JPH01140534A - 電子管のステム用インナーリード線 - Google Patents
電子管のステム用インナーリード線Info
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- JPH01140534A JPH01140534A JP62296025A JP29602587A JPH01140534A JP H01140534 A JPH01140534 A JP H01140534A JP 62296025 A JP62296025 A JP 62296025A JP 29602587 A JP29602587 A JP 29602587A JP H01140534 A JPH01140534 A JP H01140534A
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Landscapes
- Common Detailed Techniques For Electron Tubes Or Discharge Tubes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
（産業上の利用分野）
この発明は、カラー受像管などの電子管に使用されるス
テム用インナーリード線に関する。
テム用インナーリード線に関する。
（従来の技術）
電子管の一例としてカラー受像管について述べると、第
３図に示すように、カラー受像管は、パネル（１）およ
びファンネル（２）からなる外囲器（３）を有し、その
パネル（１）内側に配設された多数の電子ビーム通過孔
を有するシャドウマスク（４）を介して、パネル（１）
の内面に形成された蛍光体スクリーン（５）を走査する
電子ビームを放出する電子銃（６）がファンネル（２）
のネック（７）内に配設されており、そのネック（７）
端部がステム（８）によって封止されている。
３図に示すように、カラー受像管は、パネル（１）およ
びファンネル（２）からなる外囲器（３）を有し、その
パネル（１）内側に配設された多数の電子ビーム通過孔
を有するシャドウマスク（４）を介して、パネル（１）
の内面に形成された蛍光体スクリーン（５）を走査する
電子ビームを放出する電子銃（６）がファンネル（２）
のネック（７）内に配設されており、そのネック（７）
端部がステム（８）によって封止されている。
このステム（８）は、第４図に示すように、ガラスから
なるフレア部（１０）と、その中央部に一体に溶着され
た排気管（１１）と、上記フレア部（１０）を気密に貫
通する複数本のウェルズ（１２）とからなる。
なるフレア部（１０）と、その中央部に一体に溶着され
た排気管（１１）と、上記フレア部（１０）を気密に貫
通する複数本のウェルズ（１２）とからなる。
そして、その各ウェルズ（１２）は、順次直線的に接続
されたアウターピン、（１３）、ジュメット、Ｗ （１
４）およびニッケルを主成分とするインナーリード線（
１５）で構成され、そのフレア部（１０）を貫通するイ
ンナーリード線（１５）の周りには、フィレット（１６
）が形成されている。
されたアウターピン、（１３）、ジュメット、Ｗ （１
４）およびニッケルを主成分とするインナーリード線（
１５）で構成され、そのフレア部（１０）を貫通するイ
ンナーリード線（１５）の周りには、フィレット（１６
）が形成されている。
このステム（８）は、電子銃（６）をネック（７）内に
配設する前に、インナーリード線（１５）を所定の形状
に折曲げ成形し、その折曲げ成形されたインナーリード
線（１５）に電子銃（６）を構成する複数個の電極のう
ち、陽極端子（１７）に接続される一部電極を除いて他
の電極に接続され、電子銃（６）に取付けられた状態で
ネック（７）内に挿入されて封止される。
配設する前に、インナーリード線（１５）を所定の形状
に折曲げ成形し、その折曲げ成形されたインナーリード
線（１５）に電子銃（６）を構成する複数個の電極のう
ち、陽極端子（１７）に接続される一部電極を除いて他
の電極に接続され、電子銃（６）に取付けられた状態で
ネック（７）内に挿入されて封止される。
したがって、このステム（８）を構成するインナーリー
ド線（１５）としては、ステム（８）の製造中およびそ
の後の折曲げ成形に際し、フレア部（１０）、特にフィ
レット（１６）部分に欠けや割れが生じないように、イ
ンナーリード線（１５）の製造工程中に軟化焼鈍がおこ
なわれる。
ド線（１５）としては、ステム（８）の製造中およびそ
の後の折曲げ成形に際し、フレア部（１０）、特にフィ
レット（１６）部分に欠けや割れが生じないように、イ
ンナーリード線（１５）の製造工程中に軟化焼鈍がおこ
なわれる。
しかし、従来のインナーリード線（１５）は、その製造
工程中に軟化焼鈍しても、−次再結晶とともに一次再結
晶途中のものが混在する組織となっていたため、ウェル
ズ（１２１造時にストレーナにより生ずる歪みが一次再
結晶途中の部分に集中して、内部エネルギが不安定とな
り、そのために、ステム（８）の製造工程で一次再結晶
と二次再結晶とが同時に進行し、しかも、エネルギ的に
安定な二次再結晶粒の成長が支配的となり、その結果、
ステム（８）Ｉｌｌｌｌ造次び製造後のインナーリード
線（１５）の組織は、主として平均粒径が約１００μｌ
の粗大な二次再結晶粒で占められていた。
工程中に軟化焼鈍しても、−次再結晶とともに一次再結
晶途中のものが混在する組織となっていたため、ウェル
ズ（１２１造時にストレーナにより生ずる歪みが一次再
結晶途中の部分に集中して、内部エネルギが不安定とな
り、そのために、ステム（８）の製造工程で一次再結晶
と二次再結晶とが同時に進行し、しかも、エネルギ的に
安定な二次再結晶粒の成長が支配的となり、その結果、
ステム（８）Ｉｌｌｌｌ造次び製造後のインナーリード
線（１５）の組織は、主として平均粒径が約１００μｌ
の粗大な二次再結晶粒で占められていた。
（発明が解決しようとする問題点）
上記のようにステムのインナーリード線が粗大な二次再
結晶粒で占められると、ステム製造中およびその後にこ
のステムに加わる不可避的な曲げ応力、たとえば前記ス
テム製造後の折曲げ成形や電子銃に取付けられてネック
内に挿入されるときに加わる応力などによりインナーリ
ード線周りのガラス部分に欠けや割れを生じ、そのガラ
ス破片がシャドウマスクの電子ビーム通過孔を詰まらせ
るなどの問題を生ずる。
結晶粒で占められると、ステム製造中およびその後にこ
のステムに加わる不可避的な曲げ応力、たとえば前記ス
テム製造後の折曲げ成形や電子銃に取付けられてネック
内に挿入されるときに加わる応力などによりインナーリ
ード線周りのガラス部分に欠けや割れを生じ、そのガラ
ス破片がシャドウマスクの電子ビーム通過孔を詰まらせ
るなどの問題を生ずる。
この発明は、上記問題点を解決するためになされたもの
であり、ステムに組込んでも、そのガラス部分に欠けや
割れを発生させないインナーリード線とすることを目的
とする。
であり、ステムに組込んでも、そのガラス部分に欠けや
割れを発生させないインナーリード線とすることを目的
とする。
（問題点を解決するための手段）
電子管のステム用インナーリード線において、ニッケル
を主成分として、炭素を０．０３〜０．１０重量％のほ
か不可避的不純物を含有するステム製造前の組織をほぼ
完全に一次再結晶粒で構成してインナーリード線とした
。
を主成分として、炭素を０．０３〜０．１０重量％のほ
か不可避的不純物を含有するステム製造前の組織をほぼ
完全に一次再結晶粒で構成してインナーリード線とした
。
（作 用）
上記のようにニッケルを主成分とするステム製造前の組
織をほぼ完全に一次再結晶粒で構成すると、ステム製造
中および製造後のインナーリード線の組織を微細な一次
再結晶粒と粗大な二次再結晶粒との混在組織にすること
ができ、ステム製造中およびその後このステムに加わる
不可避的な曲げ応力を緩衝してガラス部分に欠けや割れ
を発生しないインナーリードとすることができる。
織をほぼ完全に一次再結晶粒で構成すると、ステム製造
中および製造後のインナーリード線の組織を微細な一次
再結晶粒と粗大な二次再結晶粒との混在組織にすること
ができ、ステム製造中およびその後このステムに加わる
不可避的な曲げ応力を緩衝してガラス部分に欠けや割れ
を発生しないインナーリードとすることができる。
（実施例）
以下、図面を参照してこの発明を実施例に基づいて説明
する。
する。
まず、ニッケルを主成分とし、炭素を０．０３〜０．１
０重量％のほか不可避的な不純物を含有する所定径に伸
線されたニッケル線を約１０００℃で数秒ないし士数秒
加熱して軟化焼鈍し、その組織をほぼ完全に一次再結晶
させる。つぎに、この軟化焼鈍されたニッケル線を所定
の長さ寸法に切断して、これにジュメット線を溶接し、
さらにそのジュメット線に所定線径および長さのアウタ
ービンを溶接して、上記ニッケル線をインナーリード線
とする３部品からなるウェルズを製作する。このウェル
ズの製作工程では、溶接された３部品をストレーナにか
けて真直度をよくすることがおこなわれる。しかるのち
、ステム成形金型にステムのフレア部を形成するための
ガラス素材、排気管とともに上記ウェルズを供給し、そ
のガラス素材をガスバーナなどにより７００〜１０００
℃で加熱溶融し、上記金型によりプレス成形してステム
を成形する。
０重量％のほか不可避的な不純物を含有する所定径に伸
線されたニッケル線を約１０００℃で数秒ないし士数秒
加熱して軟化焼鈍し、その組織をほぼ完全に一次再結晶
させる。つぎに、この軟化焼鈍されたニッケル線を所定
の長さ寸法に切断して、これにジュメット線を溶接し、
さらにそのジュメット線に所定線径および長さのアウタ
ービンを溶接して、上記ニッケル線をインナーリード線
とする３部品からなるウェルズを製作する。このウェル
ズの製作工程では、溶接された３部品をストレーナにか
けて真直度をよくすることがおこなわれる。しかるのち
、ステム成形金型にステムのフレア部を形成するための
ガラス素材、排気管とともに上記ウェルズを供給し、そ
のガラス素材をガスバーナなどにより７００〜１０００
℃で加熱溶融し、上記金型によりプレス成形してステム
を成形する。
この方法によりステムを成形すると、ステム製造中およ
びステム製造後のインナーリード線の折曲げに対してそ
の曲げ応力を緩衝して、インナーリード線周りのガラス
の欠けや割れの発生をなくすことができる。すなわちウ
ェルズを製作する前のニッケル線をほぼ完全に一次再結
晶させて、その組織を内部エネルギ的に安定な一次再結
晶粒で占めるようにすると、ウェルズ製造時のストレー
ナによって生ずる歪みが均一に加わるようになり、ステ
ム製造中の加熱によっておこる二次再結晶を遅らせ、ス
テムに組込まれたインナーリード線の組成を微細な一次
再結晶粒と粗大な二次再結晶粒との混在組織とすること
ができる。しかも、ステム製造時に、ガス中などに含ま
れる硫黄成分により、インナーリード線の表面部の粒界
に硫化ニッケル（Ｎｉ３ＳＪの液相ができ、この硫化ニ
ッケルが、微細な一次再結晶粒と粗大な二次再結晶粒と
が混在する組織では、粒界の多い一次再結晶粒に優先的
にくわれて粗大な二次再結晶粒の成長を阻止する。その
ため、主として粗大な二次再結晶粒で占められていた従
来のインナーリード線と異なり。
びステム製造後のインナーリード線の折曲げに対してそ
の曲げ応力を緩衝して、インナーリード線周りのガラス
の欠けや割れの発生をなくすことができる。すなわちウ
ェルズを製作する前のニッケル線をほぼ完全に一次再結
晶させて、その組織を内部エネルギ的に安定な一次再結
晶粒で占めるようにすると、ウェルズ製造時のストレー
ナによって生ずる歪みが均一に加わるようになり、ステ
ム製造中の加熱によっておこる二次再結晶を遅らせ、ス
テムに組込まれたインナーリード線の組成を微細な一次
再結晶粒と粗大な二次再結晶粒との混在組織とすること
ができる。しかも、ステム製造時に、ガス中などに含ま
れる硫黄成分により、インナーリード線の表面部の粒界
に硫化ニッケル（Ｎｉ３ＳＪの液相ができ、この硫化ニ
ッケルが、微細な一次再結晶粒と粗大な二次再結晶粒と
が混在する組織では、粒界の多い一次再結晶粒に優先的
にくわれて粗大な二次再結晶粒の成長を阻止する。その
ため、主として粗大な二次再結晶粒で占められていた従
来のインナーリード線と異なり。
ステム製造中およびその後のインナーリード線の不可避
的な折曲げに対して、その曲げ応力を緩衝してガラスの
欠けや割れを減少させるものとなる。
的な折曲げに対して、その曲げ応力を緩衝してガラスの
欠けや割れを減少させるものとなる。
第１表は、その具体例として第２表に示す条件で焼鈍し
たニッケル線をインナーリード線にしてウェルズを製作
し、ステムに組込んだ場合の曲げ試験によるガラスの欠
は発生率およびインナーリード線中に混在する一次再結
晶粒と、二次再結晶粒の粒径を従来のそれと比較して示
したものである６また。第１図（Ａ）図に第２表に示し
た条件で焼鈍したニッケル線の一例の結晶組織を、同（
Ｂ）図に対応する従来のニッケル線を、また第２＠（Ａ
）図にステム製造後のインナーリード線の結晶組織を同
（Ｂ）図に対応する従来のインナーリード線の結晶組織
をそれぞれ比較して顕微鏡写真で示す。
たニッケル線をインナーリード線にしてウェルズを製作
し、ステムに組込んだ場合の曲げ試験によるガラスの欠
は発生率およびインナーリード線中に混在する一次再結
晶粒と、二次再結晶粒の粒径を従来のそれと比較して示
したものである６また。第１図（Ａ）図に第２表に示し
た条件で焼鈍したニッケル線の一例の結晶組織を、同（
Ｂ）図に対応する従来のニッケル線を、また第２＠（Ａ
）図にステム製造後のインナーリード線の結晶組織を同
（Ｂ）図に対応する従来のインナーリード線の結晶組織
をそれぞれ比較して顕微鏡写真で示す。
（以下余白）
宍−一１
第１図に示した顕微鏡写真の比較かられかるように、（
Ｂ）図に示した従来のニッケル線では、−次再結晶粒と
一次再結晶粒途中のものが混在しているが、（Ａ）図に
示したこの例のニッケル線は。
Ｂ）図に示した従来のニッケル線では、−次再結晶粒と
一次再結晶粒途中のものが混在しているが、（Ａ）図に
示したこの例のニッケル線は。
その組織がほぼ完全に一次再結晶粒で構成されている。
また、第２図に示した顕微鏡写真かられかるように、そ
れらニッケル線をインナーリード線としてステムに組込
んだのちの組織は、（Ｂ）図に示した従来のインナーリ
ード線では、主として二次再結晶粒で占められているが
、（Ａ）図に示したこの例のインナーリード線は、−次
再結晶粒と二次再結晶粒とが混在した組織となっている
ことがわかる。
れらニッケル線をインナーリード線としてステムに組込
んだのちの組織は、（Ｂ）図に示した従来のインナーリ
ード線では、主として二次再結晶粒で占められているが
、（Ａ）図に示したこの例のインナーリード線は、−次
再結晶粒と二次再結晶粒とが混在した組織となっている
ことがわかる。
その結果１表１に示したように、この例のインナーリー
ド線は従来のインナーリード線にくらべて１曲げ応力に
よるガラスの欠けの発生が大幅に減少している。したが
って、このようなインナーリード線を使用すれば、ステ
ム装造中およびその後折曲げ成形してカラー受像管など
の電子管に組込んでも、ガラス破片を生じてシャドウマ
スクの電子ビーム通過孔を詰まらせるなどの不良を発生
しないステムとすることができる。
ド線は従来のインナーリード線にくらべて１曲げ応力に
よるガラスの欠けの発生が大幅に減少している。したが
って、このようなインナーリード線を使用すれば、ステ
ム装造中およびその後折曲げ成形してカラー受像管など
の電子管に組込んでも、ガラス破片を生じてシャドウマ
スクの電子ビーム通過孔を詰まらせるなどの不良を発生
しないステムとすることができる。
ニッケルを主成分として炭素を０．０３〜０．１０！Ｍ
％のほか不可避的不純物を含有するステム用のインナー
リード線のステム製造前の組織をほぼ完全に−次回結晶
粒で構成すると、ステムに組込んだのちに粗大な二次再
結晶粒と微細な一次再結晶粒とが混在する組織にするこ
とができ、ステム製造中およびその後にこのステムに加
わる不可避的な曲げ応力を緩衝して、ガラス部分に欠け
や割れを発生しないようにすることができる。したがっ
て、これをカラー受像管などの電子管に組込んでも、ス
テムのガラス破片による不良の発生を防止することがで
きる。
％のほか不可避的不純物を含有するステム用のインナー
リード線のステム製造前の組織をほぼ完全に−次回結晶
粒で構成すると、ステムに組込んだのちに粗大な二次再
結晶粒と微細な一次再結晶粒とが混在する組織にするこ
とができ、ステム製造中およびその後にこのステムに加
わる不可避的な曲げ応力を緩衝して、ガラス部分に欠け
や割れを発生しないようにすることができる。したがっ
て、これをカラー受像管などの電子管に組込んでも、ス
テムのガラス破片による不良の発生を防止することがで
きる。
第１図（Ａ）および（Ｂ）図はそれぞれこの発明のステ
ムに組込む前のインナーリード線としてのニッケル線の
顕微鏡写真および比較として示した従来のインナーリー
ド線としてのニッケル線の顕微鏡写真、第２図（Ａ）お
よび（Ｂ）図はそれぞれこの発明のステム製造後のイン
ナーリード線の顕微鏡写真および比較として示した従来
のステム製造後のインナーリード線の顕微鏡写真、第３
図はカラー受像管の構成を示す図、第４図（Ａ）および
（Ｂ）図はそれぞれカラー受像管用ステムの正面図およ
び平面図である。
ムに組込む前のインナーリード線としてのニッケル線の
顕微鏡写真および比較として示した従来のインナーリー
ド線としてのニッケル線の顕微鏡写真、第２図（Ａ）お
よび（Ｂ）図はそれぞれこの発明のステム製造後のイン
ナーリード線の顕微鏡写真および比較として示した従来
のステム製造後のインナーリード線の顕微鏡写真、第３
図はカラー受像管の構成を示す図、第４図（Ａ）および
（Ｂ）図はそれぞれカラー受像管用ステムの正面図およ
び平面図である。
Claims (2)
- （１）ニッケルを主成分として炭素を０．０３〜０．１
０重量％のほか不可避的不純物を含有するステム製造前
の線材の組織をほぼ完全に一次再結晶粒で構成したこと
を特徴とする電子管のステム用インナーリード線。 - （２）ほぼ完全に一次再結晶粒からなる線材をステムに
組込んで平均粒径約１０μｍの一次再結晶粒と平均粒径
約１００μｍの二次再結晶粒とが混在する組織にしたこ
とを特徴とする特許請求の範囲第１項に記載の電子管の
ステム用インナーリード線。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62296025A JPH01140534A (ja) | 1987-11-26 | 1987-11-26 | 電子管のステム用インナーリード線 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62296025A JPH01140534A (ja) | 1987-11-26 | 1987-11-26 | 電子管のステム用インナーリード線 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01140534A true JPH01140534A (ja) | 1989-06-01 |
Family
ID=17828141
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62296025A Pending JPH01140534A (ja) | 1987-11-26 | 1987-11-26 | 電子管のステム用インナーリード線 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01140534A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5233055A (en) * | 1991-03-19 | 1993-08-03 | Shell Oil Company | Copolymerization of polyethercyclicpolyols with epoxy resins |
-
1987
- 1987-11-26 JP JP62296025A patent/JPH01140534A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5233055A (en) * | 1991-03-19 | 1993-08-03 | Shell Oil Company | Copolymerization of polyethercyclicpolyols with epoxy resins |
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