JPH01126225A - 電子回路用配線材 - Google Patents
電子回路用配線材Info
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- JPH01126225A JPH01126225A JP62282135A JP28213587A JPH01126225A JP H01126225 A JPH01126225 A JP H01126225A JP 62282135 A JP62282135 A JP 62282135A JP 28213587 A JP28213587 A JP 28213587A JP H01126225 A JPH01126225 A JP H01126225A
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- 239000000463 material Substances 0.000 title claims abstract description 15
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 5
- 150000002602 lanthanoids Chemical group 0.000 claims abstract description 3
- 229910052706 scandium Inorganic materials 0.000 claims abstract 3
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 claims abstract 3
- 229910052746 lanthanum Inorganic materials 0.000 claims abstract 2
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims abstract 2
- 229910052723 transition metal Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 abstract 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 abstract 2
- 238000000280 densification Methods 0.000 abstract 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 19
- 238000000034 method Methods 0.000 description 14
- 239000010408 film Substances 0.000 description 10
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 7
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910021521 yttrium barium copper oxide Inorganic materials 0.000 description 6
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 4
- 239000002887 superconductor Substances 0.000 description 4
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 3
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 3
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 3
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000001354 calcination Methods 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- WTEVQBCEXWBHNA-YFHOEESVSA-N neral Chemical compound CC(C)=CCC\C(C)=C/C=O WTEVQBCEXWBHNA-YFHOEESVSA-N 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 2
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- WTEVQBCEXWBHNA-UHFFFAOYSA-N Citral Natural products CC(C)=CCCC(C)=CC=O WTEVQBCEXWBHNA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002370 SrTiO3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910010252 TiO3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 229910052798 chalcogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001787 chalcogens Chemical class 0.000 description 1
- WTEVQBCEXWBHNA-JXMROGBWSA-N citral A Natural products CC(C)=CCC\C(C)=C\C=O WTEVQBCEXWBHNA-JXMROGBWSA-N 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000000407 epitaxy Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000002513 implantation Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N lanthanum atom Chemical group [La] FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007750 plasma spraying Methods 0.000 description 1
- 230000002250 progressing effect Effects 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 150000003624 transition metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 229920003169 water-soluble polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E40/00—Technologies for an efficient electrical power generation, transmission or distribution
- Y02E40/60—Superconducting electric elements or equipment; Power systems integrating superconducting elements or equipment
Landscapes
- Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
- Oxygen, Ozone, And Oxides In General (AREA)
- Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
[技術分野]
本発明は、超電導性酸化物からなる電子回路用は配線材
に関する。 C従来技術] 従来の電子回路や印刷配線板において、単層配線多層配
線いずれにおいても、配線材料としては、銅、金、ニッ
ケル、アルミニウムなどが用いられていた。・これらは
電気的には良導体であるが、LSIや超LSIで見られ
るような高密度化や多層化あるいは立体化が進むにつれ
て問題点があられれてきている。これらは有限な電気抵
抗の値によって生じるところの l)信号伝播の遅れや波形のひずみ、 2)ジュール熱の発生と蓄積、 などである。 [目 的] 本発明はこのような事情に鑑み、電子回路の高密度化、
立体化に対応できる配線材を提供することを目的とする
ものである。 [構 成] 前述の電子回路における問題点は一つには配線に用いる
材料の電気伝導度を高めることにより達成できる。ジュ
ール熱の発生や信号の遅れの割合は伝導度の増加と共に
減少するからであリ、特に配線材料が超伝導性を有する
場合には、これら効果を格段に裔めることかできる。 そしてこの効果はLSIや超LSIのように集積化の進
む場合、立体配線を必要とするような場合に特に顕著な
効果をあられすものである。 以下実施例によって本発明を説明する。超電導体R,X
、Z、D、A、において、Rのランタノイド族元素とし
てはYが、Ua族元索XとしてはBa5Sr%Caが好
ましく、遷移金属ZとしてはCu s Vl a族元素
としては0が好ましい。 RがY、XがBa、ZがCu5Dが0であるような超電
導体(以下YBCOと略称する)は次のようにして作る
ことができる。原料としてY2O3、Cu0%BaCO
3の微粉末(粒径10μ畑以下)を重量比2.73.7
.71.9.58で良く混合し、約950℃の炉中、空
気雰囲気下で10時間にわたり仮焼した。室温に徐冷し
た後、粒径約30μ謹以下の微粒末に粉砕した後、充分
に混合をおこなった。 諸用途のために所望の形状とするためには、この微粉末
を任意の金型でもって約30kgr相当の圧力で加圧成
形をおこなった後、上記と同じ雰囲気・温度・時間でも
って焼成をおこなう。 これらプロセス等に関する初期の断片的記述は、以下の
文献にも見られる。 ■ C6旧chel and B、Rabeau、Re
v、Ch1mle旧neral 21,407(198
4)、■ J、G、Berdnorz and K、A
、Mtfller、Z、Phys。 B ft4.189(1986)、 ■ M、KJu、J、R,Ashburn、C,J、T
orng、P、11.IIor。 R,L、Meng、L、Gao、Z、J、lIuang
、Y、Q、Wang andC,W、Chu、Phys
、Rev、Lett、 58.908(1987)、別
の製法としては該化合物を仮焼前あるいは仮焼後の状態
にある粉末についてアルコールや水溶性ポリマーなどの
いわゆるバインダー中に分散させ、任意の形状に成型後
、前述のような条件で焼成することによっても得られる
。 またの方法としては例えばスクリーン印刷法などの湿式
法、スパッタリング法、分子線エピタキシャル法、プラ
ズマ溶射法などによることもできる。これらの方法にお
いては基板の種類・性状を選択することによって、いわ
ゆるエピタキシー効果により、生成物の性能を高めるこ
とも可能になる。また生成物は上述の焼成条件のもと、
さらに熱処理をほどこすことによって特性を改善できる
。 以上は超電導体が化合物(YSBa、CuqO)である
場合を述べたが、超伝導体のTcなど諸特性を改善する
ことを目的として、他種の元素を付加する場合がある。 Yで代表されるRとしては5cSLaなどのランタン族
の元素、Baで代表されるXとしてはS「、Caなど■
族の元素、ZとしてはCuの他遷移金属元素、Dは0の
他■族カルコゲン元素、AとしてはB。 C,N1Fの元素を各々のグループを単数あるいは複数
の元素を任意の量だけ付加するものである。これらは原
料物質の段階で混合されても良いし、焼成中あるいは焼
成後、拡散や打込みなどの方法によっても達成される。 以上のようにして作製された超電導性酸化物は薄膜ある
いは層状のバルクなどの形状でもって配線材として応用
することができる。−膜内には2次元配線(第1図)も
考えられるのは勿論であるが、この場合の効果が顕著に
なるのはさきに述べたように2層あるいはそれ以上にわ
たる立体配線の場合であるから以下ではこれについて説
明を続ける。 立体配線の概念的に第2図に示し、詳細な断面図を第3
図に例示する。基板としてのガラス中セラミックや5r
Ti03などの上にスパッタリング法や蒸着法によりY
BaCuO化合物により導体部を形成し、絶縁部と積層
すると共にスルーホール接続部により立体配線を実現す
るものである。 ここで従来のプロセスからして、層内あるいは相隣る層
間の配線については特に問題なく通常の配線パターン形
成の手順により行うことができるが、スルーホール結線
部については特に配慮が必要となるので次に述べる。 基板SrTiO3の場合を例にとると YBCO化合物膜その上に窒化シリコン膜を各々 2μ
l厚に堆積させ、リフトオフを目的とするアルミ膜1μ
−厚をマスク蒸着による所定のパターンとして形成、さ
らにその上にYBCO膜第2層を厚さ 2μ−に堆積さ
せる(第4図a)。さらに2μl厚の窒化シリコン膜を
この上に堆積させた後、ドライエツチングのためのレジ
ストパターンを形成する(第4図b)。この時レジスト
パターンの幅は第−層導体除去部の上に位置し、その除
去部の幅よりも充分に狭いものとする。したがってドラ
イエツチングによるエッチ孔はYBCOM第1層に達し
てもYBCO膜第2層との間には絶縁層を残存させるこ
とができる(第4図C)。引続きレジスト除去を行った
後、YBCO膜第3層番堆積させる。 この結果形成されたスルーホールによって第1層と第3
層が接続される(第4図d)。 以上の手順で作製した回路について第1層と第3層の間
の回流抵抗値を測定したところ、室温においては8.4
X 10°雷 (Ω・l)であった。 また回路と接した銅ブロックの熱伝導により液体窒素温
度に冷却した時、抵抗値は零を示した。 ただしこの抵抗値はドラエッチ法によった場合について
得られた。 、別のプロセスとしてウェット・エッチ法によった場合
には抵抗値は室温において約2桁高い値を示し、液体窒
素温度に至るまで半導体的に抵抗値は増加して超電導状
態とはならず、所期の配線材としては不適当であった。
に関する。 C従来技術] 従来の電子回路や印刷配線板において、単層配線多層配
線いずれにおいても、配線材料としては、銅、金、ニッ
ケル、アルミニウムなどが用いられていた。・これらは
電気的には良導体であるが、LSIや超LSIで見られ
るような高密度化や多層化あるいは立体化が進むにつれ
て問題点があられれてきている。これらは有限な電気抵
抗の値によって生じるところの l)信号伝播の遅れや波形のひずみ、 2)ジュール熱の発生と蓄積、 などである。 [目 的] 本発明はこのような事情に鑑み、電子回路の高密度化、
立体化に対応できる配線材を提供することを目的とする
ものである。 [構 成] 前述の電子回路における問題点は一つには配線に用いる
材料の電気伝導度を高めることにより達成できる。ジュ
ール熱の発生や信号の遅れの割合は伝導度の増加と共に
減少するからであリ、特に配線材料が超伝導性を有する
場合には、これら効果を格段に裔めることかできる。 そしてこの効果はLSIや超LSIのように集積化の進
む場合、立体配線を必要とするような場合に特に顕著な
効果をあられすものである。 以下実施例によって本発明を説明する。超電導体R,X
、Z、D、A、において、Rのランタノイド族元素とし
てはYが、Ua族元索XとしてはBa5Sr%Caが好
ましく、遷移金属ZとしてはCu s Vl a族元素
としては0が好ましい。 RがY、XがBa、ZがCu5Dが0であるような超電
導体(以下YBCOと略称する)は次のようにして作る
ことができる。原料としてY2O3、Cu0%BaCO
3の微粉末(粒径10μ畑以下)を重量比2.73.7
.71.9.58で良く混合し、約950℃の炉中、空
気雰囲気下で10時間にわたり仮焼した。室温に徐冷し
た後、粒径約30μ謹以下の微粒末に粉砕した後、充分
に混合をおこなった。 諸用途のために所望の形状とするためには、この微粉末
を任意の金型でもって約30kgr相当の圧力で加圧成
形をおこなった後、上記と同じ雰囲気・温度・時間でも
って焼成をおこなう。 これらプロセス等に関する初期の断片的記述は、以下の
文献にも見られる。 ■ C6旧chel and B、Rabeau、Re
v、Ch1mle旧neral 21,407(198
4)、■ J、G、Berdnorz and K、A
、Mtfller、Z、Phys。 B ft4.189(1986)、 ■ M、KJu、J、R,Ashburn、C,J、T
orng、P、11.IIor。 R,L、Meng、L、Gao、Z、J、lIuang
、Y、Q、Wang andC,W、Chu、Phys
、Rev、Lett、 58.908(1987)、別
の製法としては該化合物を仮焼前あるいは仮焼後の状態
にある粉末についてアルコールや水溶性ポリマーなどの
いわゆるバインダー中に分散させ、任意の形状に成型後
、前述のような条件で焼成することによっても得られる
。 またの方法としては例えばスクリーン印刷法などの湿式
法、スパッタリング法、分子線エピタキシャル法、プラ
ズマ溶射法などによることもできる。これらの方法にお
いては基板の種類・性状を選択することによって、いわ
ゆるエピタキシー効果により、生成物の性能を高めるこ
とも可能になる。また生成物は上述の焼成条件のもと、
さらに熱処理をほどこすことによって特性を改善できる
。 以上は超電導体が化合物(YSBa、CuqO)である
場合を述べたが、超伝導体のTcなど諸特性を改善する
ことを目的として、他種の元素を付加する場合がある。 Yで代表されるRとしては5cSLaなどのランタン族
の元素、Baで代表されるXとしてはS「、Caなど■
族の元素、ZとしてはCuの他遷移金属元素、Dは0の
他■族カルコゲン元素、AとしてはB。 C,N1Fの元素を各々のグループを単数あるいは複数
の元素を任意の量だけ付加するものである。これらは原
料物質の段階で混合されても良いし、焼成中あるいは焼
成後、拡散や打込みなどの方法によっても達成される。 以上のようにして作製された超電導性酸化物は薄膜ある
いは層状のバルクなどの形状でもって配線材として応用
することができる。−膜内には2次元配線(第1図)も
考えられるのは勿論であるが、この場合の効果が顕著に
なるのはさきに述べたように2層あるいはそれ以上にわ
たる立体配線の場合であるから以下ではこれについて説
明を続ける。 立体配線の概念的に第2図に示し、詳細な断面図を第3
図に例示する。基板としてのガラス中セラミックや5r
Ti03などの上にスパッタリング法や蒸着法によりY
BaCuO化合物により導体部を形成し、絶縁部と積層
すると共にスルーホール接続部により立体配線を実現す
るものである。 ここで従来のプロセスからして、層内あるいは相隣る層
間の配線については特に問題なく通常の配線パターン形
成の手順により行うことができるが、スルーホール結線
部については特に配慮が必要となるので次に述べる。 基板SrTiO3の場合を例にとると YBCO化合物膜その上に窒化シリコン膜を各々 2μ
l厚に堆積させ、リフトオフを目的とするアルミ膜1μ
−厚をマスク蒸着による所定のパターンとして形成、さ
らにその上にYBCO膜第2層を厚さ 2μ−に堆積さ
せる(第4図a)。さらに2μl厚の窒化シリコン膜を
この上に堆積させた後、ドライエツチングのためのレジ
ストパターンを形成する(第4図b)。この時レジスト
パターンの幅は第−層導体除去部の上に位置し、その除
去部の幅よりも充分に狭いものとする。したがってドラ
イエツチングによるエッチ孔はYBCOM第1層に達し
てもYBCO膜第2層との間には絶縁層を残存させるこ
とができる(第4図C)。引続きレジスト除去を行った
後、YBCO膜第3層番堆積させる。 この結果形成されたスルーホールによって第1層と第3
層が接続される(第4図d)。 以上の手順で作製した回路について第1層と第3層の間
の回流抵抗値を測定したところ、室温においては8.4
X 10°雷 (Ω・l)であった。 また回路と接した銅ブロックの熱伝導により液体窒素温
度に冷却した時、抵抗値は零を示した。 ただしこの抵抗値はドラエッチ法によった場合について
得られた。 、別のプロセスとしてウェット・エッチ法によった場合
には抵抗値は室温において約2桁高い値を示し、液体窒
素温度に至るまで半導体的に抵抗値は増加して超電導状
態とはならず、所期の配線材としては不適当であった。
ここに述べた手法を繰返すことによって多数の層数の配
線を実現すると共に、任意の層の間の結線をスルーホー
ルを通しておこなうことが可能になる。 特にこの回路を液体窒素温度で動作させる時には超電導
性によって比較的長い配線のひきまわしのある場合にも
直流的にR−0となり、極めて短い時定数の回路が実現
できる。時定数に加えてジュール熱の点からも立体回路
に対応できる配線材料が提供できる。
線を実現すると共に、任意の層の間の結線をスルーホー
ルを通しておこなうことが可能になる。 特にこの回路を液体窒素温度で動作させる時には超電導
性によって比較的長い配線のひきまわしのある場合にも
直流的にR−0となり、極めて短い時定数の回路が実現
できる。時定数に加えてジュール熱の点からも立体回路
に対応できる配線材料が提供できる。
第1図は2次元配線図、第2図は立体(3次元)配線図
、第3図は立体配線詳細図、第4図はスルーホール結線
部の形成法を説明する図。 l・・・基板材料、2・・・スルーホール接続部、3・
・・導体材料、4・・・絶縁部、5・・・保護膜、6・
・・接続端子、11・・・基板、12・・・導体第1層
、13・・・絶縁層、14・・・導体第2層、15・・
・アルミパターン、1B・・・レジスト、17・・・エ
ッチ孔、18・・・導体第3層。
、第3図は立体配線詳細図、第4図はスルーホール結線
部の形成法を説明する図。 l・・・基板材料、2・・・スルーホール接続部、3・
・・導体材料、4・・・絶縁部、5・・・保護膜、6・
・・接続端子、11・・・基板、12・・・導体第1層
、13・・・絶縁層、14・・・導体第2層、15・・
・アルミパターン、1B・・・レジスト、17・・・エ
ッチ孔、18・・・導体第3層。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 下記式で表わされる超電導性酸化物からなる電子回路
用配線材。 R_rX_xZ_zD_δA_α (ただし、式中RはSc、Y、La及びランタノイド族
の少なくとも1種の元素、xは周期律表IIa族の少なく
とも1種の元素、zは遷移金属元素の少なくとも1種、
DはVIa族の少なくとも1種の元素、AはB、C、N、
Fの元素のうちの少なくとも1種であって、rは約1.
0、xは1.4〜2.1、zは2.4〜3.2、9.0
>δ>5.0、0.5>α≧0.0である)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62282135A JPH01126225A (ja) | 1987-11-10 | 1987-11-10 | 電子回路用配線材 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62282135A JPH01126225A (ja) | 1987-11-10 | 1987-11-10 | 電子回路用配線材 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01126225A true JPH01126225A (ja) | 1989-05-18 |
Family
ID=17648567
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62282135A Pending JPH01126225A (ja) | 1987-11-10 | 1987-11-10 | 電子回路用配線材 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01126225A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002058711A (ja) * | 2000-08-23 | 2002-02-26 | Kimiko Kakimoto | 介護用具及びその使用方法 |
-
1987
- 1987-11-10 JP JP62282135A patent/JPH01126225A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002058711A (ja) * | 2000-08-23 | 2002-02-26 | Kimiko Kakimoto | 介護用具及びその使用方法 |
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