JPH01155277A - 電子部品の特性自動選別方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 皮果上９五尻分立 本発明は、電子部品の自動選別方法、例えば、半導体装
置の電気的特性を自動的に検査し、良品・不良品に選別
する方法の改良に関するものである。

従来の技術 現在、半導体装置の電気的特性は、自動選別機でチエツ
クするのが一般的な方法になっている。

■が解゛　しようとする間　や しかし、特性チエツク用のプログラムは、人が作成し、
そのエラーチエツクも人が行っていることが多い。

そのため、プログラム作成ミス、人のチエツク抜けが重
なり、間違ったプログラムで選別を行い、ユーザクレー
ムになることもある。ソフトエラーの検出は、大変重要
であるが、現状では、それに対応したシステムはないと
云う問題点□があった。

占を　゛す□るための 本発明は、従来の上記問題点に鑑み提案されたもので、
対象電子部品の特性検査を自動選別機□で自動的に行わ
せるための検査項目及び特性数値等について作成された
プログラムを、使用する前に、出荷検査項目及び規格に
よるデータ或いは、当該対象電子部品の統計分布上の良
品データ等の既存のデータの入力に基づいて疑似的に実
行させ、上記プログラムが正常に作動するか否かを判定
し、正常に作動した場合、上記プログラムに基づいて、
自動選別機で実際の選別を実行するようにしたものであ
る。

作置 本発明は、使用するプログラムを、予め、疑似的に実行
させて、当該プログラムのエラーチエツクを行わせ、正
常であることを確認した上で、自動選別機により、実際
に選別を実行させることにより、大きな間違いやユーザ
クレームを防止することができる。

叉隻透 第１図は、本発明の第１実施例を示すもので、人が作成
したプログラムに基づいて作成されたプログラムテープ
を、適当なインターフェースを介してパーソナルコンピ
ュータに入れて疑似的に実行させ、既存のデータと比較
させて、ＯＫ即ち、正常であれば、当該プログラムテー
プを自動選別機に登録して、実際の選別を実行させる。

第２図は、本発明の第２実施例を示すもので、上記と同
様に、人が作成したプログラムテープを、自動選別機内
で、疑似的に実行させ、既存のデータと比較させて、Ｏ
Ｋ即ち、正常であれば、実際の選別を実行させるもので
、この場合、自動選別機には、製品の特性検査について
の疑似的実行回路を具備させておくものである。

第３図は、本発明の第３実施例を示すもので、上記と同
様に、人が作成したプログラムテープまたはディスク等
を、ホストコンピュータに入れて、当該プログラムを疑
領的に実行させ、既存のデータと比較させて、ＯＫ即ち
、正常であれば、当該プログラムを、ホストコンピュー
タから該当する自動選別機に送って、当該自動選別機で
、実際の選別を実行させるもので、この場合は、複数の
自動選別機〔同品種のみならず、異品種の選別も含む〕
をホストコンビエータで集中管理する方式の場合に適用
される。

上記プログラムは、対象電子部品の特性検査を自動選別
機で自動的に行わせるために必要な検査項目〔例：品種
型名、品名、耐圧、ｈｒｔ、等〕及び特性数値等につい
て、人為的に作成され、所定項目毎にそれずれ、担当者
がチエツクを済ませたものを対象とするものである。

上記プログラムの作成に当たっては、キーボードによる
入力を廃止し、マウス、タッチパネル、音声、ライトペ
ン等で入力するようにし、プログラム作成と同時に、バ
ーコードを発行して、ロフト”管理票に添付し、検査等
での確認に利用する。

また、既存のデータとしては、出荷検査項目及び規格或
いは、対象電子部品の統計分布〔例：過去３ケ月〕の上
下限平均値による設計中心等の良品データを使用する。

上記出荷検査項目及び規格は、出荷電子部品の特性等を
保証するためのもので、その項目数及び規格は、自動選
別機による検査項目及び特性値よりも若干少なく、低い
値とされているのが通常であって、少な（とも、この出
荷検査項目及び規格を満たせば、ユーザクレームを防止
できるので、これを既存のデータとして使用するのも１
つの方法となる。

また、対象電子部品の統計分布上のデータは、実際の電
子部品に見合ったデータとして十分信韻できる。

従って、これらの既存のデータと、前記プログラムとを
比較させ、当該プログラムの検査項目及び特性数値等が
、既存のデータを満足しておれば、当該プログラムには
、作成ミスがないと判断させて、自動選別機で実際に選
別を実行させるのである。これによって、大きな間違い
やユーザクレームを防止できる。

上記比較結果において、当該プログラムが不良であれば
、不使用として、プログラムシートの再点検をなし、作
成ミスの検討を行うことになる。

また、自動選別機による選別中に、自動サンプリングし
、各選別（検査）項目の測定値を統計処理し、例えば、
過去３ケ月の設計中心値と比較することによって、選別
中の異常をチエツクさせることも可能である。

また、作業前に、品種型名、品名を入力することによっ
て、ｈ□標準発生率がデイスプレィ等に表示されるよう
になし、選別完了と同時に、ｈｒ（標準発生率との比較
を行い、大きく異なる場合に警報を出させるようにする
ことも可能である。そして、ｈＦＥ標準発生率等は、例
えば、磁気メモリーカード等で、機種、品種を考慮して
発行配布するようにしてもよい。

名ｊ且勉星 本発明によれば、プログラムの作成ミス等による間違い
を、比較的筒車に、かつ、高い信頼度で発見させること
が可能となり、自動選別機による大きな間違いを未然に
防止して、ユーザクレームの発生を防止することができ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図〜第３図は、本発明方法の夫々異なる実施例を示
すフローチャート図である。 １　・＼１

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）対象電子部品の特性検査を自動選別機で自動的に
   行わせるための検査項目及び特性数値等について作成さ
   れたプログラムを、使用する前に、出荷検査項目及び規
   格によるデータ或いは、当該対象電子部品の統計分布上
   の良品データ等の既存のデータの入力に基づいて疑似的
   に実行させ、上記プログラムが正常に作動するか否かを
   判定し、正常に作動した場合、上記プログラムに基づい
   て、自動選別機で実際の選別を実行することを特徴とす
   る電子部品の特性自動選別方法。