JPH01124785A - レーザ測距装置 - Google Patents

レーザ測距装置

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Publication number
JPH01124785A
JPH01124785A JP62283529A JP28352987A JPH01124785A JP H01124785 A JPH01124785 A JP H01124785A JP 62283529 A JP62283529 A JP 62283529A JP 28352987 A JP28352987 A JP 28352987A JP H01124785 A JPH01124785 A JP H01124785A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
laser
intensity
light
modulated
distance measuring
Prior art date
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Pending
Application number
JP62283529A
Other languages
English (en)
Inventor
Hidemi Takahashi
秀実 高橋
Minoru Kimura
実 木村
Osamu Yamada
修 山田
Hiroyuki Naito
宏之 内藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication of JPH01124785A publication Critical patent/JPH01124785A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、レーザ光を用いて対象物までの距離を測定す
るレーザ測距装置に関するものである。
従来の技術 対象物までの絶対距離をレーザな用いて測定することは
ロボットの遠隔操作のだめの視覚情報源として最近注目
されている。この上うなレーザ測距装置は三角法を用い
るものと光の往復時間を測定するものとに大別され、後
者はさらにパルスレーザを用いる方式と連続波発振レー
ザを強度変調する方式に分けられる。ロボットの視覚等
の比較的短い距離の測定には連続波発振レーザ強度変調
方式が適しており、この方式に関しては、特開昭62−
75363号公報に記載されている。以下、第2図を参
照して、従来の強度変調方式レーザ測距装置について説
明する。
第2図においてレーザ1からの出力光はビームスプリッ
タ−2で2光路に分割され、一方は音響光学光変調器(
以下AOMと記す)4に入射する。
AOM 4は発振器3からの信号により駆動され、周波
数がシフトし、強度変調された回折光を発生する。この
回折光は反射鏡5,6ならびにビームスプリッタ−7を
経て、スキャナ8によって2次元に走査され、対象物9
に照射される。対象物9からの散乱光はスキャナ8を通
り、ビームスプリッタ−7、反射鏡10、部分反射鏡1
1を経て、ヘテロダイン検波器12に入射する。
一方ビームスブリッタ−2で分割された他方のレーザ光
が参照光として部分反射鏡11を通ってヘテロダイン検
波器12に供給される。ヘテロダイン検波器12ではこ
の対象物9からの散乱光とビームスプリッタ−2からの
参照光との差周波信号をヘテロダイン検出し、この差周
波信号の強度を強度検出器13により検出する。このと
きスキャナ8によってレーザ光の走査を行なえば、テレ
ビカメラによる測定と類似の輝度画像が得られる。
また、差周波信号の位相は対象物9までの距離に比例し
て遅れるため、発振器3からの参照信号と差周波信号と
の位相差を位相検出器14によって検出すれば、対象物
までの距離が求まる。すなわち、位相差をφ、変調周波
数をfm、光速なCとすると、対象物までの距離りは L=cφ/4 yt fm           (1
,)により求められる。また、輝度画像と同様にスキャ
ナ8によるレーザ光の走査によって、距離画像を得るこ
とができる。
発明が解決しようとする問題点 以上のような構成において、AOM4によってレーザ光
が変調されるとき、変調された音波がある速度をもって
レーザ光を横切るため、レーザ光は変調に対して場所に
よる位相ずれをもつ。位相の最大ずれ量△φは Δφ=d/人           (2)と表わされ
る。ここでdはAOM 4におけるレーザ光の直径、人
は強度変調波の波長で、■をAOM J内の音速として 人工V / fm            (3)であ
る。
対象物によってレーザ光が一様に散乱される場合には、
この位相ずれの影響は小さいが、レーザ光の一部分のみ
を選択的に反射する対象物の場合やビームが異なる対象
物にまたがって照射されている場合などは、この位相ず
れのために誤まった位相検出をしてしまい、同一距離に
ある対象物に対して異なる距離を示し、正しい距離測定
が行なえない。
本発明は上記問題を解決するもので、対象物までの距離
を精度よく測定するレーザ測距装置を提供するものであ
る。
問題点を解決するための手段 上記問題点を解決するために、本発明はレーザ発振器か
らのレーザ光の一部を電気光学光変調器で強度変調して
対象物を照射し、対象物からの反射光と、レーザ光の一
部を音響光学光変調器で周波数シフトさせた参照光とを
ヘテロダイン検波するようにしたものである。
作    用 本発明は上記の構成により以下のように作用する。EO
Mによって強度変調を行なうので、変調されたビーム内
に位相分布は生じない。従って、散乱光を検出したとき
の強度変調成分の位相ずれを小さく抑えることができ、
精度よく距離を測定することができる。また、AOMを
用いてヘテロダイン検波を行なうため、従来例上同様に
微弱な散乱光の検出が可能である。
実施例 以下、本発明の実施例について図面とともに詳細に説明
する。
第1図は本発明のレーザ測距装置の概略図である。第2
図の従来例と同じ部位には同じ番号を付し、詳しい説明
は省略する。本実施例の特徴はレーザ光をEOM]5に
よって強度変調を行なうこと、ならびに、参照光をA1
415によって周波数シフトスることである。ビームス
プリッタ−2によっ゛て分割された一方のレーザ光は、
発振器3によって駆動されたFaM15 により強度変
調される。以下、強度変調された信号光を対象物9に照
射し、対象物9からの散乱光をヘテロダイン検波器12
で検出するのは従来例と同様である。
一方、ビームスプリッタ−2によって分割された他方の
レーザ光はAOM16によって周波数シフトされ、参照
光としてヘテロダイン検波器12に供給される。すなわ
ち、従来例では周波数シフトされるのは信号光であった
が、本発明では参照光の方が周波数シフトを受けるわけ
である。EOM15によって強度変調を行なうため、変
調されたビーム内に位相分布を生じない。従って、散乱
光を検出したときの強度変調成分の位相ずれを小さく抑
えることができ、精度よく距離を測定するこ七ができる
。また、ヘテロダイン検波を行ない、微弱な散乱光の検
出が可能であるという特性は有したままである。
発明の効果 以上述べたように本発明は、ROMによって強度変調を
行ない、AOMによって周波数シフトを行なうため、位
相検出誤差は小さく、対象物までの距離を精度よく測定
することができるξともに、ヘテロダイン検波により微
弱な散乱光も検出することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明によるレーザ測距装置の実施例を示すブ
ロック図、第2図は従来のレーザ測距装置の構成を示す
ブロック図である。 1・・・レーザ、2.7・・・ビームスプリッタ−53
・・発振器、4.16・・・AOM、  5.6.10
・・・反射鏡、8・・・スキャナ、9・・・対象物、1
1・・・部分反射鏡、12・・・ヘテロダイン検波器、
13・・・強度検出器、14・・・位相検出器、15・
・・ROM。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)レーザ発振器と、このレーザ発振器からのレーザ
    光を強度変調する電気光学光変調器と、強度変調された
    レーザ光を測定対象物に照射する手段と、前記レーザ発
    振器からのレーザ光の一部を周波数シフトさせ、参照光
    を発生する音響光学光変調器と、測定対象物からの反射
    光と参照光とをヘテロダイン検波した信号の位相差を検
    出する手段とを具備したことを特徴とするレーザ測距装
    置。
  2. (2)照射手段によりレーザ光を走査する特許請求の範
    囲第1項記載のレーザ測距装置。
JP62283529A 1987-11-10 1987-11-10 レーザ測距装置 Pending JPH01124785A (ja)

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JPH01124785A true JPH01124785A (ja) 1989-05-17

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ID=17666715

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JP (1) JPH01124785A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002071097A3 (en) * 2001-03-06 2003-10-16 Univ California Optical distance measurement device and method thereof
CN104049250A (zh) * 2014-06-14 2014-09-17 哈尔滨工业大学 抗多频混叠的高精度同步测尺半导体激光测距装置与方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002071097A3 (en) * 2001-03-06 2003-10-16 Univ California Optical distance measurement device and method thereof
CN104049250A (zh) * 2014-06-14 2014-09-17 哈尔滨工业大学 抗多频混叠的高精度同步测尺半导体激光测距装置与方法
CN104049250B (zh) * 2014-06-14 2016-07-06 哈尔滨工业大学 抗多频混叠的高精度同步测尺半导体激光测距装置与方法

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