JPH01119230A - 眼科用超音波診断装置 - Google Patents
眼科用超音波診断装置Info
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- JPH01119230A JPH01119230A JP62277733A JP27773387A JPH01119230A JP H01119230 A JPH01119230 A JP H01119230A JP 62277733 A JP62277733 A JP 62277733A JP 27773387 A JP27773387 A JP 27773387A JP H01119230 A JPH01119230 A JP H01119230A
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- JP
- Japan
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- cornea
- ultrasound
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- 210000004087 cornea Anatomy 0.000 claims abstract description 35
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 34
- 230000004323 axial length Effects 0.000 claims abstract description 17
- 238000002604 ultrasonography Methods 0.000 claims description 37
- 210000001508 eye Anatomy 0.000 claims description 10
- 210000005252 bulbus oculi Anatomy 0.000 claims description 3
- 210000001110 axial length eye Anatomy 0.000 abstract 1
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Classifications
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B8/00—Diagnosis using ultrasonic, sonic or infrasonic waves
- A61B8/10—Eye inspection
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B3/00—Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
- A61B3/10—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions
- A61B3/16—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions for measuring intraocular pressure, e.g. tonometers
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- Health & Medical Sciences (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、眼球に超音波探触子を接触させ、この探触子
からの超音波ビームにより眼軸長を計測する眼科用超音
波診断装置に関するものである。
からの超音波ビームにより眼軸長を計測する眼科用超音
波診断装置に関するものである。
［従来の技術１
従来、この種の計測に使用される超音波探触子として、
簡易水浸法により行うものとハードタイプのものとが知
られている。
簡易水浸法により行うものとハードタイプのものとが知
られている。
しかしながら、簡易水浸法によって計測する場合には、
超音波探触子の先端に設けたゴム袋の中に水を注入しな
ければならないという煩わしさがある。一方、ハードタ
イプの超音波探触子の場合には、角膜が変形されて計測
値が不正確となる欠点がある。
超音波探触子の先端に設けたゴム袋の中に水を注入しな
ければならないという煩わしさがある。一方、ハードタ
イプの超音波探触子の場合には、角膜が変形されて計測
値が不正確となる欠点がある。
［発明の目的］
本発明の目的は、超音波探触子を角膜に接触させた際に
生ずる角膜の凹み量を計測し、これを補正量として演算
することにより、ハードタイプの超音波探触子を用いた
場合でも正確な眼軸長を求め得る眼科用超音波診断装置
を提供することにある。
生ずる角膜の凹み量を計測し、これを補正量として演算
することにより、ハードタイプの超音波探触子を用いた
場合でも正確な眼軸長を求め得る眼科用超音波診断装置
を提供することにある。
［発明の概要］
上述の目的を達成するための本発明の要旨は、被検眼の
角膜に超音波探触子を接触させ、該探触子からの超音波
ビームを用いて眼軸長を計測する眼科用超音波診断装置
において、前記超音波探触子を角膜に押し付ける手段と
、この押し付けによって生ずる角膜の凹み量を算出する
手段と、前記計測された眼軸長を前記凹み量により補正
する手段とを有することを特徴とする眼科用超音波診断
装置である。
角膜に超音波探触子を接触させ、該探触子からの超音波
ビームを用いて眼軸長を計測する眼科用超音波診断装置
において、前記超音波探触子を角膜に押し付ける手段と
、この押し付けによって生ずる角膜の凹み量を算出する
手段と、前記計測された眼軸長を前記凹み量により補正
する手段とを有することを特徴とする眼科用超音波診断
装置である。
［発明の実施例］
本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明する。
第１図は本発明の実施例であり、１は被検眼の角膜Ｅｃ
に接触した状態にある超音波探触子であり、この探触子
ｌは角膜Ｅｃ側から透光部材２、音響整合層３、超音波
振動子４．音響吸収体５により構成されている。また、
角膜Ｅｃの斜め方向には光源６が設けられ、角膜Ｅｃに
向けて指標板７、撮影レンズ８が配列されている。また
、角膜Ｅｃの反射方向には撮影レンズ９、ライン状ＣＯ
Ｄ等から成る一次元受光素子１０が配置されている。
に接触した状態にある超音波探触子であり、この探触子
ｌは角膜Ｅｃ側から透光部材２、音響整合層３、超音波
振動子４．音響吸収体５により構成されている。また、
角膜Ｅｃの斜め方向には光源６が設けられ、角膜Ｅｃに
向けて指標板７、撮影レンズ８が配列されている。また
、角膜Ｅｃの反射方向には撮影レンズ９、ライン状ＣＯ
Ｄ等から成る一次元受光素子１０が配置されている。
超音波探触子１を被検眼の角膜Ｅｃに押し付た状態で眼
軸長の測定が行われるが、この際に角１１Ｅｃと超音波
探触子１は接触面Ｐを介して接触している・一方、光源
６により照明された指標板７には第２図に示すようにス
リット状の指標７ａが設けられ、この指標７ａは投影レ
ンズ８により角膜Ｅｃと超音波探触子１との接触面Ｐに
超音波探触子１の透光部材２を透過して投影される。こ
の際に、指標７ａの長さ方向は紙面に垂直方向に向けら
れている。そして、接触面Ｐで反射された光は、再び透
光部材２を介して投影レンズ９により受光素子１０上に
は投影される。第３図はこの受光素子１０上の様子を示
したものであり、受光素子１０上には透光部材２の端面
で反射された指標７ａ”。
軸長の測定が行われるが、この際に角１１Ｅｃと超音波
探触子１は接触面Ｐを介して接触している・一方、光源
６により照明された指標板７には第２図に示すようにス
リット状の指標７ａが設けられ、この指標７ａは投影レ
ンズ８により角膜Ｅｃと超音波探触子１との接触面Ｐに
超音波探触子１の透光部材２を透過して投影される。こ
の際に、指標７ａの長さ方向は紙面に垂直方向に向けら
れている。そして、接触面Ｐで反射された光は、再び透
光部材２を介して投影レンズ９により受光素子１０上に
は投影される。第３図はこの受光素子１０上の様子を示
したものであり、受光素子１０上には透光部材２の端面
で反射された指標７ａ”。
接触面Ｐ°が投影されている。
ここで、受光素子１０によって得られる光電的出力ｙに
ついて考えてみると、第４図に示すように接触面部分の
出力はＰｙ、非接触面部分の出力はＱｙとなり、これら
の出力Ｐｙ、 Ｑｙから接触部の幅を求めることができ
る。なお、出力Ｐ！がＱＹよりも光電的出力が低い理由
は、接触面Ｐは非接触面部分に比べて屈折率差が少なく
反射率が低下するためである。ここで、角膜Ｅｃの曲率
半径をＲ，接触部の幅をＤとすると、角膜の凹み量Ｘは
次式で計算される。
ついて考えてみると、第４図に示すように接触面部分の
出力はＰｙ、非接触面部分の出力はＱｙとなり、これら
の出力Ｐｙ、 Ｑｙから接触部の幅を求めることができ
る。なお、出力Ｐ！がＱＹよりも光電的出力が低い理由
は、接触面Ｐは非接触面部分に比べて屈折率差が少なく
反射率が低下するためである。ここで、角膜Ｅｃの曲率
半径をＲ，接触部の幅をＤとすると、角膜の凹み量Ｘは
次式で計算される。
ｘ＝Ｒ−（Ｒ２−（Ｄ／２） ２）’
そして、この凹みｉｘを超音波探触子１によって得られ
た眼軸長に加えれば、補正された眼軸長が求められる。
た眼軸長に加えれば、補正された眼軸長が求められる。
第５図は第２の実施例を示し、接触面Ｐそのものを撮像
しようとするものであり、第１図と同一の符号は同じ部
材を示している。即ち、この第２の実施例では光源１１
により接触面Ｐが照明され、この接触面Ｐが受光素子１
０上に投影される。
しようとするものであり、第１図と同一の符号は同じ部
材を示している。即ち、この第２の実施例では光源１１
により接触面Ｐが照明され、この接触面Ｐが受光素子１
０上に投影される。
第６図はこの様子を示したものであり、受光素子１０上
に接触面像Ｐ”が投影され接触部Ｐの幅が計測される。
に接触面像Ｐ”が投影され接触部Ｐの幅が計測される。
なお、この実施例において受光素子１０の代りに、第７
図に示す面積型受光素子１２を使用してもよい。
図に示す面積型受光素子１２を使用してもよい。
第８図は第３の実施例であり、超音波探触子２１はフレ
ーム２３から延在するばね２２により支持され、その位
置関係は指針２４が指すスケール２５上の位置Ａで示さ
れる。
ーム２３から延在するばね２２により支持され、その位
置関係は指針２４が指すスケール２５上の位置Ａで示さ
れる。
第９図はこの超音波探触子２１を被検眼の角膜Ｅｃに接
触させて眼軸長を測定している状態を示し、この際の押
し付は圧力は指針２４が指すスケール２５上の位ｍＢを
読み取ることにより求められる。つまり、予め押し付は
圧力と角膜Ｅｃとの凹み量の関係を求めておけば、直ち
に凹み量を計算することができる。
触させて眼軸長を測定している状態を示し、この際の押
し付は圧力は指針２４が指すスケール２５上の位ｍＢを
読み取ることにより求められる。つまり、予め押し付は
圧力と角膜Ｅｃとの凹み量の関係を求めておけば、直ち
に凹み量を計算することができる。
また、第１図又は第５図の手法と第８図との手法を組合
わせれば、所定の圧平量になる圧力を計算したり、所定
の圧力を加えた場合の圧平量を計算することにより眼圧
値を求めることができる上に、眼軸長計測時の凹み量を
一定に保持するようにすることもできる。更に、第１図
又は第５図の手法において、被検眼の角膜Ｅｃの曲率半
径を事前に求めておけば、個人ごとに正確な凹み量Ｘを
算出することが可能である。
わせれば、所定の圧平量になる圧力を計算したり、所定
の圧力を加えた場合の圧平量を計算することにより眼圧
値を求めることができる上に、眼軸長計測時の凹み量を
一定に保持するようにすることもできる。更に、第１図
又は第５図の手法において、被検眼の角膜Ｅｃの曲率半
径を事前に求めておけば、個人ごとに正確な凹み量Ｘを
算出することが可能である。
［発明の効果］
以上説明したように本発明に係る眼科用超音波診断装置
は、眼球に超音波探触子を接触させ、この探触子からの
超音波ビームにより眼軸長を計測する際に、超音波探触
子が角膜に接することにより生ずる角Ｉｌ々の凹み量が
補正されるので、正確な眼軸長を求めることができる。
は、眼球に超音波探触子を接触させ、この探触子からの
超音波ビームにより眼軸長を計測する際に、超音波探触
子が角膜に接することにより生ずる角Ｉｌ々の凹み量が
補正されるので、正確な眼軸長を求めることができる。
図面は本発明に係る眼科用超音波診断装置の実施例を示
し、第１図は第１の実施例の構成図、第２図は指標板の
正面図、第３図は受光素子上の像の説明図、第４図は受
光素子の出力波形図、第５図は第２の実施例の構成図、
第６図は受光素子上の像の説明図、第７図は面積型受光
素子上の像の説明図、第８図は第３の実施例の構成図、
第９図は超音波探触子が角膜に接触した状態の側面図で
ある。 符号１，２１は角膜、２は透光部材、３は音響整合層、
４は超音波振動子、５は音響吸収体。 ６．１１は光源、７は指標板、ｌＯは受光素子、１２は
面積型受光素子、２２はばね、２４は指針、２５はスケ
ールである。 特許出願人 キャノン株式会社 図面 第１図 第４図 第５図 第８図 第６図 第７図 第９図
し、第１図は第１の実施例の構成図、第２図は指標板の
正面図、第３図は受光素子上の像の説明図、第４図は受
光素子の出力波形図、第５図は第２の実施例の構成図、
第６図は受光素子上の像の説明図、第７図は面積型受光
素子上の像の説明図、第８図は第３の実施例の構成図、
第９図は超音波探触子が角膜に接触した状態の側面図で
ある。 符号１，２１は角膜、２は透光部材、３は音響整合層、
４は超音波振動子、５は音響吸収体。 ６．１１は光源、７は指標板、ｌＯは受光素子、１２は
面積型受光素子、２２はばね、２４は指針、２５はスケ
ールである。 特許出願人 キャノン株式会社 図面 第１図 第４図 第５図 第８図 第６図 第７図 第９図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、被検眼の角膜に超音波探触子を接触させ、該探触子
からの超音波ビームを用いて眼軸長を計測する眼科用超
音波診断装置において、前記超音波探触子を角膜に押し
付ける手段と、この押し付けによって生ずる角膜の凹み
量を算出する手段と、前記計測された眼軸長を前記凹み
量により補正する手段とを有することを特徴とする眼科
用超音波診断装置。 ２、前記角膜の凹み量は前記超音波探触子と角膜の接触
量を計測することにより算出するようにした特許請求の
範囲第１項に記載の眼科用超音波診断装置。 ３、前記超音波探触子と角膜の接触量の計測は、接触部
の像をセンサ上に投影することにより行うようにした特
許請求の範囲第２項に記載の眼科用超音波診断装置。 ４、前記超音波探触子と角膜の接触量の計測は、接触部
に指標を投影し、該指標の前記接触部からの反射像を計
測することにより行うようにした特許請求の範囲第２項
に記載の眼科用超音波診断装置。 ５、前記角膜の凹み量は前記超音波探触子を眼球に押圧
する押圧力により算出するようにした特許請求の範囲第
１項に記載の眼科用超音波診断装置。 ６、前記角膜の凹み量は前記超音波探触子と角膜の接触
量と前記角膜の曲率半径により算出するようにした特許
請求の範囲第１項に記載の眼科用超音波診断装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62277733A JPH01119230A (ja) | 1987-11-02 | 1987-11-02 | 眼科用超音波診断装置 |
| EP88118272A EP0315160B1 (en) | 1987-11-02 | 1988-11-02 | Ultrasonic ophthalmic measuring apparatus |
| DE3852985T DE3852985T2 (de) | 1987-11-02 | 1988-11-02 | Ophthalmisches Ultraschall-Messgerät. |
| US07/633,180 US5056522A (en) | 1987-11-02 | 1990-12-28 | Supersonic ophthalmic measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62277733A JPH01119230A (ja) | 1987-11-02 | 1987-11-02 | 眼科用超音波診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01119230A true JPH01119230A (ja) | 1989-05-11 |
| JPH0358726B2 JPH0358726B2 (ja) | 1991-09-06 |
Family
ID=17587568
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62277733A Granted JPH01119230A (ja) | 1987-11-02 | 1987-11-02 | 眼科用超音波診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01119230A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009034452A (ja) * | 2007-08-03 | 2009-02-19 | Nidek Co Ltd | 眼科用超音波測定装置及びプログラム |
-
1987
- 1987-11-02 JP JP62277733A patent/JPH01119230A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009034452A (ja) * | 2007-08-03 | 2009-02-19 | Nidek Co Ltd | 眼科用超音波測定装置及びプログラム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0358726B2 (ja) | 1991-09-06 |
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