JPH01124785A - レーザ測距装置 - Google Patents
レーザ測距装置Info
- Publication number
- JPH01124785A JPH01124785A JP62283529A JP28352987A JPH01124785A JP H01124785 A JPH01124785 A JP H01124785A JP 62283529 A JP62283529 A JP 62283529A JP 28352987 A JP28352987 A JP 28352987A JP H01124785 A JPH01124785 A JP H01124785A
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- Japan
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- laser
- intensity
- light
- modulated
- distance measuring
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- Pending
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 1
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 2
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000010356 wave oscillation Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、レーザ光を用いて対象物までの距離を測定す
るレーザ測距装置に関するものである。
るレーザ測距装置に関するものである。
従来の技術
対象物までの絶対距離をレーザな用いて測定することは
ロボットの遠隔操作のだめの視覚情報源として最近注目
されている。この上うなレーザ測距装置は三角法を用い
るものと光の往復時間を測定するものとに大別され、後
者はさらにパルスレーザを用いる方式と連続波発振レー
ザを強度変調する方式に分けられる。ロボットの視覚等
の比較的短い距離の測定には連続波発振レーザ強度変調
方式が適しており、この方式に関しては、特開昭62−
75363号公報に記載されている。以下、第2図を参
照して、従来の強度変調方式レーザ測距装置について説
明する。
ロボットの遠隔操作のだめの視覚情報源として最近注目
されている。この上うなレーザ測距装置は三角法を用い
るものと光の往復時間を測定するものとに大別され、後
者はさらにパルスレーザを用いる方式と連続波発振レー
ザを強度変調する方式に分けられる。ロボットの視覚等
の比較的短い距離の測定には連続波発振レーザ強度変調
方式が適しており、この方式に関しては、特開昭62−
75363号公報に記載されている。以下、第2図を参
照して、従来の強度変調方式レーザ測距装置について説
明する。
第2図においてレーザ1からの出力光はビームスプリッ
タ−2で2光路に分割され、一方は音響光学光変調器(
以下AOMと記す)4に入射する。
タ−2で2光路に分割され、一方は音響光学光変調器(
以下AOMと記す)4に入射する。
AOM 4は発振器3からの信号により駆動され、周波
数がシフトし、強度変調された回折光を発生する。この
回折光は反射鏡5,6ならびにビームスプリッタ−7を
経て、スキャナ8によって2次元に走査され、対象物9
に照射される。対象物9からの散乱光はスキャナ8を通
り、ビームスプリッタ−7、反射鏡10、部分反射鏡1
1を経て、ヘテロダイン検波器12に入射する。
数がシフトし、強度変調された回折光を発生する。この
回折光は反射鏡5,6ならびにビームスプリッタ−7を
経て、スキャナ8によって2次元に走査され、対象物9
に照射される。対象物9からの散乱光はスキャナ8を通
り、ビームスプリッタ−7、反射鏡10、部分反射鏡1
1を経て、ヘテロダイン検波器12に入射する。
一方ビームスブリッタ−2で分割された他方のレーザ光
が参照光として部分反射鏡11を通ってヘテロダイン検
波器12に供給される。ヘテロダイン検波器12ではこ
の対象物9からの散乱光とビームスプリッタ−2からの
参照光との差周波信号をヘテロダイン検出し、この差周
波信号の強度を強度検出器13により検出する。このと
きスキャナ8によってレーザ光の走査を行なえば、テレ
ビカメラによる測定と類似の輝度画像が得られる。
が参照光として部分反射鏡11を通ってヘテロダイン検
波器12に供給される。ヘテロダイン検波器12ではこ
の対象物9からの散乱光とビームスプリッタ−2からの
参照光との差周波信号をヘテロダイン検出し、この差周
波信号の強度を強度検出器13により検出する。このと
きスキャナ8によってレーザ光の走査を行なえば、テレ
ビカメラによる測定と類似の輝度画像が得られる。
また、差周波信号の位相は対象物9までの距離に比例し
て遅れるため、発振器3からの参照信号と差周波信号と
の位相差を位相検出器14によって検出すれば、対象物
までの距離が求まる。すなわち、位相差をφ、変調周波
数をfm、光速なCとすると、対象物までの距離りは L=cφ/4 yt fm (1
,)により求められる。また、輝度画像と同様にスキャ
ナ8によるレーザ光の走査によって、距離画像を得るこ
とができる。
て遅れるため、発振器3からの参照信号と差周波信号と
の位相差を位相検出器14によって検出すれば、対象物
までの距離が求まる。すなわち、位相差をφ、変調周波
数をfm、光速なCとすると、対象物までの距離りは L=cφ/4 yt fm (1
,)により求められる。また、輝度画像と同様にスキャ
ナ8によるレーザ光の走査によって、距離画像を得るこ
とができる。
発明が解決しようとする問題点
以上のような構成において、AOM4によってレーザ光
が変調されるとき、変調された音波がある速度をもって
レーザ光を横切るため、レーザ光は変調に対して場所に
よる位相ずれをもつ。位相の最大ずれ量△φは Δφ=d/人 (2)と表わされ
る。ここでdはAOM 4におけるレーザ光の直径、人
は強度変調波の波長で、■をAOM J内の音速として 人工V / fm (3)であ
る。
が変調されるとき、変調された音波がある速度をもって
レーザ光を横切るため、レーザ光は変調に対して場所に
よる位相ずれをもつ。位相の最大ずれ量△φは Δφ=d/人 (2)と表わされ
る。ここでdはAOM 4におけるレーザ光の直径、人
は強度変調波の波長で、■をAOM J内の音速として 人工V / fm (3)であ
る。
対象物によってレーザ光が一様に散乱される場合には、
この位相ずれの影響は小さいが、レーザ光の一部分のみ
を選択的に反射する対象物の場合やビームが異なる対象
物にまたがって照射されている場合などは、この位相ず
れのために誤まった位相検出をしてしまい、同一距離に
ある対象物に対して異なる距離を示し、正しい距離測定
が行なえない。
この位相ずれの影響は小さいが、レーザ光の一部分のみ
を選択的に反射する対象物の場合やビームが異なる対象
物にまたがって照射されている場合などは、この位相ず
れのために誤まった位相検出をしてしまい、同一距離に
ある対象物に対して異なる距離を示し、正しい距離測定
が行なえない。
本発明は上記問題を解決するもので、対象物までの距離
を精度よく測定するレーザ測距装置を提供するものであ
る。
を精度よく測定するレーザ測距装置を提供するものであ
る。
問題点を解決するための手段
上記問題点を解決するために、本発明はレーザ発振器か
らのレーザ光の一部を電気光学光変調器で強度変調して
対象物を照射し、対象物からの反射光と、レーザ光の一
部を音響光学光変調器で周波数シフトさせた参照光とを
ヘテロダイン検波するようにしたものである。
らのレーザ光の一部を電気光学光変調器で強度変調して
対象物を照射し、対象物からの反射光と、レーザ光の一
部を音響光学光変調器で周波数シフトさせた参照光とを
ヘテロダイン検波するようにしたものである。
作 用
本発明は上記の構成により以下のように作用する。EO
Mによって強度変調を行なうので、変調されたビーム内
に位相分布は生じない。従って、散乱光を検出したとき
の強度変調成分の位相ずれを小さく抑えることができ、
精度よく距離を測定することができる。また、AOMを
用いてヘテロダイン検波を行なうため、従来例上同様に
微弱な散乱光の検出が可能である。
Mによって強度変調を行なうので、変調されたビーム内
に位相分布は生じない。従って、散乱光を検出したとき
の強度変調成分の位相ずれを小さく抑えることができ、
精度よく距離を測定することができる。また、AOMを
用いてヘテロダイン検波を行なうため、従来例上同様に
微弱な散乱光の検出が可能である。
実施例
以下、本発明の実施例について図面とともに詳細に説明
する。
する。
第1図は本発明のレーザ測距装置の概略図である。第2
図の従来例と同じ部位には同じ番号を付し、詳しい説明
は省略する。本実施例の特徴はレーザ光をEOM]5に
よって強度変調を行なうこと、ならびに、参照光をA1
415によって周波数シフトスることである。ビームス
プリッタ−2によっ゛て分割された一方のレーザ光は、
発振器3によって駆動されたFaM15 により強度変
調される。以下、強度変調された信号光を対象物9に照
射し、対象物9からの散乱光をヘテロダイン検波器12
で検出するのは従来例と同様である。
図の従来例と同じ部位には同じ番号を付し、詳しい説明
は省略する。本実施例の特徴はレーザ光をEOM]5に
よって強度変調を行なうこと、ならびに、参照光をA1
415によって周波数シフトスることである。ビームス
プリッタ−2によっ゛て分割された一方のレーザ光は、
発振器3によって駆動されたFaM15 により強度変
調される。以下、強度変調された信号光を対象物9に照
射し、対象物9からの散乱光をヘテロダイン検波器12
で検出するのは従来例と同様である。
一方、ビームスプリッタ−2によって分割された他方の
レーザ光はAOM16によって周波数シフトされ、参照
光としてヘテロダイン検波器12に供給される。すなわ
ち、従来例では周波数シフトされるのは信号光であった
が、本発明では参照光の方が周波数シフトを受けるわけ
である。EOM15によって強度変調を行なうため、変
調されたビーム内に位相分布を生じない。従って、散乱
光を検出したときの強度変調成分の位相ずれを小さく抑
えることができ、精度よく距離を測定するこ七ができる
。また、ヘテロダイン検波を行ない、微弱な散乱光の検
出が可能であるという特性は有したままである。
レーザ光はAOM16によって周波数シフトされ、参照
光としてヘテロダイン検波器12に供給される。すなわ
ち、従来例では周波数シフトされるのは信号光であった
が、本発明では参照光の方が周波数シフトを受けるわけ
である。EOM15によって強度変調を行なうため、変
調されたビーム内に位相分布を生じない。従って、散乱
光を検出したときの強度変調成分の位相ずれを小さく抑
えることができ、精度よく距離を測定するこ七ができる
。また、ヘテロダイン検波を行ない、微弱な散乱光の検
出が可能であるという特性は有したままである。
発明の効果
以上述べたように本発明は、ROMによって強度変調を
行ない、AOMによって周波数シフトを行なうため、位
相検出誤差は小さく、対象物までの距離を精度よく測定
することができるξともに、ヘテロダイン検波により微
弱な散乱光も検出することができる。
行ない、AOMによって周波数シフトを行なうため、位
相検出誤差は小さく、対象物までの距離を精度よく測定
することができるξともに、ヘテロダイン検波により微
弱な散乱光も検出することができる。
第1図は本発明によるレーザ測距装置の実施例を示すブ
ロック図、第2図は従来のレーザ測距装置の構成を示す
ブロック図である。 1・・・レーザ、2.7・・・ビームスプリッタ−53
・・発振器、4.16・・・AOM、 5.6.10
・・・反射鏡、8・・・スキャナ、9・・・対象物、1
1・・・部分反射鏡、12・・・ヘテロダイン検波器、
13・・・強度検出器、14・・・位相検出器、15・
・・ROM。
ロック図、第2図は従来のレーザ測距装置の構成を示す
ブロック図である。 1・・・レーザ、2.7・・・ビームスプリッタ−53
・・発振器、4.16・・・AOM、 5.6.10
・・・反射鏡、8・・・スキャナ、9・・・対象物、1
1・・・部分反射鏡、12・・・ヘテロダイン検波器、
13・・・強度検出器、14・・・位相検出器、15・
・・ROM。
Claims (2)
- (1)レーザ発振器と、このレーザ発振器からのレーザ
光を強度変調する電気光学光変調器と、強度変調された
レーザ光を測定対象物に照射する手段と、前記レーザ発
振器からのレーザ光の一部を周波数シフトさせ、参照光
を発生する音響光学光変調器と、測定対象物からの反射
光と参照光とをヘテロダイン検波した信号の位相差を検
出する手段とを具備したことを特徴とするレーザ測距装
置。 - (2)照射手段によりレーザ光を走査する特許請求の範
囲第1項記載のレーザ測距装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62283529A JPH01124785A (ja) | 1987-11-10 | 1987-11-10 | レーザ測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62283529A JPH01124785A (ja) | 1987-11-10 | 1987-11-10 | レーザ測距装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01124785A true JPH01124785A (ja) | 1989-05-17 |
Family
ID=17666715
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62283529A Pending JPH01124785A (ja) | 1987-11-10 | 1987-11-10 | レーザ測距装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01124785A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002071097A3 (en) * | 2001-03-06 | 2003-10-16 | Univ California | Optical distance measurement device and method thereof |
CN104049250A (zh) * | 2014-06-14 | 2014-09-17 | 哈尔滨工业大学 | 抗多频混叠的高精度同步测尺半导体激光测距装置与方法 |
-
1987
- 1987-11-10 JP JP62283529A patent/JPH01124785A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002071097A3 (en) * | 2001-03-06 | 2003-10-16 | Univ California | Optical distance measurement device and method thereof |
CN104049250A (zh) * | 2014-06-14 | 2014-09-17 | 哈尔滨工业大学 | 抗多频混叠的高精度同步测尺半导体激光测距装置与方法 |
CN104049250B (zh) * | 2014-06-14 | 2016-07-06 | 哈尔滨工业大学 | 抗多频混叠的高精度同步测尺半导体激光测距装置与方法 |
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