JPH01100483A - 磁気ディスクの試験方法 - Google Patents
磁気ディスクの試験方法Info
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- JPH01100483A JPH01100483A JP25763187A JP25763187A JPH01100483A JP H01100483 A JPH01100483 A JP H01100483A JP 25763187 A JP25763187 A JP 25763187A JP 25763187 A JP25763187 A JP 25763187A JP H01100483 A JPH01100483 A JP H01100483A
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Landscapes
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
磁気ディスク装置に使用される磁気ディスクの試験方法
で、特に磁性膜の磁気特性の異なる異常部を検出する試
験方法に関し、 磁気ディスクの磁性膜に存在する磁気特性の異常部を明
確に検出することを目的とし、通常書込み電流より大き
い過飽和電流をヘッドコイルに流して磁気ディスクの磁
性膜に書込み、その後、読取ってモジュレーションエラ
ーチェックし、磁気特性の異常部の有無を検出するよう
に構成する。
で、特に磁性膜の磁気特性の異なる異常部を検出する試
験方法に関し、 磁気ディスクの磁性膜に存在する磁気特性の異常部を明
確に検出することを目的とし、通常書込み電流より大き
い過飽和電流をヘッドコイルに流して磁気ディスクの磁
性膜に書込み、その後、読取ってモジュレーションエラ
ーチェックし、磁気特性の異常部の有無を検出するよう
に構成する。
本発明は、磁気ディスク装置に使用される磁気ディスク
の試験方法で、特に磁性膜の磁気特性の異なる異常部を
検出する試験方法に関する。
の試験方法で、特に磁性膜の磁気特性の異なる異常部を
検出する試験方法に関する。
磁気ディスクは一般に円板状の基板にスパッタリング等
により磁性材料の被膜を形成したもので、この磁性膜に
ヘッドにより情報が直接磁化して書込まれる。従って、
磁性膜の成形状態は情報記憶に直接的に影響することに
なり、このため材料、成膜等の製造段階や製造後におい
て厳格に管理されている。ここで、製造後の製品管理と
して、磁気ディスクを実際に使用した状態での試験があ
る。
により磁性材料の被膜を形成したもので、この磁性膜に
ヘッドにより情報が直接磁化して書込まれる。従って、
磁性膜の成形状態は情報記憶に直接的に影響することに
なり、このため材料、成膜等の製造段階や製造後におい
て厳格に管理されている。ここで、製造後の製品管理と
して、磁気ディスクを実際に使用した状態での試験があ
る。
そこで、従来比較的広範囲にわたる磁性膜の異常を調べ
るトラック試験としては、モジュレーションエラー試験
がある。これは、所定の記録周波数を各トラックに記録
した後、トラック平均再生出力を測定し、一定のしきい
値を基準とする正、負のモジュレーションの発生から磁
性膜の異常を検出するものである。
るトラック試験としては、モジュレーションエラー試験
がある。これは、所定の記録周波数を各トラックに記録
した後、トラック平均再生出力を測定し、一定のしきい
値を基準とする正、負のモジュレーションの発生から磁
性膜の異常を検出するものである。
一方、磁性膜の材料、成膜に関しては厳密に管理されて
いるが、磁気特性異常部の発生を完全に防ぐことはでき
ず、情報記憶に不都合な異常部の検出は最終的な試験で
検出する以外にない。不都合な異常部としては例えば保
磁力の小さい磁気特性を有する部分が考えられる。この
保磁力の小さな異常部においては、ピークシフトを起し
やすいために、予め検出することが望まれる。そして、
このような異常部を上述したモジュレーションエラー試
験により検出しようとした場合に、通常電流による書込
みでは、記憶再生にあたり正常部と同一の再生出力が得
られ、異常部の検出ができないことがある。
いるが、磁気特性異常部の発生を完全に防ぐことはでき
ず、情報記憶に不都合な異常部の検出は最終的な試験で
検出する以外にない。不都合な異常部としては例えば保
磁力の小さい磁気特性を有する部分が考えられる。この
保磁力の小さな異常部においては、ピークシフトを起し
やすいために、予め検出することが望まれる。そして、
このような異常部を上述したモジュレーションエラー試
験により検出しようとした場合に、通常電流による書込
みでは、記憶再生にあたり正常部と同一の再生出力が得
られ、異常部の検出ができないことがある。
本発明は、このような点に鑑み、磁気ディスクの磁性膜
に存在する磁気特性の異常部を明確に検出することが可
能な磁気ディスクの試験方法を提供することを目的とす
る。
に存在する磁気特性の異常部を明確に検出することが可
能な磁気ディスクの試験方法を提供することを目的とす
る。
そして本発明によれば上記目的は、通常書込み電流より
大きい過飽和電流をヘッドコイルに流して磁気ディスク
の磁性膜に書込み、その後、読取ってモジュレーション
エラーチヱックし、磁気特性の異常部の有無を検出する
磁気ディスクの試験方法を提供することにより達成され
る。
大きい過飽和電流をヘッドコイルに流して磁気ディスク
の磁性膜に書込み、その後、読取ってモジュレーション
エラーチヱックし、磁気特性の異常部の有無を検出する
磁気ディスクの試験方法を提供することにより達成され
る。
磁気ヘッドによる書込み電流と、再生時の出力電圧との
間には、一般に第２図（ｂ）に示すような関係があり、
書込み電流Ｉの増加に伴い、出１カ電圧Ｖも略リニアに
増加し、定常状態に達した後、一定範囲において定常状
態を保ち、その後、書込み電流の増加とともに、出力電
圧が低下するという挙動を示す。
間には、一般に第２図（ｂ）に示すような関係があり、
書込み電流Ｉの増加に伴い、出１カ電圧Ｖも略リニアに
増加し、定常状態に達した後、一定範囲において定常状
態を保ち、その後、書込み電流の増加とともに、出力電
圧が低下するという挙動を示す。
この時、保磁力の小さな異常部は、第２図において鎖線
で示されるように、実線で示される正常部に比較してよ
り早く定常状態に達し、定常状態を脱するが、通常、書
込み電流としては、定常状態に達した直後における電流
値■。が用いられているために、その電流値■。では、
いまだ定常状態にある異常部を検出することはできない
場合が発生する。しかし、定常状態を脱した以降の電流
（過飽和電流！＋）により書込みを行った場合には、正
常部と異常部との出力電圧Ｖ、 、Ｖ、に明確な差が認
められるために、この過飽和電流■１により書込みを行
い、記憶再生時の出力電圧■１、■２により異常部を検
出することは有効な検出手段と考えられる。
で示されるように、実線で示される正常部に比較してよ
り早く定常状態に達し、定常状態を脱するが、通常、書
込み電流としては、定常状態に達した直後における電流
値■。が用いられているために、その電流値■。では、
いまだ定常状態にある異常部を検出することはできない
場合が発生する。しかし、定常状態を脱した以降の電流
（過飽和電流！＋）により書込みを行った場合には、正
常部と異常部との出力電圧Ｖ、 、Ｖ、に明確な差が認
められるために、この過飽和電流■１により書込みを行
い、記憶再生時の出力電圧■１、■２により異常部を検
出することは有効な検出手段と考えられる。
本発明は、このような点に着目してなされたものであっ
て、異常部と正常部との差別化が確実な過飽和書込み電
流により書込んだ後、読取ることにより異常部を検出す
るものである。
て、異常部と正常部との差別化が確実な過飽和書込み電
流により書込んだ後、読取ることにより異常部を検出す
るものである。
以下、本発明の望ましい実施例を添付図面に基いて詳細
に説明する。
に説明する。
第１図において、本発明による磁気ディスクの試験方法
に使用される試験装置１０が示されており、円板２の表
面にガンマ酸化鉄等の磁性膜３を形成して構成される磁
気ディスク１には、書込み／読取り用ヘッド１１が近接
配置され、このヘッド１１にはコイル１２及びギャップ
１３が設けられている。上記コイル１２は通常電流供給
回路１４、過飽和電流供給回路１５及び読取りエンベロ
ープ検出回路１６に接続され、所定電流により磁気ディ
スクの磁性膜３に書込みを行った後、その再生出力をエ
ンベロープとして読み出せるようになっている。
に使用される試験装置１０が示されており、円板２の表
面にガンマ酸化鉄等の磁性膜３を形成して構成される磁
気ディスク１には、書込み／読取り用ヘッド１１が近接
配置され、このヘッド１１にはコイル１２及びギャップ
１３が設けられている。上記コイル１２は通常電流供給
回路１４、過飽和電流供給回路１５及び読取りエンベロ
ープ検出回路１６に接続され、所定電流により磁気ディ
スクの磁性膜３に書込みを行った後、その再生出力をエ
ンベロープとして読み出せるようになっている。
従って、この試験装置１０を使用して磁気ディスク１を
試験するには、まず、磁気ディスク１を回転しながら、
供給回路１４によりコイル１２に通常の書込み電流Ｉ０
を流して磁性膜３に書込みを行い、エンベロープ検出回
路１６から出力されるエンベロープを観察し、異常の有
無を判断し、異常が見出せなかった場合には、供給回路
１５によりコイル１２に過飽和書込み電流■１を流して
磁性膜３に書込みを行ない、その再生出力を検出する。
試験するには、まず、磁気ディスク１を回転しながら、
供給回路１４によりコイル１２に通常の書込み電流Ｉ０
を流して磁性膜３に書込みを行い、エンベロープ検出回
路１６から出力されるエンベロープを観察し、異常の有
無を判断し、異常が見出せなかった場合には、供給回路
１５によりコイル１２に過飽和書込み電流■１を流して
磁性膜３に書込みを行ない、その再生出力を検出する。
この時、第２図（ａ）に示すように、保磁力Ｈｅ’が正
常部の保磁力Ｈｅより小さな異常部におけるＩ−Ｖ線図
は、第２図（ｂ）において鎖線で示すように、正常部に
対して前方にシフトしている結果、正常部の出力電圧■
１と異常部Ａの出力電圧■２との間に大きな差が発生す
ることとなる。
常部の保磁力Ｈｅより小さな異常部におけるＩ−Ｖ線図
は、第２図（ｂ）において鎖線で示すように、正常部に
対して前方にシフトしている結果、正常部の出力電圧■
１と異常部Ａの出力電圧■２との間に大きな差が発生す
ることとなる。
この状態において、検出回路１５で読取りのエンベロー
プをとると、異常部Ａにおいては、低下することから、
確実に異常部Ａを検出することができる。
プをとると、異常部Ａにおいては、低下することから、
確実に異常部Ａを検出することができる。
なお、過飽和電流Ｉ、の値は異常部Ａの磁気特性に応し
て可変にすれば、常に的確な検出を行い得る。
て可変にすれば、常に的確な検出を行い得る。
以上述べてきたように、本発明によれば、磁気ディスク
の磁性膜における磁気特性の異常部の有無をチェックす
るので、ピークシフトに伴う磁化の悪化、加圧減磁等を
防ぐことができ、品質が向上する。
の磁性膜における磁気特性の異常部の有無をチェックす
るので、ピークシフトに伴う磁化の悪化、加圧減磁等を
防ぐことができ、品質が向上する。
磁気特性を利用し過飽和電流で書込みする方法であるか
ら、試験が容易であり、検出精度も高く、磁気ディスク
に与える悪影響が無い。
ら、試験が容易であり、検出精度も高く、磁気ディスク
に与える悪影響が無い。
第１図は本発明の磁気ディスクの試験方法の実施例を示
す構成図、 第２図（ａ）、（ｂ）は磁性膜の正常部と異常部の特性
図、 第３図（ａ）、（ｂ）は通常書込みと過飽和書込みのエ
ンベロープを示す図である。 図において、 １は磁気ディスク、 ３は磁性膜、 １０は試験装置、 １２はコイル、 １５は過飽和電流供給回路、 １６は読取りエンベロープ検出回路、 Ａは異常部を示す。
す構成図、 第２図（ａ）、（ｂ）は磁性膜の正常部と異常部の特性
図、 第３図（ａ）、（ｂ）は通常書込みと過飽和書込みのエ
ンベロープを示す図である。 図において、 １は磁気ディスク、 ３は磁性膜、 １０は試験装置、 １２はコイル、 １５は過飽和電流供給回路、 １６は読取りエンベロープ検出回路、 Ａは異常部を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 通常書込み電流より大きい過飽和電流をヘッドコイル（
１２）に流して磁気ディスク（１）の磁性膜（３）に書
込み、 その後、読取ってモジュレーションエラー チェックし、磁気特性の異常部（Ａ）の有無を検出する
磁気ディスクの試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25763187A JPH01100483A (ja) | 1987-10-13 | 1987-10-13 | 磁気ディスクの試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25763187A JPH01100483A (ja) | 1987-10-13 | 1987-10-13 | 磁気ディスクの試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01100483A true JPH01100483A (ja) | 1989-04-18 |
Family
ID=17308928
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25763187A Pending JPH01100483A (ja) | 1987-10-13 | 1987-10-13 | 磁気ディスクの試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01100483A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100440792B1 (ko) * | 1997-05-09 | 2004-10-08 | 삼성전자주식회사 | 하드디스크드라이브의헤드테스트방법 |
-
1987
- 1987-10-13 JP JP25763187A patent/JPH01100483A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100440792B1 (ko) * | 1997-05-09 | 2004-10-08 | 삼성전자주식회사 | 하드디스크드라이브의헤드테스트방법 |
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