアナログ／デジタル（以下、
Ａ／Ｄという）変換器２４の入力に与えられる。シンセ
サイザ２３は、基準信号ｆＳＴＤに基づきクロック発生
器２５に供給するための正弦波ｆｃを作成するものであ
る。

クロック発生器２５は、入力に与えられる正弦波ｆｃに
基づき方形波であるサンプリングクロックｆ　ＣＬＫと
システムクロックｆＴを発生するものであり、外部から
与えられるスタート信号によってクロック発生動作を開
始し、アベレージヤ１５０から与えられるクロック停止
信号工によってクロック発生動作を停止する。サンプリ
ングクロックｆ　ＣＬＫはＡ／Ｄ変換器２４に与えられ
、システムクロックｆＴはアベレージヤ１５０に出力さ
れる。Ａ／Ｄ変換器２４は、位相差サンプリングによる
サンプリング・ホールド（以下、Ｓ／Ｈという）回路を
含み、サンプリングクロックｆ　ＣＬＫの周期毎に計測
波形ｆ　ＡＮＡをサンプル・ホールドしアナログ信号か
らデジタル信号に変換するものである。Ａ／Ｄ変換器２
４の出力からデジタルデータＴがアベレージヤ１５０内
のデータメモリのデータ入力に与えられる。アベレージ
ヤ１５０は、データメモリを含むものであり、クロック
ｆＴに同期してＡ／Ｄ変換器２４の出力から与えられる
データＴを所定の回数だけ加算しデータメモリに取り込
んだ後に、該データを所定の回数だけ除算して平均デー
タとして出力するものである。

このサンプリングシステムでは、次のような位相差サン
プリング方式を用いている。この位相差サンプリング方
式では、シンセサイザ２２から出力される計測波形ｆ　
ＡＮＡを、該計測波形ｆ　ＡＮＡの位相に追従した位相
特性のサンプリングクロックｆ　ＣＬＫによって、ｎ周
期毎に間引いてサンプリングする（第２図（ａ）、（ｂ
）参照）。この場合。

計測波形ｆ　ＡＮＡとサンプリングクロックｆ　ＣＬＫ
との周波数の関係は、 ｆＡＮＡ　＝ｎ　ｆＣＬＫ＋Δｆ　　　　　　　・（１
）（ｎは自然数） となるようにする。ｆ　ＡＮＡとｎｆＣＬＫとの間にビ
ート周波数Δｆをもたせることにより、　ｆＣＬＫによ
るサンプリングタイミング毎のｆ　ＡＮＡの位相が順次
ずれることになり、これによりｆ　ＡＮＡのサンプリン
グが行なわれる。第２図（ｃ）はこの位相差サンプリン
グ方式によってサンプルされた波形の一例を（ａ）、（
ｂ）よりも圧縮した時間スケールで示すものであり、こ
こで、この再生波形の周波数はΔｆ、サンプリングレー
トはｆ　ＣＬＫであるから、サンプルデータ点数Ｍは、 Ｍ＝ｆＣＬＫ／Δｆ［個］　　　　　　・・・（２）で
表わせる。また、Δｆは Δｆ　＝　ｆＣＬＫ　／Ｍ　［七］　“　　　　　　・
・・（３）という式で表わせる。

第２図（、）、（ｂ）において、計測波形ｆＡＮＡとサ
ンプリングクロックｆ　ＣＬＫとはｆＡＮＡ　＝　２　
ｆＣＬＫ＋Δｆ［土］なる関係が成り立っているとし、
１周期のサンプルデータ点数Ｍを１０００点とすると、
第４図（ｃ）の再生波形（計測波形サンプルデジタルデ
ータＴ）の周波数Δｆは（３）式より、Δ　ｆ＝ｆＣＬ
Ｋ　　／１０００　　［七コとなる。

アベレージヤ１５０について以下に説明する。

第３図に示すようにアベレージヤ１５０は、データメモ
リのアドレス発生装置１００を含むものである。アドレ
ス発生装置１００は、プリセットされたスタートアドレ
スからプリセットされたエンドアドレスまでのアドレス
歩進をプリセットされたアベレージ回数分繰り返し、そ
のアドレスデータＫをデータメモリ３４のアドレス入力
に与えるものである。該アドレス発生装置１００は、ア
ドレス発生器１０１とアベレージカウンタ部３３とから
成り、タイミング制御用のクロックパルスＤがタロツク
制御部３１から与えられている。アドレス発生器１０１
には、スタートアドレス及びエンドアドレスがプリセッ
トされるようになっており、クロックパルスＤの入力に
応じてスタートアドレスからエンドアドレスまでアドレ
ス歩進し、エンドアドレスに到達する毎にアベレージカ
ウンタ部３３に対してカウント歩進信号Ｈを出力する。

アベレージカウンタ部３３には、アベレージヤ数がプリ
セットされるようになっており、アベレージ回数プリセ
ット値Ｃを初期値として、カウント歩進信号Ｈに応じて
カウントダウンし、Ｏになるとクロック停止信号工をク
ロック発生器２５へ出力する。

データメモリ３４は、Ａ／Ｄ変換器２４からの計測波形
サンプルデジタルデータＴを加算的に取り込むためのも
のである。データメモリ３４のデータ入力Ｄｉｎには加
算器３５の出力が与えられており、データ出力Ｄ　ｏｕ
ｔから読み出される信号は加算器３５の一方の入力とシ
フトレジスタ３７のデータ入力に与えられている。加算
器３５は、ラッチ３２を介してＡ／Ｄ変換器２４から与
えられる成るサンプル点のデータとデータメモリ３４の
出力Ｄ　ｏｕｔから読み出された同じサンプル点の累積
データとを加算するものである。ラッチ３２は、Ａ／Ｄ
変換器２４の出力から与えられる計測波形サンプルデジ
タルデータＴをラッチし、その出力を加算器３５の他方
の入力に与えるものであり、タイミング制御用のクロッ
クパルスをクロック制御部３１から得ている。

クロック制御部３ｊ、は、クロック発生器２５からシス
テムクロックパルスｆＴを入力して、制御ロジック部３
６等に各種タイミング制御用のクロツクパルスを供給す
るものである。シフトレジスタ３７は、シフトロジック
制御部３６から与えられる制御信号によって、データメ
モリ３４の出力Ｄ　ｏｕｔから読み出される２４ビツト
のデータをロードし右シフト除算することによって１２
ビツトのアベレージデータを出力するものである。制御
ロジック部３６には、アベレージ回数Ｃがプリセットさ
れるようになっており、このアベレージ回数Ｃにより、
シフトレジスタ３７のシフト回数をエンコードし、その
回数分のシフトクロックパルスを該シフトレジスタ３７
に対して送出する。

次にアベレージヤ１５０の動作を具体例を挙げ゛て説明
する。第３図において、アドレス発生器１０１にスター
トアドレスのプリセット値Ａとして「０」、エンドアド
レスのプリセット値Ｂとしてｒ９９９Ｊ、アベレージカ
ウンタ部３３及び制御ロジック部３６にアベレージ回数
のプリセット値Ｃとして「３」　（なお、これは４回分
のアベレージを示す）を予め設定するものとする。先ず
、クロック発生器２５に対して外部からスタート信号が
与えられると、クロック発生器２５はクロック供給を開
始し、サンプルが実行される。サンプル開始と同時にア
ベレージヤ１５０では、前記スタートアドレスのプリセ
ット値Ａ＝＝　ｒＯＪがアドレス発生器１０１にロード
され、データメモリ３４のスタートアドレスはＯ番地に
設定される。

一方、Ａ／Ｄ変換器２４からの出力データＴは。

ラッチ３２により取り込まれ加算器３５の他方の入力に
与えられる。加算器３５の一方の入力には、初期化クリ
アされているデータメモリ３４の出力データが与えられ
、計測波形サンプルデジタルデータＴと加算される。加
算器３５の出力データは、データメモリ３４のデータ入
力Ｄｉｎに加えられ、プリセットされたスタートアドレ
スであるＯ番地に格納される。同様に、次の同期クロッ
クにてメモリアドレスＫがインクリメントされ、計測デ
ータＴはデータメモリ３４の１番地に格納される。

これらの動作は、メモリアドレスにの歩進値がエンドア
ドレスのプリセット値Ｂで示される９９９番地に達する
まで繰り返されるのである（第２図（ｄ）〜（ｇ）参照
）、メモリアドレスＫがプリセット値Ｂで示される９９
９番地まで歩進すると、該データメモリアドレスには初
期化されてスタートアドレスのプリセット値Ａ＝Ｏ番地
に戻り、同時にアベレージカウンタ歩進信号Ｈがアドレ
ス発生器１０１からアベレージカウンタ部３３に与えら
れる。該アベレージカウンタ歩進信号Ｈの入力により、
アベレージカウンタ部３３では、アベレージ回数プリセ
ット値Ｃ＝３から「１」デクリメントされて「２」にな
る。そして、再びデータメモリ３４の０番地から「リー
ド→加算リライト」の動作が繰り返され、前回書き込ん
だデータに加算的書き込みを行なうのである。このよう
に、計測データＴの取り込みと、データメモリ３４から
のデータ読み出しと、加算器３５による計測データＴと
データメモリ３４からの読み出しデータとの加算と、デ
ータメモリ３４に対する再度の加算データの書き込みは
、すなわち、リード・アフター・ライト動作は、アベレ
ージカウンタ部３３のカウント値が「０」になるまで繰
り返される。アベレージカウンタ部３３のカウント値が
ｒＯＪからボローすると、つまり、４回の累算が終了す
ると。

アベレージカウンタ部３３からクロック発生器２５に対
してクロック停止信号Ｉが出力され、前述した一連のＡ
／Ｄ変換などの動作は停止する（第２図（ｄ）〜（ｇ）
参照）。アベレージデータの、読出し時には、制御ロジ
ック部３６からの制御信号によって、データメモリ３４
からシフトレジスタ３７にデータがロードされる。シフ
トレジスタ３７では、データメモリ３４からのデータを
アベレージング回数「４」だけシフト除算して外部に出
力する。つまり、第２図に示すように、４周期分の計測
波形サンプルデータＴを同一位相サンプル点毎に加算し
て１周期分のデータとしてデータメモリ３４に取り込み
、読み出し時に該データを１／４に除算するのである。

換言するなら、４周期分の平均化された計測波形サンプ
ルデジタルデータが得られるのである。

次に、アベレージヤ１５０を構成する本発明に係るデー
タメモリのアドレス発生装置１００に関し、第４図に示
すブロック図を参照しながら説明する。アドレスカウン
タ１は、クロックパルスＤに同期して、予め設定される
任意のスタートアドレスのプリセット値からアドレス値
を歩進するものである。アドレスカウンタ１の出力アド
レスデータには、データメモリ３４のデータ入力とコン
パレータ２に与えられる。該アドレスカウンタ１には、
クロック制御部３１からタイミングクロックパルスＤが
カウント入力ＣＫに与えられており。

ロード制御入力には反転ノアゲート６の出力が与えられ
る。コンパレータ２は、予め設定されるエンドアドレス
のプリセット値とアドレスデータＫにより示されるアド
レス値とを比較し、該アドレス値が該プリセット値に達
したときにエンドアドレス検出信号Ｇを出力するもので
ある。コンパレータ２の出力からは、エンドアドレス検
出信号Ｇが、反転ノアゲート６及び反転ナントゲート７
の一方の入力に与えられている０反転ナントゲート７は
、前記エンドアドレス検出信号Ｇと他方の入力に与えら
れているタイミングクロックＤとからアベレージカウン
タ歩進信号Ｈを作成するためのものである。アベレージ
カウンタ３には、アベレージ回数プリセット値がプリセ
ットされ、コンパレータ２がエンドアドレスを検出する
度毎にアベレージ回数プリセット値をダウンカウントす
るものである。このアベレージカウンタ３は、カウント
値が「０」からボローすると、ボロー信号Ｊをフリップ
フロップ（以下Ｆ／Ｆという）５のＤ入力に出力する。

Ｆ／Ｆ５は、アベレージカウンタ３からのボロー信号Ｊ
によってクロック停止信号Ｉを発生せしめるものである
。Ｆ／Ｆ４は、リセット信号Ｅによってアドレスカウン
タ１のロード入力信号を初期化クリアするためのもので
あり、その出力信号Ｆを反転ノアゲート６の他方の入力
に与えるものである。反転ノアゲート６は、Ｆ／Ｆ４か
らの出力信号Ｆとコンパレータ２からのエンドアドレス
検出信号Ｇのいずれかによりアドレスカウンタ１のロー
ド信号を作成する。

次に、アドレス発生装置１００の各部の作用につき、第
４図及び第５図を参照しながら説明する。

前述したようにスタート及びエンドアドレスのプリセッ
ト値とアベレージ回数プリセット値とは、任意の値を予
め夫々設定しておくものとする。先ず、第５図（ｄ）〜
（ｇ）に示すように、リセット信号Ｅによって、Ｆ／Ｆ
４はロウレベル出力にリセットされ、Ｆ／Ｆ５はハイレ
ベル出力にセットされる。クロックＤの立上り時にＦ／
Ｆ４の出力Ｆはハイレベルとなるため、アドレスカウン
タ１のロード入力に与えられている反転ノアゲート６の
出力もハイレベルになりアドレスカウンタ１はイネーブ
ル状態となる。この時点からアドレスカウンタ１では、
クロックＤに同期してプリセットされたスタートアドレ
スからデータメモリアドレスＫを歩進させるのである（
第５図（ｂ）、（ｃ）、（ｇ）参照）。

コンパレータ２では、アドレスカウンタ１から供給され
るアドレスデータにとエンドアドレスのプリセット値Ｂ
とを比較し、アドレスデータにの歩進値がプリセット値
Ｂに達したときにエンドアドレス検出信号Ｇとしてロウ
レベルを出力する。

該信号Ｇは、反転ノアゲート６及び７の一方の入力に印
加される。この信号Ｇの入力により、反転ノアゲート６
の出力はロウレベルとなり、アドレスカウンタ１のロー
ド入力もロウレベルになってアドレスカウンタ１は初期
化される。これらの動作は、プリセットしたアベレージ
回数だけ繰り返されるのである（第５図（ｆ）〜（ｈ）
参照）。

一方１反転ナントゲート７では、クロックＤの立下りに
同期してコンパレータ２から出力されるエンドアドレス
検出信号Ｇの入力により、アベレージカウンタ歩進信号
Ｈとしてロウレベルを出力し、アベレージカウンタ３と
Ｆ／Ｆ５のクロック入力に与える。アベレージカウンタ
３では、該歩進信号Ｈをクロックとして、アベレージ回
数プリセット値Ｃをデクリメントするのである。プリセ
ット値Ｃ＝Ｏになるまで、前述の動作が繰り返される。

このプリセット値Ｃ＝０になると、アベレージカウンタ
３はＦ／Ｆ５のＤ入力に対しロウレベルのボロー信号Ｊ
を出力する。Ｆ　／　Ｐ　５では、ボロー信号Ｊの入力
により、クロック停止信号工を出力する（第５図（ｉ）
〜（１）参照）。

なお、アベレージカウンタ３における演算は。

アベレージ回数プリセット値からエンドアドレス検出信
号の供給回数を減算するようにしてもよく。

この実施例に限定されるものではない、また、第２図及
び第５図に示したタイムチャートは、本発明に係わるサ
ンプルデータ平均化装置の特性を限定するものではない
。

［発明の効果コ 以上のように、本発明によれば、位相差サンプリング方
式により被サンプリング波形をサンプリングし、被サン
プリング波形とサンプルクロックとの間の位相がロック
され波形の各サンプルポイントとクロックの発生タイミ
ングとがほぼ確定できるので、サンプリングされた波形
データのサンプル点アドレスを正確に特定することが可
能になる。従って、平均化演算制御にあたって加算すべ
きサンプル点データの位相を完全に一致させることがで
きるので、サンプルデータの高精度な平均化処理が期待
できる。また、平均化回数指定手段で任意の平均化回数
を指定すると共に、最終アドレス指定手段でサンプリン
グ波形１周期の最終アドレスを指定し、サンプル点アド
レスが最終アドレスに達する毎に平均化回数の歩進を行
うようにしたので、平均化回数指定手段で指定した任意
の平均化回数に対応する任意の周期数分の計測波形デー
タの平均化を確実に行うことができる、という優れた効
果を奏する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係わるサンプルデータ平均化装置を適
用したサンプリングシステムの一実施例の全体構成を略
示するブロック図、 第２図は同実施例における各種信号のタイミングチャー
ト、 第３図は同実施例におけるアベレージヤの一例を示すブ
ロック図、 第４図は同実施例におけるアドレス発生装置の一例を示
すブロック図、 第５図は第４図のアドレス発生装置における各種信号の
タイミングチャート、である。 １・・・アドレスカウンタ、２・・・デジタルコンパレ
ータ、３・・・アベレージカウンタ、４，５・・・フリ
ップフロップ、６・・・反転ノアゲート、７・・・反転
ナントゲート、１０・・・アドレス発生装置、２１・・
・基準信号発生部、２２．２３・・・シンセサイザ、２
４・・・アナログ／デジタル（Ａ／Ｄ）変換器、２５・
・・クロック発生器、３１・・・クロック制御部、３２
・・・ラッチ、３３・・・アドレスカウンタ部、３４・
・・データメモリ、３５・・・加算器、３６・・・制御
ロジック部、３７・・・シフトレジスタ、１０１・・・
アドレス発生器、１５０・・・アベレージヤ。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）サンプリングの対象である波形データを位相差サ
   ンプリング方式によりサンプリングするサンプリング手
   段と、 サンプリングした波形データを記憶するための記憶手段
   と、 サンプリングに同期してサンプル点アドレスを特定する
   サンプル点アドレス特定手段と、 サンプリングした波形データを平均化する回数を指定す
   る平均化回数指定手段と、 サンプリング波形１周期の最終アドレスを指定する最終
   アドレス指定手段と、 前記サンプル点アドレス特定手段により特定するサンプ
   ル点アドレスが前記最終アドレス指定手段で指定した最
   終アドレスに達したことを検出する最終アドレス検出手
   段と、 前記最終アドレス検出手段により最終アドレスに達した
   ことが検出される度に平均化回数を歩進する平均化回数
   歩進手段と、 この平均化回数歩進手段における平均化回数歩進値が前
   記平均化回数指定手段で指定した平均化回数に到達した
   ことを検出する平均化回数検出手段と、 前記サンプリング手段によってサンプリングされた波形
   データを前記サンプル点アドレス特定手段によって特定
   されたアドレスに対応して前記記憶手段に記憶させると
   共に、同じアドレス値に対応する波形データ同士を前記
   平均化回数検出手段で検出がなされるまで加算し、この
   加算結果と前記平均化回数指定手段で指定された平均化
   回数とに基づき各サンプル点にその平均値を求める平均
   化制御手段と を具えたサンプルデータ平均化装置。