JPS6371675A - レ−ザ−測距装置 - Google Patents
レ−ザ−測距装置Info
- Publication number
- JPS6371675A JPS6371675A JP61217417A JP21741786A JPS6371675A JP S6371675 A JPS6371675 A JP S6371675A JP 61217417 A JP61217417 A JP 61217417A JP 21741786 A JP21741786 A JP 21741786A JP S6371675 A JPS6371675 A JP S6371675A
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- JP
- Japan
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- intensity
- phase
- laser
- detector
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- Pending
Links
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 claims abstract description 16
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 230000010356 wave oscillation Effects 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
この発明は、強度変調されたレーザー光を用いて、反射
光の位相差を検出して測距を行うレーザー測距装置に関
するものである。
光の位相差を検出して測距を行うレーザー測距装置に関
するものである。
従来の技術
対象物までの絶対距離をレーザーを用いて測定する方式
としては、三角法を用いるものと光の往復時間を測定す
るものに大別される。後者については、更にパルスレー
ザ−を用いる方式と、連続波発振レーザーを強度変調す
る方式に分けられる。
としては、三角法を用いるものと光の往復時間を測定す
るものに大別される。後者については、更にパルスレー
ザ−を用いる方式と、連続波発振レーザーを強度変調す
る方式に分けられる。
連続波発振レーザーを強度変調して測距を行う方式に関
しては、プロシーディンゲス・オプ・ザ・アイイーイー
イー・第65巻206〜220頁(ProcIEEE
vo165 pp206〜220.1977)等に記
載されている。以下第2図を参照して、従来の連続波発
振レーザー強度変調方式のレーザー測距装置について説
明する。
しては、プロシーディンゲス・オプ・ザ・アイイーイー
イー・第65巻206〜220頁(ProcIEEE
vo165 pp206〜220.1977)等に記
載されている。以下第2図を参照して、従来の連続波発
振レーザー強度変調方式のレーザー測距装置について説
明する。
第2図に於て、レーザー1からの出力光を発振器3によ
って駆動される電気光学光変調器2によって強度変調す
る。強度変調されたレーザー光は、反射鏡5によって対
象物20に照射される。一方、レーザー光の一部はビー
ムスプリッタ4によって検出器6に導かれ、レーザー出
力をモニターされると同時に、測距のための参照信号7
を発生する。
って駆動される電気光学光変調器2によって強度変調す
る。強度変調されたレーザー光は、反射鏡5によって対
象物20に照射される。一方、レーザー光の一部はビー
ムスプリッタ4によって検出器6に導かれ、レーザー出
力をモニターされると同時に、測距のための参照信号7
を発生する。
対象物20からの反射光は反射鏡8によって検出器9に
導かれ、信号波10を発生する。このとき信号波10の
振幅は、レーザー光に対する対象物20の反射率ならび
に、対象物20までの距離に対応して変化するため、強
度検出器11によって信号波10の強度を検出し、一方
、反射鏡5によってレーザー光の二次元走査を行えは、
画像情報を得ることができる。また、信号波10の位相
は対象物までの距離(:比例して遅れるため、位相検出
器12によって参照信号7と信号波10との位相差を測
定することによって対象物までの距離を測定でき、前述
の画像情報と同様、距離情報も得ることができる。
導かれ、信号波10を発生する。このとき信号波10の
振幅は、レーザー光に対する対象物20の反射率ならび
に、対象物20までの距離に対応して変化するため、強
度検出器11によって信号波10の強度を検出し、一方
、反射鏡5によってレーザー光の二次元走査を行えは、
画像情報を得ることができる。また、信号波10の位相
は対象物までの距離(:比例して遅れるため、位相検出
器12によって参照信号7と信号波10との位相差を測
定することによって対象物までの距離を測定でき、前述
の画像情報と同様、距離情報も得ることができる。
発明が解決しようとする問題点
しかし、対象物20の反射率は、種々に変化し、反射光
の検出信号強度のダイナミックレンジは大きく、上記の
ような構成では、対象物20までの距離に依存する本来
の位相差以外に、検出された反射光の信号強度の大小に
より発生する位相ずれも同時に検出してしまうという問
題点を有し、正確な位相測定を行うために、多くの時間
を要していた。本発明は、上記の問題を解決するための
もので、より高精度で、定時間位相検出を行うレーザー
測距装置の実現を目的とするものである。
の検出信号強度のダイナミックレンジは大きく、上記の
ような構成では、対象物20までの距離に依存する本来
の位相差以外に、検出された反射光の信号強度の大小に
より発生する位相ずれも同時に検出してしまうという問
題点を有し、正確な位相測定を行うために、多くの時間
を要していた。本発明は、上記の問題を解決するための
もので、より高精度で、定時間位相検出を行うレーザー
測距装置の実現を目的とするものである。
問題点を解決するための手段
本発明はレーザー発振器と、レーザー光を強度変調する
手段と、強度変調されたレーザー光を被測定物に照射す
る手段と、被測定物からの反射光と参照レーザー光との
位相差を検出する手段と、前記位相差の位相ずれ補正手
段とを有するものである。
手段と、強度変調されたレーザー光を被測定物に照射す
る手段と、被測定物からの反射光と参照レーザー光との
位相差を検出する手段と、前記位相差の位相ずれ補正手
段とを有するものである。
作 用
上記構成において、位相ずれ補正手段は予め信号強度と
位相ずれ特性との対応だけを行っておき、検出された信
号強度に応じて位相ずれ補正信号を発生して検出された
位相差信号の位相ずれを補正し、位相検出誤差のない距
離情報を得ることができる。
位相ずれ特性との対応だけを行っておき、検出された信
号強度に応じて位相ずれ補正信号を発生して検出された
位相差信号の位相ずれを補正し、位相検出誤差のない距
離情報を得ることができる。
実施例
以下、本発明の実施例について図面とともに詳細に説明
する。第1図は、本発明の一実施例に於けるレーザー測
距装置の全体構成図である。第2図と同一部分には同一
符号を付す。第1図との相異点は、位相ずれ補正装置の
採用にある。レーザー発振器lを出たレーザー光は、第
1図と同様の過程を経て、強度検出器11及び位相検出
器12にまで導かれる。位相検出器12によって計測さ
れる距離情報には、入力信号強度に応じた位相ずれによ
る誤差が含まれる。この誤差の補正のために、位相検出
器12への入力信号強度情報、即ち強度検出器11によ
って測定された強度情報をも 。
する。第1図は、本発明の一実施例に於けるレーザー測
距装置の全体構成図である。第2図と同一部分には同一
符号を付す。第1図との相異点は、位相ずれ補正装置の
採用にある。レーザー発振器lを出たレーザー光は、第
1図と同様の過程を経て、強度検出器11及び位相検出
器12にまで導かれる。位相検出器12によって計測さ
れる距離情報には、入力信号強度に応じた位相ずれによ
る誤差が含まれる。この誤差の補正のために、位相検出
器12への入力信号強度情報、即ち強度検出器11によ
って測定された強度情報をも 。
とに、あらかじめ測定された信号強度に対する位相ずれ
を補正する補正値を補正値発生器13で発生し、位相検
出誤差の特性を用いた距離情報の補正を位相ずれ補正装
置14によって行う。
を補正する補正値を補正値発生器13で発生し、位相検
出誤差の特性を用いた距離情報の補正を位相ずれ補正装
置14によって行う。
一般(二、位相検出器12への入力信号のダイナミック
レンジが大きけれは、位相検出誤差の拡大により測距精
度の低下は免かれない。しかし本実施例に於ては、この
位相検出誤差の解消がなされている。
レンジが大きけれは、位相検出誤差の拡大により測距精
度の低下は免かれない。しかし本実施例に於ては、この
位相検出誤差の解消がなされている。
尚、本実施例に於ては、電気光学光変調器を用いたレー
ザー光の変調を用いているが、直接変調等の方式に於て
も同様の効果が得られるのは明らかである。
ザー光の変調を用いているが、直接変調等の方式に於て
も同様の効果が得られるのは明らかである。
発明の効果
以上のように、本発明は、強度変調されたレーザー光を
対象物に照射し、反射光の位相差を検出するレーザー測
距装置に対して、広いダイナミックレンジを有する光信
号に対しても正確で高速な距離情報の提供を実現する。
対象物に照射し、反射光の位相差を検出するレーザー測
距装置に対して、広いダイナミックレンジを有する光信
号に対しても正確で高速な距離情報の提供を実現する。
第1図は、本発明の一実施例に於るレーザー測距装置の
概略図、第2図は従来のレーザー測距装置の概略図であ
る。 1・・・レーザー発振器、2・・・電気光学光変調器、
3・・・高周波発振器、4・・・ビームスプリフタ、5
・8・・・全反射鏡、6・9・・・光検出器、7・・・
参照信号、10・・・反射光信号波、11・・・強度検
出器、12・・・位相検出器、13・・・補正値発生器
、14・・・位相ずれ補正装置。
概略図、第2図は従来のレーザー測距装置の概略図であ
る。 1・・・レーザー発振器、2・・・電気光学光変調器、
3・・・高周波発振器、4・・・ビームスプリフタ、5
・8・・・全反射鏡、6・9・・・光検出器、7・・・
参照信号、10・・・反射光信号波、11・・・強度検
出器、12・・・位相検出器、13・・・補正値発生器
、14・・・位相ずれ補正装置。
Claims (1)
- (1)レーザー発振器と、レーザー光を強度変調する手
段と、強度変調されたレーザー光の一部を参照光として
取り出すとともに被測定物に照射する手段と、被測定物
からの反射光と前記参照光との位相差を検出する手段と
、前記反射光の強度に応じて前記位相差の位相ずれを補
正する手段とを具備したことを特徴とするレーザー測距
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61217417A JPS6371675A (ja) | 1986-09-16 | 1986-09-16 | レ−ザ−測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61217417A JPS6371675A (ja) | 1986-09-16 | 1986-09-16 | レ−ザ−測距装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6371675A true JPS6371675A (ja) | 1988-04-01 |
Family
ID=16703881
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61217417A Pending JPS6371675A (ja) | 1986-09-16 | 1986-09-16 | レ−ザ−測距装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6371675A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02124581U (ja) * | 1989-03-27 | 1990-10-15 | ||
KR100380133B1 (ko) * | 1996-12-24 | 2003-08-14 | 주식회사 포스코 | 광센서에서 피측정물의 반사광 강도에 따른 오차 보상방법 |
WO2006030502A1 (ja) * | 2004-09-15 | 2006-03-23 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | 光波レーダ装置 |
JP2006138702A (ja) * | 2004-11-11 | 2006-06-01 | Sokkia Co Ltd | 光波距離計 |
KR100944026B1 (ko) | 2008-04-29 | 2010-02-24 | 전남대학교산학협력단 | 레이저 반사신호 레벨 변동에 의한 오차 보정시스템 및 그방법 |
-
1986
- 1986-09-16 JP JP61217417A patent/JPS6371675A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02124581U (ja) * | 1989-03-27 | 1990-10-15 | ||
KR100380133B1 (ko) * | 1996-12-24 | 2003-08-14 | 주식회사 포스코 | 광센서에서 피측정물의 반사광 강도에 따른 오차 보상방법 |
WO2006030502A1 (ja) * | 2004-09-15 | 2006-03-23 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | 光波レーダ装置 |
US7679729B2 (en) | 2004-09-15 | 2010-03-16 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Light wave radar apparatus |
JP2006138702A (ja) * | 2004-11-11 | 2006-06-01 | Sokkia Co Ltd | 光波距離計 |
KR100944026B1 (ko) | 2008-04-29 | 2010-02-24 | 전남대학교산학협력단 | 레이저 반사신호 레벨 변동에 의한 오차 보정시스템 및 그방법 |
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