JPH01109319A - レーザビーム記録装置 - Google Patents
レーザビーム記録装置Info
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- JPH01109319A JPH01109319A JP62267877A JP26787787A JPH01109319A JP H01109319 A JPH01109319 A JP H01109319A JP 62267877 A JP62267877 A JP 62267877A JP 26787787 A JP26787787 A JP 26787787A JP H01109319 A JPH01109319 A JP H01109319A
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Landscapes
- Laser Beam Processing (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明はレーザビーム記録装置に係り、特に二個の半導
体レーザから発振されたレーザビームの合成光を走査し
て記録材料上へ画像の記録を行なうレーザビーム記録装
置に関する。 ′[従来の技術] 従来より、レーザビームを走査光学系により偏向して記
録材料上へ走査し画像を記録するレーザビーム記録装置
が知られている。このようなレーザビーム記録装置にお
いては、記録材料としてレーザダイレクトフィルム(L
DF)のようなしきい値(スレッショルドレベル)効果
の大きいヒートモード記録材料が用いられている。この
ヒートモート記録材料は、金属薄膜のようにレーザ等の
高密度エネルギーによって融解、蒸発、凝集などの熱的
変形を生ずる物質を記録層として用いたものである。
体レーザから発振されたレーザビームの合成光を走査し
て記録材料上へ画像の記録を行なうレーザビーム記録装
置に関する。 ′[従来の技術] 従来より、レーザビームを走査光学系により偏向して記
録材料上へ走査し画像を記録するレーザビーム記録装置
が知られている。このようなレーザビーム記録装置にお
いては、記録材料としてレーザダイレクトフィルム(L
DF)のようなしきい値(スレッショルドレベル)効果
の大きいヒートモード記録材料が用いられている。この
ヒートモート記録材料は、金属薄膜のようにレーザ等の
高密度エネルギーによって融解、蒸発、凝集などの熱的
変形を生ずる物質を記録層として用いたものである。
また、このヒートモート記録材料には相反則不軌かあり
、照射されたレーザビームの強度がしきい値以下では、
照射時間を長くしても記録することがてきないが、照射
されたレーザビームの強度がしきい値を少しでも越える
場合に限り記録層が熟的変形をして照射部分の金属がな
くなり記録されるようになっている。
、照射されたレーザビームの強度がしきい値以下では、
照射時間を長くしても記録することがてきないが、照射
されたレーザビームの強度がしきい値を少しでも越える
場合に限り記録層が熟的変形をして照射部分の金属がな
くなり記録されるようになっている。
したがって、このヒートモード記録材料に記録を行なう
には、しきい値を少しでも越える強度のレーザビームを
照射する必要がある。
には、しきい値を少しでも越える強度のレーザビームを
照射する必要がある。
[発明が解決しようとする問題点]
一方、レーザビームを発振するレーザビーム発生装置と
しては半導体レーザが知られている。この半導体レーザ
は、パルス状に極めて短時間にレーザビームを発振する
場合にはレーザビームを高強度とすることができるが、
反面長時間の連続発振をする場合には発振されるレーザ
ビームは低強度となり、しきい値を越える強度のレーザ
ビームを発振することが容易にできない。
しては半導体レーザが知られている。この半導体レーザ
は、パルス状に極めて短時間にレーザビームを発振する
場合にはレーザビームを高強度とすることができるが、
反面長時間の連続発振をする場合には発振されるレーザ
ビームは低強度となり、しきい値を越える強度のレーザ
ビームを発振することが容易にできない。
また、ヒートモード記録材料は当然のことながら、しき
い値を越える強度のレーザビームを照射した場合であっ
ても、照射後に記録層が熱的変形をして照射部分の金属
がなくなるまでに所定のエネルギーを必要とするため、
極めて短時間ではあるが時間がかかる。
い値を越える強度のレーザビームを照射した場合であっ
ても、照射後に記録層が熱的変形をして照射部分の金属
がなくなるまでに所定のエネルギーを必要とするため、
極めて短時間ではあるが時間がかかる。
このため従来では、ヒートモート記録材料の記録層が熱
的変形をする反応に応じた走査速度で記録を行なわなけ
ればならず、高速の記録が容易にできないという問題が
あった。
的変形をする反応に応じた走査速度で記録を行なわなけ
ればならず、高速の記録が容易にできないという問題が
あった。
本発明は上記事実を考慮し、レーザビームのエネルギー
を有効に利用し、記録層が熱的変形をするのに時間がか
かるヒートモート記録材料を用いた場合であっても、高
速の記録を容易に行なうことのできるレーザビーム記録
装置を得ることが目的である。
を有効に利用し、記録層が熱的変形をするのに時間がか
かるヒートモート記録材料を用いた場合であっても、高
速の記録を容易に行なうことのできるレーザビーム記録
装置を得ることが目的である。
[問題点を解決するための手段]
本発明に係るレーザビーム記録装置は、連続レーザビー
ムを発振する第1の半導体レーザと。
ムを発振する第1の半導体レーザと。
パルスレーザビームを発振する第2の半導体レーザと、
前記各半導体レーザから発振されたレーザビームを合成
する合成手段と、合成されたレーザビームを記録材料上
へ走査する走査光学系と、前記走査光学系と記録材料と
の間に配置され前記連続レーザビームの一部を反射する
反射手段と、前記反射手段によって反射されたレーザビ
ームによって同期信号を発生させるリニアエンコーダと
、前記同期信号に基づいて前記第2の半導体レーザな作
動させる作動手段と、を備えている。
前記各半導体レーザから発振されたレーザビームを合成
する合成手段と、合成されたレーザビームを記録材料上
へ走査する走査光学系と、前記走査光学系と記録材料と
の間に配置され前記連続レーザビームの一部を反射する
反射手段と、前記反射手段によって反射されたレーザビ
ームによって同期信号を発生させるリニアエンコーダと
、前記同期信号に基づいて前記第2の半導体レーザな作
動させる作動手段と、を備えている。
[作用]
上記構成のレーザビーム記録装置ては、合成手段によっ
て第1及び第2の半導体レーザから発振されたレーザビ
ームが交差して合成される0合成されたレーザビームは
走査光学系によつて記録材料上に走査される。
て第1及び第2の半導体レーザから発振されたレーザビ
ームが交差して合成される0合成されたレーザビームは
走査光学系によつて記録材料上に走査される。
この場合、第1の半導体レーザから発振された連続レー
ザビームは記録材料へエネルギーを付与しこれを予熱す
ると共に、その一部は反射手段によって反射されリニア
エンコーダへ照射される。
ザビームは記録材料へエネルギーを付与しこれを予熱す
ると共に、その一部は反射手段によって反射されリニア
エンコーダへ照射される。
リニアエンコーダはこの反射されたレーザビームを基に
同期信号を発生させ、さらにこの同期信号に基づいて作
動手段によって第2の半導体レーザが作動する。ここで
、第2の半導体レーザから発振されるパルスレーザビー
ムは、第1の半導体レーザから発振された連続レーザビ
ームによって予熱された後の記録材料へ照射されること
になり、記録材料は記Q層が熱的変形をして照射部分の
金属がなくなるまでに必要な所定のエネルギーを即座に
越えて反応し記録が行なわれる。
同期信号を発生させ、さらにこの同期信号に基づいて作
動手段によって第2の半導体レーザが作動する。ここで
、第2の半導体レーザから発振されるパルスレーザビー
ムは、第1の半導体レーザから発振された連続レーザビ
ームによって予熱された後の記録材料へ照射されること
になり、記録材料は記Q層が熱的変形をして照射部分の
金属がなくなるまでに必要な所定のエネルギーを即座に
越えて反応し記録が行なわれる。
[発明の効果]
以上説明した如く本発明に係るレーザビーム記録装置は
、第1の半導体レーザから発振されたレーザビームによ
フて記録材料が予熱され、さらにその後に第2の半導体
レーザのレーザビームが発振されるので、記録層が熱的
変形をするのに時間がかかるヒートモード記録材料を用
いた場合であっても、高速の記録を容易に行なうことが
でき、かつ、第1の半導体レーザから発振されたレーザ
ビームの一部をリニアエンコーダを透過させて同期信号
を発生させているのて、精度の高い同期信号が得られ、
精細な記録が可能となるという効果を有する。
、第1の半導体レーザから発振されたレーザビームによ
フて記録材料が予熱され、さらにその後に第2の半導体
レーザのレーザビームが発振されるので、記録層が熱的
変形をするのに時間がかかるヒートモード記録材料を用
いた場合であっても、高速の記録を容易に行なうことが
でき、かつ、第1の半導体レーザから発振されたレーザ
ビームの一部をリニアエンコーダを透過させて同期信号
を発生させているのて、精度の高い同期信号が得られ、
精細な記録が可能となるという効果を有する。
[実施例]
第1図には本発明の実施例に係るレーザビーム記録層W
1ioの概略構成図が示されており、第2図にはレーザ
ビーム記録装置10の概略平面図が示されている。
1ioの概略構成図が示されており、第2図にはレーザ
ビーム記録装置10の概略平面図が示されている。
このレーザビーム記録波MIOは2つのレーザビーム発
振系を備えている。一方の発振系には、pn接合に電流
を流し励起させることによってレーザビームを発生し第
2の半導体レーザとされる半導体レーザ12が配置され
ている。この半導体レーザ12はpn接合面が水平方向
となるように配置されており、また発振されたレーザビ
ームはpn接合面に平行な方向と垂直な方向とでそれぞ
れ発散角が異なり、その断面形状は楕円状となっている
。また、この半導体レーザ12から発振されるレーザビ
ームは第4図(E)に示す如くパルス状となっており、
したかって連続発振しない代りに高強度となっている。
振系を備えている。一方の発振系には、pn接合に電流
を流し励起させることによってレーザビームを発生し第
2の半導体レーザとされる半導体レーザ12が配置され
ている。この半導体レーザ12はpn接合面が水平方向
となるように配置されており、また発振されたレーザビ
ームはpn接合面に平行な方向と垂直な方向とでそれぞ
れ発散角が異なり、その断面形状は楕円状となっている
。また、この半導体レーザ12から発振されるレーザビ
ームは第4図(E)に示す如くパルス状となっており、
したかって連続発振しない代りに高強度となっている。
半導体レーザ12の発振側には、半導体レーザ12から
発振されたレーザビームを平行光線束にするコリメータ
レンズ14が配置されている。半導体レーザ12から発
振されたレーザビームは、このコリメータレンズ14を
通過することによって平行なレーザビーム束17とされ
るようになっている。
発振されたレーザビームを平行光線束にするコリメータ
レンズ14が配置されている。半導体レーザ12から発
振されたレーザビームは、このコリメータレンズ14を
通過することによって平行なレーザビーム束17とされ
るようになっている。
コリメータレンズ14のレーザビーム発振側には1合成
手段としての偏光ビームスプリッタ18が配置されてい
る。偏光ビームスプリッタ18は、入射されたレーザビ
ームの内P偏光ビームを透過しS偏光ビームを反射する
ようになっている。このためコリメータレンズ14を通
過しP偏光ビームとされるレーザビーム束17が通過す
るようになっている。
手段としての偏光ビームスプリッタ18が配置されてい
る。偏光ビームスプリッタ18は、入射されたレーザビ
ームの内P偏光ビームを透過しS偏光ビームを反射する
ようになっている。このためコリメータレンズ14を通
過しP偏光ビームとされるレーザビーム束17が通過す
るようになっている。
また、他方の発振系には半導体レーザ12と同様に、p
n接合に電流□を流し励起させることによってレーザビ
ームを発生し第1の半導体レーザとされる半導体レーザ
20が配置されている。この半導体レーザ20はpn接
合面が垂直方向となるように配置されており、また発振
されたレーザビームはpn接合面に平行な方向と垂直な
方向とでそれぞれ発散角が異なり、その断面形状は楕円
状となっている。また、この半導体レーザzOから発振
されるレーザビームは、前記半導体レーザ12から発振
されるレーザビームと異なり、 tJ4° 図(A)に
示す如く低強度(Po)ではあるが連続波となっている
。
n接合に電流□を流し励起させることによってレーザビ
ームを発生し第1の半導体レーザとされる半導体レーザ
20が配置されている。この半導体レーザ20はpn接
合面が垂直方向となるように配置されており、また発振
されたレーザビームはpn接合面に平行な方向と垂直な
方向とでそれぞれ発散角が異なり、その断面形状は楕円
状となっている。また、この半導体レーザzOから発振
されるレーザビームは、前記半導体レーザ12から発振
されるレーザビームと異なり、 tJ4° 図(A)に
示す如く低強度(Po)ではあるが連続波となっている
。
半導体レーザ20の発振側には、半導体レーザ20から
発振されたレーザビームを平行光線束にするコリメータ
レンズ22が配置されており、これによって半導体レー
ザ20から発振されたレーザビームは平行なレーザビー
ム束23とされて偏光ビームスプリッタ1Bへ入射する
ようになっている。偏光ビームスプリッタ18はこの入
射されたレーザビーム束23.すなわち偏光面を回転さ
れないS偏光ビームを反射するようになっている。した
がって、偏光ビームスプリッタ18からはこれらレーザ
ビーム束17とレーザビーム束23とが合成された合成
ビーム24が発振されるようになっている。
発振されたレーザビームを平行光線束にするコリメータ
レンズ22が配置されており、これによって半導体レー
ザ20から発振されたレーザビームは平行なレーザビー
ム束23とされて偏光ビームスプリッタ1Bへ入射する
ようになっている。偏光ビームスプリッタ18はこの入
射されたレーザビーム束23.すなわち偏光面を回転さ
れないS偏光ビームを反射するようになっている。した
がって、偏光ビームスプリッタ18からはこれらレーザ
ビーム束17とレーザビーム束23とが合成された合成
ビーム24が発振されるようになっている。
ここで、半導体レーザ20はpn接合面が垂直方向とな
って配置されているのて、第3図に示す如く合成ビーム
24はレーザビーム束17の断面形状に葛ける略中心部
とレーザビーム束23の断面形状における一端部とが直
交して各レーザビームが合成されるよフになっている。
って配置されているのて、第3図に示す如く合成ビーム
24はレーザビーム束17の断面形状に葛ける略中心部
とレーザビーム束23の断面形状における一端部とが直
交して各レーザビームが合成されるよフになっている。
このため、この合成ビーム24は略丁字形の断面形状と
なると共に、重ね合わせ部分25が高強度で正円形に近
い断面形状となっている。
なると共に、重ね合わせ部分25が高強度で正円形に近
い断面形状となっている。
偏光ビームスプリッタ18の発振側には、第1図におい
て矢印入方向に往復回動する走査光学系としての光偏向
器26が配置されており、偏光ビームスプリッタ18を
通過した合成ビーム24を偏向(以下この偏向を走査と
いう)できるようになっている、この場合、合成ビーム
24は第3図矢印B方向へ走査されるようになっている
。
て矢印入方向に往復回動する走査光学系としての光偏向
器26が配置されており、偏光ビームスプリッタ18を
通過した合成ビーム24を偏向(以下この偏向を走査と
いう)できるようになっている、この場合、合成ビーム
24は第3図矢印B方向へ走査されるようになっている
。
光偏向器26の発振側には集束レンズ2Bが配置されて
おり、光偏向器26によって偏向された合成ビーム24
を合成ビームスポットとして集束するようになっている
。
おり、光偏向器26によって偏向された合成ビーム24
を合成ビームスポットとして集束するようになっている
。
集束レンズ28の焦点面には記録材料30が配置されて
いる0本発明のレーザビーム記録装置10に使用可能な
記録材料30としては、レーザダイレクトフィルムのよ
うなヒートモード記録材料がある。ヒートモード記録材
料は、金属薄膜のようにレーザ等の高密度エネルギーに
よって融解、蒸発、*集などの熟的変形を生ずる物質を
記録層として用いたものであり、素材としては金属単位
あるいは複数の金属の重層、混合または合金が望ましい
が、染料や顔料あるいは合成樹脂等を用いるようにして
もよい、さらに記録層にはヒートモード記録の感度を上
げるための物質が含まれていてもよく、あるいは感度を
高めるための層が別に存在してもよく、保:am等を設
けるようにしてもよい。
いる0本発明のレーザビーム記録装置10に使用可能な
記録材料30としては、レーザダイレクトフィルムのよ
うなヒートモード記録材料がある。ヒートモード記録材
料は、金属薄膜のようにレーザ等の高密度エネルギーに
よって融解、蒸発、*集などの熟的変形を生ずる物質を
記録層として用いたものであり、素材としては金属単位
あるいは複数の金属の重層、混合または合金が望ましい
が、染料や顔料あるいは合成樹脂等を用いるようにして
もよい、さらに記録層にはヒートモード記録の感度を上
げるための物質が含まれていてもよく、あるいは感度を
高めるための層が別に存在してもよく、保:am等を設
けるようにしてもよい。
このようなヒートモード記録材料は、しきい値効果が大
きく、シきい値以下の強度のレーザビームでは記録でき
ないが、しきい値を少しても越える強度のレーザビーム
によっては完全に記録されるものである。したがってこ
のようなヒートモード記録材料に、集束レンズ28によ
って集束されたレーザビームを照射すると、この、レー
ザビームの強度がしきい値以上である場合に限り記録層
が熱的変形をして照射部分の金属がなくなり記録される
ようになっている。
きく、シきい値以下の強度のレーザビームでは記録でき
ないが、しきい値を少しても越える強度のレーザビーム
によっては完全に記録されるものである。したがってこ
のようなヒートモード記録材料に、集束レンズ28によ
って集束されたレーザビームを照射すると、この、レー
ザビームの強度がしきい値以上である場合に限り記録層
が熱的変形をして照射部分の金属がなくなり記録される
ようになっている。
集束レンズ2d°と記録材料30との間には、反射手段
としてのビームスプリッタ32が配置されている。ビー
ムスプリッタ32は、集束レンズ28によって集束され
た合成ビーム24のうちP偏光ビームのレーザビーム束
17を透過すると共に、S偏光ビームのレーザビーム束
23の一部を反射し、さらに反射側に配置されたリニア
エンコーダ34を小さな光点で走査するようになってい
る。したがって第4図(B)に示す如く、リニアエンコ
ーダ34のビーム入力は半導体レーザ20から発振され
たレーザビームの強度(Pa)よりも小さな値(Pa)
となっている。
としてのビームスプリッタ32が配置されている。ビー
ムスプリッタ32は、集束レンズ28によって集束され
た合成ビーム24のうちP偏光ビームのレーザビーム束
17を透過すると共に、S偏光ビームのレーザビーム束
23の一部を反射し、さらに反射側に配置されたリニア
エンコーダ34を小さな光点で走査するようになってい
る。したがって第4図(B)に示す如く、リニアエンコ
ーダ34のビーム入力は半導体レーザ20から発振され
たレーザビームの強度(Pa)よりも小さな値(Pa)
となっている。
リニアエンコーダ34は、光ビームが通過できるm長い
透明部と通過できない不透明部とが一定の間隔で交互に
多数縞状に配置されている。このリニアエンコーダ34
の発振側には、集束レンズ36及び光検出器38が配置
されている。このため、リニアエンコーダ34上を走査
した光ビームはリニアエンコーダ34の透明部では通過
し不透明部では通過しないので、リニアエンコーダ34
を通過した光ビームを集束レンズ36によって光検出器
38へ入射させると1、光検出s38はリニアエンコー
ダ34の透明部を光ビームが通過する時に対応してこれ
を検知し光電パルス信号を出力できるようになっている
。
透明部と通過できない不透明部とが一定の間隔で交互に
多数縞状に配置されている。このリニアエンコーダ34
の発振側には、集束レンズ36及び光検出器38が配置
されている。このため、リニアエンコーダ34上を走査
した光ビームはリニアエンコーダ34の透明部では通過
し不透明部では通過しないので、リニアエンコーダ34
を通過した光ビームを集束レンズ36によって光検出器
38へ入射させると1、光検出s38はリニアエンコー
ダ34の透明部を光ビームが通過する時に対応してこれ
を検知し光電パルス信号を出力できるようになっている
。
この光検出器38は、同期信号発生器40へ接続されて
いる。同期信号発生器40は光検出器38が検知し出力
した光電パルス信号によって同期信号を出力するように
なっている。同期信号発生器40は、作動手段を構成す
る制御回路42へ接続されている。
いる。同期信号発生器40は光検出器38が検知し出力
した光電パルス信号によって同期信号を出力するように
なっている。同期信号発生器40は、作動手段を構成す
る制御回路42へ接続されている。
制御回路42は作動手段を構成する半導体レーザドライ
バ44.46を介して半導体レーザ12及び半導体レー
ザ20へ接続されると共に、ドライバ48を介して光偏
向器26の駆動11127に接続されている。また、制
御回路42には文字情報記憶部50が接続されており、
文字情報が入力されるようになっている。
バ44.46を介して半導体レーザ12及び半導体レー
ザ20へ接続されると共に、ドライバ48を介して光偏
向器26の駆動11127に接続されている。また、制
御回路42には文字情報記憶部50が接続されており、
文字情報が入力されるようになっている。
次に本実施例の作用について説明する。
半導体レーザ12からレーザビームが発振されると、コ
リメータレンズ14によって平行光線束とされるレーザ
ビーム束17となって偏光ビームスプリッタ1Bへ入射
する。偏光ビームスプリッタ18は、入射されたレーザ
ビームの内P偏光ビームを透過しS偏光ビームを反射す
るようになっている。このためP偏光ビームのレーザビ
ーム束17は通過する。
リメータレンズ14によって平行光線束とされるレーザ
ビーム束17となって偏光ビームスプリッタ1Bへ入射
する。偏光ビームスプリッタ18は、入射されたレーザ
ビームの内P偏光ビームを透過しS偏光ビームを反射す
るようになっている。このためP偏光ビームのレーザビ
ーム束17は通過する。
一方、半導体レーザ20からレーザビームが発振される
と、コリメータレンズ22によって平行光線束とされる
レーザビーム束23となって偏光ビームスプリッタ18
へ入射する。偏光ビームスプリッタ18はこの入射され
たレーザビーム束23、すなわち偏光面を回転されない
S偏光ビームを反射するようになっているので、偏光ビ
ームスプリッタ18からはこれらレーザビーム束17と
レーザビーム束23とが合成された合成ビーム24が発
振される。
と、コリメータレンズ22によって平行光線束とされる
レーザビーム束23となって偏光ビームスプリッタ18
へ入射する。偏光ビームスプリッタ18はこの入射され
たレーザビーム束23、すなわち偏光面を回転されない
S偏光ビームを反射するようになっているので、偏光ビ
ームスプリッタ18からはこれらレーザビーム束17と
レーザビーム束23とが合成された合成ビーム24が発
振される。
偏光ビームスプリッタ18を通過した合成ビーム24は
、光偏向2!26によって偏向され集束レンズ28によ
って合成ビームスポットとして集束されて記録材料30
上に結像し、さらにこの光偏向器26の回転によって第
3図矢印B方向へ走査される。この場合、半導体レーザ
2oはpn接合面が垂直方向となって配置されているの
て、第3図に示す如く合成ビーム24はレーザビーム束
17の断面形状における略中心部とレーザビーム束23
の断面形状における一端部とが直交して各レーザビーム
が合成される。このため、この合成ビーム24は略丁字
形の断面形状となると共に。
、光偏向2!26によって偏向され集束レンズ28によ
って合成ビームスポットとして集束されて記録材料30
上に結像し、さらにこの光偏向器26の回転によって第
3図矢印B方向へ走査される。この場合、半導体レーザ
2oはpn接合面が垂直方向となって配置されているの
て、第3図に示す如く合成ビーム24はレーザビーム束
17の断面形状における略中心部とレーザビーム束23
の断面形状における一端部とが直交して各レーザビーム
が合成される。このため、この合成ビーム24は略丁字
形の断面形状となると共に。
重ね合わせ部分25のみが記録材料30のしきい値以上
の高強度となる。
の高強度となる。
ここで、半導体レーザ12及び半導体レーザ20のビデ
オ信号発生のオン・オフ制御は光検出器38からの光電
パルス信号を基に行なわれる。
オ信号発生のオン・オフ制御は光検出器38からの光電
パルス信号を基に行なわれる。
この場合、半導体レーザ20からは常に一定強度(Pa
)の連続するビームが発振されている。ここで、レーザ
ビーム束23が偏光ビームスプリッタ18を通過しビー
ムスプリッタ32へ至ると。
)の連続するビームが発振されている。ここで、レーザ
ビーム束23が偏光ビームスプリッタ18を通過しビー
ムスプリッタ32へ至ると。
ビームスプリッタ32は合成ビーム24のうち半導体レ
ーザ20から発振されたレーザビーム束23の一部を反
射しリニアエンコーダ34へ照射する。この反射された
光ビーム(pm)が一定の間隔で透過領域が縞模様に配
列されたリニアエンコーダ34を通過すると光検出器3
Bから第4図(C)に示す光電パルス信号が出力される
。この光電パルス信号は同期信号り土器40へ供給され
、同期信号発生器40は光電パルス信号を基にn逓倍し
、第4図(D)に示すパルス列から成る(この実施例の
場合は2倍のパルス列から成る)同期信号を出力する。
ーザ20から発振されたレーザビーム束23の一部を反
射しリニアエンコーダ34へ照射する。この反射された
光ビーム(pm)が一定の間隔で透過領域が縞模様に配
列されたリニアエンコーダ34を通過すると光検出器3
Bから第4図(C)に示す光電パルス信号が出力される
。この光電パルス信号は同期信号り土器40へ供給され
、同期信号発生器40は光電パルス信号を基にn逓倍し
、第4図(D)に示すパルス列から成る(この実施例の
場合は2倍のパルス列から成る)同期信号を出力する。
したがって、この同期信号を計数すれば主走査方向にお
ける光ビームの走査位置を知ることができる。この同期
信号は制御回路42へ入力される。
ける光ビームの走査位置を知ることができる。この同期
信号は制御回路42へ入力される。
制御回路42には、文字情報記憶部50に記憶された文
字情報が入力されており、制御回路42はこの文字情報
を1主走査当りのドツトに変換し、この変換されたドツ
トと前記同期信号に基づいたドツト信号を形成して出力
する。同期信号のmパルス目(この実施例の場合は3パ
ルス目)を印字走査開始とすれば、書き出し位置が揃う
ことになる。出力されたドツト信号は半導体レーザドラ
イバ44を介して半導体レーザ12へ供給されこの半導
体レーザ12をオン・オフ制御する。
字情報が入力されており、制御回路42はこの文字情報
を1主走査当りのドツトに変換し、この変換されたドツ
トと前記同期信号に基づいたドツト信号を形成して出力
する。同期信号のmパルス目(この実施例の場合は3パ
ルス目)を印字走査開始とすれば、書き出し位置が揃う
ことになる。出力されたドツト信号は半導体レーザドラ
イバ44を介して半導体レーザ12へ供給されこの半導
体レーザ12をオン・オフ制御する。
従って、ドツト信号がハイレベルの時は第4図(E)に
示す如く半導体レーザ12から強度P2のレーザビーム
が発振される。
示す如く半導体レーザ12から強度P2のレーザビーム
が発振される。
ここで、34図(F)に示す如く半導体レーザ20から
発振されたレーザビーム束23は、半導体レーザ12か
らレーザビーム束17が発振されるまでの間に(第4図
(F)イ部分に相当)記録材料30へ強度(Pa P
a)に相当するエネルギーを付与しこれを予熱する。さ
らにその後に、半導体レーザ12から発振されたレーザ
ービーム東17が予熱された後の記録材料30へ照射さ
れる。したがって、レーザビーム束17が照射されると
合成ビーム24の重ね合わせ部分25は強度が(Pz+
P(1−Pt)となって記録材料30のしきい値を越え
ると共に、記録材料30の記録用は照射部分の金属がな
くなるまでに必要な所定のエネルギーを付与されて即座
に反応し、極めて短時間で熱的変形をするようになる。
発振されたレーザビーム束23は、半導体レーザ12か
らレーザビーム束17が発振されるまでの間に(第4図
(F)イ部分に相当)記録材料30へ強度(Pa P
a)に相当するエネルギーを付与しこれを予熱する。さ
らにその後に、半導体レーザ12から発振されたレーザ
ービーム東17が予熱された後の記録材料30へ照射さ
れる。したがって、レーザビーム束17が照射されると
合成ビーム24の重ね合わせ部分25は強度が(Pz+
P(1−Pt)となって記録材料30のしきい値を越え
ると共に、記録材料30の記録用は照射部分の金属がな
くなるまでに必要な所定のエネルギーを付与されて即座
に反応し、極めて短時間で熱的変形をするようになる。
このように、しきい値を越えない強度のレーザビームの
エネルギーを予熱として利用することにより、に1時間
で記録材料30へ記録が行なわれる。
エネルギーを予熱として利用することにより、に1時間
で記録材料30へ記録が行なわれる。
記録材料上に照射された合成ビーム24は、光偏向器2
6によって主走査されて移動し画像の記録が行なわれる
。この場合、合成ビーム24の重ね合わせ部分25は正
円形に近い断面形状となるため、ドツトの集合体で画像
を得るレーザビーム記録用!10において最適となる。
6によって主走査されて移動し画像の記録が行なわれる
。この場合、合成ビーム24の重ね合わせ部分25は正
円形に近い断面形状となるため、ドツトの集合体で画像
を得るレーザビーム記録用!10において最適となる。
なお、本実施例においては記録材料3oとしてレーザダ
イレクトフィルムのようなヒートモード記録材料を用い
る構成としたが、これに限らず他の半導体レーザを利用
して記録を行なうi録材料例えば、光デイスク用記録材
料や光磁気記録用記録材料にも適用可能である。
イレクトフィルムのようなヒートモード記録材料を用い
る構成としたが、これに限らず他の半導体レーザを利用
して記録を行なうi録材料例えば、光デイスク用記録材
料や光磁気記録用記録材料にも適用可能である。
第1図は本発明の実施例に係るレーザビーム記録装置の
概略構成図、第2図はレーザビーム記録装置の概略平面
図、第3図は偏光ビームスプリッタによりて合成され記
録材料に結像するビームスポットの合成の状態を示す概
略図、第4図(A)乃至第4図(F)は制御系の各部の
波形及び発振されるレーザビーム及び合成されたレーザ
ビームの時間的変化状態を示す線図である。 10・・・レーザビーム記録装置、 12・・・半導体レーザ、 17・−・レーザビーム束、 五8・・・偏光ビームスプリッタ。 20・・・半導体レーザ。 23・・・レーザビーム束、 24・・・合成ビーム、 26・・・光偏向器。 30・・・記録材料、 3211・・ビームスプリッタ、 34・・・リニアエンコーダ。 3B・・・光検出器。 40・・・同期信号発生器。 42・・・制御回路。 第2図
概略構成図、第2図はレーザビーム記録装置の概略平面
図、第3図は偏光ビームスプリッタによりて合成され記
録材料に結像するビームスポットの合成の状態を示す概
略図、第4図(A)乃至第4図(F)は制御系の各部の
波形及び発振されるレーザビーム及び合成されたレーザ
ビームの時間的変化状態を示す線図である。 10・・・レーザビーム記録装置、 12・・・半導体レーザ、 17・−・レーザビーム束、 五8・・・偏光ビームスプリッタ。 20・・・半導体レーザ。 23・・・レーザビーム束、 24・・・合成ビーム、 26・・・光偏向器。 30・・・記録材料、 3211・・ビームスプリッタ、 34・・・リニアエンコーダ。 3B・・・光検出器。 40・・・同期信号発生器。 42・・・制御回路。 第2図
Claims (1)
- (1)連続レーザビームを発振する第1の半導体レーザ
と、パルスレーザビームを発振する第2の半導体レーザ
と、前記各半導体レーザから発振されたレーザビームを
合成する合成手段と、合成されたレーザビームを記録材
料上へ走査する走査光学系と、前記走査光学系と記録材
料との間に配置され前記連続レーザビームの一部を反射
する反射手段と、前記反射手段によって反射されたレー
ザビームによって同期信号を発生させるリニアエンコー
ダと、前記同期信号に基づいて前記第2の半導体レーザ
を作動させる作動手段と、を備えることを特徴とするレ
ーザビーム記録装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62267877A JP2562154B2 (ja) | 1987-10-23 | 1987-10-23 | レーザビーム記録装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62267877A JP2562154B2 (ja) | 1987-10-23 | 1987-10-23 | レーザビーム記録装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01109319A true JPH01109319A (ja) | 1989-04-26 |
JP2562154B2 JP2562154B2 (ja) | 1996-12-11 |
Family
ID=17450868
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62267877A Expired - Fee Related JP2562154B2 (ja) | 1987-10-23 | 1987-10-23 | レーザビーム記録装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2562154B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009006400A (ja) * | 2002-01-18 | 2009-01-15 | Renishaw Plc | 測定スケールのための精密マーク生成方法、測定スケール形成装置およびマーキング装置 |
US7723639B2 (en) | 2001-11-15 | 2010-05-25 | Renishaw Plc | Substrate treatment device and method and encoder scale treated by this method |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS54134456A (en) * | 1978-04-11 | 1979-10-18 | Canon Inc | Semiconductor laser light source |
JPS5567722A (en) * | 1978-11-16 | 1980-05-22 | Fuji Photo Film Co Ltd | Light beam recorder |
JPS60117422A (ja) * | 1983-11-29 | 1985-06-24 | Victor Co Of Japan Ltd | 情報信号記録再生装置 |
-
1987
- 1987-10-23 JP JP62267877A patent/JP2562154B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS54134456A (en) * | 1978-04-11 | 1979-10-18 | Canon Inc | Semiconductor laser light source |
JPS5567722A (en) * | 1978-11-16 | 1980-05-22 | Fuji Photo Film Co Ltd | Light beam recorder |
JPS60117422A (ja) * | 1983-11-29 | 1985-06-24 | Victor Co Of Japan Ltd | 情報信号記録再生装置 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US7723639B2 (en) | 2001-11-15 | 2010-05-25 | Renishaw Plc | Substrate treatment device and method and encoder scale treated by this method |
US10982334B2 (en) | 2001-11-15 | 2021-04-20 | Renishaw Plc | Substrate treatment device and method and encoder scale treated by this method |
JP2009006400A (ja) * | 2002-01-18 | 2009-01-15 | Renishaw Plc | 測定スケールのための精密マーク生成方法、測定スケール形成装置およびマーキング装置 |
US8466943B2 (en) | 2002-01-18 | 2013-06-18 | Renishaw Plc | Laser marking |
US8987633B2 (en) | 2002-01-18 | 2015-03-24 | Renishaw Plc | Laser marking |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2562154B2 (ja) | 1996-12-11 |
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Legal Events
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