JPH01152260A - 室温超伝導体 - Google Patents
室温超伝導体Info
- Publication number
- JPH01152260A JPH01152260A JP63189524A JP18952488A JPH01152260A JP H01152260 A JPH01152260 A JP H01152260A JP 63189524 A JP63189524 A JP 63189524A JP 18952488 A JP18952488 A JP 18952488A JP H01152260 A JPH01152260 A JP H01152260A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- room temperature
- temperature superconductor
- chromium
- thin film
- film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000002887 superconductor Substances 0.000 title claims abstract description 53
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims abstract description 68
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 58
- 239000010408 film Substances 0.000 claims abstract description 51
- 239000011253 protective coating Substances 0.000 claims abstract description 24
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 23
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N palladium Substances [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 13
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 11
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 11
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 claims abstract description 11
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 claims abstract description 11
- 229910000510 noble metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 5
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims abstract description 5
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims abstract description 5
- 239000012811 non-conductive material Substances 0.000 claims abstract 2
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 59
- 239000011651 chromium Substances 0.000 claims description 57
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 28
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 12
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 12
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims description 6
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 claims description 4
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 claims description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 4
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 claims 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 claims 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 claims 1
- 239000010445 mica Substances 0.000 abstract description 15
- 229910052618 mica group Inorganic materials 0.000 abstract description 15
- FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M Sodium chloride Chemical compound [Na+].[Cl-] FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M 0.000 abstract description 14
- 229910000599 Cr alloy Inorganic materials 0.000 abstract description 9
- 239000011780 sodium chloride Substances 0.000 abstract description 7
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 abstract description 6
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 abstract description 4
- 238000011109 contamination Methods 0.000 abstract description 3
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 abstract description 3
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 abstract description 3
- 229910052723 transition metal Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 150000003624 transition metals Chemical class 0.000 abstract 1
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 description 20
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 11
- 230000005292 diamagnetic effect Effects 0.000 description 10
- 239000000788 chromium alloy Substances 0.000 description 8
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 6
- 230000005294 ferromagnetic effect Effects 0.000 description 5
- 230000005298 paramagnetic effect Effects 0.000 description 5
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 4
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 4
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 3
- UPHIPHFJVNKLMR-UHFFFAOYSA-N chromium iron Chemical compound [Cr].[Fe] UPHIPHFJVNKLMR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 3
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910000640 Fe alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000005290 antiferromagnetic effect Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000010970 precious metal Substances 0.000 description 2
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 2
- QPLDLSVMHZLSFG-UHFFFAOYSA-N Copper oxide Chemical class [Cu]=O QPLDLSVMHZLSFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001252 Pd alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004002 angle-resolved photoelectron spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 230000005303 antiferromagnetism Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000427 thin-film deposition Methods 0.000 description 1
- 230000002747 voluntary effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N60/00—Superconducting devices
- H10N60/99—Alleged superconductivity
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S505/00—Superconductor technology: apparatus, material, process
- Y10S505/80—Material per se process of making same
- Y10S505/801—Composition
- Y10S505/803—Magnetic
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S505/00—Superconductor technology: apparatus, material, process
- Y10S505/80—Material per se process of making same
- Y10S505/801—Composition
- Y10S505/805—Alloy or metallic
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S505/00—Superconductor technology: apparatus, material, process
- Y10S505/825—Apparatus per se, device per se, or process of making or operating same
- Y10S505/856—Electrical transmission or interconnection system
- Y10S505/857—Nonlinear solid-state device system or circuit
- Y10S505/86—Gating, i.e. switching circuit
- Y10S505/862—Gating, i.e. switching circuit with thin film device
Landscapes
- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Containers, Films, And Cooling For Superconductive Devices (AREA)
- Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
- Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は超伝導体、特に室温において超伝導を示す室温
超伝導体に関する。
超伝導体に関する。
一般に電流が固体中を流れ、熱効果が発生すると、電流
の流れを維持するには、系に付加的なエネルギーを供給
する必要がある。ある長さの距離におよんで電気的エネ
ルギーを伝達するには、かなりの量の付加的エネルギー
が必要となる。
の流れを維持するには、系に付加的なエネルギーを供給
する必要がある。ある長さの距離におよんで電気的エネ
ルギーを伝達するには、かなりの量の付加的エネルギー
が必要となる。
この場合電流の流れを維持するに、常時付加的なエネル
ギーを必要としない唯一の材料は、超伝導体として知ら
れる伝導体の種類である。、超伝導性は、複数の電子ま
たは電子対の無摩擦流れのみならず、材料にかかわる磁
気的効果をも誘起させる。総べての超伝導体は極めて高
い負の感受率を有し、さらに磁気誘導電流が、外側磁界
が材料内部にまで浸透する事を阻止する材料表面に形成
される。
ギーを必要としない唯一の材料は、超伝導体として知ら
れる伝導体の種類である。、超伝導性は、複数の電子ま
たは電子対の無摩擦流れのみならず、材料にかかわる磁
気的効果をも誘起させる。総べての超伝導体は極めて高
い負の感受率を有し、さらに磁気誘導電流が、外側磁界
が材料内部にまで浸透する事を阻止する材料表面に形成
される。
超伝導体は、数多くの応用に使用される。良く知られた
応用例に、超伝導磁石と磁気遮蔽がある。
応用例に、超伝導磁石と磁気遮蔽がある。
また超伝導体は、ジョセフソン接合のような特殊の電気
的デイバイスにも使用される。このジョセフソン接合に
おいては、超伝導性材料と非超伝導性材料の双方が結合
されて、多数のコンピュータさらに、本発明の目的は、
非超伝導性材料を超伝導体に変換する特殊な構成の装置
を提供することにある。
的デイバイスにも使用される。このジョセフソン接合に
おいては、超伝導性材料と非超伝導性材料の双方が結合
されて、多数のコンピュータさらに、本発明の目的は、
非超伝導性材料を超伝導体に変換する特殊な構成の装置
を提供することにある。
本発明の上記および他の目的は、素地、素地の上にマウ
ントされた負の感受率を有する金属の薄膜そして、薄膜
を酸化あるいは他の汚れから防止するための保護被膜か
ら成る、室温あるいは室温近くで利用可能な超伝導性デ
イバイスにより得られる0発明の一つの形に、負の感受
率の複数のクロムあるいはクロム合金の層と一つの保護
被膜を互い違いに素地の上にサンドイッチ状に重ねあわ
せ、電流伝達容量を増加させるのがある。
ントされた負の感受率を有する金属の薄膜そして、薄膜
を酸化あるいは他の汚れから防止するための保護被膜か
ら成る、室温あるいは室温近くで利用可能な超伝導性デ
イバイスにより得られる0発明の一つの形に、負の感受
率の複数のクロムあるいはクロム合金の層と一つの保護
被膜を互い違いに素地の上にサンドイッチ状に重ねあわ
せ、電流伝達容量を増加させるのがある。
例えば塩化ナトリウム被覆を施したマイカシートの素地
に、2.5〜280人の厚みにクロム薄膜、クロム鉄薄
膜、銀/クロム鉄合金、パラジウム/クロム合金などの
薄膜を蒸着形成し、遷移元素或は貴金属の保護被覆膜を
設けた超伝導体を作成する。この超伝導体は室温で感受
率が−10−5−関係の応用分野に使用されるさいに結
合される。
に、2.5〜280人の厚みにクロム薄膜、クロム鉄薄
膜、銀/クロム鉄合金、パラジウム/クロム合金などの
薄膜を蒸着形成し、遷移元素或は貴金属の保護被覆膜を
設けた超伝導体を作成する。この超伝導体は室温で感受
率が−10−5−関係の応用分野に使用されるさいに結
合される。
従来までは、超伝導体としての機能を有する既知の材料
は、絶対零度近くの比較的低温においてのみ、利用でき
た。最近、銅酸化物と黄土類元素を含む超伝導性材料は
液体窒素温度での使用が可能なように開発された。これ
らのより高温での伝導体は、確かに飛躍的な一歩を進め
たとは言え、これらのいずれもが、室温あるいは室温近
くでの機能を可能にしたものではない、結果として、こ
れら材料を常時低温で使用できるようなデイバイスを得
るために、特別な装置を必要とする。
は、絶対零度近くの比較的低温においてのみ、利用でき
た。最近、銅酸化物と黄土類元素を含む超伝導性材料は
液体窒素温度での使用が可能なように開発された。これ
らのより高温での伝導体は、確かに飛躍的な一歩を進め
たとは言え、これらのいずれもが、室温あるいは室温近
くでの機能を可能にしたものではない、結果として、こ
れら材料を常時低温で使用できるようなデイバイスを得
るために、特別な装置を必要とする。
本発明は、前述したような超伝導体の現状に鑑みてなさ
れたものであり、その目的は基本的には超伝導体の改良
にある。また、本発明の他の目的は室温あるいは室温近
くでの利用が可能である超伝導性デイバイスを提供する
ものである。
れたものであり、その目的は基本的には超伝導体の改良
にある。また、本発明の他の目的は室温あるいは室温近
くでの利用が可能である超伝導性デイバイスを提供する
ものである。
さらに他の本発明の目的は、クロミウム(以下、クロム
とする)またはクロム合金から成る超伝導性デイバイス
を提供することにある。
とする)またはクロム合金から成る超伝導性デイバイス
を提供することにある。
〜1/4πと大きな負値を示し、反磁性が強くなり室温
超伝導体が得られる。
超伝導体が得られる。
薄膜が酸化されると超伝導性が劣化するので、保護被覆
膜は必須である。
膜は必須である。
〔実 施 例〕
以下、本発明の実施例を図面を用いて詳細に説明する。
バルク状のクロムは、ニール温度(311K)以下で反
強磁性を示す5これ以上では常磁性である。第1図は抵
抗と温度との関係であるが、曲線8はバルク状のクロム
の場合である0図示のごとく、バルク状のクロムの抵抗
は、ニール温度を中心にして明確なへこみ、つまり°“
抵抗値最小゛の凹部9を示す、全てのクロム基合金は同
様な抵抗値最小の特性を示すが、合金材の性質により、
ニール温度は純クロムのニール温度からずれる。
強磁性を示す5これ以上では常磁性である。第1図は抵
抗と温度との関係であるが、曲線8はバルク状のクロム
の場合である0図示のごとく、バルク状のクロムの抵抗
は、ニール温度を中心にして明確なへこみ、つまり°“
抵抗値最小゛の凹部9を示す、全てのクロム基合金は同
様な抵抗値最小の特性を示すが、合金材の性質により、
ニール温度は純クロムのニール温度からずれる。
最近の研究では、クロムが大きい磁性モーメントを伴う
強磁性表面を持つことが示唆された。
強磁性表面を持つことが示唆された。
(エル・イー・クレバノフ、ニス・グブリュー・ロビー
、ジー・リュー及びデー・エイ ジャーレイ、Z工乏左
匹・k旦王ニー巻30 (2>、頁1048−1051
(1984年))角分解光電子スペクトロ スコピー
を用いた上記の著者等による表面研究が、この理論を認
めている。
、ジー・リュー及びデー・エイ ジャーレイ、Z工乏左
匹・k旦王ニー巻30 (2>、頁1048−1051
(1984年))角分解光電子スペクトロ スコピー
を用いた上記の著者等による表面研究が、この理論を認
めている。
後に、鉄薄膜上にデポジットしたクロム薄膜が、これら
二つの膜の界面における磁性モーメントを減少させる事
が判明した。実験は、塩化ナトリューム(NaC1)で
被覆されたガラス板に薄膜が真空蒸着されるような高真
空トルク磁力計の中で実施された。(ケイ・シュレーダ
ーとニス・バルア、 び 〜Δ牡、巻54−
7、頁807−808、<1986年)〉これら板は磁
気計の磁界領域でタングステンの#1線上に宙すりにし
、薄膜をコートした板とコートしてない板の両方の振動
周期を測定する。これら二つの板の振動周期を測定する
事により、界面における磁気双極子モーメントが、高い
精度で決定できる。表面原子あたり0,05ボアー・マ
グネトロンに相当するモーメントの変化が、室温で決定
される。これらの実験から、クロム薄膜表面が鉄表面に
おけるモーメントに対して反平行線上にある力を有する
磁気線によって磁気的にバランスされている事が示唆さ
れた。これらの事実は、ジーとフリーマンによる計算と
良い一致をみている。(シー・エルジーとエイ・ジェイ
・フリーマン、砿^及v屡1■杓臘l、巻54−57、
頁777−778、<1986年)) 上記の高真空トルク磁力計は、クロム薄膜が強磁性モー
メントを示す1から40ナノ・メーターの厚さを持つク
ロム薄膜に関係する双極子モーメントを測定するのに用
いられた。これら薄膜は強磁性でない素地の上に真空蒸
着される。これらクロムの薄膜内の強磁作表面相の形成
は、実験装置で容易に検出出来るが、薄膜の双極子モー
メントのいかなる増加も検知されない、トルク磁力計は
、系の感度を上げるために、0.01ミリ径のタングス
テン細線からはなれ、上述のガラス板に代えて宙につる
された代表的な厚さとして0.01ミリの薄いマイカ板
を用いている。この改良された系による測定では、マイ
カ板上への、クロム薄膜の蒸着膜もしくは、塩化ナトリ
ューム被覆のマイカ仮に対する場合では、板の振動周期
τのわずかであるが測定可能な増加を生じる事が示され
た。
二つの膜の界面における磁性モーメントを減少させる事
が判明した。実験は、塩化ナトリューム(NaC1)で
被覆されたガラス板に薄膜が真空蒸着されるような高真
空トルク磁力計の中で実施された。(ケイ・シュレーダ
ーとニス・バルア、 び 〜Δ牡、巻54−
7、頁807−808、<1986年)〉これら板は磁
気計の磁界領域でタングステンの#1線上に宙すりにし
、薄膜をコートした板とコートしてない板の両方の振動
周期を測定する。これら二つの板の振動周期を測定する
事により、界面における磁気双極子モーメントが、高い
精度で決定できる。表面原子あたり0,05ボアー・マ
グネトロンに相当するモーメントの変化が、室温で決定
される。これらの実験から、クロム薄膜表面が鉄表面に
おけるモーメントに対して反平行線上にある力を有する
磁気線によって磁気的にバランスされている事が示唆さ
れた。これらの事実は、ジーとフリーマンによる計算と
良い一致をみている。(シー・エルジーとエイ・ジェイ
・フリーマン、砿^及v屡1■杓臘l、巻54−57、
頁777−778、<1986年)) 上記の高真空トルク磁力計は、クロム薄膜が強磁性モー
メントを示す1から40ナノ・メーターの厚さを持つク
ロム薄膜に関係する双極子モーメントを測定するのに用
いられた。これら薄膜は強磁性でない素地の上に真空蒸
着される。これらクロムの薄膜内の強磁作表面相の形成
は、実験装置で容易に検出出来るが、薄膜の双極子モー
メントのいかなる増加も検知されない、トルク磁力計は
、系の感度を上げるために、0.01ミリ径のタングス
テン細線からはなれ、上述のガラス板に代えて宙につる
された代表的な厚さとして0.01ミリの薄いマイカ板
を用いている。この改良された系による測定では、マイ
カ板上への、クロム薄膜の蒸着膜もしくは、塩化ナトリ
ューム被覆のマイカ仮に対する場合では、板の振動周期
τのわずかであるが測定可能な増加を生じる事が示され
た。
振動周期のこの増加は、系の磁気モーメントの減少に対
応し、クロム薄膜が反磁性の強い事を明瞭に示す。
応し、クロム薄膜が反磁性の強い事を明瞭に示す。
クロムの薄膜つまり4X10”オングストローム以下の
厚さの膜が室温において、反磁性であるという示唆は、
予想もしえず、また当然受けいれられるものではなかっ
た。他の研究者の実験によると、クロムの超伝導性は1
.5に以上で消滅した。(ピー・エム・シュミット、ビ
ー・エヌ・カステラ口、エイチ・バルゾ、エイ・ニス・
クーパー及びニス・ジー・スペンサー、1Zグエ且二l
土乙シフ1.44、頁1833−1836(1973年
))厚さにして104オングストローム以上のバルク状
クロムは、バルク状態の材料温度に依存するが、反強磁
性か常磁性のいずれかである。(第1図参照)、常磁性
あるいは反磁性の代表的な薄膜の磁気双極子モーメント
は非常に小さい、従って、双極子モーメントが0.01
mm程度の厚さを持つ被覆されたマイカ薄膜板の振動周
期に測定可能な程のなんらかの変化を生ずる事がありえ
ない、当然ながら振動周期の上に僅かな減少が反強磁性
薄膜に生ずる事になる。薄膜蒸着による系の質量増加に
より得られる系の振動周期のいかなる変化も、上記の系
では検出不可能であった。クロム薄膜により生ずる振動
周期の測定可能な増加の検出は、FIX膜内での非常に
大きい反磁性双極子モーメントと関係するのみである。
厚さの膜が室温において、反磁性であるという示唆は、
予想もしえず、また当然受けいれられるものではなかっ
た。他の研究者の実験によると、クロムの超伝導性は1
.5に以上で消滅した。(ピー・エム・シュミット、ビ
ー・エヌ・カステラ口、エイチ・バルゾ、エイ・ニス・
クーパー及びニス・ジー・スペンサー、1Zグエ且二l
土乙シフ1.44、頁1833−1836(1973年
))厚さにして104オングストローム以上のバルク状
クロムは、バルク状態の材料温度に依存するが、反強磁
性か常磁性のいずれかである。(第1図参照)、常磁性
あるいは反磁性の代表的な薄膜の磁気双極子モーメント
は非常に小さい、従って、双極子モーメントが0.01
mm程度の厚さを持つ被覆されたマイカ薄膜板の振動周
期に測定可能な程のなんらかの変化を生ずる事がありえ
ない、当然ながら振動周期の上に僅かな減少が反強磁性
薄膜に生ずる事になる。薄膜蒸着による系の質量増加に
より得られる系の振動周期のいかなる変化も、上記の系
では検出不可能であった。クロム薄膜により生ずる振動
周期の測定可能な増加の検出は、FIX膜内での非常に
大きい反磁性双極子モーメントと関係するのみである。
第2図の真空チャンバーは、室温あるいは室温近くのニ
ール温度において、抵抗最低を示すクロムおよびクロム
合金の複数の薄膜試片を製造及び試験するなめに構成さ
れた。装置は、遮蔽された真空チャンバー44を供給す
るためにベース42とステンレス鋼ハウジング43を具
備した周知の構造をもつ蒸着チャンバー41を含む、装
置は、チャンバー内の高真空を形成、維持しえるポンプ
系45に接続される。マイカ薄膜のごとき素地40は、
約0.01nm径で、約5cm長さのタングステン細線
50によりチャンバー内に宙ずりされている。
ール温度において、抵抗最低を示すクロムおよびクロム
合金の複数の薄膜試片を製造及び試験するなめに構成さ
れた。装置は、遮蔽された真空チャンバー44を供給す
るためにベース42とステンレス鋼ハウジング43を具
備した周知の構造をもつ蒸着チャンバー41を含む、装
置は、チャンバー内の高真空を形成、維持しえるポンプ
系45に接続される。マイカ薄膜のごとき素地40は、
約0.01nm径で、約5cm長さのタングステン細線
50によりチャンバー内に宙ずりされている。
一般的表示として示した電磁石52は、チャンバーの外
側にとりつけられた。模式図で示した磁石は、チャンバ
ーを通る磁界(H)の強度を可変するための制御ユニッ
ト51に接続される、互いに離れた一組の極53と54
を含む、素地はチャンバー内で得られた磁界に露出され
る。電磁石とつるされた素地は、被覆及び非被覆素地の
振動周期を測定するために用いられるトルク磁力計の一
部を構成する。レーザー56はチャンバー壁内に設けた
窓55の近くに位置され、素地表面上に入射光が当るよ
うに配置される0反射光は、素地の振動周期を正確に検
出及び測定しえるように、窓を通過してスケール57に
反射される。
側にとりつけられた。模式図で示した磁石は、チャンバ
ーを通る磁界(H)の強度を可変するための制御ユニッ
ト51に接続される、互いに離れた一組の極53と54
を含む、素地はチャンバー内で得られた磁界に露出され
る。電磁石とつるされた素地は、被覆及び非被覆素地の
振動周期を測定するために用いられるトルク磁力計の一
部を構成する。レーザー56はチャンバー壁内に設けた
窓55の近くに位置され、素地表面上に入射光が当るよ
うに配置される0反射光は、素地の振動周期を正確に検
出及び測定しえるように、窓を通過してスケール57に
反射される。
第一のタングステンの加熱コイル60は、真空チャンバ
ーの基盤の上に取りつけられ、外部電源63に導線61
と62により接続される。第二の加熱コイル70は、同
様にチャンバーの中に取りつけられ、第二の外部電源7
3に導線71と72により接続される。加熱コイルは保
護板78により互いに遮蔽される。現実には、重量既知
のクロムあるいはクロム合金は、第一加熱コイルに設置
され、蒸着される。蒸着されたクロム基材料は、シート
上に薄膜を形成するように素地上に均質に付着される。
ーの基盤の上に取りつけられ、外部電源63に導線61
と62により接続される。第二の加熱コイル70は、同
様にチャンバーの中に取りつけられ、第二の外部電源7
3に導線71と72により接続される。加熱コイルは保
護板78により互いに遮蔽される。現実には、重量既知
のクロムあるいはクロム合金は、第一加熱コイルに設置
され、蒸着される。蒸着されたクロム基材料は、シート
上に薄膜を形成するように素地上に均質に付着される。
保護被覆材料より成る第二の試片75は、第二の加熱コ
イル中に置かれ、素地上の薄膜上に均質に蒸着される。
イル中に置かれ、素地上の薄膜上に均質に蒸着される。
高真空環境から取り除く際に、膜を酸化あるいは他の汚
れから保護するために、被覆用材料は遷移元素あるいは
貴金属から選ばれる事が好ましい、以下で述べるように
、クロム薄膜は、負の感受率を持ち室温で超伝導体とし
て働くような材料である。もしも膜が酸化されたり、汚
れると、超伝導性は劣化する。
れから保護するために、被覆用材料は遷移元素あるいは
貴金属から選ばれる事が好ましい、以下で述べるように
、クロム薄膜は、負の感受率を持ち室温で超伝導体とし
て働くような材料である。もしも膜が酸化されたり、汚
れると、超伝導性は劣化する。
第2図に示した製造及び試験装置は、先ず塩化ナトリュ
ーム被覆のある場合とない場合とない場合のマイカ薄膜
シートの双極子モーメントを測定するために用いた。マ
イカ・シートとタングステン線ホールダーは、シート表
面が付加磁界に通常平行である平衡位置から数置だけず
れている事がわかった。シートとホールダー系の双極子
モーメント(μ)は、 μ −〔V X )H・・・(1)s u
s u s u
ここで、■ はシートとホールグーの合計体積、 u Hは磁界強度、そしてX はX 〉0の場合su
su のシートとホールグーの平均感受率である。磁界により
形成されるシートの振動周期(τ)は、このように簡単
に測定される。シートに作用するトルク(T1)は T1=IωI′α ・・・(2) ここで、■は被覆されてないシート系の慣性モーメント
、ω、は被覆されてないシートの角速度、そして、αは
スピン軸の角変位である。
ーム被覆のある場合とない場合とない場合のマイカ薄膜
シートの双極子モーメントを測定するために用いた。マ
イカ・シートとタングステン線ホールダーは、シート表
面が付加磁界に通常平行である平衡位置から数置だけず
れている事がわかった。シートとホールダー系の双極子
モーメント(μ)は、 μ −〔V X )H・・・(1)s u
s u s u
ここで、■ はシートとホールグーの合計体積、 u Hは磁界強度、そしてX はX 〉0の場合su
su のシートとホールグーの平均感受率である。磁界により
形成されるシートの振動周期(τ)は、このように簡単
に測定される。シートに作用するトルク(T1)は T1=IωI′α ・・・(2) ここで、■は被覆されてないシート系の慣性モーメント
、ω、は被覆されてないシートの角速度、そして、αは
スピン軸の角変位である。
被覆されていない系の慣性モーメントは、被覆されてい
る系のそれから0.1%以下でしか違わない、この差は
無視でき、■に対する一つの値は被覆そして非被覆マイ
カ・シートの両方に仮定できる。
る系のそれから0.1%以下でしか違わない、この差は
無視でき、■に対する一つの値は被覆そして非被覆マイ
カ・シートの両方に仮定できる。
100振動周期にかかる時間を正確に測定し、系の角速
度を次式で求める。
度を次式で求める。
ω=2π/τ ・・・(3)
この場合に得られるクロム薄膜の感受率測定結果を実測
例1として表1に示す、m伝導体の感受率は、代表的に
−10−5と一1/4πの範囲のどこかに位置する。試
験されたクロム薄膜で認められた大きい負の値は、明確
にこれらの薄膜がこの範囲内にあり、従って超伝導体で
ある事を示唆するものである。
例1として表1に示す、m伝導体の感受率は、代表的に
−10−5と一1/4πの範囲のどこかに位置する。試
験されたクロム薄膜で認められた大きい負の値は、明確
にこれらの薄膜がこの範囲内にあり、従って超伝導体で
ある事を示唆するものである。
上述の実測例Iに参照した試験装置を用いて、実測例■
として2.8から280オングストロームの範囲の膜厚
をもつクロム薄膜を伴った数多くのサンプルについて試
験を繰り返した。ここでも再びクロム薄膜がこれらの範
囲内で強く反磁性を維持している事がしめされた。唯一
の場合だけ、8オングストローム厚の薄膜サンプルが酸
化されたため、すみやかに強磁性状態に変化し、この薄
膜の保護を必要とする事が示唆された。サンプル■は、
クロム98%と鉄2%から成るクロム−鉄合金を用いて
被覆されている。この合金FJMの膜厚は、約90オン
グストロームであった。この合金化サンプルは、事なる
磁界にさらされた。いずれの場合も測定された感受率は
、合金がクロム基材料の負の感受率に影響しない事が示
された。この第二の試験結果は、実測例2として表■に
示すようになる。
として2.8から280オングストロームの範囲の膜厚
をもつクロム薄膜を伴った数多くのサンプルについて試
験を繰り返した。ここでも再びクロム薄膜がこれらの範
囲内で強く反磁性を維持している事がしめされた。唯一
の場合だけ、8オングストローム厚の薄膜サンプルが酸
化されたため、すみやかに強磁性状態に変化し、この薄
膜の保護を必要とする事が示唆された。サンプル■は、
クロム98%と鉄2%から成るクロム−鉄合金を用いて
被覆されている。この合金FJMの膜厚は、約90オン
グストロームであった。この合金化サンプルは、事なる
磁界にさらされた。いずれの場合も測定された感受率は
、合金がクロム基材料の負の感受率に影響しない事が示
された。この第二の試験結果は、実測例2として表■に
示すようになる。
第三の試験の組は、上述と同し試験装置を用い、マイカ
シート上のクロムあるいはクロム合金薄膜のいずれか
を持つサンプルにおよほす保護被覆の効果を示すために
実施された。パラジュームと銀の両方の保護被覆は、強
い負の感受率を示すクロム基FIjHの上にほどこされ
た。これら元素の保護被覆は薄膜を酸化から防止し、く
わえて薄膜の感受率と減少させるので、結果としてサン
プルの超伝導性を増加させる事が判明した。この結果を
実測例■として表■に示す。
シート上のクロムあるいはクロム合金薄膜のいずれか
を持つサンプルにおよほす保護被覆の効果を示すために
実施された。パラジュームと銀の両方の保護被覆は、強
い負の感受率を示すクロム基FIjHの上にほどこされ
た。これら元素の保護被覆は薄膜を酸化から防止し、く
わえて薄膜の感受率と減少させるので、結果としてサン
プルの超伝導性を増加させる事が判明した。この結果を
実測例■として表■に示す。
タングステン細線50(第2図)に作用する磁界により
形成されるトルクと、実験装置内の常磁性マイカ・シー
トは、磁界線に平行な平坦なシート表面上に並ぶ傾向が
ある事がわかった。一方、保護被覆の有無にかかわらず
マイカ・シート上に蒸着された反磁性クロム薄膜は、磁
界線に対して直角な平坦シート表面上に並ぶ傾向がある
。薄膜の反磁性モーメントは一般に、振動周期を増加さ
せるに十分なほど強い、理由は、薄膜の体積(■cr’
がタングステン細線とマイカ・シートの合計された体積
(V )より一桁小さいからであ u る、しかしながら、すくなくとも一つの試験サンプルに
おいて、FIItEの反磁性モーメントが非常に大きい
ので、被覆されたシートは磁界線に平行に並ばず、シー
トが磁界線からそれた。この被覆シートは上記表■の試
験サンプルVの場合である。
形成されるトルクと、実験装置内の常磁性マイカ・シー
トは、磁界線に平行な平坦なシート表面上に並ぶ傾向が
ある事がわかった。一方、保護被覆の有無にかかわらず
マイカ・シート上に蒸着された反磁性クロム薄膜は、磁
界線に対して直角な平坦シート表面上に並ぶ傾向がある
。薄膜の反磁性モーメントは一般に、振動周期を増加さ
せるに十分なほど強い、理由は、薄膜の体積(■cr’
がタングステン細線とマイカ・シートの合計された体積
(V )より一桁小さいからであ u る、しかしながら、すくなくとも一つの試験サンプルに
おいて、FIItEの反磁性モーメントが非常に大きい
ので、被覆されたシートは磁界線に平行に並ばず、シー
トが磁界線からそれた。この被覆シートは上記表■の試
験サンプルVの場合である。
薄膜の反磁性双極子モーメントは常磁性シートとタング
ステン細線のそれより大きいので、従って、 r X>X−V/V ・・・(6) cr su su上の関
係を用いて、サンプルの絶対感受率は、次のような関係
になる。
ステン細線のそれより大きいので、従って、 r X>X−V/V ・・・(6) cr su su上の関
係を用いて、サンプルの絶対感受率は、次のような関係
になる。
X > 1.5X10−”
r
第3図は発明の第一の実施例を示す、−船釣に示した超
伝導デイバイス10は、超伝導薄膜15が蒸着される素
地12を含む、素地は伝導性あるいは非伝導性のいずれ
かの材料がち成る。上述の通り、塩化ナトリュームが被
覆されたマイカ・シートは、実用に適している。薄膜は
、腹力弓生い負の感受率を持ち従って室温での超伝導体
として作用するような厚さまで素地に蒸着されるクロム
あるいはクロム合金から成る事が好ましい0次に保護被
覆M17が有害な環境と酸化から腹を保護する目的で薄
膜にほどこされる。もしも薄膜が酸化されると、超伝導
性は劣化する。保護被覆膜は遷移元素あるいは貴金属で
構成される。パラジュームと銀の両方とも薄膜の保護性
が優れており、実験結果もこれら材料が感受率をさらに
負の方向にさせるので、結果として薄膜の超伝導性も向
上する事を示している。
伝導デイバイス10は、超伝導薄膜15が蒸着される素
地12を含む、素地は伝導性あるいは非伝導性のいずれ
かの材料がち成る。上述の通り、塩化ナトリュームが被
覆されたマイカ・シートは、実用に適している。薄膜は
、腹力弓生い負の感受率を持ち従って室温での超伝導体
として作用するような厚さまで素地に蒸着されるクロム
あるいはクロム合金から成る事が好ましい0次に保護被
覆M17が有害な環境と酸化から腹を保護する目的で薄
膜にほどこされる。もしも薄膜が酸化されると、超伝導
性は劣化する。保護被覆膜は遷移元素あるいは貴金属で
構成される。パラジュームと銀の両方とも薄膜の保護性
が優れており、実験結果もこれら材料が感受率をさらに
負の方向にさせるので、結果として薄膜の超伝導性も向
上する事を示している。
他の方法として、保護被覆膜は、超伝導体が作用する不
活性雰囲気と置き換えられる。第3図の超伝導デイバイ
ス10は平坦構造を示している。
活性雰囲気と置き換えられる。第3図の超伝導デイバイ
ス10は平坦構造を示している。
ここでコンピューター回路22のような他のデイバイス
と同等のデイバイスと作製する必要のあるいかなる適し
た形にも超伝導性デイバイスが取りえる0例えば、素地
は薄膜を伴った円柱状コアでありえるし、コア周囲の保
護被覆はいかなる長さの透過線の形をとりえる。
と同等のデイバイスと作製する必要のあるいかなる適し
た形にも超伝導性デイバイスが取りえる0例えば、素地
は薄膜を伴った円柱状コアでありえるし、コア周囲の保
護被覆はいかなる長さの透過線の形をとりえる。
二つの端子18と19はクロム薄膜と電気的接続状態に
あるデイバイスに線で接合される。端子は導線20−2
0により薄膜超伝導体を介して電流が流れるために電源
としての電池21と接続される。
あるデイバイスに線で接合される。端子は導線20−2
0により薄膜超伝導体を介して電流が流れるために電源
としての電池21と接続される。
第4図は本発明の第二の実施例を図示したもので、クロ
ムもしくはクロム合金薄膜33と保護被覆34をそれぞ
れが含む多層二重層ユニット32−32が、サンドイッ
チ構造を形成するように違いちがいに配置される。ここ
で再び、クロム基の薄膜の厚さがfII御されるので、
結果として薄膜は超伝導性となる。従って、各々の′f
N膜は別個の超伝導体として作用し、薄膜と混合してデ
イバイスの電流あるいは信号伝達能力を増加させる。い
がなる数の層が、使用されるネットワークの要求におお
じで素地上に配置される0発明の第二の実施例において
、二つの極36と37を含む電磁石35は、電流を多層
構造中に導くために用いられる。
ムもしくはクロム合金薄膜33と保護被覆34をそれぞ
れが含む多層二重層ユニット32−32が、サンドイッ
チ構造を形成するように違いちがいに配置される。ここ
で再び、クロム基の薄膜の厚さがfII御されるので、
結果として薄膜は超伝導性となる。従って、各々の′f
N膜は別個の超伝導体として作用し、薄膜と混合してデ
イバイスの電流あるいは信号伝達能力を増加させる。い
がなる数の層が、使用されるネットワークの要求におお
じで素地上に配置される0発明の第二の実施例において
、二つの極36と37を含む電磁石35は、電流を多層
構造中に導くために用いられる。
第5図は発明の他の具体例を図示したもので、超伝導ク
ロム薄膜81と保護性の上下への被覆83を含むやはり
多層ユニット80−80を含む。
ロム薄膜81と保護性の上下への被覆83を含むやはり
多層ユニット80−80を含む。
層構造のユニットはガラスあるいはマイカ素地85の上
にマウントされ、電気的に互いを孤立される非伝導性の
ストリップ86により分離される。
にマウントされ、電気的に互いを孤立される非伝導性の
ストリップ86により分離される。
この種の分離は、ある種の高周波数信号伝達への応用と
か、超伝導性股間の電流を調整するための系における制
御のようなある種の応用に必要である。プラスチック製
の外部遮蔽87は系全体を外部力から物理的に保護する
目的で系全体に巻かれる。
か、超伝導性股間の電流を調整するための系における制
御のようなある種の応用に必要である。プラスチック製
の外部遮蔽87は系全体を外部力から物理的に保護する
目的で系全体に巻かれる。
発明の他の例が第6図に示される。それは二つのp型部
90と91を持つ一つのn型半導体89から成る。これ
らp型部は、クロム薄膜93及び95並びに絶縁M92
と接続する。これら薄膜の形はすでに述べた通り、薄膜
が負の感受率を持ち、従って超伝導体として作用しえる
ものであれば良い、入力及び出力デイバイスでありえる
超伝導体重[93と95は絶縁膜92と96により保持
され、それぞれ保護膜97と99により腐食からも保護
される。これら保護膜はパラジュームのような金属か絶
縁体でありえる。p型部の少なくとも二つはクロム薄膜
94と保護被覆98で形成される電気的接続器により接
合される。ここで再び、薄膜の形は、超伝導性質をもつ
接続器を供給しえるものであればよいし、被覆は腐食や
酸化から膜を保護する。
90と91を持つ一つのn型半導体89から成る。これ
らp型部は、クロム薄膜93及び95並びに絶縁M92
と接続する。これら薄膜の形はすでに述べた通り、薄膜
が負の感受率を持ち、従って超伝導体として作用しえる
ものであれば良い、入力及び出力デイバイスでありえる
超伝導体重[93と95は絶縁膜92と96により保持
され、それぞれ保護膜97と99により腐食からも保護
される。これら保護膜はパラジュームのような金属か絶
縁体でありえる。p型部の少なくとも二つはクロム薄膜
94と保護被覆98で形成される電気的接続器により接
合される。ここで再び、薄膜の形は、超伝導性質をもつ
接続器を供給しえるものであればよいし、被覆は腐食や
酸化から膜を保護する。
なお、本発明が以上のように提出した構成を基に発明さ
れてきたが、これは発明された構成に限定されるもので
なく、本発明は特許請求範囲内で考えられるいかなる改
良及び変化をも含むものである。
れてきたが、これは発明された構成に限定されるもので
なく、本発明は特許請求範囲内で考えられるいかなる改
良及び変化をも含むものである。
以上詳細に説明したように、本発明によると、素地上に
負の感受率を有する金属薄膜を蒸着し、金属薄膜を酸化
から防止する保護被覆膜を設けることにより、室温で超
伝導性を有する室温超伝導体が得られる。
負の感受率を有する金属薄膜を蒸着し、金属薄膜を酸化
から防止する保護被覆膜を設けることにより、室温で超
伝導性を有する室温超伝導体が得られる。
第1図はバルク状の固体クロムの抵抗と温度との関係を
示す特性図、第2図は本発明の室温超伝導体の製造及び
特性測定に用いる真空デポジットチャンバーの構成を示
す説明図、第3図は本発明の第1の実施例の構成を示す
斜視図、第4図乃至第6図は本発明の第2乃至第4の実
施例の構成を示す断面図である。 8・・・曲線、9・・・凹部、10・・・超伝導デイバ
イス、12・・・素地、15・・・超伝導薄膜、17・
・・保護被覆膜、18・・・端子、19・・・端子、2
0・・・導線、21・・・電池、22・・・コンピュー
タ回路、32・・・二重層ユニット、33・・・薄膜、
34・・・保護被覆、35・・・電磁石、36.37・
・・極、40・・・素地、41・・・蒸着チャンバー、
42・・・ベース、43・・ハウジング、44・・・真
空チャンバー、45・・・ポンプ系、50・・・タング
ステン細線、51・・・制御ユニット、52・・・電磁
石、53.54・・・極、55−・・窓、56・・レー
ザー、57・・スケール、60・・・加熱コイル、61
.62・・・導線、63・・・外部電源、65・・試片
、70・・・加熱コイル、71.72・・・導線、73
・・・外部電源、75・・・試片、78・・・保護板、
80・・・多層ユニット、81・・・薄膜、83・・・
被覆、85・・・素地、86・・・ストリップ、87・
・・外部遮蔽、8つ・・・n型半導体、90・・・p型
部、91・・・p型部、92・・・絶縁膜、93・・・
薄膜、94・・・薄膜、95・・・薄膜、96・・・絶
縁膜、97・・・保護膜、98・・保護被覆、99・・
・保護膜。 特許出願人 シラキューズ、ユニバーシティ図面の浄亡 F/G、5 自発手続補正書 昭和63年99日
示す特性図、第2図は本発明の室温超伝導体の製造及び
特性測定に用いる真空デポジットチャンバーの構成を示
す説明図、第3図は本発明の第1の実施例の構成を示す
斜視図、第4図乃至第6図は本発明の第2乃至第4の実
施例の構成を示す断面図である。 8・・・曲線、9・・・凹部、10・・・超伝導デイバ
イス、12・・・素地、15・・・超伝導薄膜、17・
・・保護被覆膜、18・・・端子、19・・・端子、2
0・・・導線、21・・・電池、22・・・コンピュー
タ回路、32・・・二重層ユニット、33・・・薄膜、
34・・・保護被覆、35・・・電磁石、36.37・
・・極、40・・・素地、41・・・蒸着チャンバー、
42・・・ベース、43・・ハウジング、44・・・真
空チャンバー、45・・・ポンプ系、50・・・タング
ステン細線、51・・・制御ユニット、52・・・電磁
石、53.54・・・極、55−・・窓、56・・レー
ザー、57・・スケール、60・・・加熱コイル、61
.62・・・導線、63・・・外部電源、65・・試片
、70・・・加熱コイル、71.72・・・導線、73
・・・外部電源、75・・・試片、78・・・保護板、
80・・・多層ユニット、81・・・薄膜、83・・・
被覆、85・・・素地、86・・・ストリップ、87・
・・外部遮蔽、8つ・・・n型半導体、90・・・p型
部、91・・・p型部、92・・・絶縁膜、93・・・
薄膜、94・・・薄膜、95・・・薄膜、96・・・絶
縁膜、97・・・保護膜、98・・保護被覆、99・・
・保護膜。 特許出願人 シラキューズ、ユニバーシティ図面の浄亡 F/G、5 自発手続補正書 昭和63年99日
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、素地と、この素地上に蒸着され、室温において負の
感受率を有する金属薄膜と、この金属薄膜を酸化から防
止する手段とを有することを特徴とする室温超伝導体。 2、金属薄膜がクロムより成ることを特徴とする請求項
1に記載の室温超伝導体。 3、クロム薄膜を酸化から防止する手段が不活性雰囲気
であることを特徴とする請求項2に記載の室温超伝導体
。 4、クロム薄膜を酸化から防止する手段が薄膜上の外側
の被覆膜であることを特徴とする請求項2に記載の室温
超伝導体。 5、被覆膜がクロム薄膜の感受率をより負の値に設定す
るようにクロム薄膜と所定の特性関係にある材料から成
ることを特徴とする請求項4に記載の室温超伝導体。 6、外側の被覆膜が貴金属及び遷移元素の群から選択さ
れる元素であるこを特徴とする請求項5に記載の室温超
伝導体。 7、クロムが薄膜の負の感受率に不利に影響しない少な
くとも他の元素と合金化していることを特徴とする請求
項2に記載の室温超伝導体。 8、他の元素が貴金属及び遷移元素からなる群より選択
されていることを特徴とする請求項7に記載の室温超伝
導体。 9、金属薄膜の負の感受率が−10^−^5と−1/4
πの間にあることを特徴とする請求項1に記載の室温超
伝導体。 10、金属薄膜に電流を導入する手段が具備されてなる
ことを特徴とする請求項範囲2に記載の室温超伝導体。 11、電流を導入する手段が電源であることを特徴とす
る請求項10に記載の室温超伝導体。 12、電流を導入する手段が磁石であることを特徴とす
る請求項10に記載の室温超伝導体。 13、素地が非伝導材料より成ることを特徴とする請求
項1に記載の室温超伝導体。 14、素地が円柱状コアで、金属薄膜と外側の被覆膜が
コアをとりまくように配されていることを特徴とする請
求項4に記載の室温超伝導体。 15、素地と、この素地上に交互にマウントされ、負の
感受率を持つクロム薄膜を含む複数の多層構造ユニット
と、それぞれの多層構造ユニット上に配され、前記クロ
ム薄膜を酸化から防止する材料からなる外側被覆とを有
することを特徴とする室温超伝導体。 16、多層構造ユニット間に位置する絶縁バリヤーを含
むことを特徴とする請求項15に記載の室温超伝導体。 17、絶縁バリヤーが制御された電子流をクロム薄膜間
に移動させるように構成されていることを特徴とする請
求項15に記載の室温超伝導体。 18、素地と多層構造ユニットを囲む外側遮蔽を含むこ
とを特徴とする請求項15に記載の室温超伝導体。 19、クロム薄膜が−10^−^5と−1/4πの負の
感受率を有することを特徴とする請求項15に記載の室
温超伝導体。 20、クロム薄膜の少なくとも一つが、クロム薄膜の感
受率を負に保つ他の元素の少なくとも一つにより合金化
されていることを特徴とする請求項15に記載の室温超
伝導体。 21、他の元素が貴金属及び遷移元素から成る群から選
択されていることを特徴とする請求項20に記載の室温
超伝導体。 22、各々の多層構造ユニット上に配される外側被覆が
パラジュームであることを特徴とする請求項15に記載
の室温超伝導体。 23、各々の多層構造ユニットの外側被覆が銀であるこ
とを特徴とする請求項15に記載の室温超伝導体。 24、電流を少なくとも一つのクロム薄膜に導入する手
段が具備されてなることを特徴とする請求項15に記載
の室温超伝導体。 25、p型部及びn型部を有する一つの半導体と、この
半導体表面にマウントされる絶縁層と、前記p型部及び
n型部の一つと接触する少なくとも一つの電気的端子と
、前記絶縁層上にマウントされ、負の感受率を持つクロ
ム薄膜と、このクロム薄膜上に配され、前記クロム薄膜
を腐食から防止する保護被覆膜とを有することを特徴と
する室温超伝導体。 26、負の感受率を持つクロム薄膜が、少なくとも二つ
の同様な型の部がクロム薄膜に接続された薄膜接続部と
、この薄膜接続部上に設けられ、前記薄膜接続部を腐食
から防止する保護被覆膜とを具備して成ることを特徴と
する請求項25に記載の室温超伝導体。 27、保護被覆膜がパラジュームから成ることを特徴と
する請求項26に記載の室温超伝導体。 28、保護被覆膜が絶縁材料から成ることを特徴とする
請求項26に記載の室温超伝導体。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US078,758 | 1987-07-28 | ||
US07/078,758 US4905319A (en) | 1987-07-28 | 1987-07-28 | Superconducting device including a thin chromium film with negative susceptibility |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01152260A true JPH01152260A (ja) | 1989-06-14 |
Family
ID=22146052
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63189524A Pending JPH01152260A (ja) | 1987-07-28 | 1988-07-28 | 室温超伝導体 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4905319A (ja) |
EP (1) | EP0301985A3 (ja) |
JP (1) | JPH01152260A (ja) |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2626715B1 (fr) * | 1988-02-02 | 1990-05-18 | Thomson Csf | Dispositif en couches minces de materiau supraconducteur et procede de realisation |
FR2662856B1 (fr) * | 1990-06-01 | 1997-01-24 | Thomson Csf | Dispositifs haute frequence accordables. |
US5304538A (en) * | 1992-03-11 | 1994-04-19 | The United States Of America As Repeated By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Epitaxial heterojunctions of oxide semiconductors and metals on high temperature superconductors |
DE4421593A1 (de) * | 1994-06-21 | 1996-01-04 | Richard Dr Sizmann | Supraleitfähige Festkörperstruktur |
US6406997B1 (en) | 1999-06-09 | 2002-06-18 | Klaus Schroder | Chromium films and chromium film overlayers |
US6567541B1 (en) * | 2000-02-25 | 2003-05-20 | Ahbee 1, L.P. | Method and apparatus for adhesion testing of thin film materials |
WO2010136834A1 (en) * | 2009-05-26 | 2010-12-02 | Vyacheslav Andreevich Vdovenkov | Method of realization of hyperconductivity and super thermal conductivity |
US8211833B2 (en) | 2010-06-04 | 2012-07-03 | Ambature, Llc | Extremely low resistance composition and methods for creating same |
JP5795588B2 (ja) | 2009-10-02 | 2015-10-14 | アンバチュア インコーポレイテッド | 極めて低い抵抗フィルムおよびそれを変性または生成するための方法 |
WO2011041766A1 (en) | 2009-10-02 | 2011-04-07 | Ambature L.L.C. | High temperature superconducting films and methods for modifying and creating same |
US8404620B2 (en) | 2011-03-30 | 2013-03-26 | Ambature, Llc | Extremely low resistance compositions and methods for creating same |
CN105264680B (zh) * | 2011-03-30 | 2019-11-26 | 阿姆巴托雷股份有限公司 | 由极低电阻材料形成的电气、机械、计算和/或其他设备 |
WO2012135683A1 (en) | 2011-03-30 | 2012-10-04 | Ambature Llc | Electrical, mechanical, computing, and/or other devices formed of extremely low resistance materials |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4178602A (en) * | 1977-08-31 | 1979-12-11 | Kandyba Petr E | Thin film cryotron |
EP0088808B1 (en) * | 1982-03-12 | 1985-11-21 | International Business Machines Corporation | Process for producing niobium josephson junctions |
FR2590409B1 (fr) * | 1985-11-15 | 1987-12-11 | Commissariat Energie Atomique | Procede de fabrication d'un transistor en couches minces a grille auto-alignee par rapport au drain et a la source de celui-ci et transistor obtenu par le procede |
-
1987
- 1987-07-28 US US07/078,758 patent/US4905319A/en not_active Expired - Lifetime
-
1988
- 1988-07-28 JP JP63189524A patent/JPH01152260A/ja active Pending
- 1988-07-28 EP EP88420270A patent/EP0301985A3/en not_active Withdrawn
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0301985A2 (en) | 1989-02-01 |
US4905319A (en) | 1990-02-27 |
EP0301985A3 (en) | 1990-01-31 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH01152260A (ja) | 室温超伝導体 | |
Van Haesendonck et al. | Two-dimensional localization in thin copper films | |
Kim et al. | Transport AC loss measurements in superconducting coils | |
EP2138859B1 (en) | Temperature System with Magnetic Field Suppression | |
JP6398573B2 (ja) | スピン熱流センサ及びその製造方法 | |
US9880317B2 (en) | Superconducting acceleration sensor suitable for gravitational wave radiation detection | |
JPH05500717A (ja) | 薄膜三軸磁力計 | |
Sharath Chandra et al. | Simple and precise thermoelectric power measurement setup for different environments | |
Xu et al. | Low-noise second-order gradient SQUID current sensors overlap-coupled with input coils of different inductances | |
JPS63302301A (ja) | 距離測定装置 | |
Talantsev et al. | The onset of dissipation in high-temperature superconductors: flux trap, hysteresis and in-field performance of multifilamentary Bi2Sr2Ca2Cu3O10+ x wires | |
US4506996A (en) | Cryogenic thermometer | |
JP3000226B2 (ja) | 校正用コイル付squid磁束計 | |
WO2023054416A1 (ja) | 熱電変換素子及びセンサ | |
Stavrev et al. | Eddy current self-field loss in Bi-2223 tapes with ac transport current | |
Ahmedov et al. | Principles for detecting charge redistribution produced by fields of gravity and inertia inside conductors | |
Wang et al. | Development of bismuth metallic hall sensors for the HL-2A tokamak magnetic measurements | |
JPH1082807A (ja) | 超電導導体およびその交流損失測定方法 | |
JP2619003B2 (ja) | 酸素検出素子及びその製造方法 | |
Migliori et al. | Influence of the Proximity Effect on the Electron Thermal Conductivity of Superconducting Thin-Film Sandwiches of Indium and Thallium | |
US20050137092A1 (en) | Superconductive contacts with hydroxide-catalyzed bonds that retain superconductivity and provide mechanical fastening strength | |
JP2840737B2 (ja) | 金属及び無機絶縁物質からなる多層薄膜 | |
Kajikawa et al. | Theoretical evaluation of geometrical errors in AC loss measurements using pickup-coil methods | |
JPH03273122A (ja) | 強磁界用温度センサ | |
Dyer | THESIS I |