JP7513207B2 - ワイヤロープ検査装置、ワイヤロープ検査システムおよびワイヤロープ検査方法 - Google Patents

ワイヤロープ検査装置、ワイヤロープ検査システムおよびワイヤロープ検査方法 Download PDF

Info

Publication number
JP7513207B2
JP7513207B2 JP2023520856A JP2023520856A JP7513207B2 JP 7513207 B2 JP7513207 B2 JP 7513207B2 JP 2023520856 A JP2023520856 A JP 2023520856A JP 2023520856 A JP2023520856 A JP 2023520856A JP 7513207 B2 JP7513207 B2 JP 7513207B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wire rope
excitation coil
excitation
coil
control
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2023520856A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2022239440A1 (ja
Inventor
拓郎 岸田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Publication of JPWO2022239440A1 publication Critical patent/JPWO2022239440A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7513207B2 publication Critical patent/JP7513207B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B66—HOISTING; LIFTING; HAULING
    • B66B—ELEVATORS; ESCALATORS OR MOVING WALKWAYS
    • B66B5/00—Applications of checking, fault-correcting, or safety devices in elevators
    • B66B5/02—Applications of checking, fault-correcting, or safety devices in elevators responsive to abnormal operating conditions
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B66—HOISTING; LIFTING; HAULING
    • B66B—ELEVATORS; ESCALATORS OR MOVING WALKWAYS
    • B66B7/00—Other common features of elevators
    • B66B7/12—Checking, lubricating, or cleaning means for ropes, cables or guides
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
    • G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)

Description

本発明は、ワイヤロープ検査装置、ワイヤロープ検査システムおよびワイヤロープ検査方法に関する。
従来、検知コイルと、励磁コイルとを備える磁性体検査装置（ワイヤロープ検査装置）が知られている。このようなワイヤロープ検査装置は、たとえば、国際公開第２０１９／１７１６６７号に開示されている。
上記国際公開第２０１９／１７１６６７号には、ワイヤロープに対して磁界を印加する励磁コイルと、検知コイルとを備えるワイヤロープ検査装置が開示されている。このワイヤロープ検査装置では、検知コイルが検出するワイヤロープの磁界に基づく検知信号によって、ワイヤロープの状態の判定を行うように構成されている。
また、上記国際公開第２０１９／１７１６６７号には明記されていないが、上記国際公開第２０１９／１７１６６７号のような従来のワイヤロープ検査装置では、ワイヤロープに対して磁界を印加するために、スイッチのオンオフを切り替えて、定電圧回路から励磁コイルへの電力の供給を周期的に切り替えることによって、励磁コイルの励磁を周期的に行っている。そして、上記国際公開第２０１９／１７１６６７号のような従来のワイヤロープ検査装置では、周期的に励磁される励磁コイルによって、磁界が印加されたワイヤロープの磁束の変化を検知コイルが検出する。
国際公開第２０１９／１７１６６７号
しかしながら、定電圧回路によって、励磁コイルに一定の電圧を周期的に印加しても、励磁コイルの温度や環境温度の変化に起因する励磁コイルの抵抗値の変化によって、励磁コイルを流れる電流が飽和状態となる電流値（励磁コイルを流れる電流の波形のピーク）が周期毎に変化する。これにより、励磁コイルの温度や環境温度の変化に起因して、励磁コイルを流れる電流（励磁電流）の波形が周期毎に変動するので、励磁コイルによって発生する磁界における磁束（発生磁束）も周期毎に変動してしまう。そして、このような励磁コイルによって発生する磁界における磁束（発生磁束）の周期毎の変動は、ワイヤロープの磁束の変化を検知する検知コイルの検知結果に影響を及ぼしてしまう。そのため、励磁コイルの温度や環境温度によらず、励磁コイルによって発生する磁界における磁束（発生磁束）を再現性よく発生させることが可能なワイヤロープ検査装置、ワイヤロープ検査システムおよびワイヤロープ検査方法が望まれている。
この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の１つの目的は、励磁コイルの温度や環境温度によらず、励磁コイルによって発生する磁界における磁束（発生磁束）を再現性よく発生させることが可能なワイヤロープ検査装置、ワイヤロープ検査システムおよびワイヤロープ検査方法を提供することである。
この発明の第１の局面におけるワイヤロープ検査装置は、周期的に励磁され、ワイヤロープに対して磁界を印加する励磁コイルと、ワイヤロープに対して相対的に移動しながら、励磁コイルによって周期的に磁界が印加されたワイヤロープの磁束の変化を検知する検知部と、励磁コイルに流れる電流を検出する電流検出部と、電流検出部による検出結果に基づいて、励磁コイルに流れる電流の飽和状態における電流値が励磁の各周期において揃うように、励磁コイルの励磁の周期毎に、励磁コイルに印加する電圧を制御する電圧調整制御を行うように構成されている制御部とを備える。
この発明の第２の局面におけるワイヤロープ検査システムは、ワイヤロープ検査装置と、ワイヤロープ検査装置が検知した検知信号を取得して処理する処理装置とを備え、ワイヤロープ検査装置は、周期的に励磁され、ワイヤロープに対して磁界を印加する励磁コイルと、ワイヤロープに対して相対的に移動しながら、励磁コイルによって周期的に磁界が印加されたワイヤロープの磁束の変化を検知する検知部と、励磁コイルに流れる電流を検出する電流検出部と、電流検出部による検出結果に基づいて、励磁コイルに流れる電流の飽和状態における電流値が励磁の各周期において揃うように、励磁コイルの励磁の周期毎に、励磁コイルに印加する電圧を制御する電圧調整制御を行うように構成されている制御部とを備える。
この発明の第３の局面におけるワイヤロープ検査方法は、ワイヤロープに対して磁界を印加する励磁コイルの励磁を周期的に行う励磁ステップと、励磁コイルに流れる電流を検出する電流検出ステップと、電流検出ステップにおける検出結果に基づいて、励磁コイルに流れる電流の飽和状態における電流値が励磁の各周期において揃うように、励磁コイルの励磁の周期毎に、励磁コイルに印加する電圧を制御する電圧調整制御を行う電圧調整制御ステップと、ワイヤロープを相対的に移動させながら、励磁コイルによって周期的に磁界が印加されたワイヤロープの磁束の変化を検知する検知ステップとを備える。
本発明の第１の局面におけるワイヤロープ検査装置、第２の局面におけるワイヤロープ検査システムおよび第３の局面におけるワイヤロープ検査方法では、上記のように、励磁コイルに流れる電流の検出結果に基づいて、励磁コイルに流れる電流の飽和状態における電流値が励磁の各周期において揃うように、励磁コイルの励磁の周期毎に、励磁コイルに印加する電圧を制御する電圧調整制御を行う。これにより、励磁コイルの温度や環境温度が変化した場合でも、検出した励磁コイルに流れる電流に基づいて、励磁コイルの励磁の周期毎に、励磁コイルに印加する電圧を制御する電圧調整制御を行うことによって、励磁コイルに流れる電流の飽和状態における電流値（励磁コイルを流れる電流の波形のピーク）を励磁の各周期において揃えることができる。その結果、励磁コイルの温度や環境温度によらず、励磁コイルによって発生する磁界における磁束（発生磁束）を再現性よく発生させることができる。
第１実施形態によるワイヤロープ検査装置のエレベータへの取り付け位置の一例を示した模式図である。 第１実施形態によるワイヤロープ検査システムの全体構成を示したブロック図である。 Ｚ方向における検知コイルおよび励磁部の配置を示した模式図である。 図３の３００―３００線に沿った断面における検知コイルおよび励磁コイルの配置を示した模式図である。 励振コイルの構成を示した図である。 磁界印加部の構成を示した図である。 第１実施形態による励磁回路の一例を示した図である。 マイコンが生成するＰＷＭ波形および励磁コイルに流れる電流の波形の一例を示した図である。 マイコンによる処理の一例を示した図である。 検出電流値の平均値に基づく制御を行う場合における検出電流値の検出のタイミングを示した図である。 第２実施形態による励磁回路の一例を示した図である。
以下、本発明を具体化した実施形態を図面に基づいて説明する。
［第１実施形態］
図１～図７を参照して、第１実施形態によるワイヤロープ検査システム１００（ワイヤロープ検査装置１０１）の構成について説明する。なお、以下の説明において、「直交」とは、９０度および９０度近傍の角度をなして交差することを意味する。
（ワイヤロープ検査システムの構成）
ワイヤロープ検査システム１００は、検査対象物であり磁性体であるワイヤロープＷの素線断線および錆などの劣化（異常）を検査するためのシステムである。ワイヤロープ検査システム１００は、全磁束法によってワイヤロープＷの異常の有無を判定することにより、目視により確認しにくいワイヤロープＷの劣化（異常）を確認可能なシステムである。ワイヤロープＷに素線断線および錆などの劣化（異常）が含まれる場合には、劣化（異常）部分における磁束が正常部分とは異なる。全磁束法は、ワイヤロープＷの表面の劣化（異常）部分などからの漏洩磁束を測定する方法と異なり、ワイヤロープＷの内部の素線断線および錆などの劣化（異常）をも測定可能な方法である。
ワイヤロープ検査システム１００は、ワイヤロープＷの磁束を計測するワイヤロープ検査装置１０１（図１参照）と、ワイヤロープ検査装置１０１が検知した検知信号を取得して処理する処理装置１０２（図１参照）とを備えている。処理装置１０２は、ワイヤロープ検査装置１０１によるワイヤロープＷの磁束の計測結果、および、ワイヤロープ検査装置１０１によるワイヤロープＷの磁束の計測結果に基づく解析結果（検査結果）の表示などを行うように構成されている。処理装置１０２は、たとえばタブレットＰＣ（Ｐｅｒｓｏｎａｌ Ｃｏｍｐｕｔｅｒ）などのタブレット端末である。なお、処理装置１０２は、ノートＰＣでもよいし、ネットワークを介して接続されたサーバなどでもよい。
ユーザ（作業者）は、ワイヤロープ検査システム１００を用いてワイヤロープＷの異常を検査することにより、目視により確認しにくいワイヤロープＷの劣化（異常）を確認可能である。図１では、ワイヤロープ検査装置１０１が、エレベータ９００のかご９０１の移動に用いられるワイヤロープＷを検査する例を示している。
図１に示すように、エレベータ９００は、かご９０１、シーブ（滑車）９０２、シーブ９０３、および、ワイヤロープＷを備える。エレベータ９００は、巻き上げ機に設けられたシーブ９０２が回動してワイヤロープＷを巻き上げることによって、人および積み荷などを積載するかご９０１を上下方向（鉛直方向）に移動させるように構成されている。なお、エレベータ９００は、ダブルラップ方式（フルラップ方式）のロープ式エレベータであってもよいし、シングルラップ方式のロープ式エレベータであってもよい。ワイヤロープ検査装置１０１は、ワイヤロープＷに対して移動しないように固定された状態で、巻き上げ機のシーブ９０２により移動させられるワイヤロープＷの異常を検査する。
ワイヤロープＷは、磁性を有する素線材料である複数のストランドをより合わせることにより形成されており、Ｚ方向に沿って延びる長尺材からなる磁性体である。なお、ストランドは、複数本の素線がより合わさって構成されている。ワイヤロープＷは、劣化による切断が生じることを未然に防ぐために、ワイヤロープ検査装置１０１により検査されている。ワイヤロープＷの磁束の計測の結果、劣化（異常）の程度が決められた基準を超えたと判断されるワイヤロープＷは、ユーザ（作業者）により交換される。
ワイヤロープ検査装置１０１は、ワイヤロープＷの表面に沿って、ワイヤロープＷに対して相対的に移動しながら、ワイヤロープＷの磁束を計測する。エレベータ９００に使用されるワイヤロープＷのように、ワイヤロープＷ自体が移動する場合には、ワイヤロープ検査装置１０１に対してワイヤロープＷを移動させながら、ワイヤロープ検査装置１０１によるワイヤロープＷの磁束の計測が行われる。これにより、ワイヤロープＷの長尺方向の各位置における磁束を計測することができるので、ワイヤロープＷの長尺方向の各位置における劣化（異常）を検査可能である。
（ワイヤロープ検査装置の構成）
図２に示すように、ワイヤロープ検査装置１０１は、励磁コイル１１を含む励磁部１０と、検知部２０と、電流検出部３０と、マイコン（マイクロコントローラ：Ｍｉｃｒｏｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ）４０とを備える。なお、マイコン４０は、請求の範囲の「制御部」の一例である。また、ワイヤロープ検査装置１０１は、スイッチング素子５０を備える。たとえば、スイッチング素子５０は、ＭＯＳＦＥＴ（Ｍｅｔａｌ Ｏｘｉｄｅ Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ Ｆｉｅｌｄ Ｅｆｆｅｃｔ Ｔｒａｎｓｉｓｔｏｒ）である。なお、スイッチング素子５０は、ＩＧＢＴ（Ｉｎｓｕｌａｔｅｄ Ｇａｔｅ Ｂｉｐｏｌａｒ Ｔｒａｎｓｉｓｔｏｒ）であってもよい。
励磁コイル１１は、周期的に励磁され、ワイヤロープＷに対して磁界を印加するように構成されている。具体的には、励磁コイル１１は、周期的に電流が流れることにより、内部（コイルの内側）に磁界を発生させるとともに、周期的に発生させた磁界を内部に配置されたワイヤロープＷに印加する。すなわち、励磁コイル１１は、ワイヤロープＷの磁化の状態を励振させるように構成されている。また、励磁コイル１１は、ワイヤロープＷに対して相対的に移動するように構成されている。なお、励磁コイル１１の詳細な説明は、後述する。
検知部２０は、ワイヤロープＷに対して相対的に移動しながら、励磁コイル１１によって周期的に磁界が印加されたワイヤロープＷの磁束の変化を検知するように構成されている。検知部２０は、検知コイル２１を含み、検知コイル２１が、ワイヤロープＷに対して相対的に移動しながら、ワイヤロープＷの磁束の変化を検知するように構成されている。また、検知コイル２１は、第１検知コイル２１ａと第２検知コイル２１ｂとを含む。すなわち、第１検知コイル２１ａおよび第２検知コイル２１ｂが、ワイヤロープＷに対して相対的に移動しながら、励磁コイル１１により周期的に磁界が印加されたワイヤロープＷの磁束の変化を検知（計測）するように構成されている。
検知コイル２１は、検知したワイヤロープＷの磁束に応じた検知信号（差動信号）を送信する。第１実施形態では、検知コイル２１は、全磁束法によってワイヤロープＷの内部の磁束を検知するように構成されている。なお、検知コイル２１の詳細な説明は、後述する。
電流検出部３０は、励磁コイル１１に流れる電流を検出するように構成されている。電流検出部３０は、たとえば、電流検出用の抵抗である。
マイコン４０は、電流検出部３０による検出結果に基づいて、励磁コイル１１に流れる電流の飽和状態における電流値が励磁の各周期において揃うように、励磁コイル１１の励磁の周期毎に、励磁コイル１１に印加する電圧を制御する電圧調整制御を行うように構成されている。
マイコン４０は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）およびＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）を含む。マイコン４０は、内蔵されたＲＯＭに、後述するマイコン４０による電圧の制御に用いられる目標電流値を記憶（格納）している。なお、目標電流値は、マイコン４０外部のメモリ（ＲＯＭ、フラッシュメモリなど）に記憶（格納）されていてもよい。なお、後述する電圧の制御を行うためのプログラムは、マイコン４０内部のＲＯＭに記憶（格納）されていてもよいし、マイコン４０外部のメモリ（ＲＯＭ、フラッシュメモリなど）に記憶（格納）されていてもよい。
また、マイコン４０は、ＡＤコンバータ４１を含み、電流検出部３０によって検出された検出値（検出電流値）をＡＤコンバータ４１において、デジタル変換している。なお、マイコン４０において、ＡＤコンバータ４１は、マイコン４０の内部回路として機能的に構成（マイコン４０の機能ブロックとして構成）されている。
スイッチング素子５０には、マイコン４０によって生成された制御信号（ゲート信号）が入力される。そして、スイッチング素子５０は、入力された制御信号（ゲート信号）に基づいて、励磁コイル１１に対する電力の供給を制御する。
また、ワイヤロープ検査装置１０１は、磁界印加部６０と、処理部７１と、受信Ｉ／Ｆ（インターフェース）７２と、電源回路７３と、記憶部７４と、通信部７５とを備える。
磁界印加部６０は、ワイヤロープＷが検知コイル２１を通過する前に予めワイヤロープＷに磁界を印加し、磁性体であるワイヤロープＷの磁化の方向を整える（整磁する）ように構成されている。なお、磁界印加部６０の詳細な説明は、後述する。
処理部７１は、ワイヤロープ検査装置１０１の各部を制御するように構成されている。処理部７１は、ＣＰＵなどのプロセッサ、メモリ、ＡＤコンバータなどを含んでいる。受信Ｉ／Ｆ７２は、検知コイル２１の検知信号（差動信号）を受信（取得）して、処理部７１に送信する。受信Ｉ／Ｆ７２は、増幅器を含んでいる。受信Ｉ／Ｆ７２は、増幅器により検知コイル２１の検知信号を増幅して、処理部７１に送信する。
電源回路７３は、外部から電力を受け取って、励磁コイル１１などのワイヤロープ検査装置１０１の各部に電力を供給する。記憶部７４は、たとえばフラッシュメモリを含む記憶媒体であり、ワイヤロープＷの計測結果（計測データ）などの情報を記憶（保存）する。通信部７５は、通信用のインターフェースであり、ワイヤロープ検査装置１０１と処理装置１０２とを通信可能に接続する。
（処理装置の構成）
処理装置１０２（タブレット端末）は、ワイヤロープ検査装置１０１とは別個に設けられている。処理装置１０２は、図２に示すように、通信部１２１と、処理部１２２と、記憶部１２３と、ディスプレイ部１２４とを備えている。処理装置１０２は、検知コイル２１の検知信号に基づいて、複数のワイヤロープＷの劣化状態（異常の有無）を判定するように構成されている。
通信部１２１は、通信用のインターフェースであり、ワイヤロープ検査装置１０１と処理装置１０２とを通信可能に接続する。処理装置１０２は、通信部１２１を介して、ワイヤロープ検査装置１０１によるワイヤロープＷの計測結果（検知コイル２１により検知された検知信号のデータ）を受信する。
処理部１２２は、処理装置１０２の各部を制御するように構成されている。処理部１２２は、ＣＰＵなどのプロセッサ、メモリなどを含んでいる。処理部１２２は、通信部１２１を介して受信したワイヤロープＷの計測結果に基づいて、素線断線および錆などのワイヤロープＷの劣化（異常）を解析する。すなわち、処理部１２２は、検知コイル２１により検知された検知信号に基づいて、ワイヤロープＷの劣化（異常）を解析（劣化状態を判定）するように構成されている。
記憶部１２３は、たとえばフラッシュメモリを含む記憶媒体であり、ワイヤロープＷの計測結果（検知コイル２１により検知された検知信号のデータ）、処理部１２２による解析結果（ワイヤロープＷの計測結果に基づく解析結果）などのデータを記憶（保存）する。
ディスプレイ部１２４は、たとえば、液晶ディスプレイまたは有機ＥＬディスプレイを含むタッチパネルディスプレイであり、ワイヤロープＷの計測結果、処理部１２２による解析結果（ワイヤロープＷの計測結果に基づく解析結果）などの情報を表示する表示部であるとともに、ユーザ（作業者）の操作を受け付ける操作部である。
ワイヤロープ検査システム１００（処理装置１０２の処理部１２２）は、過去の検査時における検知信号（生信号）と現在（最新）の検査時における検知信号（生信号）との比較、または、過去の検査時における検知信号（生信号）に微分処理など信号処理を行ったデータと現在（最新）の検査時における検知信号（生信号）に微分処理など信号処理を行ったデータとの比較に基づいて、ワイヤロープＷの劣化状態の判定（異常の有無の判定）を行うように構成されている。
すなわち、ワイヤロープ検査システム１００（処理装置１０２の処理部１２２）は、現在と過去との差分データに基づいて、素線断線および錆などのワイヤロープＷの劣化状態を判定するように構成されている。なお、検知信号（生信号）への信号処理および差分データの取得（算出）は、処理装置１０２に設けられた処理部１２２にて行われてもよいし、ワイヤロープ検査装置１０１に設けられた処理部７１で行われてもよい。また、過去の検査時における検知信号（生信号）、または、過去の検査時における検知信号（生信号）に微分処理など信号処理を行ったデータは、ワイヤロープ検査装置１０１の記憶部７４に記憶（保存）されていてもよいし、処理装置１０２の記憶部１２３に記憶（保存）されていてもよい。
ワイヤロープ検査装置１０１では、検知コイル２１によって磁束の変化を検出するので、このように、現在と過去との差分データに基づいて素線断線および錆などのワイヤロープＷの劣化状態を判定する場合には、励磁コイル１１によって発生する磁界における磁束（発生磁束）が検査毎に変動してしまうと、励磁コイル１１によって発生する磁界における磁束（発生磁束）の変動がノイズとなってしまう。そのため、励磁コイル１１によって発生する磁界における磁束（発生磁束）の繰り返し再現性が重要になる。したがって、現在と過去との差分データに基づいてワイヤロープＷの劣化状態を判定する場合には、励磁コイル１１に流れる電流の波形を再現性よく制御することは、特に重要になる。
なお、ワイヤロープ検査システム１００（処理装置１０２の処理部１２２）は、検知コイル２１により取得（検知）された検知信号（生信号）、または、検知信号（生信号）に微分処理などの信号処理を行ったデータに基づいて、劣化状態の判定を行うように構成されてもよい。すなわち、ワイヤロープ検査システム１００（処理装置１０２の処理部１２２）は、過去のデータを用いずに現在のデータに基づいて、素線断線および錆などのワイヤロープＷの劣化状態の判定を行ってもよい。また、このような場合においても、励磁コイル１１によって発生する磁界における磁束（発生磁束）の励磁の周期毎における変動がノイズとなるので、励磁コイル１１によって発生する磁界における磁束（発生磁束）の繰り返し再現性を確保すること（励磁コイル１１に流れる電流の波形を再現性よく制御すること）は重要である。
また、エレベータ９００には、図３に示すように、ワイヤロープＷが複数設けられている。複数のワイヤロープＷは、各々の長手方向（Ｚ方向）に直交する方向（Ｘ方向）に並ぶように（互いに平行に）設けられている。そして、検知コイル２１は、複数のワイヤロープＷが延びるＺ方向に沿って相対的に移動するとともに、ワイヤロープＷの磁束の変化を検知するように構成されている。
（励振コイルおよび検知コイルに関する構成）
ワイヤロープＷは、図４に示すように、検知コイル２１および励磁コイル１１の内部（内側）を通過する。そして、検知コイル２１は、図４に示すように、励磁コイル１１の内側に配置される。第１実施形態では、検知コイル２１は、図４に示すように、複数のワイヤロープＷに対応して複数設けられている。すなわち、検知コイル２１は、複数のワイヤロープＷの本数と同数設けられている。たとえば、図４に示すように、ワイヤロープＷが６本の場合には、検知コイル２１は、６つ設けられる。
また、図４に示すように、検知コイル２１は、複数のワイヤロープＷと検知部２０とが対向する方向（Ｙ方向）において、複数のワイヤロープＷの一方側（Ｙ１方向側）に配置される第１検知コイル２１ａと、複数のワイヤロープＷの他方側（Ｙ２方向側）に配置される第２検知コイル２１ｂとに分割可能に構成されている。
第１検知コイル２１ａおよび第２検知コイル２１ｂは、図４に示すように、Ｚ方向（Ｚ１方向側またはＺ２方向側）から見て、ワイヤロープＷから離間する方向に凸のＵ字状（鞍型形状）に配置（形成）されている。なお、第１検知コイル２１ａおよび第２検知コイル２１ｂは、Ｚ方向（Ｚ１方向側またはＺ２方向側）から見て、ワイヤロープＷから離間する方向に凸の半円状になるように配置（形成）されてもよい。また、Ｚ方向（Ｚ１方向側またはＺ２方向側）から見て、検知コイル２１（第１検知コイル２１ａと第２検知コイル２１ｂと合わせた形状）が、矩形状に配置（形成）されていてもよい。
第１検知コイル２１ａと第２検知コイル２１ｂとは、直列接続されており、磁束の変化に対し、互いに逆方向に電流が流れるように構成されている。検知コイル２１は、第１検知コイル２１ａにより得られた信号と第２検知コイル２１ｂにより得られた信号との差動信号を検知信号として出力するように設けられている。
また、励磁コイル１１は、図４に示すように、複数のワイヤロープＷを取り囲むように設けられている。すなわち、励磁コイル１１は、複数のワイヤロープＷに対して共通に設けられている。励磁コイル１１は、複数のワイヤロープＷの磁化の状態を同時に励振するように構成されている。具体的には、励磁コイル１１に電流が流されることにより、励磁コイル１１の内部において、電流に基づいて発生する磁界（磁束）が複数のワイヤロープＷに対して周期的に印加されるように構成されている。
第１実施形態では、電流検出部３０（図２参照）による検出結果に基づいて、励磁コイル１１に流れる電流の飽和状態における電流値が励磁の各周期において揃うように、複数のワイヤロープＷに対して磁界を印加する励磁コイル１１の励磁の周期毎に、マイコン４０による励磁コイル１１に印加する電圧を制御する電圧調整制御が行われる。また、図４に示すように、励磁コイル１１は、複数の検知コイル２１に対しても共通に設けられている。
励磁部１０は、図５に示すように、プリント基板１２ａおよび１２ｂを含む。励磁コイル１１は、図５に示すように、プリント基板１２ａに形成された第１導線部１１ａと、プリント基板１２ｂに形成された第２導線部１１ｂとを含む。また、第１導線部１１ａと第２導線部１１ｂとは、電気的に接続されている。
なお、検知コイル２１および励磁コイル１１の配置は前述した構成に限られない。図３および図４に示した検知コイル２１と図４および図５に示した励磁コイル１１とは、概略的に図示したものであり、実際の配置（構成）とは異なる場合がある。
（磁界印加部の構成）
磁界印加部６０は、図６に示すように、磁界印加部６１および６２を含む。磁界印加部６１および６２は、ワイヤロープＷに対して予め磁界を印加し、磁性体であるワイヤロープＷの磁化の大きさおよび方向を整えるように構成されている。磁界印加部６１および６２は、Ｚ方向において、励磁コイル１１および複数の検知コイル２１を挟むように配置されている。
図６に示すように、磁界印加部６１および６２は、検査対象物であるワイヤロープＷに対して予めＹ方向から磁界を印加し磁性体であるワイヤロープＷの磁化の大きさおよび方向を整える（整磁する）ように構成されている。また、磁界印加部６１は、磁石６１ａおよび６１ｂを含み、磁界印加部６２は、磁石６２ａおよび６２ｂを含んでいる。
磁界印加部６１（磁石６１ａおよび６１ｂ）は、図６に示すように、検知コイル２１および励磁コイル１１に対して、ワイヤロープＷの延びる方向の一方側（Ｚ１方向側）に配置されている。そして、ワイヤロープＷがＺ２方向に移動する際には、検知コイル２１の内部（内側）へ入る前に、ワイヤロープＷが磁界印加部６１の内側（磁石６１ａおよび６１ｂの間）を通過する。これにより、ワイヤロープＷがＺ２方向に移動する際には、検知コイル２１の内部（内側）へ入る前に磁界印加部６１（磁石６１ａおよび６１ｂ）によって、ワイヤロープＷに対して予め磁界が印加され、ワイヤロープＷの磁化の大きさおよび方向が整えられる（整磁される）。
また、磁界印加部６２（磁石６２ａおよび６２ｂ）は、図６に示すように、検知コイル２１および励磁コイル１１に対して、ワイヤロープＷの延びる方向の他方側（Ｚ２方向側）に配置されている。そして、ワイヤロープＷがＺ１方向に移動する際には、検知コイル２１の内部（内側）へ入る前に、ワイヤロープＷが磁界印加部６２の内側（磁石６２ａおよび６２ｂの間）を通過する。これにより、ワイヤロープＷがＺ１方向に移動する際には、検知コイル２１の内部（内側）へ入る前に磁界印加部６２（磁石６２ａおよび６２ｂ）によって、ワイヤロープＷに対して予め磁界が印加され、ワイヤロープＷの磁化の大きさおよび方向が整えられる（整磁される）。
すなわち、磁界印加部６１および６２は、ワイヤロープＷが検知コイル２１の内部（内側）へ入る前に、ワイヤロープＷが延びるＺ方向（長尺材の長手方向）と複数のワイヤロープＷが隣り合うＸ方向とに直交するＹ方向から磁界を予め印加するように構成されている。また、図６では、磁石６１ａおよび６１ｂの各々のＮ極同士が対向するように配置されるとともに、磁石６２ａおよび６２ｂの各々のＳ極同士が対向するように配置される磁界印加部６０の例を示したが、磁界印加部６０では、磁石６１ａおよび６１ｂの各々のＳ極同士が対向するように配置されるとともに、磁石６２ａおよび６２ｂの各々のＮ極同士が対向するように配置されてもよい。
（励磁回路の構成）
図７に示すように、第１実施形態における励磁コイル１１の励磁回路は、励磁コイル１１に、スイッチング素子５０を介して、定電圧電源８０からの電力が供給されるように構成されている。第１実施形態における励磁コイル１１の励磁回路は、スイッチング素子５０を用いたパルス励磁方式の回路である。また、定電圧電源８０は、電源回路７３（図２参照）が外部から受け取った電力を励磁コイル１１に供給する際の出力電圧を一定に制御する電源回路である。また、励磁コイル１１と定電圧電源８０との間には、電流検出部３０が設けられている。電流検出部３０によって、検出された励磁コイル１１を流れる電流は、マイコン４０に入力され、マイコン４０による電圧調整制御（スイッチング素子５０のスイッチング制御）に用いられる。第１実施形態における励磁コイル１１の励磁回路では、デジタル式のパルス制御回路がマイコン４０によって構成されている。
マイコン４０は、電流検出部３０による検出結果に基づいて、励磁コイル１１の励磁の各周期内におけるスイッチング素子５０のスイッチングによる電圧調整制御をＰＷＭ（Ｐｕｌｓｅ Ｗｉｄｔｈ Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ：パルス幅変調）制御によって行うように構成されている。なお、第１実施形態における励磁コイル１１の励磁回路では、励磁コイル１１自体がＰＷＭ制御された電圧を平滑化する構成となっている。
（マイコンによる電圧調整制御）
ここで、励磁コイル１１に流れる電流（励磁電流）の波形は、たとえば、図８の下の図に示すような波形になる。なお、励磁電流の印加による（励磁電流ＯＮ時における）過渡変化の際に、励磁コイル１１に流れる電流（励磁電流）の値Ｉｏｎは、下記の式（１）によって表される。
Ｉｏｎ＝Ｖ／Ｒ（１－ｅ－Ｒｔ／Ｌ）・・・式（１）
また、飽和状態の励磁コイル１１に流れる電流（励磁電流）の値（飽和電流値Ｉｓａｔ）は、下記の式（２）によって表される。
Ｉｓａｔ＝Ｖ／Ｒ・・・式（２）
また、励磁電流の印加の停止による（励磁電流ＯＦＦ時における）過渡変化の際に、励磁コイル１１に流れる電流（励磁電流）の値Ｉｏｆｆは、下記の式（３）によって表される。
Ｉｏｆｆ＝Ｉｓａｔｅ－Ｒｔ／Ｌ・・・式（３）
そして、励磁コイル１１によって発生する磁界における磁束（発生磁束）は、下記の式（４）によって表される。
Ｂ＝μ０ｎＩ・・・式（４）
なお、式（１）～（３）において、Ｖは電源電圧、Ｒは励磁コイル１１の直流抵抗値、Ｌはコイル（励磁コイル１１）のインダクタンス値である。そして、式（４）において、Ｂは発生磁束、μ０は磁気定数、ｎはコイル（励磁コイル１１）の巻き数、Ｉは励磁ピーク時（飽和状態時）におけるコイル電流（励磁コイル１１を流れる電流）である。
また、励磁コイル１１のような空芯コイルの場合、形状が一定であれば、Ｌの値（励磁コイル１１のインダクタンス値）は一定である。そのため、励磁コイル１１によって発生する磁界（磁場）の波形（励磁電流の波形）に関与する要素は、Ｖの値（電源電圧の値）、および、Ｒの値（励磁コイル１１の抵抗値）である。
第１実施形態におけるワイヤロープ検査装置１０１では、励磁周期毎（励磁ＯＮ周期毎）に励磁コイル１１に加える電圧を定電圧制御することによって、励磁コイル１１の励磁の際の飽和電流値Ｉｓａｔ（図８参照）を一定の範囲に揃えることが可能である。
マイコン４０は、電流検出部３０による検出結果に基づいて、励磁コイル１１の励磁の周期毎のＰＷＭ制御における制御パルス波のデューティ比を設定する電圧調整制御を行うように構成されている。なお、第１実施形態のマイコン４０による電圧調整制御では、ひとつの励磁周期中においては、デューティ比の変更は行わない。すなわち、マイコン４０は、図８の上の図に示すように、励磁コイル１１の励磁の各周期内において、ＰＷＭ制御における制御パルス波のデューティ比が一定になるように制御する。すなわち、マイコン４０による電圧調整制御は、励磁電流を流した際の過渡変化時（励磁電流の波形の立ち上がり時）など、各周期（１周期）内において随時制御を行う定電流回路と異なり、各周期（１周期）内では、励磁コイル１１に印加する電圧を変動させない。
第１実施形態によるワイヤロープ検査装置１０１では、励磁コイル１１に流れる電流を電流検出部３０（図７参照）が検出する。そして、電流検出部３０の検出結果に基づいて、励磁コイル１１に印加する電圧を制御する電圧調整制御が行われる。ワイヤロープ検査装置１０１では、電圧調整制御は、励磁コイル１１に流れる電流の飽和状態における電流値（飽和電流値Ｉｓａｔ）が励磁の各周期において揃うように（飽和電流値Ｉｓａｔが一定になるように）、励磁コイル１１の励磁の周期毎に行われる。
図９を参照して、マイコン４０による処理（電圧調整制御）の一例を説明する。第１実施形態では、マイコン４０は、予め設定された目標電流値（飽和電流設定値）と、励磁コイル１１の励磁の際に電流検出部３０によって検出される検出電流値とに基づいて、励磁コイル１１の励磁の周期毎のデューティ比を設定して、ＰＷＭ制御による電圧調整制御を行う。
励磁コイル１１に印加する電圧の制御では、マイコン４０内部において、ＡＤコンバータ４１（図２参照）によって変換された検出電流値と、目標電流値（飽和電流設定値）とが、所定のタイミングで比較された後、ＰＩＤ演算が行われることによって、ＰＷＭ制御におけるデューティ比が設定（決定）される。具体的には、マイコン４０は、電流検出部３０によって検出された検出電流値が、飽和状態の検出電流値（飽和電流値Ｉｓａｔ）である時に、検出電流値と、目標電流値（飽和電流設定値）とを比較し、ＰＩＤ演算を行うことよって、ＰＷＭ制御におけるデューティ比を設定（決定）する。そして、設定（決定）されたデューティ比のＰＷＭ波形（ＰＷＭ信号）が生成され、生成されたＰＷＭ波形（ＰＷＭ信号）がスイッチング素子５０に入力される。
すなわち、マイコン４０は、目標電流値と、飽和電流値Ｉｓａｔ（励磁コイル１１に流れる電流が飽和状態の検出電流値）との比較に基づいて、励磁コイル１１の励磁の周期毎のデューティ比を設定して、ＰＷＭ制御による電圧調整制御を行う。
なお、目標電流値（飽和電流設定値）は、検知コイル２１に関するパラメータ（検知コイル２１の形状、巻き数、および、ワイヤロープＷとのクリアランスなど）、および、ワイヤロープＷに関するパラメータ（ワイヤロープＷの本数、直径、材質、ストランドの数、および、素線の数など）などに基づいて、予め設定される値である。
マイコン４０は、励磁コイル１１に印加する電圧の制御において、たとえば、１０周期に１回、検出電流値と目標電流値との比較を行い、次の１０周期の各周期内における電圧の制御に反映（フィードバック）するように制御を行う。また、マイコン４０は、図１０に示すように、１０周期中の各周期内において同じタイミング（ｔ１、ｔ２、・・・、ｔｎ）で取得した検出電流値の平均値と、目標電流値とを比較して、次の１０周期の各周期内における電圧の制御に反映（フィードバック）するように制御してもよい。
また、マイコン４０は、各周期において（１周期毎に）、検出電流値と目標電流値との比較を行い、次の周期における電圧の制御に反映（フィードバック）するように制御してもよい。すなわち、マイコン４０は、各周期において（１周期毎に）、ＰＷＭ制御のデューティ比を設定する制御を行ってもよい。
前述したような電圧調整制御を行うことにより、ワイヤロープ検査装置１０１では、ワイヤロープＷに対して磁界を印加する励磁コイル１１に周期的な励磁が行われる。そして、ワイヤロープ検査装置１０１は、ワイヤロープＷを相対的に移動させながら、励磁コイル１１によって周期的に磁界が印加されたワイヤロープＷの磁束の変化を検知する。
なお、ワイヤロープ検査装置１０１は、励磁コイル１１に印加する電圧の制御にデジタル制御を用いるので、温度変化の時定数、制御定数、励磁周期に対するＡＤコンバータ４１による変換のタイミング、および、制御量などを柔軟に最適化可能である。
（第１実施形態の効果）
第１実施形態によるワイヤロープ検査装置１０１（ワイヤロープ検査システム１００）およびワイヤロープ検査方法では、以下のような効果を得ることができる。
第１実施形態では、上記のように、励磁コイル１１に流れる電流の検出結果（電流検出部３０による検出結果）に基づいて、励磁コイル１１に流れる電流の飽和状態における電流値が励磁の各周期において揃うように、励磁コイル１１の励磁の周期毎に、励磁コイル１１に印加する電圧を制御する電圧調整制御を行う。これにより、励磁コイル１１の温度や環境温度が変化した場合でも、検出した励磁コイル１１に流れる電流に基づいて、励磁コイル１１の励磁の周期毎に、励磁コイル１１に印加する電圧を制御する電圧調整制御を行うことによって、励磁コイル１１に流れる電流の飽和状態における電流値（励磁コイル１１を流れる電流の波形のピーク）を励磁の各周期において揃えることができる。その結果、励磁コイル１１の温度や環境温度によらず、励磁コイル１１によって発生する磁界における磁束（発生磁束）を再現性よく発生させることができる。
また、第１実施形態によるワイヤロープ検査装置１０１では、以下のように構成したことによって、下記のような更なる効果が得られる。
第１実施形態では、上記のように、マイコン４０（制御部）は、電流検出部３０による検出結果に基づいて、励磁コイル１１の励磁の各周期内におけるスイッチング素子５０のスイッチングによる電圧調整制御をＰＷＭ制御によって行うように構成されている。これにより、ＰＷＭ制御によるスイッチング素子５０のスイッチングによって、励磁コイル１１に印加される電圧を制御することができるので、電圧調整制御（励磁コイル１１に印加する電圧の制御）を容易に行うことができる。したがって、励磁コイル１１に流れる電流の制御を容易に行うことができる。その結果、励磁コイル１１に流れる電流の飽和状態における電流値を励磁の各周期において容易に揃えることができるので、励磁コイル１１によって発生する磁界における磁束（発生磁束）を容易に再現性よく発生させることができる。
また、第１実施形態では、上記のように、マイコン４０（制御部）は、励磁コイル１１の励磁の各周期内において、ＰＷＭ制御における制御パルス波のデューティ比が一定になるように制御するように構成されている。そして、マイコン４０は、電流検出部３０による検出結果に基づいて、励磁コイル１１の励磁の周期毎のデューティ比を設定する電圧調整制御を行うように構成されている。これにより、電流検出部３０による検出結果に基づいて設定された励磁コイル１１の励磁の周期毎のデューティ比が、励磁の各周期内において変更されないので、各周期内において励磁コイル１１に印加される電圧は一定になる。すなわち、各周期（１周期）内では、マイコン４０は、励磁コイル１１に印加する電圧を変動させない。その結果、励磁電流を流した際の過渡変化時（励磁電流の波形の立ち上がり時）など、各周期（１周期）内における励磁電流の変化に応じて、励磁コイル１１に印加する電圧または電流の制御を、各周期（１周期）内において随時行う場合に比べて、電圧調整制御（励磁コイル１１に印加する電圧の制御）を容易に行うことができる。
また、第１実施形態では、上記のように、マイコン４０（制御部）は、予め設定された目標電流値と、励磁コイル１１の励磁の際に電流検出部３０によって検出される検出電流値とに基づいて、励磁コイル１１の励磁の周期毎のデューティ比を設定して、ＰＷＭ制御による電圧調整制御を行うように構成されている。これにより、目標電流値と、検出電流値とに基づいて、励磁コイル１１の励磁の周期毎のデューティ比を設定して、ＰＷＭ制御による電圧調整制御を行うことによって、各周期における検出電流値が、目標電流値に近づくように、励磁コイル１１に印加される電圧を制御することができる。その結果、励磁コイル１１に流れる電流（励磁電流）を励磁の各周期において容易に揃えることができる。
また、第１実施形態では、上記のように、マイコン４０（制御部）は、目標電流値と、励磁コイル１１に流れる電流が飽和状態の検出電流値である飽和電流値Ｉｓａｔとの比較に基づいて、励磁コイル１１の励磁の周期毎のデューティ比を設定して、ＰＷＭ制御による電圧調整制御を行うように構成されている。これにより、目標電流値と、飽和電流値Ｉｓａｔ（励磁コイル１１に流れる電流が飽和状態の検出電流値）との比較に基づいて、励磁コイル１１の励磁の周期毎のデューティ比を設定して、ＰＷＭ制御による電圧調整制御を行うことによって、各周期における飽和電流値Ｉｓａｔが、目標電流値に近づくように、励磁コイル１１に印加される電圧を制御することができる。その結果、飽和電流値Ｉｓａｔ（励磁コイル１１に流れる電流が飽和状態の検出電流値）を励磁の各周期において容易に揃えることができる。
また、第１実施形態では、上記のように、励磁コイル１１は、複数のワイヤロープＷに対して共通に設けられている。これにより、複数のワイヤロープＷに対して、励磁コイル１１が共通に磁界の印加を行うことができるので、複数のワイヤロープＷに対応して、励磁コイル１１を複数設ける場合に比べて、部品点数の増加を抑制することができる。そして、マイコン４０（制御部）は、電流検出部３０による検出結果に基づいて、励磁コイル１１に流れる電流の飽和状態における電流値が励磁の各周期において揃うように、複数のワイヤロープＷに対して磁界を印加する励磁コイル１１の励磁の周期毎に、励磁コイル１１に印加する電圧を制御する電圧調整制御を行うように構成されている。これにより、マイコン４０が、複数のワイヤロープＷに対応して設けられた複数の励磁コイル１１の各々に対して、印加する電圧の制御を行う場合に比べて、複数のワイヤロープＷに対して、電圧調整制御（励磁コイル１１が印加する電圧の制御）を容易に行うことができる。
［第２実施形態］
図１１を参照して、第２実施形態によるワイヤロープ検査装置２０１の構成について説明する。なお、図中において、上記第１実施形態と同様の構成の部分には、同一の符号を付している。
第２実施形態によるワイヤロープ検査装置２０１は、励磁コイル１１自体がＰＷＭ制御された電圧を平滑化する構成と異なり、励磁コイル１１の励磁の周期毎にマイコン４０によってＰＷＭ制御により電圧調整制御された電圧を平滑化する平滑回路２９０を備える。平滑回路２９０は、スイッチング素子５０と、励磁コイル１１との間に設けられている。平滑回路２９０は、ダイオード素子およびリアクトルを含む。
なお、第２実施形態のその他の構成は、上記第１実施形態と同様である。
（第２実施形態の効果）
第２実施形態によるワイヤロープ検査装置２０１では、以下のような効果を得ることができる。
第２実施形態によるワイヤロープ検査装置２０１では、上記第１実施形態と同様に、励磁コイル１１の温度や環境温度によらず、励磁コイル１１によって発生する磁界における磁束（発生磁束）を再現性よく発生させることができる。
また、第２実施形態によるワイヤロープ検査装置２０１では、以下のように構成したことによって、下記のような更なる効果が得られる。
また、第２実施形態では、上記のように、ワイヤロープ検査装置２０１は、スイッチング素子５０と、励磁コイル１１との間に設けられ、励磁コイル１１の励磁の周期毎にマイコン４０によってＰＷＭ制御により電圧調整制御された電圧を平滑化する平滑回路２９０を備える。これにより、平滑回路２９０が、マイコン４０によってＰＷＭ制御により電圧調整制御された電圧を平滑化するので、励磁コイル１１自体がＰＷＭ制御により電圧調整制御された電圧を平滑化する場合と異なり、励磁コイル１１のインダクタンスによらずに、マイコン４０（制御部）によってＰＷＭ制御により電圧調整制御する際のパルス波形の周波数を変更（設定）することができる。その結果、平滑回路２９０を備えない場合に比べて、電圧調整制御（励磁コイル１１に印加する電圧の制御）するためのマイコン４０によるＰＷＭ制御を容易に行うことができる。
なお、第２実施形態のその他の効果は、上記第１実施形態と同様である。
［変形例］
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく、請求の範囲によって示され、さらに請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更（変形例）が含まれる。
また、上記第１および第２実施形態では、マイコン４０（制御部）がスイッチング素子５０をＰＷＭ制御することによって、電流検出部３０による検出結果に基づいて、励磁コイル１１に印加する電圧を制御する電圧調整制御を行う例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、制御部は、ＰＷＭ制御を用いずに、電圧調整制御を行ってもよい。たとえば、制御部は、リニアレギュレータを用いて、電流検出部３０による検出結果に基づいて、電圧調整制御を行ってもよい。
また、上記第１および第２実施形態では、励磁コイル１１は、複数のワイヤロープＷに対して共通に設けられている例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、複数のワイヤロープに対応して、励磁コイルが複数設けられてもよい。また、ワイヤロープ検査装置（ワイヤロープ検査システム）によって検査されるワイヤロープは、１本のみであってもよい。
また、上記第１および第２実施形態では、検知コイル２１は、複数のワイヤロープＷに対応して複数設けられている例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、検知コイルは、複数のワイヤロープＷに対して共通に設けられてもよい。
また、上記第１および第２実施形態では、検知コイル２１を用いて全磁束法によるワイヤロープＷの磁束の検知を行い、ワイヤロープＷの外表面（外部）および内部の劣化（異常）を検査するワイヤロープ検査方法の例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、検知コイルを用いてワイヤロープの外表面からの漏洩磁束を検知し、外表面のみの劣化（異常）が検査されてもよい。
また、上記実施形態では、図６に示すように、磁界印加部６０として、検知コイル２１（励磁コイル１１）に対してＺ１方向側に配置される磁界印加部６１（磁石６１ａおよび６１ｂ）と、検知コイル２１（励磁コイル１１）に対してＺ２方向側に配置される磁界印加部６２（磁石６２ａおよび６２ｂ）とを含む例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、磁界印加部６０は、検知コイル２１（励磁コイル１１）に対して、Ｚ１方向側に配置される磁界印加部６１（磁石６１ａおよび６１ｂ）のみを含む構成でもよい。この場合、磁石６１ａおよび６１ｂは、Ｎ極同士が対向するように配置してもよいし、Ｓ極同士が対向するように配置してもよい。また、磁界印加部６０は、検知コイル２１（励磁コイル１１）に対して、Ｚ２方向側に配置される磁界印加部６２（磁石６２ａおよび６２ｂ）のみを含む構成でもよい。この場合、磁石６２ａおよび６２ｂは、Ｓ極同士が対向するように配置してもよいし、Ｎ極同士が対向するように配置してもよい。また、磁界印加部６０は、磁石６１ａ、６１ｂ、６２ａおよび６２ｂのうち、いずれか１つのみが設けられる構成でもよい。
［態様］
上記した例示的な実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
（項目１）
周期的に励磁され、ワイヤロープに対して磁界を印加する励磁コイルと、
前記ワイヤロープに対して相対的に移動しながら、前記励磁コイルによって周期的に磁界が印加された前記ワイヤロープの磁束の変化を検知する検知部と、
前記励磁コイルに流れる電流を検出する電流検出部と、
前記電流検出部による検出結果に基づいて、前記励磁コイルに流れる電流の飽和状態における電流値が励磁の各周期において揃うように、前記励磁コイルの励磁の周期毎に、前記励磁コイルに印加する電圧を制御する電圧調整制御を行うように構成されている制御部とを備える、ワイヤロープ検査装置。
（項目２）
スイッチング素子をさらに備え、
前記励磁コイルには、前記スイッチング素子を介して、電力が供給されるように構成されており、
前記制御部は、前記電流検出部による検出結果に基づいて、前記励磁コイルの励磁の各周期内における前記スイッチング素子のスイッチングによる前記電圧調整制御をＰＷＭ制御によって行うように構成されている、項目１に記載のワイヤロープ検査装置。
（項目３）
前記制御部は、前記励磁コイルの励磁の各周期内において、前記ＰＷＭ制御における制御パルス波のデューティ比が一定になるように制御するとともに、前記電流検出部による検出結果に基づいて、前記励磁コイルの励磁の周期毎の前記デューティ比を設定する前記電圧調整制御を行うように構成されている、項目２に記載のワイヤロープ検査装置。
（項目４）
前記制御部は、予め設定された目標電流値と、前記励磁コイルの励磁の際に前記電流検出部によって検出される検出電流値とに基づいて、前記励磁コイルの励磁の周期毎の前記デューティ比を設定して、前記ＰＷＭ制御による前記電圧調整制御を行うように構成されている、項目３に記載のワイヤロープ検査装置。
（項目５）
前記制御部は、前記目標電流値と、前記励磁コイルに流れる電流が飽和状態の前記検出電流値である飽和電流値との比較に基づいて、前記励磁コイルの励磁の周期毎の前記デューティ比を設定して、前記ＰＷＭ制御による前記電圧調整制御を行うように構成されている、項目４に記載のワイヤロープ検査装置。
（項目６）
前記スイッチング素子と、前記励磁コイルとの間に設けられ、前記励磁コイルの励磁の周期毎に前記制御部によって前記ＰＷＭ制御により前記電圧調整制御された電圧を平滑化する平滑回路をさらに備える、項目２～５のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査装置。
（項目７）
前記励磁コイルは、複数の前記ワイヤロープに対して共通に設けられており、
前記制御部は、前記電流検出部による検出結果に基づいて、前記励磁コイルに流れる電流の飽和状態における電流値が励磁の各周期において揃うように、複数の前記ワイヤロープに対して磁界を印加する前記励磁コイルの励磁の周期毎に、前記励磁コイルに印加する電圧を制御する前記電圧調整制御を行うように構成されている、項目１～６のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査装置。
（項目８）
ワイヤロープ検査装置と、
前記ワイヤロープ検査装置が検知した検知信号を取得して処理する処理装置とを備え、
前記ワイヤロープ検査装置は、
周期的に励磁され、ワイヤロープに対して磁界を印加する励磁コイルと、
前記ワイヤロープに対して相対的に移動しながら、前記励磁コイルによって周期的に磁界が印加された前記ワイヤロープの磁束の変化を検知する検知部と、
前記励磁コイルに流れる電流を検出する電流検出部と、
前記電流検出部による検出結果に基づいて、前記励磁コイルに流れる電流の飽和状態における電流値が励磁の各周期において揃うように、前記励磁コイルの励磁の周期毎に、前記励磁コイルに印加する電圧を制御する電圧調整制御を行うように構成されている制御部とを備える、ワイヤロープ検査システム。
（項目９）
ワイヤロープに対して磁界を印加する励磁コイルの励磁を周期的に行う励磁ステップと、
前記励磁コイルに流れる電流を検出する電流検出ステップと、
前記電流検出ステップにおける検出結果に基づいて、前記励磁コイルに流れる電流の飽和状態における電流値が励磁の各周期において揃うように、前記励磁コイルの励磁の周期毎に、前記励磁コイルに印加する電圧を制御する電圧調整制御を行う電圧調整制御ステップと、
前記ワイヤロープを相対的に移動させながら、前記励磁コイルによって周期的に磁界が印加された前記ワイヤロープの磁束の変化を検知する検知ステップとを備える、ワイヤロープ検査方法。
１１ 励磁コイル
２０ 検知部
３０ 電流検出部
４０ マイコン（制御部）
５０ スイッチング素子
１００ ワイヤロープ検査システム
１０１、２０１ ワイヤロープ検査装置
１０２ 処理装置
２９０ 平滑回路
Ｗ ワイヤロープ

Claims (9)

  1. 周期的に励磁され、ワイヤロープに対して磁界を印加する励磁コイルと、
    前記ワイヤロープに対して相対的に移動しながら、前記励磁コイルによって周期的に磁界が印加された前記ワイヤロープの磁束の変化を検知する検知部と、
    前記励磁コイルに流れる電流を検出する電流検出部と、
    前記電流検出部による検出結果に基づいて、前記励磁コイルに流れる電流の飽和状態における電流値が励磁の各周期において揃うように、前記励磁コイルの励磁の周期毎に、前記励磁コイルに印加する電圧を制御する電圧調整制御を行うように構成されている制御部とを備える、ワイヤロープ検査装置。
  2. スイッチング素子をさらに備え、
    前記励磁コイルには、前記スイッチング素子を介して、電力が供給されるように構成されており、
    前記制御部は、前記電流検出部による検出結果に基づいて、前記励磁コイルの励磁の各周期内における前記スイッチング素子のスイッチングによる前記電圧調整制御をＰＷＭ制御によって行うように構成されている、請求項１に記載のワイヤロープ検査装置。
  3. 前記制御部は、前記励磁コイルの励磁の各周期内において、前記ＰＷＭ制御における制御パルス波のデューティ比が一定になるように制御するとともに、前記電流検出部による検出結果に基づいて、前記励磁コイルの励磁の周期毎の前記デューティ比を設定する前記電圧調整制御を行うように構成されている、請求項２に記載のワイヤロープ検査装置。
  4. 前記制御部は、予め設定された目標電流値と、前記励磁コイルの励磁の際に前記電流検出部によって検出される検出電流値とに基づいて、前記励磁コイルの励磁の周期毎の前記デューティ比を設定して、前記ＰＷＭ制御による前記電圧調整制御を行うように構成されている、請求項３に記載のワイヤロープ検査装置。
  5. 前記制御部は、前記目標電流値と、前記励磁コイルに流れる電流が飽和状態の前記検出電流値である飽和電流値との比較に基づいて、前記励磁コイルの励磁の周期毎の前記デューティ比を設定して、前記ＰＷＭ制御による前記電圧調整制御を行うように構成されている、請求項４に記載のワイヤロープ検査装置。
  6. 前記スイッチング素子と、前記励磁コイルとの間に設けられ、前記励磁コイルの励磁の周期毎に前記制御部によって前記ＰＷＭ制御により前記電圧調整制御された電圧を平滑化する平滑回路をさらに備える、請求項２～５のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査装置。
  7. 前記励磁コイルは、複数の前記ワイヤロープに対して共通に設けられており、
    前記制御部は、前記電流検出部による検出結果に基づいて、前記励磁コイルに流れる電流の飽和状態における電流値が励磁の各周期において揃うように、複数の前記ワイヤロープに対して磁界を印加する前記励磁コイルの励磁の周期毎に、前記励磁コイルに印加する電圧を制御する前記電圧調整制御を行うように構成されている、請求項１～６のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査装置。
  8. ワイヤロープ検査装置と、
    前記ワイヤロープ検査装置が検知した検知信号を取得して処理する処理装置とを備え、
    前記ワイヤロープ検査装置は、
    周期的に励磁され、ワイヤロープに対して磁界を印加する励磁コイルと、
    前記ワイヤロープに対して相対的に移動しながら、前記励磁コイルによって周期的に磁界が印加された前記ワイヤロープの磁束の変化を検知する検知部と、
    前記励磁コイルに流れる電流を検出する電流検出部と、
    前記電流検出部による検出結果に基づいて、前記励磁コイルに流れる電流の飽和状態における電流値が励磁の各周期において揃うように、前記励磁コイルの励磁の周期毎に、前記励磁コイルに印加する電圧を制御する電圧調整制御を行うように構成されている制御部とを備える、ワイヤロープ検査システム。
  9. ワイヤロープに対して磁界を印加する励磁コイルの励磁を周期的に行う励磁ステップと、
    前記励磁コイルに流れる電流を検出する電流検出ステップと、
    前記電流検出ステップにおける検出結果に基づいて、前記励磁コイルに流れる電流の飽和状態における電流値が励磁の各周期において揃うように、前記励磁コイルの励磁の周期毎に、前記励磁コイルに印加する電圧を制御する電圧調整制御を行う電圧調整制御ステップと、
    前記ワイヤロープを相対的に移動させながら、前記励磁コイルによって周期的に磁界が印加された前記ワイヤロープの磁束の変化を検知する検知ステップとを備える、ワイヤロープ検査方法。
JP2023520856A 2021-05-14 2022-03-10 ワイヤロープ検査装置、ワイヤロープ検査システムおよびワイヤロープ検査方法 Active JP7513207B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2021082475 2021-05-14
JP2021082475 2021-05-14
PCT/JP2022/010633 WO2022239440A1 (ja) 2021-05-14 2022-03-10 ワイヤロープ検査装置、ワイヤロープ検査システムおよびワイヤロープ検査方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2022239440A1 JPWO2022239440A1 (ja) 2022-11-17
JP7513207B2 true JP7513207B2 (ja) 2024-07-09

Family

ID=84029173

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2023520856A Active JP7513207B2 (ja) 2021-05-14 2022-03-10 ワイヤロープ検査装置、ワイヤロープ検査システムおよびワイヤロープ検査方法

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP7513207B2 (ja)
WO (1) WO2022239440A1 (ja)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5821430A (en) 1997-02-28 1998-10-13 Southwest Research Institute Method and apparatus for conducting in-situ nondestructive tensile load measurements in cables and ropes
JP2004126796A (ja) 2002-09-30 2004-04-22 Sankyo Seiki Mfg Co Ltd コイン識別センサ
JP2005164412A (ja) 2003-12-03 2005-06-23 Honda Motor Co Ltd 磁束検出装置
JP2017133835A (ja) 2014-06-19 2017-08-03 コニカミノルタ株式会社 非破壊検査装置
JP2020034509A (ja) 2018-08-31 2020-03-05 株式会社島津製作所 磁性体の検査装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5821430A (en) 1997-02-28 1998-10-13 Southwest Research Institute Method and apparatus for conducting in-situ nondestructive tensile load measurements in cables and ropes
JP2004126796A (ja) 2002-09-30 2004-04-22 Sankyo Seiki Mfg Co Ltd コイン識別センサ
JP2005164412A (ja) 2003-12-03 2005-06-23 Honda Motor Co Ltd 磁束検出装置
JP2017133835A (ja) 2014-06-19 2017-08-03 コニカミノルタ株式会社 非破壊検査装置
JP2020034509A (ja) 2018-08-31 2020-03-05 株式会社島津製作所 磁性体の検査装置

Also Published As

Publication number Publication date
WO2022239440A1 (ja) 2022-11-17
JPWO2022239440A1 (ja) 2022-11-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100678534B1 (ko) 전기 또는 자기에너지를 사용한 엘리베이터 로프 열화검출 장치 및 방법
RU2666176C2 (ru) Устройство и способ проверки свойства поверхности
US8058881B2 (en) Method for checking the current flow through individual wires of a braided wire, and apparatus for carrying out the method
EP3467528B1 (en) Magnetic sensor sensitivity matching calibration
US20130293989A1 (en) Apparatus and method for arc fault detection
JP7024883B2 (ja) 磁性体管理システムおよび磁性体管理方法
KR20170120167A (ko) 로프 손상 진단 검사 장치 및 로프 손상 진단 검사 방법
CA2813933A1 (en) Apparatus and method for arc fault detection
US20150145510A1 (en) Durability Enhanced And Redundant Embedded Sensors
JPWO2016163022A1 (ja) 電流検出装置
JP7513207B2 (ja) ワイヤロープ検査装置、ワイヤロープ検査システムおよびワイヤロープ検査方法
US20040027891A1 (en) Configuration for testing semiconductor devices
US9147546B2 (en) Self-calibrating current switch with display
CN1316707C (zh) 使用磁阻抗元件的过载电流保护设备
CN109613322B (zh) 铜排型导线的电流测量方法及装置
CN106644229A (zh) 一种在役缆索索力检测装置及方法
JP4742757B2 (ja) 漏洩磁束探傷装置
WO2014185263A1 (ja) 磁界検出装置の検査用回路及びその検査方法
EP2778670B1 (en) Magnetic body evaluation method
WO2023053512A1 (ja) ワイヤロープ検査装置およびワイヤロープ検査方法
US11480635B2 (en) Tension measuring method
CN105324674B (zh) 用于在磁性偏置扼流器处监测和电流测量的方法和装置
JP4918386B2 (ja) 磁界発生装置
JP7491236B2 (ja) ワイヤロープ検査方法、ワイヤロープ検査システムおよびワイヤロープ検査装置
TWI636273B (zh) 用於判斷尺寸是否符合特定標準的檢測設備與檢測方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20231013

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20240528