JP7724552B2 - 透過型電子顕微鏡用のポールピース - Google Patents

透過型電子顕微鏡用のポールピース

Info

Publication number
JP7724552B2
JP7724552B2 JP2022550855A JP2022550855A JP7724552B2 JP 7724552 B2 JP7724552 B2 JP 7724552B2 JP 2022550855 A JP2022550855 A JP 2022550855A JP 2022550855 A JP2022550855 A JP 2022550855A JP 7724552 B2 JP7724552 B2 JP 7724552B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pole piece
path
distance
pole
bearing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2022550855A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2023515137A (ja
Inventor
ジョーンズ ルイス
オマホニー デービッド
Original Assignee
ザ プロボスト フェローズ スカラーズ アンド アザー メンバーズ オブ ボード オブ トリニティ カレッジ ダブリン
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ザ プロボスト フェローズ スカラーズ アンド アザー メンバーズ オブ ボード オブ トリニティ カレッジ ダブリン filed Critical ザ プロボスト フェローズ スカラーズ アンド アザー メンバーズ オブ ボード オブ トリニティ カレッジ ダブリン
Publication of JP2023515137A publication Critical patent/JP2023515137A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7724552B2 publication Critical patent/JP7724552B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/04Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement or ion-optical arrangement
    • H01J37/10Lenses
    • H01J37/14Lenses magnetic
    • H01J37/141Electromagnetic lenses
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/04Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement or ion-optical arrangement
    • H01J37/147Arrangements for directing or deflecting the discharge along a desired path
    • H01J37/15External mechanical adjustment of electron or ion optical components
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/02Details
    • H01J2237/024Moving components not otherwise provided for
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/10Lenses
    • H01J2237/14Lenses magnetic
    • H01J2237/1405Constructional details
    • H01J2237/1415Bores or yokes, i.e. magnetic circuit in general
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/26Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

本開示は、電子顕微鏡、特に透過型電子顕微鏡(Transmission Electron Microscope:TEM)用のポールピースに関する。本開示はまた、電子ビームリソグラフィ機器(Electron-Beam Lithography instruments:EBL)、電子ビーム滅菌機器、または電子ビーム3Dプリンタなどの荷電粒子デバイスに使用するためのポールピースに関する。
電子顕微鏡は、照射源として、加速された電子ビームを使用する顕微鏡である。電子の波長は、可視光光子の波長よりも最大100,000倍短くなり得るため、電子顕微鏡は、光学顕微鏡よりも高い分解能を有し、より小さい物体の構造を明らかにすることができる。
電子顕微鏡は、微生物、細胞、高分子、生検サンプル、金属、および結晶を含む、広範な生体試料および無機試料の超微細構造を調査するために使用されている。産業上、電子顕微鏡は多くの場合、品質管理および故障解析のために使用されている。
数多くの様々な種類の電子ビームイメージング機器およびリソグラフィ機器がある。一例は、透過型電子顕微鏡(TEM)である。
図1は、TEM1の基本的な特徴を示すTEM1の概略図である。TEM1は、電子源3と、電子源からの電子ビームを集束する集束系5と、試料が保持される試料ステージ7と、サンプルを透過した電子を集束する対物レンズ9と、撮像デバイス10上にビームを拡大する結像レンズと、を備える。典型的には、これらの要素はすべて、真空チャンバで囲まれている。TEMは、高電圧を使用して、電子銃によって生成される電子ビームを生成する。電子ビームは、電界によって所望のエネルギーまで加速される。
電磁レンズは通常、コイルの磁界を精密な限定された形状に集中させるように設計された強磁性材料でほぼ囲まれたソレノイドコイルで作られている。電子がこの磁界に入って出て行くと、電子は、光学集束レンズと同様に、曲がった磁界線の周囲で集束する。磁気レンズの集束力は、コイルを流れる電流を調整することによって変更され得る。これにより、電子源とサンプルとの間のレンズ系(「集束レンズ」系)が、直径1ミリメートルを超える平行ビーム、原子よりも小さい強集束ビーム、または当該平行ビームと当該強集束ビームとの間のビームを生成することが可能になる。
磁気レンズの径方向の対称性のずれは、色収差または球面収差などの収差をもたらすため、レンズについて生成される磁界は、径方向に対称であるべきである。電子レンズは一般に、鉄、鉄-コバルト、またはパーマロイなどのニッケルコバルト合金で製造される。これらは、磁気飽和、ヒステリシス、および透磁率などの電子レンズの磁気特性のために選択される。
TEM11の一部の例示的な断面が図2に示されている。この部分は、入射した電子ビームを集束レンズから受け取る。電磁石は、ヨーク13と、コイル21と、を備える。サンプル空間は、ポール15に取り付けられたポールピース17を境とするポールギャップ19を有する。軸方向に延在する空間23は、ビーム経路を収容する穴を画定する。磁界の強度の制御は、コイルの電流を変えることによって達成され、電子ビームを形成する。
ポールピースは、電磁石によって生成される磁束を集中させ、かつヨークによって誘導されてポールピースでの狭いギャップで強い磁界を生成する、軟磁性材料(例えば、純鉄、パーメンジュール、Hiperco50、または同様の材料)で作られた磁気ポールである。ポールピースは、電子レンズシステムで長い間知られており、例えば、様々なポールピース設計が、米国特許第3,324,433号、米国特許第2,749,464号、米国特許第2,472,315号、米国特許第2,754,443号、および米国特許第2,418,432号で開示されているが、これらのポールピースはいずれも、現代の電子顕微鏡に組み込むには好適でない。
英国特許第2161019号、米国特許出願公開第20110012018号、および特開2000156191号を含む他の特許公報は、走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscopes:SEM)専用のポールピースを開示し、使用されるレンズの種類は「ピンホール」または「シュノーケル」レンズである。このようなポールピースは、交換可能であり得、あまり実用的ではないことが分かっている。例えば、英国特許第2161019号は、交換を行うためにカラムを大気に開放する必要がある交換可能なモジュールを示す。これは、分解および再組立を行わないTEM顕微鏡について望ましくなく、可能ではない。
ポールギャップは、サンプルに入射する磁界の最終的な形状を大きく左右する。設置されたポールピースの形状は、様々な目的で最適化され得、機器の購入時に選択される。そして、典型的には、この構成は、顕微鏡の寿命全体(おそらく20年間)にわたって存続する。
図3は、TEM顕微鏡に使用するための当該技術で既知のポールピース31の例を示し、ポールピース31は、顕微鏡の電子源および集束レンズに向けて配置された上部ポール33と、下部ポール35と、を備える。上部ポール33および下部ポール35は、ポールが互いに向き合う中空の円錐台形状である。小さい方の下部ポール35は、下部ポール35のベース部を介して鉄の磁気回路の残りと係合し、一方、上部(大きい方の)ポール33は、ベース部34と接続する。上部および下部ポールの対向する隣接面は、一定のギャップ37によって分離されている。上部および下部ポール33、35は、何らかの非磁性材料で作られた支持フレーム32によって一定の間隔で保持されている。このフレームは、様々なアクセス要求のためにポート39を含み得る。
図4は、球面および色収差係数43(これらのシステムでの2つの支配的な光学欠陥)を、様々な利用可能なポールピースの焦点距離45に対してプロットした既知のグラフ41である。磁界の形成には不可避の物理的な限界があるため、電子レンズの光学品質は、電子レンズの焦点距離に比例し、当該焦点距離それ自体は、ポールピースのギャップサイズに比例する。
例えば、(約400万~500万ユーロのコストで)最新式のTEMを購入する顕微鏡使用者は、小さいギャップの超高分解能ポールピース(Ultra-High-Resolution pole-piece:UHR)、中間分解能(HR)ポールピース、またはより大きいギャップを有するいわゆる「分析用」(ARP)を選択し得る。ポールピースの構成の選択は、例えば、最大の画像分解能(より小さいギャップサイズおよび焦点距離)を提供するように、またはケミカルマッピングの感度を最大にする(より大きいギャップサイズを使用して、分光計もしくはミラーのより近い接近を可能にする)ように行われ得るが、これらの出力の特徴の両方を単一のポールピース構成で最大化することはできない。結果として、顕微鏡の究極の分解能を顕微鏡が実現するために超高分解能(UHR)ポールピースが必要とされるが、これは、X線分光収集の可能性を著しく制限する。一方、分析用分解能ポールピース(Analytical-Resolution Pole-piece:ARP)は、より優れた化学的分光法、およびより大きい傾斜、またはより広範な現場実験を可能にするが、犠牲として分解能が多少失われる。
原則的に、顧客が、最新世代のTEMでポールピースの交換を製造者に依頼することは可能であるが、これにより、1回の交換に約1カ月のダウンタイム、および大きな関連費用が生じ得る。
英国特許第2161019号明細書 米国特許出願公開第2011/0012018号明細書 特開2000-156191号公報
本発明の目的は、上記の問題に対処する透過型電子顕微鏡用のポールピースを生成することである。
本発明の第1の態様によれば、添付の特許請求の範囲で述べられるように、電子顕微鏡用のポールピースが提供される。
一実施形態では、前記ポールピースは、
電子ビーム用の第1の経路を含む上部ポールピースと、
前記上部ポールピースに接続されており、前記第1の経路に動作可能に接続された第2の経路を含む下部ポールピースと、
を備え、
前記上部ポールピースおよび下部ポールピースは、前記第1の経路と前記第2の経路との間のギャップによって分離されており、
前記ポールピースは、前記上部ポールピースと前記下部ポールピースとの間の距離を、前記第1の経路と前記第2の経路との間の距離を変更することによって延ばすか、または縮めることができる機構を備える。
本発明のポールピースの重要な利点は、前記上部および下部ポールピースの間の間隔が、前記機構を使用して真空下で調整され得ることである。これは、以前は可能でなかったポールピースの容易な調整を本発明が提供するため、TEMおよびSTEM顕微鏡について大きな進歩をもたらす。さらに、様々なサンプルが、最小限の手間で前記顕微鏡を使用する検査で導入され得る。
少なくとも一実施形態では、前記機構は、前記上部ポールピースの位置を調整する。
少なくとも一実施形態では、前記機構は、共通の軸を維持しながら、前記下部ポールピースに向けて、または前記下部ポールピースから離れる方向に、前記上部ポールピースを移動させる。
少なくとも一実施形態では、前記上部ポールピースは、同心円状に取り付けられた内側部分を有する外側部分を備える。
少なくとも一実施形態では、前記内側部分は、前記機構に接続されており、前記上部ポールピースと前記下部ポールピースとの間の前記距離を延ばすか、または縮めるように移動可能である。
少なくとも一実施形態では、前記機構は、スリーブの間に取り付けられたベアリングを備え、前記スリーブは、前記外側部分の内側の同心円状の表面、および前記同心円状に取り付けられた内側部分の外側の同心円状の表面で形成されている。
少なくとも一実施形態では、前記ベアリングは、前記ベアリングが直線の動きを受けるフォロアとして機能して、回転可能なカムによって駆動される。
少なくとも一実施形態では、前記ベアリングおよびスリーブは、前記ベアリングが回転して直線的に移動することを可能にする協働ねじを有する。
少なくとも一実施形態では、前記機構は、
前記上部ポールピースの前記外側部分を前記下部ポールピースに接続するスペーサと、
前記上部ポールピースの前記外側部分および前記内側部分の間で略円形チャネルに回転可能に取り付けられており、アクチュエータに接続された環と、
を備え、
前記環の回転は、前記上部ポールピースと前記下部ポールピースとの間の前記距離を延ばすか、または縮めるように、前記アクチュエータに前記内側部分を移動させる。
少なくとも一実施形態では、前記アクチュエータは、傾斜したラチェットおよび爪機構を備える。
少なくとも一実施形態では、前記機構は、時計回りまたは反時計回りの一方向に回転可能である。前記機構が一方向にのみ回転することは、ポールピースが、いかなる外部クランプまたはブレーキも必要とせず、所定位置に「ロック」されることを意味する。
少なくとも一実施形態では、前記傾斜したラチェットは、前記上部ポールピースの前記外側部分の段差面を備え、前記爪は、前記環の係合下面を備える。
少なくとも一実施形態では、前記段差面は、前記チャネルの底面を備え、前記爪は、前記環の下面を備える。
少なくとも一実施形態では、前記段差面上の段差の高さは、前記上部ポールピースと前記下部ポールピースとの間の前記距離、したがって、第1のチャネルと第2のチャネルとの間の前記ギャップのサイズの分離値を画定する。
少なくとも一実施形態では、前記環は、3つの爪を含む。3つの爪を有することの利点は、3つの爪を有することが、前記上部および下部ポールピースの間の前記距離を調整するための安定した再現可能な位置決めをもたらすということである。
少なくとも一実施形態では、前記段差の高さは、それぞれ1.5mm、4.0mm、および6.5mmの上部ポールピース端と下部ポールピース端との間のギャップを画定する。
少なくとも一実施形態では、前記上部ポールピース端と下部ポールピース端との間のギャップを、1.5mmの最小のギャップから6.5mmの最大のギャップまで1.25mmの増分で画定する5つの段差がある。好適には、5つの段差は、1.5mm、2.75mm、4.0mm、5.25mm、および6.5mmの間隔で提供され得る。
本発明の少なくとも一実施形態では、前記上部ポールピースの前記内側部分は、前記下部ポールピースの前記ポール端に合うように狭まる円錐台状の第2の端を有する、一端で前記環と係合するためのフランジを有する中空の略円筒形本体を備える。
少なくとも一実施形態では、駆動機構が、前記環を回転させるために使用される。
少なくとも一実施形態では、前記駆動機構は、前記環を駆動軸に接続する1つ以上の歯車に動作可能に接続された前記環の外周上に取り付けられたギア歯のセットを備える。
少なくとも一実施形態では、前記駆動軸は、手動で操作可能である。
少なくとも一実施形態では、前記駆動軸は、機械で操作可能である。
少なくとも一実施形態では、前記上部および下部ポールピースの間隔が分かるように前記駆動軸の位置または回転数を記録するためにフィードバック機構が提供される。好適には、前記上部ポールピースと下部ポールピースとの間の前記距離を視覚的に表示することができる。前記視覚的な表示は、数値、テキスト、またはカラー/シンボルインジケータとすることができる。
少なくとも一実施形態では、スイッチ/トリガ/センサは、前記上部および/または下部ポールピースの位置を監視する。
少なくとも一実施形態では、前記上部および/または下部ポールピースの前記位置を観察するためのカメラまたは同様のデバイスのためのアクセスが提供される。
一実施形態では、透過型電子顕微鏡用のポールピースであって、
前記ポールピースは、
電子ビーム用の第1の経路を含む上部ポールピースと、
前記上部ポールピースに接続されており、前記第1の経路に動作可能に接続された第2の経路を含む下部ポールピースと、
を備え、
前記上部ポールピースおよび下部ポールピースは、前記第1の経路と前記第2の経路との間のギャップによって分離されており、
前記ポールピースは、前記上部ポールピースと前記下部ポールピースとの間の前記距離を、前記第1の経路と前記第2の経路との間の前記距離を変更することによって延ばすか、または縮めることができる機構を備え、
前記機構は、
前記上部ポールピースの前記外側部分を前記下部ポールピースに接続するスペーサと、
前記上部ポールピースの前記外側部分および前記内側部分の間で略円形チャネルに回転可能に取り付けられており、アクチュエータに接続された環と、
を備え、
前記環の回転は、前記上部ポールピースと前記下部ポールピースとの間の前記距離を延ばすか、または縮めるように、前記アクチュエータに前記内側部分を移動させることを特徴とする、ポールピースが提供される。
一実施形態では、添付の請求項1から20のいずれか一項に記載のポールピースを備える透過型電子顕微鏡が提供される。
本発明は、添付の図面を参照して、例示としてのみ与えられる本発明の実施形態の以下の説明から、より明確に理解されるであろう。
一般に知られているようなTEMの概略図である。 既知のポールピースを含むTEMの対称対物レンズの概略断面である。 既知の一定のギャップのポールピースの斜視図である。 球面および色収差の焦点距離に対して収差係数43をプロットしたグラフである。 本発明の第1の実施形態の概略図である。 本発明の第1の実施形態の概略図である。 本発明の第2の実施形態の切取斜視図である。 本発明の第2の実施形態の斜視図である。 本発明の第2の実施形態の斜視図である。 異なるギャップ高さを示す本発明の第2の実施形態の側面図である。 異なるギャップ高さを示す本発明の第2の実施形態の側面図である。 異なるギャップ高さを示す本発明の第2の実施形態の側面図である。 1.5mmのポールピースギャップについての磁束密度に対して光軸距離をプロットしたグラフである。 4mmのポールピースギャップについての磁束密度に対して光軸距離をプロットしたグラフである。 6.5mmのポールピースギャップについての磁束密度に対して光軸距離をプロットしたグラフである。
本発明は、TEMを分解してポールピースを異なるサイズのポールピースギャップを有するものと交換する時間およびコストをかけることなく、ポールピースギャップ、すなわち上部ポールピースと下部ポールピースとの間のギャップを調整することを可能にする透過型電子顕微鏡(TEM)用のポールピースを提供する。さらに、本発明のポールピースは、透過型電子顕微鏡に組み込んだ場合、真空で動作し得る。言い換えると、上部ポールピースおよび下部ポールピースは、真空で調整され得る。
図5aおよび図5bは、上部ポールピース(Upper Pole Piece:UPP)53および下部ポールピース(Lower Pole Piece:LPP)55を有するポールピース51を示す概略図である。UPP53の内側の経路は、磁界が集中するUPPの中心でUPPの全長を通る空洞を示す。電子がTEMの電子源からTEMの試料ステージ(図示せず)へ移動すると、経路および磁界は、電子を集束する。同様の経路が、試料から対物および結像レンズに向けて一度透過した電子についてLPPで示されている。
本発明の本実施例では、UPP53の直線移動のための機構は、UPP53の外側部分61と内側部分59との間に配置されたキャリッジまたはベアリング71を備える。内側部分59および外側部分61は、同心円状であり、経路の中心は、UPP53の中心に整列されている。ベアリングは、外側部分61の内側の同心円状の表面を形成するスリーブ69に取り付けられている。実際には、スペーサ(図示せず)は、UPP53の外側部分61をLPP55に固定的に接続し得る。内側部分59は、そのように接続されておらず、LPP55のポール端との間で、矢印58で示すように直線的に移動し得る。
キャリッジまたはベアリング71は、数多くの方法で駆動され得る。例えば、小さいカムが、ベアリングに取り付けられ得る。当該ベアリングは、矢印58で示すようにUPP53の内側部分59を直線的に移動させるベアリングの直線移動をカムの回転がもたらすように弾力的に取り付けられ得る。代替的には、ベアリング71およびスリーブ69は、ベアリングが方向58に回転して移動することを可能にする協働ねじを有し得る。
図6から図9は、本発明の第2の別の実施形態を示す。図6から図9の参照で、同じ特徴が異なる図面に示されている場合、同じ数字は、同じ特徴を説明するために使用されている。
図6から図9は、上部ポールピース(UPP)93および下部ポールピース(LPP)85を有するポールピース81を示す。UPPの内側の経路84は、磁界が集中するUPPの中心でUPPの全長を通る空洞を示す。同様の経路86が、試料から対物および結像レンズに向けて一度透過した電子についてLPPで示されている。経路84および86は、電子が対物レンズ(図示せず)に通過できるように正確に整列されている。
本実施例では、UPPは、外側部分89と、内側部分91と、を備える。外側部分89は、外側部分89をLPP85に接続するスペーサ113によって支持されている。内側部分91は、ギャップ90で下部ポールピース85のポール端に合うように狭まる円錐台状の第2の端を有する、一端で接続リングまたは環と係合するためのフランジ105を有する中空の略円筒形本体を備える。内側部分91の円筒表面は、表面93で外側部分89にスライド可能に接続されている。
接続リングは、内側部分91を駆動機構に接続している。リングの外周は、歯付き歯車109に動作可能に接続されたギア歯107を有し、そして、当該歯付き歯車109は、ギア軸117、ウォームギア115、および駆動軸111に接続されている。3つの歯車109のうち1つだけが駆動軸に接続され得ることが理解されるであろう。他の2つの歯車は、自由に回転し、歯付きリングを安定させるために使用される。任意の組合せの歯車が使用され得る。
接続リングは、段状の底面を有し、外側UPP89の段状の上向き面98を備えるチャネル88に配置されている。上向き面の上段は、傾斜した段差面を備える。すなわち、段差のサイズは、チャネルの周囲で増加する。リングの段状の底面と段差との間の協働的な係合は、リングの回転時に内側UPP91とLPP85との間の距離を変化させるように機能する。段差形状はまた、リングの逆回転を防止するように機能する。言い換えると、内側UPP91は、回転すると持ち上がるように、傾斜したラチェット面で係合する。そして、この持ち上げが解除され、内側部分は、新しい上昇位置でロックされる。
当該設計は、外部駆動軸111からウォームギア115を介して機械的な動きを変換するためにギア軸117を使用して、内側UPPの必要な回転および持ち上げを達成する。駆動軸111またはギア軸117と協働して、上部および下部ポールピースの間隔が分かるように駆動軸の位置または回転数を記録するために、フィードバック機構(図示せず)が提供され得る。好適には、上部ポールピースと下部ポールピースとの間の距離を視覚的に表示することができる。視覚的な表示は、数値またはカラーインジケータであり得る。例えば、上部および下部ポールピースの互いに対する位置を表示するために、数値カウンタが使用され得る。上部および/または下部ポールピースの位置を監視するために、スイッチ/トリガが提供され得る。ポールピースは、カメラまたは他の観察デバイスによるアクセスが、ポールピースを視覚的に検査するか、または顕微鏡内のポールピースの物理的な位置を視覚的に表示することを可能にするような寸法であり得ることが理解されるであろう。
図9aから図9cは、図6から図8の実施形態で示されるような調整可能なポールピース81の中心部の拡大を同様の参照数字で示す。
図9aは、内側UPP91、外側UPP89のチャネルでのラチェット面を有するポールピース81を示す。経路84および86は、電子が対物レンズに通過できるように正確に整列されている。本実施例では、当該機構は、LPP85に対して1.5mmのギャップ119を設定するように内側UPPを移動させる。
図9bは、内側UPP91、外側UPP89のチャネルでのラチェット面を有するポールピース81を示す。経路84および86は、電子が対物レンズに通過できるように正確に整列されている。本実施例では、当該機構は、LPP85に対して4.0mmのギャップ121を設定するように内側UPPを移動させる。
図9cは、内側UPP91、外側UPP89のチャネルでのラチェット面を有するポールピース81を示す。経路84および86は、電子が対物レンズに通過できるように正確に整列されている。本実施例では、当該機構は、LPP85に対して6.5mmのギャップ123を設定するように内側UPPを移動させる。
図10は、1.5mmのポールピースギャップについての磁束密度135に対する光軸距離133のグラフ131である。曲線137は、単一のピークを有するガウス曲線である。光軸139からの距離の関数としての強度分布も示されている。
図11は、4mmのポールピースギャップについての磁束密度に対して光軸距離をプロットしたグラフ141である。曲線143は、狭い二重ピークを有するガウス曲線である。光軸149からの距離の関数としての強度分布も示されている。
図12は、6.5mmのポールピースギャップについての磁束密度に対して光軸距離をプロットしたグラフ151である。曲線153は、広い二重ピークを有するガウス曲線である。光軸159からの距離の関数としての強度分布も示されている。
本発明の文脈では、「第1の経路」および「第2の経路」という用語は、電子顕微鏡の正確な操作を可能にする、ポールピースを通りポールピースの間の穴またはチャネルを説明するために使用され、電子顕微鏡の当業者によって理解される。
一般に、光軸距離に対する磁束密度の鋭いガウス分布を有する単一のピークが理想的なレンズであるみなされるが、より拡大した設定では、光学品質は劣るが、分光計をサンプルにより近づけるか、またはサンプルの傾斜をより大きくすることを可能にする。
本明細書では、「備える(comprise)、備える(comprises)、備わる(comprised)、および備えている(comprising)」という用語またはこの任意の変形、ならびに「含む(include)、含む(includes)、含まれる(included)、および含んでいる(including)」という用語またはこの任意の変形は、完全に相互に交換可能であるとみなされ、これらすべてに、可能な限り広い解釈が与えられるべきであり、逆もまた同様である。
本発明は、本明細書で前述した実施形態に限定されるものではなく、構造および細部の両方で変えられ得る。

Claims (17)

  1. 透過型電子顕微鏡用のポールピースであって、
    前記ポールピースは、
    電子ビーム用の第1の経路を含む上部ポールピースと、
    前記上部ポールピースに接続されており、前記第1の経路に動作可能に接続された第2の経路を含む下部ポールピースと、
    を備え、
    前記上部ポールピースおよび下部ポールピースは、前記第1の経路と前記第2の経路との間のギャップによって分離されており、
    前記ポールピースは、前記上部ポールピースと前記下部ポールピースとの間の距離を、前記第1の経路と前記第2の経路との間の距離を変更することによって延ばすか、または縮めることができる機構を備え、
    前記機構は、
    前記上部ポールピースの外側部分を前記下部ポールピースに接続するスペーサと、
    前記上部ポールピースの前記外側部分および内側部分の間で略円形チャネルに回転可能に取り付けられており、アクチュエータに接続された環と、
    を備え、
    前記環の回転は、前記上部ポールピースと前記下部ポールピースとの間の前記距離を延ばすか、または縮めるように、前記アクチュエータに前記内側部分を移動させ、
    前記アクチュエータは、前記環を回転させるために使用され、前記環を駆動軸に接続する1つ以上の歯車に動作可能に接続された前記環の外周上に取り付けられたギア歯のセットを有することを特徴とする、ポールピース。
  2. 前記上部ポールピースは、同心円状に取り付けられた内側部分を有する外側部分を備える、請求項1に記載のポールピース。
  3. 前記内側部分は、前記機構に接続されており、前記上部ポールピースと前記下部ポールピースとの間の前記距離を延ばすか、または縮めるように移動可能である、請求項2に記載のポールピース。
  4. 前記機構は、スリーブの間に取り付けられたベアリングを備え、前記スリーブは、前記外側部分の内側の同心円状の表面、および前記同心円状に取り付けられた内側部分の外側の同心円状の表面で形成されている、請求項2または3に記載のポールピース。
  5. 前記ベアリングは、前記ベアリングが直線の動きを受けるフォロアとして機能して、回転可能なカムによって駆動される、請求項4に記載のポールピース。
  6. 前記ベアリングおよびスリーブは、前記ベアリングが回転して直線的に移動することを可能にする協働ねじを有する、請求項4に記載のポールピース。
  7. 前記アクチュエータは、傾斜したラチェットおよび爪機構を備える、請求項1からのいずれか一項に記載のポールピース。
  8. 前記傾斜したラチェットは、前記上部ポールピースの前記外側部分の段差面を備え、前記爪は、前記環の係合下面を備える、請求項7に記載のポールピース。
  9. 前記段差面は、複数の段差を備え、前記段差面上の前記段差の高さは、前記上部ポールピースと前記下部ポールピースとの間の前記距離、したがって、第1の経路と第2の経路との間の前記ギャップのサイズの分離値を画定する、請求項8に記載のポールピース。
  10. 前記駆動軸は、手動で操作可能である、請求項1に記載のポールピース。
  11. 前記駆動軸は、機械で操作可能である、請求項1に記載のポールピース。
  12. 前記上部および下部ポールピースの間隔が分かるように駆動軸の位置または回転数を記録するためのフィードバック機構を備える、請求項1から11のいずれか一項に記載のポールピース。
  13. 前記上部ポールピースと下部ポールピースとの間の前記距離を視覚的に表示することができる、請求項12に記載のポールピース。
  14. 前記視覚的な表示は、数値またはカラーインジケータとすることができる、請求項13に記載のポールピース。
  15. スイッチ/トリガは、前記上部および/または下部ポールピースの位置を監視する、請求項1から14のいずれか一項に記載のポールピース。
  16. 前記上部および/または下部ポールピースの位置を観察するためのカメラまたは同様のデバイスのためのアクセスが提供される、請求項1から15のいずれか一項に記載のポールピース。
  17. 請求項1から16のいずれか一項に記載のポールピースを備える、透過型電子顕微鏡。
JP2022550855A 2020-02-25 2021-02-25 透過型電子顕微鏡用のポールピース Active JP7724552B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP20159344.9A EP3872837A1 (en) 2020-02-25 2020-02-25 Pole piece for an electron microscope
EP20159344.9 2020-02-25
PCT/EP2021/054761 WO2021170762A1 (en) 2020-02-25 2021-02-25 Pole piece for a transmission electron microscope

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2023515137A JP2023515137A (ja) 2023-04-12
JP7724552B2 true JP7724552B2 (ja) 2025-08-18

Family

ID=69740162

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2022550855A Active JP7724552B2 (ja) 2020-02-25 2021-02-25 透過型電子顕微鏡用のポールピース

Country Status (4)

Country Link
US (1) US20230154724A1 (ja)
EP (2) EP3872837A1 (ja)
JP (1) JP7724552B2 (ja)
WO (1) WO2021170762A1 (ja)

Family Cites Families (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2418432A (en) 1944-05-01 1947-04-01 Rca Corp Magnetic electron lens system
US2472315A (en) 1948-03-30 1949-06-07 Rca Corp Varying the gap spacing of pole pieces for electron optical apparatus
NL92220C (ja) 1952-09-13
NL194113A (ja) 1954-01-22
GB931949A (en) * 1960-11-02 1963-07-24 Zeiss Stiftung Fluid control valve system
US3324433A (en) 1963-12-27 1967-06-06 Hitachi Ltd Electron lens system excited by at least one permanent magnet
US3754443A (en) 1972-02-04 1973-08-28 R Harris Automatic fluid injector
JPS57151159A (en) * 1981-03-13 1982-09-18 Internatl Precision Inc Objective lens of electron beam device
JPS5841571U (ja) * 1981-09-11 1983-03-18 株式会社明石製作所 電子線装置の対物レンズ
JPS59221953A (ja) * 1983-05-31 1984-12-13 Internatl Precision Inc 電子線装置の対物レンズ
EP0135366B1 (en) * 1983-08-15 1990-11-07 Applied Materials, Inc. System and method for ion implantation
JPS60230343A (ja) * 1984-04-27 1985-11-15 Internatl Precision Inc 電子レンズアセンブリ及びこれを組込んだ電子線装置
JPS61131350A (ja) * 1984-11-30 1986-06-19 Internatl Precision Inc 電子線装置の対物レンズ
JPS61171047A (ja) * 1985-01-25 1986-08-01 Internatl Precision Inc 電子線装置の磁気レンズ
JP2833842B2 (ja) * 1990-08-08 1998-12-09 日本電子株式会社 透過型電子顕微鏡
JP2000156191A (ja) * 1998-11-19 2000-06-06 Jeol Ltd 走査電子顕微鏡等の対物レンズ
CN102103966B (zh) * 2005-11-28 2013-02-06 卡尔蔡司Smt有限责任公司 粒子光学组件
JP4978065B2 (ja) * 2006-06-12 2012-07-18 株式会社日立製作所 電子顕微鏡応用装置
WO2009115838A2 (en) * 2008-03-15 2009-09-24 University Of Sheffield Specimen holder assembly
GB0912332D0 (en) * 2009-07-16 2009-08-26 Vg Systems Ltd Magnetic lens,method for focussing charged particles and charged particle energy analyser
US9010202B2 (en) * 2010-07-28 2015-04-21 Halina Stabacinskiene Cryogenic specimen holder
KR20140147370A (ko) * 2013-06-19 2014-12-30 삼성전기주식회사 시편 연마 장치
JP6496210B2 (ja) * 2015-08-12 2019-04-03 日本電子株式会社 荷電粒子線装置
TWI594288B (zh) * 2016-03-14 2017-08-01 台灣電鏡儀器股份有限公司 電子顯微鏡

Also Published As

Publication number Publication date
EP3872837A1 (en) 2021-09-01
EP4111484C0 (en) 2025-01-29
JP2023515137A (ja) 2023-04-12
US20230154724A1 (en) 2023-05-18
WO2021170762A1 (en) 2021-09-02
EP4111484A1 (en) 2023-01-04
EP4111484B1 (en) 2025-01-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7221731B2 (en) X-ray microscopic inspection apparatus
JP3776887B2 (ja) 電子線装置
JP5660860B2 (ja) 粒子光学レンズの軸収差用の補正装置
EP1150327B1 (en) Multi beam charged particle device
Tromp et al. A new low energy electron microscope
JP6267543B2 (ja) 収差補正器及びそれを用いた荷電粒子線装置
JP2009193963A (ja) 収差補正器及び位相板を備えたtem
JP2002516026A (ja) 粒子−光学装置におけるレンズ欠陥補正用の補正デバイス
US9343260B2 (en) Multipole and charged particle radiation apparatus using the same
JP6498309B2 (ja) 電子線エネルギー損失分光装置を備えた走査透過型電子顕微鏡およびその観察方法
JP4354197B2 (ja) 走査電子顕微鏡
JP7724552B2 (ja) 透過型電子顕微鏡用のポールピース
Martin et al. A new electron microscope
DE3011625C2 (ja)
JP4523594B2 (ja) 粒子光学装置
JP2007128893A (ja) 粒子光学装置における色収差の補正用の補正器
US8164066B2 (en) Magnetic lens, method for focusing charged particles and charged particle energy analyzer
GB2118361A (en) Scanning electron beam apparatus
US3588586A (en) Apparatus for correcting electron beam deflection
Williams et al. The instrument
US6891159B2 (en) Converting scanning electron microscopes
JP4552191B2 (ja) 磁場レンズ用磁気回路
EP3379556B1 (en) Scanning transmission electron microscope with a condenser objective system and a method of use thereof
Żak Transmission Electron Microscopy: A Practical Guide to Using a Microscope
Tsuno et al. Non-isochromaticity of an omega filter in a 200 kV transmission electron microscope

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20221028

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20240209

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20241030

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20241119

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20250214

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20250415

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20250519

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20250701

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20250729

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7724552

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150