JP7842346B2 - 磁気検出器 - Google Patents
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Description
前記検出コイルの一端に接続され、サンプリングスイッチがオン動作の際の前記検出コイルの出力電圧を保持するサンプルホールド回路と、
前記サンプルホールド回路の出力側に接続される前段ハイパスフィルタと、
前記前段ハイパスフィルタの出力側に接続される増幅回路と、
前記増幅回路の出力側に接続される後段ハイパスフィルタと、を備え、
前記サンプルホールド回路は、前記サンプリングスイッチのオン動作中における前記検出コイルの出力電圧変動を保持し、
前記増幅回路は、前記前段ハイパスフィルタの出力に対して積分処理を行うと共に増幅処理を行い、かつ、前記積分処理によって前記出力電圧変動をオフセット成分に変換し、
前記後段ハイパスフィルタは、前記オフセット成分を除去する、磁気検出器にある。
また、本発明の他の一態様は、励磁電流が供給された際に磁場の強さに対応して磁化変化を生じる感磁体、および、前記感磁体に巻回され前記感磁体の前記磁化変化により生じる誘導電圧を出力する検出コイルを備えるマグネトインピーダンスセンサ素子と、
前記検出コイルの一端に接続され、サンプリングスイッチがオン動作の際の前記検出コイルの出力電圧を保持するサンプルホールド回路と、
前記サンプルホールド回路の出力側に接続される前段ハイパスフィルタと、
前記前段ハイパスフィルタの出力側に接続される増幅回路と、
前記増幅回路の出力側に接続される後段ハイパスフィルタと、を備え、
前記サンプルホールド回路は、前記サンプリングスイッチのオンオフ動作によりアクイジション時間およびセトリング時間の少なくとも一方における出力電圧変動を保持し、
前記増幅回路は、前記前段ハイパスフィルタの出力に対して積分処理を行うと共に増幅処理を行い、かつ、前記積分処理によって前記出力電圧変動をオフセット成分に変換し、
前記後段ハイパスフィルタは、前記オフセット成分を除去する、磁気検出器にある。
1-1.磁気検出器1の構成
実施形態1における磁気検出器1の構成について、図1を参照して説明する。図1に示すように、本形態の磁気検出器1は、マグネトインピーダンスセンサ素子10(以下において、「MIセンサ素子」という。)と、検出回路20とを備える。
次に、本形態の磁気検出器1の動作について図2~図4を参照して説明する。ただし、本形態の磁気検出器1の動作を説明するために、比較のために、図1の後段ハイパスフィルタ25を備えない構成を参照する。詳細には、参照として、図2(a)を用いて、後段ハイパスフィルタ25を備えない構成において各部の出力の理想的挙動を説明し、図2(b)を用いて、後段ハイパスフィルタ25を備えない構成において各部の出力の実際の挙動を説明する。そして、図2(c)を用いて、本形態における各部の出力の挙動を説明する。図2(a)(b)(c)において、BIN、S1~S7は、図1に示す各部の出力を表す。
磁気検出器1において、後段ハイパスフィルタ25を備えない構成における理想的挙動について説明する。まず、図2(a)の第一段目に示すように、磁場BINとして、ゼロ状態から任意の磁場が付与された状態とする。図2(a)の第一段目においては、磁場BINとして、例えば、所定の直流磁場が付与された状態としている。図2(a)の第二段目に示すように、励磁回路21から、サンプルホールド回路22のサンプリングスイッチをオン動作させるための信号S1が、周期的に出力される。信号S1がオン信号の時にサンプリングスイッチがオン動作し、信号S1がオフ信号の時にサンプリングスイッチがオフ動作する。励磁回路21の信号S1は、感磁体11に供給する励磁電流IINと同期する。
次に、磁気検出器1において、後段ハイパスフィルタ25を備えない構成における実際の挙動について説明する。図2(b)の第一段目から第三段目に示すように、磁場BIN、励磁回路21からの信号S1、および、サンプルホールド回路22の入力S2は、図2(a)と同様である。
次に、本形態の磁気検出器1における各部の挙動について説明する。図2(c)の第一段目から第六段目に示すように、磁場BIN、励磁回路21からの信号S1、サンプルホールド回路22の入力S2、サンプルホールド回路22の出力S3、前段ハイパスフィルタ23の出力S4、プリアンプ24の出力S5は、図2(b)と同様である。また、本形態の磁気検出器1において、図3の上段、中段、下段に示す挙動についても同様である。
本形態の磁気検出器1によれば、直流磁場の影響を受けたオフセット成分がプリアンプ24の出力S5に含まれるとしても、後段ハイパスフィルタ25によって当該オフセット成分を除去することができる。従って、検出回路20の出力値は、直流磁場の影響を受けたオフセット成分を含まなくできる。その結果、検出回路20は、直流磁場の影響を受けにくくなり、微小な交流磁場を高精度に検出することができる。このように、本形態の磁気検出器1は、磁気検出性能を向上することができる。
2-1.磁気検出器2の構成
実施形態2における磁気検出器2の構成について、図5を参照して説明する。なお、実施形態2において用いた符号のうち、既出の実施形態において用いた符号と同一のものは、特に示さない限り、既出の実施形態におけるものと同様の構成要素等を表す。
次に、本形態の磁気検出器1の動作について図6および図7を参照して説明する。ただし、本形態の磁気検出器2の動作を説明するために、比較のために、図5の後段ハイパスフィルタ35を備えない構成を参照する。詳細には、参照として、図6(a)を用いて、後段ハイパスフィルタ35を備えない構成において各部の出力の理想的挙動を説明し、図6(b)を用いて、後段ハイパスフィルタ35を備えない構成において各部の出力の実際の挙動を説明する。そして、図6(c)を用いて、本形態における各部の出力の挙動を説明する。図6(a)(b)(c)において、BIN、S11、IFB、S12~S16は、図5に示す各部の出力を表す。
磁気検出器2において、後段ハイパスフィルタ35を備えない構成における理想的挙動について説明する。まず、図6(a)の第一段目に示すように、磁場BINとして、ゼロ状態から任意の磁場が付与された状態とする。図6(a)の第一段目においては、磁場BINとして、例えば、所定の直流磁場が付与された状態としている。図6(a)の第二段目に示すように、励磁回路31から、サンプルホールド回路32のサンプリングスイッチをオン動作させるための信号S11が、周期的に出力される。信号S11がオン信号の時にサンプリングスイッチがオン動作し、信号S11がオフ信号の時にサンプリングスイッチがオフ動作する。励磁回路31の信号S11は、感磁体11に供給する励磁電流IINと同期する。
次に、磁気検出器2において、後段ハイパスフィルタ35を備えない構成における実際の挙動について説明する。図6(b)の第一段目から第三段目に示すように、磁場BIN、励磁回路21からの信号S11、および、帰還電流IFBは、同様である。
次に、本形態の磁気検出器2における各部の挙動について説明する。図6(c)の第一段目から第六段目に示すように、磁場BIN、励磁回路21からの信号S11、帰還電流IFB、サンプルホールド回路32の入力S12、サンプルホールド回路32の出力S13、プリアンプ33の出力S14は、図6(b)と同様である。
本形態の磁気検出器2によれば、直流磁場の影響を受けたオフセット成分がプリアンプ33の出力S14に含まれるとしても、後段ハイパスフィルタ35によって当該オフセット成分を除去することができる。従って、検出回路30の出力値は、直流磁場の影響を受けたオフセット成分を含まなくできる。その結果、帰還電流IFBにより相殺することができる直流磁場の値において、検出回路30は、直流磁場の影響を受けにくくなり、微小な交流磁場を高精度に検出することができる。このように、本形態の磁気検出器2は、磁気検出性能を向上することができる。
実施形態1の第1変形態様の磁気検出器3について、図8を参照して説明する。検出回路40の後段ハイパスフィルタ25のみ相違する。ただし、本変形形態における後段ハイパスフィルタ25は、構成は異なるものの、実施形態1の後段ハイパスフィルタ25と同様の機能を有する。
実施形態1の第2変形態様の磁気検出器4について、図9を参照して説明する。検出回路50の後段ハイパスフィルタ25のみ相違する。ただし、本変形形態における後段ハイパスフィルタ25は、構成は異なるものの、実施形態1の後段ハイパスフィルタ25と同様の機能を有する。
実施形態1の第3変形態様の磁気検出器5について、図10を参照して説明する。検出回路60の後段ハイパスフィルタ25のみ相違する。ただし、本変形形態における後段ハイパスフィルタ25は、構成は異なるものの、実施形態1の後段ハイパスフィルタ25と同様の機能を有する。
上記第1変形態様~第3変形態様は、実施形態2にも同様に適用できる。
11 感磁体
12 検出コイル
10 マグネトインピーダンスセンサ素子(MIセンサ素子)
22,32 サンプルホールド回路
23 前段ハイパスフィルタ
24,33 プリアンプ(増幅回路)
25,35 後段ハイパスフィルタ
34 帰還回路
IIN 励磁電流
Claims (4)
- 励磁電流が供給された際に磁場の強さに対応して磁化変化を生じる感磁体、および、前記感磁体に巻回され前記感磁体の前記磁化変化により生じる誘導電圧を出力する検出コイルを備えるマグネトインピーダンスセンサ素子と、
前記検出コイルの一端に接続され、サンプリングスイッチがオン動作の際の前記検出コイルの出力電圧を保持するサンプルホールド回路と、
前記サンプルホールド回路の出力側に接続される前段ハイパスフィルタと、
前記前段ハイパスフィルタの出力側に接続される増幅回路と、
前記増幅回路の出力側に接続される後段ハイパスフィルタと、を備え、
前記サンプルホールド回路は、前記サンプリングスイッチのオン動作中における前記検出コイルの出力電圧変動を保持し、
前記増幅回路は、前記前段ハイパスフィルタの出力に対して積分処理を行うと共に増幅処理を行い、かつ、前記積分処理によって前記出力電圧変動をオフセット成分に変換し、
前記後段ハイパスフィルタは、前記オフセット成分を除去する、磁気検出器。 - 励磁電流が供給された際に磁場の強さに対応して磁化変化を生じる感磁体、および、前記感磁体に巻回され前記感磁体の前記磁化変化により生じる誘導電圧を出力する検出コイルを備えるマグネトインピーダンスセンサ素子と、
前記検出コイルの一端に接続され、サンプリングスイッチがオン動作の際の前記検出コイルの出力電圧を保持するサンプルホールド回路と、
前記サンプルホールド回路の出力側に接続される前段ハイパスフィルタと、
前記前段ハイパスフィルタの出力側に接続される増幅回路と、
前記増幅回路の出力側に接続される後段ハイパスフィルタと、を備え、
前記サンプルホールド回路は、前記サンプリングスイッチのオンオフ動作によりアクイジション時間およびセトリング時間の少なくとも一方における出力電圧変動を保持し、
前記増幅回路は、前記前段ハイパスフィルタの出力に対して積分処理を行うと共に増幅処理を行い、かつ、前記積分処理によって前記出力電圧変動をオフセット成分に変換し、
前記後段ハイパスフィルタは、前記オフセット成分を除去する、磁気検出器。 - 前記増幅回路の出力側と前記検出コイルの一端とは、非接続であって、帰還回路を有しない、請求項1又は2に記載の磁気検出器。
- 前記後段ハイパスフィルタは、
LCRの少なくとも2つの要素により構成される回路、
オペアンプを有するハイパスフィルタ回路、
デジタル変換した後にデジタル信号処理を実行する信号処理部、
前記増幅回路の出力から、前記増幅回路の出力に対してローパスフィルタを介して得られた成分を減算する処理部、
前記増幅回路の出力のうち直流成分を基準電圧として前記増幅回路に付与するように構成された基準電圧補正部、
のいずれか1つにより構成される、請求項1又は2に記載の磁気検出器。
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Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002006016A (ja) | 2000-06-21 | 2002-01-09 | Tokin Corp | 磁気センサ |
| JP2012063205A (ja) | 2010-09-15 | 2012-03-29 | Makome Kenkyusho:Kk | 磁気センサ |
| JP2013057645A (ja) | 2011-09-09 | 2013-03-28 | Kyushu Univ | 磁界センサ |
| JP2013156192A (ja) | 2012-01-31 | 2013-08-15 | Takai Kogyo Kk | 磁場監視警報システム |
| JP2014173980A (ja) | 2013-03-08 | 2014-09-22 | Nagoya Univ | 磁気計測装置 |
| JP2015152505A (ja) | 2014-02-18 | 2015-08-24 | フジデノロ株式会社 | 磁気検出装置 |
| JP5924503B2 (ja) | 2014-01-31 | 2016-05-25 | 愛知製鋼株式会社 | 磁気検出器 |
| JP2018134236A (ja) | 2017-02-22 | 2018-08-30 | 株式会社スクウェア・エニックス | プログラム、及びシステム |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2989757B2 (ja) * | 1995-06-08 | 1999-12-13 | 株式会社三協精機製作所 | 磁気カードリーダの磁気カード挿入排出検出回路 |
| JP3645116B2 (ja) | 1999-03-10 | 2005-05-11 | 独立行政法人科学技術振興機構 | 磁気インピーダンス効果マイクロ磁気センサ |
| JP5116433B2 (ja) * | 2006-10-25 | 2013-01-09 | 愛知製鋼株式会社 | 変動磁場検出用磁気検出器 |
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Patent Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002006016A (ja) | 2000-06-21 | 2002-01-09 | Tokin Corp | 磁気センサ |
| JP2012063205A (ja) | 2010-09-15 | 2012-03-29 | Makome Kenkyusho:Kk | 磁気センサ |
| JP2013057645A (ja) | 2011-09-09 | 2013-03-28 | Kyushu Univ | 磁界センサ |
| JP2013156192A (ja) | 2012-01-31 | 2013-08-15 | Takai Kogyo Kk | 磁場監視警報システム |
| JP2014173980A (ja) | 2013-03-08 | 2014-09-22 | Nagoya Univ | 磁気計測装置 |
| JP5924503B2 (ja) | 2014-01-31 | 2016-05-25 | 愛知製鋼株式会社 | 磁気検出器 |
| JP2015152505A (ja) | 2014-02-18 | 2015-08-24 | フジデノロ株式会社 | 磁気検出装置 |
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