JPH01135077A - 光発電素子 - Google Patents

光発電素子

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JPH01135077A
JPH01135077A JP62294564A JP29456487A JPH01135077A JP H01135077 A JPH01135077 A JP H01135077A JP 62294564 A JP62294564 A JP 62294564A JP 29456487 A JP29456487 A JP 29456487A JP H01135077 A JPH01135077 A JP H01135077A
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JP
Japan
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layer
photovoltaic
electrode layer
metal electrode
melting point
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Pending
Application number
JP62294564A
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English (en)
Inventor
Masao Izumo
正雄 出雲
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
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    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/548Amorphous silicon PV cells

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  • Photovoltaic Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光エネルギーを電気エネルギーに変換する光発
電素子、特に集積型の光発電素子に関するものである。
〔従来の技術〕
一般にこの種の光発電素子は、例えばガラス基板等の絶
縁性基板上に第1の電極層、pin型又はnip型接合
を有する光発電層、第2の電極層をこの順序に積層形成
して構成されるが、単一の光発電素子のみでは出力が小
さいため、通常は必要な出力が得られるよう複数の光発
電素子を直列接続した集積型に構成される。
直列接続した状態の光発電素子を製造する場合、絶縁性
基板上に積層形成する各金属電極層、光発電層、透明電
極層を夫々パターン加工する必要があるが、このパター
ン加工をレーザビー、ムを用いて行う場合、下地層を損
傷することなく、切断対象層のみを切断する加工を行う
のは極めて難しい。
第2図は従来の光発電素子におけるレーザビームを用い
た切断部分の断面図であり、絶縁性基板11上に第1の
電極層12、pin型接合を有する半導体層13、金属
製の第2の電極層14をこの順序に積層形成してあり、
第2の電極層14の上方からレーザビームを照射して第
2電極層14と半導体層13とを切り分けようとした場
合を示している。
しかし金属製の第2の電極[14を蒸発除去するために
必要な出力に設定すると、レーザビームによって形成さ
れた溝15の底部は第2の電極層14は勿論、その下地
層である半導体層13、更には第1の電極層12にまで
達し、しかも溝15の両側には、第2の電極層14を構
成する^lが半導体層13、第1の電極層12と化合し
て低級の導電性酸化物からなる残存物16が第2の電極
層14の上面に突出形成され、この部分でのパッシベイ
ション、電気的アイソレーションが不十分となるなどの
不都合もあった。
この対策として従来にあってはレーザビーム加工によっ
て溝を形成する際にハロゲン等の反応性気体による化学
エツチング作用を利用することが行われている(特開昭
60−41266号)。
第3図はこのような方法で製造された従来の光発電素子
における切断部分の断面図であり、溝15の底部は第2
の電極層14及びその下地層である半導体層13の一部
に達するに留まり、しかも残存物16も極めて小さくな
っている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし、この従来の光発電素子にあっても層の切り分は
精度は若干向上するが溝15内に反応性ガスの元素が残
存し、ここで化合物を形成して信転性を低下させるとい
う問題があった。
本発明はかかる事情に鑑みなされたものであって、その
目的とするところは切断対象層の下地層に対する損傷を
低減し得るようにした光発電素子を提供するにある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明にあっては基板上に金属電極層、アモルファスシ
リコンを含む光発電層、透明電極層をこの順序に形成す
る場合において、金属電極層を光発電層の材料の沸点よ
りも高い融点を有する材料で形成する。
〔作用〕
本発明にあってはこれによって、光発電層の切断時、即
ち蒸発除去時のエネルギービームではその下地層となる
金属電極層が損傷されることがない。
〔実施例〕
以下本発明をその実施例を示す図面に基づき具体的に説
明する。
第1図は本発明に係る光発電素子(以下本発明素子とい
う)の部分断面構造図であり、図中1はガラス板等の絶
縁性基板、2は金属電極層、3はアモルファスシリコン
を含み、pin型又はnip型接合を有する光発電層を
示している。
絶縁性基板l上に金属電極層2がパターン形成され、こ
の金属電極層2上にアモルファスシリコンを含む光発電
層3を積層形成し、大気中又は真空中でエネルギービー
ムとしてYAGレーザ等のレーザビームを用いて光発電
層を3を切断する溝5を施した後、この上から透明電極
層(図示せず)が積層形成されるようになっている。
金属電極層2はスパッタ法等を適用して形成したタング
ステンを材料とするfltliをにて構成される。この
金属電極層2の材料については特に限定するものではな
く、光発電層3の材料の沸点よりも温度の高い融点を有
する材料、例えば主構成材料であるS、の沸点は248
0℃であるから、これよりも高い温度の融点を有する材
料(タングステンの融点は大気中では3380℃)であ
ればよく、例えばTa (大気中での融点2980℃)
でもよい。
光発電N3はプラズマCvD法等を適用してアモルファ
スシリコンを含む半導体層をpin型又はnip型接合
を有するよう積層形成して構成される。
またエネルギービームについてはYAGレーザを用いる
構成を示したが、これに限らずCO2レーザ。
アレキサントレーザ等を用いてもよいことは勿論である
。その他国中9は集光レンズである。
而してこのような本発明素子にあっては、絶縁性基板1
上に金属電極層2、光発電層3を積層形成した時点でレ
ーザビームを用いて光発電層3を切断するが、光発電層
3の材料の沸点よりも金属電極層2の材料の融点を大き
くしであるため、光発電層3を切断するときの出力では
、金属電極層2が損傷されることがない。
なお、光発電層3に対する切断を真空中で行うと光発電
層3の材料の沸点は低下し、高融点の材料を用いた金属
電極層との切り分は性を一層向上させ得る。
〔発明の効果〕
以上の如く本発明素子であっては、絶縁性基板と光発電
層との間に介在させる金属電極層の材料の融点を光発電
層の材料の沸点よりも高くするようにしたから、光発電
層の切断に際してその下地層である金属電極層の損傷を
確実に防止し得て成品品質の大幅な向上を図れ、信軌性
を高め得るなど、本発明は優れた効果を奏するものであ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明素子の部分断面構造図、第2図。 第3図はいずれも従来素子の部分断面構造図である。 l・・・絶縁性基板  2・・・金属電極層  3・・
・光発電層  4・・・レンズ なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、基板上に金属電極層、アモルファスシリコンを含む
    光発電層、透明電極層をこの順序に積層して構成される
    光発電素子において、前記金属電極層は光発電層の材料
    の沸点よりも高い融点の材料で構成されていることを特
    徴とする光発電素子。 2、光発電素子は集積型である特許請求の範囲第1項記
    載の光発電素子。
JP62294564A 1987-11-20 1987-11-20 光発電素子 Pending JPH01135077A (ja)

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