JPH0112263Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0112263Y2 JPH0112263Y2 JP1984152032U JP15203284U JPH0112263Y2 JP H0112263 Y2 JPH0112263 Y2 JP H0112263Y2 JP 1984152032 U JP1984152032 U JP 1984152032U JP 15203284 U JP15203284 U JP 15203284U JP H0112263 Y2 JPH0112263 Y2 JP H0112263Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- compound
- container
- compound vapor
- valve body
- vapor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
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Description
【考案の詳細な説明】
a 考案上の利用分野
本考案は半導体製造工程で使用されるマスクリ
ペア装置において、真空中でパターン膜形成位置
に化合物蒸気を局所的に供給するための化合物蒸
気吹付け装置に関するものである。
ペア装置において、真空中でパターン膜形成位置
に化合物蒸気を局所的に供給するための化合物蒸
気吹付け装置に関するものである。
b 従来の技術
化合物蒸気の存在する雰囲気内でサンプルの所
定位置にイオンビームを照射し、照射位置にパタ
ーン膜を形成する方法は現在、例えばマスクリペ
ア装置として注目されている。ところで化合物蒸
気をサンプルの所定位置に供給する方法として
は、例えば新実験化学講座2、丸善371−379に述
べられているようなヌツセンセルが使用される。
すなわち第2図に示すように、化合物1を収納し
たヌツセンセル2の外周部にはヒーター3が設け
られており、このヒーター3によつて加熱されて
蒸発した化合物はオリフイス4を通して噴出され
る。尚、ヌツセンセル2には熱電対5が設けられ
ており、温度コントローラを通して加熱温度を調
節できるようになつている。そして、加熱温度に
よつて噴出させる化合物蒸気の強度をコントロー
ルしている。
定位置にイオンビームを照射し、照射位置にパタ
ーン膜を形成する方法は現在、例えばマスクリペ
ア装置として注目されている。ところで化合物蒸
気をサンプルの所定位置に供給する方法として
は、例えば新実験化学講座2、丸善371−379に述
べられているようなヌツセンセルが使用される。
すなわち第2図に示すように、化合物1を収納し
たヌツセンセル2の外周部にはヒーター3が設け
られており、このヒーター3によつて加熱されて
蒸発した化合物はオリフイス4を通して噴出され
る。尚、ヌツセンセル2には熱電対5が設けられ
ており、温度コントローラを通して加熱温度を調
節できるようになつている。そして、加熱温度に
よつて噴出させる化合物蒸気の強度をコントロー
ルしている。
c 考案が解決しようとする問題点
第2図で説明した方法においては、オリフイス
4から噴出される化合物蒸気は、指向性を持たず
広い範囲にわたる。ところでパターン膜の形成を
行なうためにイオンビームを照射する領域は1×
1mm以下である。このため、イオンビームを照射
する領域以外に噴出された化合物蒸気は、無駄に
なるばかりでなく様々の不都合が生じる原因とな
る。すなわち例えば、不必要な場所に付着した化
合物の影響によつてパターン膜を形成する箇所に
供給する化合物蒸気量が時間と共に変化してしま
い、その結果形成するパターン膜の膜厚および膜
質が時間と供に変化してしまうこと。およびイオ
ンビームを発生するためのイオン源に化合物蒸気
が付着してしまい、イオン源が短寿命化してしま
うこと等の問題点が生ずる。
4から噴出される化合物蒸気は、指向性を持たず
広い範囲にわたる。ところでパターン膜の形成を
行なうためにイオンビームを照射する領域は1×
1mm以下である。このため、イオンビームを照射
する領域以外に噴出された化合物蒸気は、無駄に
なるばかりでなく様々の不都合が生じる原因とな
る。すなわち例えば、不必要な場所に付着した化
合物の影響によつてパターン膜を形成する箇所に
供給する化合物蒸気量が時間と共に変化してしま
い、その結果形成するパターン膜の膜厚および膜
質が時間と供に変化してしまうこと。およびイオ
ンビームを発生するためのイオン源に化合物蒸気
が付着してしまい、イオン源が短寿命化してしま
うこと等の問題点が生ずる。
本考案は、真空中において化合物蒸気を所定位
置に供給する場合における上記の問題点を解決す
るものである。
置に供給する場合における上記の問題点を解決す
るものである。
d 問題点を解決しようとする手段
真空中において、化合物を収納するための筒状
をなす容器と、前記容器内は設けられた化合物収
納孔および化合物蒸気案内孔と、前記容器内に形
成されると共に前記化合物蒸気案内孔に連結され
た細管状のノズルと、前記化合物収納孔と前記ノ
ズルとの連絡を前記容器の先端近傍で開状態また
は閉状態とするためのバルブ体と、前記容器を保
持するための保持体と、前記バルブ体を作動させ
るよために前記保持体に設けられた駆動体と、前
記容器の外周に設けられたヒーターとを備えたこ
とを特徴とするマスクリペア装置用化合物蒸気吹
付け装置である。
をなす容器と、前記容器内は設けられた化合物収
納孔および化合物蒸気案内孔と、前記容器内に形
成されると共に前記化合物蒸気案内孔に連結され
た細管状のノズルと、前記化合物収納孔と前記ノ
ズルとの連絡を前記容器の先端近傍で開状態また
は閉状態とするためのバルブ体と、前記容器を保
持するための保持体と、前記バルブ体を作動させ
るよために前記保持体に設けられた駆動体と、前
記容器の外周に設けられたヒーターとを備えたこ
とを特徴とするマスクリペア装置用化合物蒸気吹
付け装置である。
e 作用
前記ヒーターにより前記容器を加熱することに
より、収納された前記化合物を蒸気化させて、前
記バルブ体が開状態の時に前記化合物蒸気案内孔
およびノズルを経てビーム状に噴出させるように
した化合物蒸気吹付け装置であり、化合物蒸気の
噴出強度は前記ヒーターの加熱温度によつて調節
できるものである。
より、収納された前記化合物を蒸気化させて、前
記バルブ体が開状態の時に前記化合物蒸気案内孔
およびノズルを経てビーム状に噴出させるように
した化合物蒸気吹付け装置であり、化合物蒸気の
噴出強度は前記ヒーターの加熱温度によつて調節
できるものである。
本考案による化合物蒸気吹付け装置によつて、
降温時には前記バルブ体近傍の温度が、前記化合
物収納孔の中の他の位置の温度に少なくとも同等
もしくはそれ以上となるようにしたことを特徴と
するマスクリペア装置用化合物蒸気吹付け装置で
ある。
降温時には前記バルブ体近傍の温度が、前記化合
物収納孔の中の他の位置の温度に少なくとも同等
もしくはそれ以上となるようにしたことを特徴と
するマスクリペア装置用化合物蒸気吹付け装置で
ある。
f 実施例
以下、第1図に従つて本考案の実施例について
説明する。第1図において、6は容器、7は化合
物収納孔で、内部に化合物1を収納している。8
は化合物蒸気案内孔、9は細管状のノズル、10
はプランジヤーである。バルブ体は前記容器の先
端近傍でノズル9の端面とプランジヤー10によ
つて構成されており、第1図のようにノズルの端
面とプランジヤー10が密着しているときにバル
ブ体は閉状態で、プランジヤー10が軸方向に移
動してノズル9の端面との間にすきまを生じたと
きにはバルブ体は開状態である。尚、プランジヤ
ー10の移動は、シリンダ11がロツド12を介
して行なう。ここでシリンダ11の保持は、保持
体13が取付板14を介して行なう。15は弁受
けで、バルブ体が閉状態のときに化合物1は容器
6の内部に密閉される構造となつている。16は
シール部材、17はOリングで、第1図中容器6
側を真空に、シリンダ11側を大気に仕切つてい
る。18はヒーター線で化合物1を均一に加熱す
るために容器6の全体にかかつている。19は熱
電対で、容器6の温度を検出する。20はフイー
ドスルーで、ヒーター線18及び熱電対19の端
子を真空容器から外にとり出して温度コントロー
ラ(図示せず)に接続する。21は絶縁体でフイ
ードスルー20を保持体13から絶縁させてい
る。22は真空容器で、第1図中の向かつて下側
を真空容器内部とする。ここで、バルブ体が開状
態のときに、化合物蒸気は化合物収納孔7から化
合物蒸気案内孔8を経て、ノズル9から細いビー
ム状に噴出される。このときの噴出強度はヒータ
ー18によつて加熱される容器6の温度によつて
コントロールする。ところで、バルブ体近傍の温
度が化合物収納孔の他の位置の温度よりも低い状
態が起こると、高温部で蒸発した化合物がバルブ
体近傍に析出して閉状態において化合物蒸気のリ
ークが生じ、例えばパターン膜形成位置の観察像
が不鮮明になる等の不都合が生じる。しかるに本
考案による化合物蒸気吹付け装置においては、バ
ルブ体は前記容器の先端近傍にあるため、化合物
収納孔7の他の位置の温度と比較して、降温時に
低温とはなり得ない位置にあるため、上記の様な
不都合は生じない。次に第1図で説明した化合物
蒸気吹付け装置の使用例について説明する。真空
容器27の内部の圧力は1×10-5Torr以下、化
合物1をフエナントレンとする。また例えば、容
器12が80℃に加熱されると容器12の内部の圧
力はフエナントレン蒸気によつて0.16Torr程度
になる。このときバルブ体を開くとフエナントレ
ン蒸気はノズル22を通して細いビーム状に噴出
されたが、ビームの広がり及び噴出量はDlander
and KrugerのJ。APPl。phye。41(1970)2769
−2776に述べられているように、ノズルの径及び
長さによつて決まる。
説明する。第1図において、6は容器、7は化合
物収納孔で、内部に化合物1を収納している。8
は化合物蒸気案内孔、9は細管状のノズル、10
はプランジヤーである。バルブ体は前記容器の先
端近傍でノズル9の端面とプランジヤー10によ
つて構成されており、第1図のようにノズルの端
面とプランジヤー10が密着しているときにバル
ブ体は閉状態で、プランジヤー10が軸方向に移
動してノズル9の端面との間にすきまを生じたと
きにはバルブ体は開状態である。尚、プランジヤ
ー10の移動は、シリンダ11がロツド12を介
して行なう。ここでシリンダ11の保持は、保持
体13が取付板14を介して行なう。15は弁受
けで、バルブ体が閉状態のときに化合物1は容器
6の内部に密閉される構造となつている。16は
シール部材、17はOリングで、第1図中容器6
側を真空に、シリンダ11側を大気に仕切つてい
る。18はヒーター線で化合物1を均一に加熱す
るために容器6の全体にかかつている。19は熱
電対で、容器6の温度を検出する。20はフイー
ドスルーで、ヒーター線18及び熱電対19の端
子を真空容器から外にとり出して温度コントロー
ラ(図示せず)に接続する。21は絶縁体でフイ
ードスルー20を保持体13から絶縁させてい
る。22は真空容器で、第1図中の向かつて下側
を真空容器内部とする。ここで、バルブ体が開状
態のときに、化合物蒸気は化合物収納孔7から化
合物蒸気案内孔8を経て、ノズル9から細いビー
ム状に噴出される。このときの噴出強度はヒータ
ー18によつて加熱される容器6の温度によつて
コントロールする。ところで、バルブ体近傍の温
度が化合物収納孔の他の位置の温度よりも低い状
態が起こると、高温部で蒸発した化合物がバルブ
体近傍に析出して閉状態において化合物蒸気のリ
ークが生じ、例えばパターン膜形成位置の観察像
が不鮮明になる等の不都合が生じる。しかるに本
考案による化合物蒸気吹付け装置においては、バ
ルブ体は前記容器の先端近傍にあるため、化合物
収納孔7の他の位置の温度と比較して、降温時に
低温とはなり得ない位置にあるため、上記の様な
不都合は生じない。次に第1図で説明した化合物
蒸気吹付け装置の使用例について説明する。真空
容器27の内部の圧力は1×10-5Torr以下、化
合物1をフエナントレンとする。また例えば、容
器12が80℃に加熱されると容器12の内部の圧
力はフエナントレン蒸気によつて0.16Torr程度
になる。このときバルブ体を開くとフエナントレ
ン蒸気はノズル22を通して細いビーム状に噴出
されたが、ビームの広がり及び噴出量はDlander
and KrugerのJ。APPl。phye。41(1970)2769
−2776に述べられているように、ノズルの径及び
長さによつて決まる。
g 考案の効果
以上、説明してきたように本考案の化合物蒸気
吹付け装置を使用すると、化合物蒸気を局所的に
吹付けるため、不必要な箇所を過剰に汚染するこ
とがなくなる。また、化合物蒸気の吹付け量を容
易に制御できる点も大きな特徴となつている。さ
らに、バルブ体の閉状態における化合物蒸気のリ
ークが起こり得ないため、パターン膜形成位置の
観察像が鮮明に見られることも特徴となつてい
る。
吹付け装置を使用すると、化合物蒸気を局所的に
吹付けるため、不必要な箇所を過剰に汚染するこ
とがなくなる。また、化合物蒸気の吹付け量を容
易に制御できる点も大きな特徴となつている。さ
らに、バルブ体の閉状態における化合物蒸気のリ
ークが起こり得ないため、パターン膜形成位置の
観察像が鮮明に見られることも特徴となつてい
る。
第1図は本考案の化合物蒸気吹付け装置の実施
例を示す図、第2図は従来技術による化合物蒸気
を所定位置に供給する手段を示す図である。 1……化合物、2……ヌツセンセル、3……ヒ
ーター、4……オリフイス、5……熱電対、6…
…容器、7……化合物収納孔、8……化合物蒸気
案内孔、9……ノズル、10……プランジヤー、
11……シリンダ、12……ロツド、13……保
持体、14……取付板、15……弁受け、16…
…シール部材、17……Oリング、18……ヒー
ター線、19……熱電対、20……フイードスル
ー、21……絶縁体、22……真空容器。
例を示す図、第2図は従来技術による化合物蒸気
を所定位置に供給する手段を示す図である。 1……化合物、2……ヌツセンセル、3……ヒ
ーター、4……オリフイス、5……熱電対、6…
…容器、7……化合物収納孔、8……化合物蒸気
案内孔、9……ノズル、10……プランジヤー、
11……シリンダ、12……ロツド、13……保
持体、14……取付板、15……弁受け、16…
…シール部材、17……Oリング、18……ヒー
ター線、19……熱電対、20……フイードスル
ー、21……絶縁体、22……真空容器。
Claims (1)
- マスクおよびレチクルの白点欠陥位置にイオソ
ビーム照射および化合物蒸気吹付けによつて炭化
膜等のパターン膜を形成させるマスクリペア装置
に用いる化合物蒸気吹付け装置において、化合物
を収納するための筒状をなす容器と、前記容器内
に設けられた化合物収納孔および化合物蒸気案内
孔と、前記容器内に形成されると共に前記化合物
蒸気案内孔に連結された細管状のノズルと、前記
化合物収納孔と前記ノズルとの連絡を前記容器の
先端近傍で開状態または閉状態とするためのバル
ブ体と、前記容器を保持するための保持体と、前
記バルブ体を作動させるために前記保持体に設け
られた駆動体と、前記容器の外周に設けられたヒ
ーターとを備え、前記ヒーターにより前記容器を
加熱することにより収納された前記化合物を蒸気
化させて、前記バルブ体が開状態の時に前記化合
物蒸気案内孔およびノズルを経てビーム状に噴出
させるように構成したことを特徴とする化合物蒸
気吹き付け装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1984152032U JPH0112263Y2 (ja) | 1984-10-08 | 1984-10-08 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1984152032U JPH0112263Y2 (ja) | 1984-10-08 | 1984-10-08 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6166935U JPS6166935U (ja) | 1986-05-08 |
JPH0112263Y2 true JPH0112263Y2 (ja) | 1989-04-11 |
Family
ID=30710120
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1984152032U Expired JPH0112263Y2 (ja) | 1984-10-08 | 1984-10-08 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0112263Y2 (ja) |
-
1984
- 1984-10-08 JP JP1984152032U patent/JPH0112263Y2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6166935U (ja) | 1986-05-08 |
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