JPH01112534A - 光ピックアップ装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、例えば光デイスク装置などの光記録再生装置
等において、記録担体に対して情報の記録、再生を行う
ための光ピックアップ装置に関し、特に、レーザ光源が
出射するレーザ光の強度が適正になるように制御される
光ピンクアップ装置に関するものである。

〔従来の技術〕

記録担体ｌに対して情報の記録、再生を行うための従来
の光ピックアップ装置２は、第２図に示すように、レー
ザ光源である半導体レーザ３、コリメータレンズ４、回
折格子５、対物レンズ６、および光検出器７・８を備え
ている。

上記光検出器７・８は、プリアンプ９に接続される一方
、半導体レーザ３の後方に設けられるモニタダイオード
１０は、ｉ＃ｊｉ手段１１に接続されている。また、制
御手段１１は、半導体レーザ３に接続されている。

このような光ピックアップ装置２では、半導体レーザ３
から出射されたレーザ光は、コリメータレンズ４によっ
て平行光束に変換される。この平行光束は、回折格子５
によって回折し、記録担体１の記録面１ａに直角な０次
の回折光が対物レンズ６によって集光され、記録担体１
の記録面１ａにビームスポットを形成する。

記録面１ａによって反射されるとともに、記録情報に応
じて変調を受けた反射光束は、対物レンズ６によって取
り込まれ、回折格子５によって回折する。回折した反射
光束は、それぞれコリメータレンズ４によって光検出器
７・８に集光される。

光検出器７・８によって光電変換された信号は、プリア
ンプ９で電流−電圧変換された後、加算、減算等の信号
処理が行われ、プリアンプ９から、フォーカスエラー信
号、トラックエラー信号、再生高周波信号等が出力され
る。

一方、半導体レーザ３の図示しない共振器裏面から出射
されたレーザ光は、モニタダイオード１０に入射し、光
電変換された信号が制御手段１１に出力される。制御手
段１１では、このモニタダイオード１０から入力された
信号レベルとあらかじめ設定された基準レベルとを比較
し、これに基づいて半導体レーザ３の駆動電流を制御す
ることにより、半導体レーザ３から出射されるレーザ光
の強度を一定に保つようになっていた。

〔発明が解決しようとする問題点〕

ところが、回折格子５で回折された反射光束のうちの一
部は、半導体レーザ３に戻ってくることがある。この場
合、半導体レーザ３が出射するレーザ光の強度は、戻り
光量の変化に応じて不安定になる。それゆえ、半導体レ
ーザ３の共振器裏面から出射されるレーザ光の強度は、
必ずしも半導体レーザ３の前面から出射されるレーザ光
の強度に比例しているとは限らない。

したがって、上記従来の光ピックアップ装置２では、半
導体レーザ３から出射されるレーザ光の強度を確実に一
定に保つことができないという問題点を有していた。

また、半導体レーザ３から出射されるレーザ光が所定の
強度になるように制御されたとしても、コリメータレン
ズ４、回折格子５、および対物レンズ６等の光学要素に
おける光透過特性のばらつきや、記録担体１の反射特性
のばらつきなどのために、光検出器７・８に入射する光
の強度レベルが、一定の値になるとは限らない。そこで
、プリアンプ９に入力される信号レベルは、光ピンクア
ンプ装置２ごとに異なる。

それゆえ、プリアンプ９の後段にゲイン調整手段を設け
て、光ピンクアンプ装置２ごとに、プリアンプ９の出力
する信号レベルが一定の値になるようにゲイン調整しな
くてはならないという問題点をも有していた。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明に係る光・ピックアップ装置は、上記の問題点を
解決するために、レーザ光を出射するレーザ光源と、出
射されたレーザ光を平行光束に変換するコリメータレン
ズと、平行光束を記録担体に集光させてビームスポット
を形成させるとともに、記録担体からの反射光束を取り
込む対物レンズと、前記レーザ光源と対物レンズとの間
に設けられ、対物レンズによって取り込まれた反射光束
を回折させる回折格子と、回折した反射光束を受光して
電気信号に変換する反射光束強度検出器と、反射光束強
度検出器からの出力に応じて、レーザ光源が出射するレ
ーザ光の強度を制御する制御手段とを備えたことを特徴
としている。

〔作　用〕

上記の構成により、レーザ光源が出射するレーザ光の強
度は、記録担体によって反射され、回折格子によって回
折した反射光束の強度レベルに基づいて制御ｎされる。

したがって、レーザ光源に戻ってくる戻り光量の影響を
受けることなく、常に、反射光束の強度レベルが一定に
なるように制御することができる。

しかも、コリメータレンズ、回折格子、および対物レン
ズ等の光学要素における光透過特性や、記録担体の反射
特性などがばらついたりしても、光ピックアップ装置ご
とに反射光束の強度レベルがばらつくこともない。それ
ゆえ、ゲイン調整手段等を設けなくても、再生された信
号レベルが−定の値になるようにすることができる。

〔実施例〕

本発明の一実施例を第１図に基づいて説明すれば、以下
の通りである。

光ピンクアップ装置２１には、第１図に示すように、レ
ーザ光を出射するレーザ光源である半導体レーザ２２が
設けられている。半導体レーザ２２の前方には、半導体
レーザ２２から出射されたレーザ光を平行光束に変換す
るコリメータレンズ２３が設けられている。

コリメータレンズ２３のさらに前方には、コリメータレ
ンズ２３によって変換された平行光束を記録担体２４に
おける記録面２４ａに集光させてビームスポットを形成
させるとともに、記録面２４ａからの反射光束を取り込
む対物レンズ２５が設けられている。また、コリメータ
レンズ２３と対物レンズ２５との間には、対物レンズ２
５によって取り込まれた反射光束を回折させる回折格子
２６が設けられている。

一方、半導体レーザ２２の近傍には、回折格子２６によ
って回折した反射光束を受光し、電気信号に変換する反
射光束強度検出器２７、および光検出器２８が設けられ
ている。上記反射光束強度検出器２７は、半導体レーザ
２２が出射するレーザ光の強度を制御する制御手段２９
に接続されている。制御手段２９は、さらに、半導体レ
ーザ２２に接続されている。

また、光検出器２８は、プリアンプ３０に接続されてい
る。

上記の構成において、半導体レーザ２２から出射された
レーザ光は、コリメータレンズ２３によって平行光束に
変換される。この平行光束は、回折格子２６によって回
折し、記録担体２４の記録面２４ａに直角な０次の回折
光が対物レンズ２５によって集光され、記録担体２４の
記録面２４ａにビームスポットを形成する。

記録面２４ａによって反射されるとともに、記録情報に
応じて変調を受けた反射光束は、対物レンズ２５によっ
て取り込まれ、回折格子２６によって回折する。回折し
た１１次の回折光は、それぞれコリメータレンズ２３に
よって反射光束強度検出器２７、および光検出器２８に
集光する。

反射光束強度検出器２７に集光した反射光束は、光電変
換されて制御手段２９に出力される。制御手段２９では
、反射光束強度検出器２７から入力された信号レベルと
、あらかじめ設定された基準レベルとを比較し、反射光
束の強度レベルが一定になるように、半導体レーザ２２
の駆動電流を制御する。

一方、光検出器２８によって光電変換された信号は、プ
リアンプ３０で電流−電圧変換された後、加算、減算等
の信号処理が行われ、プリアンプ３０から、フォーカス
エラー信号、トラックエラー信号、再生高周波信号等が
出力される。

ここで、半導体レーザ２２の出射するレーザ光の強度は
、上記のように、反射光束の強度レベルが一定になるよ
うに制御されている。それゆえ、プリアンプ３０から出
力される各信号のレベルは、コリメータレンズ２３、対
物レンズ２５および回折格子２６等の光透過特性や、記
録担体２４の反射特性などがばらついたりしても、常に
、一定の値になるように保たれる。

なお、本実施例においては、反射光束の強度レベルを検
出するために、専用の反射光束強度検出器２７を設けて
いるが、これは、フォーカスエラー信号、トラックエラ
ー信号、再生高周波信号等を検出するための光検出器２
８などと共用しても同じ効果を得ることができる。

〔発明の効果〕

本発明に係る光ピックアップ％Ｂｎは、以上のように、
・レーザ光を出射するレーザ光源と、出射されたレーザ
光を平行光束に変換するコリメータレンズと、平行光束
を記録担体に集光させてビームスポットを形成させると
ともに、記録担体からの反射光束を取り込む対物レンズ
と、前記レーザ光源と対物レンズとの間に設けられ、対
物レンズによって取り込まれた反射光束を回折させる回
折格子と、回折した反射光束を受光して電気信号に変換
する反射光束強度検出器と、反射光束強度Ｉｆ出器から
の出力に応じて、レーザ光源が出射するし−ザ光の強度
を制御する制御手段とを備えた構成である。

これにより、レーザ光源が出射するレーザ光の強度は、
記録担体によって反射され、回折格子によって回折した
反射光束の強度レベルに基づいて制御されるので、レー
ザ光源に戻ってくる戻り光量の影響を受けることなく、
常に、反射光束の強度レベルが一定になるように制御す
ることができるという効果を奏する。

しかも、コリメータレンズ、回折格子、および対物レン
ズ等の光学要素における光透過特性や、記録担体の反射
特性などがばらついたりしても、光ピックアップ装置ご
とに反射光束の強度レベルがばらつくこともない、それ
ゆえ、ゲイン調整手段等を設けなくても、再生された信
号レベルが一定の値になるようにすることができるとい
う効果をも奏する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す構成説明図である。第
２図は、従来例を示す構成説明図である。 ２１は光ピックアップ装置、２２は半導体レーザ（レー
ザ光源）、２３はコリメータレンズ、２４は記録担体、
２５は対物レンズ、２６は回折格子、２７は反射光束強
度検出器、２９は制御手段である。 第　１　図 第　２図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、レーザ光を出射するレーザ光源と、 出射されたレーザ光を平行光束に変換するコリメータレ
   ンズと、 平行光束を記録担体に集光させてビームスポットを形成
   させるとともに、記録担体からの反射光束を取り込む対
   物レンズと、 前記レーザ光源と対物レンズとの間に設けられ、対物レ
   ンズによって取り込まれた反射光束を回折させる回折格
   子と、 回折した反射光束を受光して電気信号に変換する反射光
   束強度検出器と、 反射光束強度検出器からの出力に応じて、レーザ光源が
   出射するレーザ光の強度を制御する制御手段とを備えた
   ことを特徴とする光ピックアップ装置。