JPH01125990A - 半導体発光装置 - Google Patents
半導体発光装置Info
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- JPH01125990A JPH01125990A JP62285812A JP28581287A JPH01125990A JP H01125990 A JPH01125990 A JP H01125990A JP 62285812 A JP62285812 A JP 62285812A JP 28581287 A JP28581287 A JP 28581287A JP H01125990 A JPH01125990 A JP H01125990A
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 25
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/18—Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities
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-
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-
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- H—ELECTRICITY
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- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/20—Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers
- H01S5/22—Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers having a ridge or stripe structure
- H01S5/2205—Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers having a ridge or stripe structure comprising special burying or current confinement layers
- H01S5/2218—Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers having a ridge or stripe structure comprising special burying or current confinement layers having special optical properties
- H01S5/222—Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers having a ridge or stripe structure comprising special burying or current confinement layers having special optical properties having a refractive index lower than that of the cladding layers or outer guiding layers
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野J
この発明は半導体発光装置に関するものである。
第2図は例えば三菱電機技報Vo1.6ONa8に示さ
れた従来のInGaAaPメサ型面発光ダイオードを示
す断面図である。図において、(1)はD−I口P基板
、(2)、 (3)、 (4)、 (5)はそれぞれ該
n−工!IIF基板(1)上に結晶成長により順次形成
されたn−InPクフツド層、InGaAaP活性層、
P−InPクフツド層、p−InGaAsPコンタクト
層、(6)は活性層(3)を切断分離する様にしてメサ
エッチングにより円型に形成されたメサ、(8)は該メ
サ上部に電流注入のための開口部(9)を有して形成さ
れた5102絶縁層、(lO)はP−電極、(11)は
光取り出しのための開口部を有して形成されたロー電極
、(12)はS1樹脂、(13)Fi球レンズ、(14
)は活性層(3)にて発生した光の軌跡である。
れた従来のInGaAaPメサ型面発光ダイオードを示
す断面図である。図において、(1)はD−I口P基板
、(2)、 (3)、 (4)、 (5)はそれぞれ該
n−工!IIF基板(1)上に結晶成長により順次形成
されたn−InPクフツド層、InGaAaP活性層、
P−InPクフツド層、p−InGaAsPコンタクト
層、(6)は活性層(3)を切断分離する様にしてメサ
エッチングにより円型に形成されたメサ、(8)は該メ
サ上部に電流注入のための開口部(9)を有して形成さ
れた5102絶縁層、(lO)はP−電極、(11)は
光取り出しのための開口部を有して形成されたロー電極
、(12)はS1樹脂、(13)Fi球レンズ、(14
)は活性層(3)にて発生した光の軌跡である。
次に動作にりいて説明する。p−電極(lO)とコミ極
(11)を外部電源回路に接続して所定の順方向電圧を
印加する。これKより、電流注入開口部(9)よF)
n−XnPクラッド層(2)−工nGaAaP活性層(
3)−p−IDEクラッド層(4)より構成されている
ダブyへテロ接合のメサ部のみに順方向電流が注入され
る。
(11)を外部電源回路に接続して所定の順方向電圧を
印加する。これKより、電流注入開口部(9)よF)
n−XnPクラッド層(2)−工nGaAaP活性層(
3)−p−IDEクラッド層(4)より構成されている
ダブyへテロ接合のメサ部のみに順方向電流が注入され
る。
電流が注入されると、ダブルヘテロ接合の効果によ抄活
性層に電子・正孔対が効率よく閉じ込められ、これは発
光再結合により活性層のバンドギャップにほぼ等師なf
l長(211,3μm)の光を発生せしめて消滅する。
性層に電子・正孔対が効率よく閉じ込められ、これは発
光再結合により活性層のバンドギャップにほぼ等師なf
l長(211,3μm)の光を発生せしめて消滅する。
このようにしてメサ部の活性層において発生した光は空
間的に等方向に放射され伝送するが、そのうち球レンズ
(13)K到達した光(14a)は、これを透過・屈折
して装置外部へ出射する。
間的に等方向に放射され伝送するが、そのうち球レンズ
(13)K到達した光(14a)は、これを透過・屈折
して装置外部へ出射する。
〔発明が解決しようとする問題点J ・従来のメサ型面
発光ダイオードは以上のように&成されており、活性層
において発生した光は無指向性であり空間的等方向に放
射されるため、球レンズを通して外部に取り出される光
の割e?(光取り出し効率)が低いという問題点があっ
た。
発光ダイオードは以上のように&成されており、活性層
において発生した光は無指向性であり空間的等方向に放
射されるため、球レンズを通して外部に取り出される光
の割e?(光取り出し効率)が低いという問題点があっ
た。
この発明は上記のような問題点を解消するためKなされ
たもので、光取抄出し効率の高い面発光ダイオードを得
ることを目的とする。
たもので、光取抄出し効率の高い面発光ダイオードを得
ることを目的とする。
〔問題点を解決するための手段」
この発明に係るメサ型面発光ダイオードは、電流注入の
為の81c2開口部の下部メサ構造を、少なくともメサ
直径よ抄大きい高さ(深さ)の円柱状に形成し、その周
囲をIDP半導体基板の塩析率よし低い屈折率の絶縁材
料で埋め込んだものである。
為の81c2開口部の下部メサ構造を、少なくともメサ
直径よ抄大きい高さ(深さ)の円柱状に形成し、その周
囲をIDP半導体基板の塩析率よし低い屈折率の絶縁材
料で埋め込んだものである。
〔作用J
この発明におけるメサ型面発光ダイオードでは、活性層
において発生した光のうち、InP基板−低屈折率絶縁
層界面に到達した光は、それらの屈折率差により、球レ
ンズ方向に塩析あるいは反射するため、効率よく球レン
ズへ伝送せしめる。
において発生した光のうち、InP基板−低屈折率絶縁
層界面に到達した光は、それらの屈折率差により、球レ
ンズ方向に塩析あるいは反射するため、効率よく球レン
ズへ伝送せしめる。
〔発明の実施例]
以下、この発明の一実施例を図にりいて脱明する。第1
図において、(1)はn−InP基板、(2) (3)
(4) (5)はIrJP基板(1)上に結晶成長に
より順次形成されたn−In Pクラッド層、Ir3G
aAsP活性層、p−InPクフツド層、p−工nGa
AsPコンタクト層、(6)はR工E(Rlactiv
e Ion Ettching )などの手法を用いて
形成された円柱状メサ、(7)はメサ溝を埋め込むよう
く形成された低屈折率絶縁層、(8)は円柱状メサ上s
K電流注入のための81a2關口部(9)を有して形成
された5102絶縁層、(lO)はP−電極、(11)
はn−電極、(12)はS1樹脂、(13)はS1樹脂
(12)より装着された球レンズ、(14)は光の軌跡
を示し、そのうち(14a)はInP基板を透過して直
接球レンズに到る光のIIL跡(I) 、(14b)は
InP基板−低油rr率絶縁層界面で反射し球レンズに
到る光の軌跡(2)、(14c)は同界面で屈折して球
レンズに到る光の軌跡(2)である。
図において、(1)はn−InP基板、(2) (3)
(4) (5)はIrJP基板(1)上に結晶成長に
より順次形成されたn−In Pクラッド層、Ir3G
aAsP活性層、p−InPクフツド層、p−工nGa
AsPコンタクト層、(6)はR工E(Rlactiv
e Ion Ettching )などの手法を用いて
形成された円柱状メサ、(7)はメサ溝を埋め込むよう
く形成された低屈折率絶縁層、(8)は円柱状メサ上s
K電流注入のための81a2關口部(9)を有して形成
された5102絶縁層、(lO)はP−電極、(11)
はn−電極、(12)はS1樹脂、(13)はS1樹脂
(12)より装着された球レンズ、(14)は光の軌跡
を示し、そのうち(14a)はInP基板を透過して直
接球レンズに到る光のIIL跡(I) 、(14b)は
InP基板−低油rr率絶縁層界面で反射し球レンズに
到る光の軌跡(2)、(14c)は同界面で屈折して球
レンズに到る光の軌跡(2)である。
次に動作について説明する0発光の原理については従来
のメサ型面発光ダイオードと同じであるが、活性層にお
いて発生した光のうち、よりr基板−低屈折率絶縁層界
面に到達したものは、これらの屈折率差によりスネルの
法則に従って球レンズの中心軸(光軸)方向へ反射ある
いは屈折してInP基板内を伝搬する。従って活性層に
おいて発生した光を効率よく球レンズに導くことができ
、光取り出し効率が高くなる、すなわち外部光出力が大
きくなる。
のメサ型面発光ダイオードと同じであるが、活性層にお
いて発生した光のうち、よりr基板−低屈折率絶縁層界
面に到達したものは、これらの屈折率差によりスネルの
法則に従って球レンズの中心軸(光軸)方向へ反射ある
いは屈折してInP基板内を伝搬する。従って活性層に
おいて発生した光を効率よく球レンズに導くことができ
、光取り出し効率が高くなる、すなわち外部光出力が大
きくなる。
なお上記実施例ではn型のInP基板を用いた113G
aAaPメサ型面発光ダイオードの場合にりいて説明し
たが、基板<p型のInP基板を用いたすなわら図中の
P、!]が反転した場合であってもよく、またはAIG
aAaなど他の材料を用いたメサ型面発光ダイオードで
あってもよく、上記実施例と同様の効果を奏する。
aAaPメサ型面発光ダイオードの場合にりいて説明し
たが、基板<p型のInP基板を用いたすなわら図中の
P、!]が反転した場合であってもよく、またはAIG
aAaなど他の材料を用いたメサ型面発光ダイオードで
あってもよく、上記実施例と同様の効果を奏する。
〔発明の幼果J
以上のように、この発明によれば半導体発光装置の活性
層を含む半導体層から半導体基板にかかる頭載を円柱状
メサ形状に形成し、その周囲を半導体基板より低い屈折
率の絶縁材料で埋め込むように構成したので光を効率よ
く外部へ導き出すことができる。
層を含む半導体層から半導体基板にかかる頭載を円柱状
メサ形状に形成し、その周囲を半導体基板より低い屈折
率の絶縁材料で埋め込むように構成したので光を効率よ
く外部へ導き出すことができる。
第1図はこの発明の一実施例によるInGaAePメサ
型面発光ダイオードを示す構造断面図、第2図は従来の
工r3GaAsPメサ型面発光ダイオードを示す構造断
面図である。 図において、(1)はn−InP基板、(2)はコーエ
コP基板、(2)は!II−InPクフッド層、(3)
は工nGaAsP活性層、(4)はP−InPクフッド
層、(5)はP−工nGaAsPコンタクト層、(6)
は円柱状メサ、(7)は低屈折率絶縁層、(8)は51
02絶1&層、(9)は51c2開口部、(10)はp
−電極、(11)はn−電極、(12)はS1樹脂、(
13)は球レンズ、(14)は光の軌跡、(14a)は
光の軌跡(I) 、(14b)は光の軌跡(6)、(1
4c)は光の軌跡(2)である。 なお、各図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。
型面発光ダイオードを示す構造断面図、第2図は従来の
工r3GaAsPメサ型面発光ダイオードを示す構造断
面図である。 図において、(1)はn−InP基板、(2)はコーエ
コP基板、(2)は!II−InPクフッド層、(3)
は工nGaAsP活性層、(4)はP−InPクフッド
層、(5)はP−工nGaAsPコンタクト層、(6)
は円柱状メサ、(7)は低屈折率絶縁層、(8)は51
02絶1&層、(9)は51c2開口部、(10)はp
−電極、(11)はn−電極、(12)はS1樹脂、(
13)は球レンズ、(14)は光の軌跡、(14a)は
光の軌跡(I) 、(14b)は光の軌跡(6)、(1
4c)は光の軌跡(2)である。 なお、各図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。
Claims (1)
- 半導体基板と、該半導体基板上に結晶成長により順次
形成されたクラツド層、活性層、コンタクト層などの各
半導体層と、該半導体層上に電流注入の為の開口部を有
して形成された絶縁層と、該絶縁層上に開口部を通して
半導体層と接触するように形成された電極とを備えた半
導体発光装置において、上記絶縁層の開口部より下の半
導体層及び半導体基板を、該開口部の直径よりわずかに
大きな直径を有する円柱状に整形し、その周囲を半導体
基板の屈折率よりも小さい屈折率を有する絶縁材料で埋
め込んだことを特徴とする半導体発光装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62285812A JPH01125990A (ja) | 1987-11-11 | 1987-11-11 | 半導体発光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62285812A JPH01125990A (ja) | 1987-11-11 | 1987-11-11 | 半導体発光装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01125990A true JPH01125990A (ja) | 1989-05-18 |
Family
ID=17696407
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62285812A Pending JPH01125990A (ja) | 1987-11-11 | 1987-11-11 | 半導体発光装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01125990A (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0475371A2 (en) * | 1990-09-12 | 1992-03-18 | Seiko Epson Corporation | Surface emission type semiconductor laser and method of making the same |
US5295148A (en) * | 1990-09-12 | 1994-03-15 | Seiko Epson Corporation | Surface emission type semiconductor laser |
US5317584A (en) * | 1990-09-12 | 1994-05-31 | Seiko Epson Corporation | Surface emission type semiconductor laser |
US5356832A (en) * | 1990-09-12 | 1994-10-18 | Seiko Epson Corporation | Method of making surface emission type semiconductor laser |
US5404369A (en) * | 1990-09-12 | 1995-04-04 | Seiko Epson Corporation | Surface emission type semiconductor laser |
US5436922A (en) * | 1990-09-12 | 1995-07-25 | Seiko Epson Corporation | Surface emission type semiconductor laser |
US5537666A (en) * | 1990-09-12 | 1996-07-16 | Seiko Epson Coropration | Surface emission type semiconductor laser |
CN106611934A (zh) * | 2015-10-21 | 2017-05-03 | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 | 采用石墨烯进行电极搭桥的面发射激光器及其制备方法 |
-
1987
- 1987-11-11 JP JP62285812A patent/JPH01125990A/ja active Pending
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0475371A2 (en) * | 1990-09-12 | 1992-03-18 | Seiko Epson Corporation | Surface emission type semiconductor laser and method of making the same |
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CN106611934A (zh) * | 2015-10-21 | 2017-05-03 | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 | 采用石墨烯进行电极搭桥的面发射激光器及其制备方法 |
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