JPH01136044A - 多数の光導波路を検査する測定装置 - Google Patents
多数の光導波路を検査する測定装置Info
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- JPH01136044A JPH01136044A JP63260687A JP26068788A JPH01136044A JP H01136044 A JPH01136044 A JP H01136044A JP 63260687 A JP63260687 A JP 63260687A JP 26068788 A JP26068788 A JP 26068788A JP H01136044 A JPH01136044 A JP H01136044A
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- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims abstract description 23
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- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 4
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 3
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- 238000000253 optical time-domain reflectometry Methods 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
- G01M11/3136—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR for testing of multiple fibers
-
- G—PHYSICS
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、光セレクタを介して各光導波路に次々に結合
することのできる光測定入力を有する光測定デバイスに
より多数の光導波路を検査する測定装置に関するもので
ある。
することのできる光測定入力を有する光測定デバイスに
より多数の光導波路を検査する測定装置に関するもので
ある。
このような公知の装置は特に光導波路ケーブルの製造品
質を検査するのに必要とされる。１９８６年６月発行の
安立株式会社のカタログｋ ＭＮ９３６／９３７−１「
オプティカル・チャネル・セレクタ（ＯｐｔｉｃａｌＣ
ｈａｎｎｅｌ ５ｅｌｅｃｔｏｒ） Ｊには、６個の異
なる光導波路を接続することができまた光測定装置（′
＄ｉ衰または伝送帯域幅の測定）に結合さるべき出力接
続部と選択的に結合されることのできる測定装置に設け
られたセレクタが記載されている。
質を検査するのに必要とされる。１９８６年６月発行の
安立株式会社のカタログｋ ＭＮ９３６／９３７−１「
オプティカル・チャネル・セレクタ（ＯｐｔｉｃａｌＣ
ｈａｎｎｅｌ ５ｅｌｅｃｔｏｒ） Ｊには、６個の異
なる光導波路を接続することができまた光測定装置（′
＄ｉ衰または伝送帯域幅の測定）に結合さるべき出力接
続部と選択的に結合されることのできる測定装置に設け
られたセレクタが記載されている。
カップリングの目的で、検査さるべき光導波路の端面の
正確且つ再現可能な幾何学的なアラインメントを可能に
する取外し可能な光接続装置を設ける必要がある。冒頭
に記載したタイプの測定装置を光ケーブルの製造時の品
質検査に用いる場合には、数多くの反復結合操作を行わ
ねばならない。
正確且つ再現可能な幾何学的なアラインメントを可能に
する取外し可能な光接続装置を設ける必要がある。冒頭
に記載したタイプの測定装置を光ケーブルの製造時の品
質検査に用いる場合には、数多くの反復結合操作を行わ
ねばならない。
この場合敏感な光接続素子は早期に磨耗したり或いは不
適切な操作や汚染のために…傷することがあり、その結
果不確定な挿入損失の増加が生じる。
適切な操作や汚染のために…傷することがあり、その結
果不確定な挿入損失の増加が生じる。
高品質の光測定装置の修繕は高くつきまた時間がかかる
。
。
本発明の目的は、たとえその操作にそれ程細かい要求が
課せられなくても、信中ｎ性あり且つｌｔｉ単に操作す
ることのできるようにした冒頭記載のタイプの装置を得
ることにある。
課せられなくても、信中ｎ性あり且つｌｔｉ単に操作す
ることのできるようにした冒頭記載のタイプの装置を得
ることにある。
この目的は、測定デバ・イスとセレクタを測定装置の一
体部分として内蔵することによって達成される。
体部分として内蔵することによって達成される。
測定装置の一部としてのセレクタは、外部への光導波路
に対する結合点だけが接近可能でありまた有害な影響を
受ける。
に対する結合点だけが接近可能でありまた有害な影響を
受ける。
本発明の有利な実施態様では、セレクタの光入力は、特
に測定装置の一部を構成するカップリング素子の内部の
光接続素子と結合され、この内部の光接続素子は、光導
波路に結合さるべき外部の接続素子に光を通すように連
結される。
に測定装置の一部を構成するカップリング素子の内部の
光接続素子と結合され、この内部の光接続素子は、光導
波路に結合さるべき外部の接続素子に光を通すように連
結される。
外部の接続素子が…傷されることのあるカップリング素
子は別に交換することができる。これはなれないユーザ
でも簡単に行うことができる。磨耗を受けることのある
部分は修理することができ、その機能はさ程の面倒なし
に検査することができる。
子は別に交換することができる。これはなれないユーザ
でも簡単に行うことができる。磨耗を受けることのある
部分は修理することができ、その機能はさ程の面倒なし
に検査することができる。
本発明の好ましい実施態様では、光導波路は、これ等光
導波路の端面がカンプリング素子の外部の接続素子の格
子でアラインされるように１つの共通な接続ブロック内
に位置され、接続ブロックは、光導波路が外部の接続素
子と光学的に連結されるような位置で測定装置に連結可
能である。この場合、ケーブルより突出した光導波路は
、連結ブロックの任意の場所の所定位置に位置決めして
固定することができる。測定装置への接続はこの場合単
一且つ簡単なプロセスによって実現される。
導波路の端面がカンプリング素子の外部の接続素子の格
子でアラインされるように１つの共通な接続ブロック内
に位置され、接続ブロックは、光導波路が外部の接続素
子と光学的に連結されるような位置で測定装置に連結可
能である。この場合、ケーブルより突出した光導波路は
、連結ブロックの任意の場所の所定位置に位置決めして
固定することができる。測定装置への接続はこの場合単
一且つ簡単なプロセスによって実現される。
光導波路は、若し光導波路の端面が結合状態において外
部の接続素子の光伝導素子の端面に略々１００μｍから
８００μｍの間隔で対向して位置されれは、特別な精度
を守る必要なしに極めて簡単に連結ブロック内に位置決
めすることができる。結合さるべき光伝導素子の端面間
の間隔が挿入損の増加をきたすことは事実であるが、こ
の１員失は、端面の中心のずれが比較的大きな場合には
略々不変に保たれる。したがって、比較的大きな幾何学
的な裕度にも拘らずカップリング品質の再現性は秀れて
いる。伝送される光の強さの損失は、使用できる測定装
置が十分に感度がよいので許容できる範囲のものである
。結合さるべき光導波路端面間に故意に大きな間隔を用
いた前記のカップリングは、光伝送体と受光体とが、測
定されべき光導波路の反対端に配設された伝送装置に対
して特に適している。
部の接続素子の光伝導素子の端面に略々１００μｍから
８００μｍの間隔で対向して位置されれは、特別な精度
を守る必要なしに極めて簡単に連結ブロック内に位置決
めすることができる。結合さるべき光伝導素子の端面間
の間隔が挿入損の増加をきたすことは事実であるが、こ
の１員失は、端面の中心のずれが比較的大きな場合には
略々不変に保たれる。したがって、比較的大きな幾何学
的な裕度にも拘らずカップリング品質の再現性は秀れて
いる。伝送される光の強さの損失は、使用できる測定装
置が十分に感度がよいので許容できる範囲のものである
。結合さるべき光導波路端面間に故意に大きな間隔を用
いた前記のカップリングは、光伝送体と受光体とが、測
定されべき光導波路の反対端に配設された伝送装置に対
して特に適している。
けれども、後方散乱測定（ＯＴＤＲ）を行う場合には次
のようにするのが好ましい、すなわち、セレクタの光入
力はカップリングブロックの■溝内に位置する光導波路
端部と連結され、測定さるべき光導波路は前記のカップ
リングブロックの■溝内で前記の端部と対向して位置さ
れ、光導波路を保持するクランプブロックによって光導
波路端部（２４）の端面の方向に動くことができるよう
にする。後方散乱法では、結合点による光伝送の再現性
よりも寧ろできるだけ小さな挿入ｌ置火が重要である。
のようにするのが好ましい、すなわち、セレクタの光入
力はカップリングブロックの■溝内に位置する光導波路
端部と連結され、測定さるべき光導波路は前記のカップ
リングブロックの■溝内で前記の端部と対向して位置さ
れ、光導波路を保持するクランプブロックによって光導
波路端部（２４）の端面の方向に動くことができるよう
にする。後方散乱法では、結合点による光伝送の再現性
よりも寧ろできるだけ小さな挿入ｌ置火が重要である。
本発明による測定装置の多面性は次のようにすることに
より高められる、すなわち測定装置は、その光入力が夫
々の光導波路に選択的に結合されることのできる多数の
異なる測定デバイスを有するようにする。
より高められる、すなわち測定装置は、その光入力が夫
々の光導波路に選択的に結合されることのできる多数の
異なる測定デバイスを有するようにする。
多数の測定デバイスがセレクタの所定の位置において異
なる光導波路に結合されるようにすると、異なる測定プ
ロセスを異なる光導波路に同時に行うことができる。
なる光導波路に結合されるようにすると、異なる測定プ
ロセスを異なる光導波路に同時に行うことができる。
以下に本発明を添付の図面を参照して実施例により更に
詳しく説明する。
詳しく説明する。
第１図は光ケーブル３の９個の光導波路２の品質検査を
行う測定装置１を略図的に示したものである。例えは、
第１光波長の減衰は測定デバイス４で測定され、第２光
波長の減衰は測定デバイス５によりまた伝送帯域幅は測
定デバイス６により測定される。
行う測定装置１を略図的に示したものである。例えは、
第１光波長の減衰は測定デバイス４で測定され、第２光
波長の減衰は測定デバイス５によりまた伝送帯域幅は測
定デバイス６により測定される。
これ等の測定デバイスの先入カフ、８および９は光を通
すようにしてセレクタ１１の可動キャリジ１０に連結さ
れる。このキャリジは、先人カフ、８または９の夫々が
セレクタ１１の９個の接続リード１２の夫々に光を通す
ように連結されることができるように、２重矢印１８の
方向に極めて正確なステップで動かされることができる
。
すようにしてセレクタ１１の可動キャリジ１０に連結さ
れる。このキャリジは、先人カフ、８または９の夫々が
セレクタ１１の９個の接続リード１２の夫々に光を通す
ように連結されることができるように、２重矢印１８の
方向に極めて正確なステップで動かされることができる
。
光導波路２は、セレクタ１１の対応する接続リード１２
に直接に接続されるのではなくて測定装置１に所属する
中間カップリング素子１３を経て接続され、この素子内
では、９個の中間リード１４が各接続リード１２に固定
して或いは例えば枠通のプラグ接続１５により取外し可
能に接続される。前記の中間リード１４の端面は、好ま
しくは１つの共通面内で接続部分１６で終端している。
に直接に接続されるのではなくて測定装置１に所属する
中間カップリング素子１３を経て接続され、この素子内
では、９個の中間リード１４が各接続リード１２に固定
して或いは例えば枠通のプラグ接続１５により取外し可
能に接続される。前記の中間リード１４の端面は、好ま
しくは１つの共通面内で接続部分１６で終端している。
光ケーブル３の光導波路２の端は、それ等の端面が中間
リード１４の関係の端面とできる限り同じ間隔で対向し
て同心的に位置するように、接続ブロック１７に挿入さ
れ、固定される。
リード１４の関係の端面とできる限り同じ間隔で対向し
て同心的に位置するように、接続ブロック１７に挿入さ
れ、固定される。
この接続ブロック１７は、光導波路２と中間り一ド１４
の間に間隔ａができるように、測定装置１に接する。
の間に間隔ａができるように、測定装置１に接する。
端面または接続部分１６が損傷したり汚染した場合には
、中間カッフリノング１３全体を容易に交換することが
できる。測定装置ｌ内のセレクタ１１の光学的接続は損
傷に対して保護され、安全である。
、中間カッフリノング１３全体を容易に交換することが
できる。測定装置ｌ内のセレクタ１１の光学的接続は損
傷に対して保護され、安全である。
簡単のために第１図は直線的に可動な走査キャリジ１０
を有するセレクタを示している。けれども、走査される
光り−ドが１つの円上または同心円上に等間隔に配設さ
れた回転セレクタとしての形（ドイツ国特許公開公報第
３４３９９０５号参照）も好適であろう。
を有するセレクタを示している。けれども、走査される
光り−ドが１つの円上または同心円上に等間隔に配設さ
れた回転セレクタとしての形（ドイツ国特許公開公報第
３４３９９０５号参照）も好適であろう。
第２図は、結合位置にある光導波路２と関係の中間リー
ド１４との端面の空間的配置を拡大して示したものであ
る。光ビームは光導波路から広がる形で破線に−従って
出、その光出力の一部だけが中間リード１４に達する。
ド１４との端面の空間的配置を拡大して示したものであ
る。光ビームは光導波路から広がる形で破線に−従って
出、その光出力の一部だけが中間リード１４に達する。
けれども、この光出力は、光導波路２乃至は中間リード
の光軸２０と１９が距離ｄだけずれても変わらない。そ
の上、光軸２０と１９の比較的大きな角度のずれが許さ
れる。間隔ａが大きければ大きい程それだけ光導波路２
のアラインメントエラーに対する測定装置ｌの反応は鈍
（なる。けれども、間隔ａは、不必要に大きな結合損失
を防ぐために余り大きく選ぶべきではない。
の光軸２０と１９が距離ｄだけずれても変わらない。そ
の上、光軸２０と１９の比較的大きな角度のずれが許さ
れる。間隔ａが大きければ大きい程それだけ光導波路２
のアラインメントエラーに対する測定装置ｌの反応は鈍
（なる。けれども、間隔ａは、不必要に大きな結合損失
を防ぐために余り大きく選ぶべきではない。
１００μｍから８００μｍの範囲のａの値が有利である
ことがわかった。
ことがわかった。
所謂ケーブル測定オートマントとして第１図に示された
測定装置の実施態様では、電子素子や出力または表示器
ユニットが勿論必要とされる。これ等は当業者に公知の
方法で構成することができる。図面は、本発明に不可欠
な特徴を明らかにするためにこれ等を図示してない。
測定装置の実施態様では、電子素子や出力または表示器
ユニットが勿論必要とされる。これ等は当業者に公知の
方法で構成することができる。図面は、本発明に不可欠
な特徴を明らかにするためにこれ等を図示してない。
第３図の測定装置は、後方散乱装置に好ましい変形で、
第１図の装置と同一部分は同一符号を有する。セレクタ
１１に導かれる光導波路端部２４はクランプブロック２
１内で固定され、カップリングプロック２２の連続した
Ｖ溝内で終端している。光導波路端部２４の１つは光導
波路２の１つと各Ｖ溝内で対面する。光導波路２のグル
ープはクランプブロック２３内で固定されている。光導
波路２の端部は次いでクランプブロック２３を動かすこ
とにより光導波路端部２４の端面に対して押付けられる
。この目的に適したカップリング装置の詳細は、例えは
、ドイツ国特許公開公報第３６１３３４５号に記載され
ている。
第１図の装置と同一部分は同一符号を有する。セレクタ
１１に導かれる光導波路端部２４はクランプブロック２
１内で固定され、カップリングプロック２２の連続した
Ｖ溝内で終端している。光導波路端部２４の１つは光導
波路２の１つと各Ｖ溝内で対面する。光導波路２のグル
ープはクランプブロック２３内で固定されている。光導
波路２の端部は次いでクランプブロック２３を動かすこ
とにより光導波路端部２４の端面に対して押付けられる
。この目的に適したカップリング装置の詳細は、例えは
、ドイツ国特許公開公報第３６１３３４５号に記載され
ている。
第１図は本発明の測定装置の路線図、
第２図は結合さるべき光導波路と測定装置の光入力リー
ドとの相対位置を示す拡大図、第３図は本発明の測定装
置の変形を示す路線図である。 ■・・・測定装置 ２・・・光導波路３・・・
光ケーブル ４，５．６・・・測定デバイス７．
８．９・・・光入力 １０・・・可動キャリジ１１・
・・セレクタ １２・・・接続リード１３・・
・中間カップリング素子 １４・・・中間リード １５・・・プラグ接続１
６・・・接続部分 １７・・・接続ブロック２
１、２３・・・クランプブロック ２２・・・カップリングブロック ２４・・・光導波路端部 特許比１頭人 エヌ・ベー・フィリップス・フルー
イランペンファブリケン
ドとの相対位置を示す拡大図、第３図は本発明の測定装
置の変形を示す路線図である。 ■・・・測定装置 ２・・・光導波路３・・・
光ケーブル ４，５．６・・・測定デバイス７．
８．９・・・光入力 １０・・・可動キャリジ１１・
・・セレクタ １２・・・接続リード１３・・
・中間カップリング素子 １４・・・中間リード １５・・・プラグ接続１
６・・・接続部分 １７・・・接続ブロック２
１、２３・・・クランプブロック ２２・・・カップリングブロック ２４・・・光導波路端部 特許比１頭人 エヌ・ベー・フィリップス・フルー
イランペンファブリケン
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、光セレクタを介して各光導波路に次々に結合するこ
とのできる光測定入力を有する光測定デバイスにより多
数の光導波路を検査する測定装置において、測定デバイ
ス（４、５、６）とセレクタ（１１）とは測定装置の一
体部分として内蔵されたことを特徴とする測定装置。 ２、セレクタ（１１）の光入力（１２）は、特に測定装
置（１）の一部を構成するカップリング素子（１３）の
内部の光接続素子（１５）と結合され、この内部の光接
続素子は、光導波路（２）に結合さるべき外部の接続素
子（１６）に光を通すように連結された請求項１記載の
測定装置。 ３、光導波路（２）は、これ等光導波路の端面がカップ
リング素子（１３）の外部の接続素子（１６）の格子で
アラインされるように１つの共通な接続ブロック（１７
）内に位置され、接続ブロック（１７）は、光導波路（
２）が外部の接続素子（１６）と光学的に連結されるよ
うな位置で測定装置（１）に連結可能である請求項１ま
たは２記載の測定装置。 ４、光導波路（２）の端面は、結合状態において、外部
の接続素子（１６）の光伝導素子（１４）の端面に略々
１００μｍから８００μｍの間隔で対向して位置される
請求項３記載の測定装置。 ５、セレクタ（１１）の光入力はカップリングブロック
（２２）のＶ溝内に位置する光導波路端部（２４）と連
結され、測定さるべき光導波路（２）は前記のカップリ
ングブロック（２２）のＶ溝内で前記の端部と対向して
位置され、光導波路（２）を保持するクランプブロック
（２３）によって光導波路端部（２４）の端面の方向に
可動である請求項１または２記載の測定装置。 ６、測定装置（１）は、その光入力（７、８、９）が夫
々の光導波路（２）に選択的に結合されることのできる
多数の異なる測定デバイス（４、５、６）を有する請求
項１乃至５の何れか１項記載の測定装置。 ７、多数の測定デバイス（４、５、６）はセレクタ（１
１）の所定の位置において異なる光導波路（２）に結合
される請求項６記載の測定装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3735399.3 | 1987-10-20 | ||
| DE19873735399 DE3735399A1 (de) | 1987-10-20 | 1987-10-20 | Messanordnung zur pruefung einer mehrzahl von lichtwellenleitern |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01136044A true JPH01136044A (ja) | 1989-05-29 |
Family
ID=6338665
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63260687A Pending JPH01136044A (ja) | 1987-10-20 | 1988-10-18 | 多数の光導波路を検査する測定装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4990770A (ja) |
| EP (1) | EP0313128B1 (ja) |
| JP (1) | JPH01136044A (ja) |
| DE (2) | DE3735399A1 (ja) |
Families Citing this family (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB8917737D0 (en) * | 1989-08-03 | 1989-09-20 | Bicc Plc | Optical measurement system |
| US5220407A (en) * | 1990-11-26 | 1993-06-15 | The Furukawa Electric Co., Ltd. | Method for measuring the dimensions of an optical connector |
| US5131746A (en) * | 1991-01-22 | 1992-07-21 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | On-line process control monitoring system |
| DE4243388A1 (de) * | 1992-02-05 | 1994-06-23 | Siemens Ag | Meßeinrichtung für Lichtwellenleiter und Verfahren zur Durchführung der Messung |
| US5375179A (en) * | 1993-11-02 | 1994-12-20 | Photon Kinetics, Inc. | Method and apparatus for coupling optical fibers comprises digitizing the image of fields of view |
| US5400420A (en) * | 1993-11-02 | 1995-03-21 | Photon Kinetics, Inc. | Method and apparatus for applying a nanoliter quantity of liquid to a target object without solid contact |
| DE19526442A1 (de) * | 1995-07-20 | 1997-01-30 | Deutsche Telekom Ag | Faseroptischer Vielfachschalter |
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